「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

A semiconductor integrated circuit device (100) includes a plurality of function blocks (125-127), a fetch unit (131), a detection unit (132) and a determination unit (150) and shifts to a test mode when an operation pattern is changed in accordance with a predetermined rule.例文帳に追加

半導体集積回路装置（１００）は、複数の機能ブロック（１２５−１２７）と、取り込み部（１３１）と、検出部（１３２）と、判定部（１５０）とを具備し、動作パターンが所定の規則に従って変化したときにテストモードに移行する。 - 特許庁

A relationship between a narrow range output tone and density excluding immeasurable area obtained by using a colorimeter from a test pattern recorded in a high density recording medium is differentiated twice to obtain a relationship between narrow range density and an inclination change rate.例文帳に追加

高濃度記録媒体に記録されたテストパターンから測色計を用いて求められた測定不能領域を除く狭域出力階調−濃度関係を２回微分して狭域濃度−傾き変化率関係を求める。 - 特許庁

The test pattern data latched by the flip-flops 12a, 13a, and 14a in respective stages are simultaneously outputted to the functional macrocircuit 11 in synchronization with a second clock signal inputted into flip-flops 12b, 13b, and 14b.例文帳に追加

それぞれの段におけるフリップフロップ１２ａ、１３ａ、１４ａにラッチされたテストパターンデータは、フリップフロップ１２ｂ、１３ｂ、１４ｂに入力される第２のクロック信号に同期して同時に機能マクロ回路１１に出力される。 - 特許庁

A terminal (a) of a switch SW is connected to a terminal (b) thereof, an alternating current voltage is impressed between a cable conductor and shielding of a measuring objective cable 3, by a pattern, for example, shown in Fig.3, from a transformer 1 for a test, to be blocked in the vicinity of a zero cross.例文帳に追加

スイッチＳＷの端子（ａ）と端子（ｂ）を接続して、試験用変圧器１より、例えば図３に示すパターンにて測定対象ケーブル３のケーブル導体−遮蔽間に交流電圧を課電し零クロス付近で遮断する。 - 特許庁

Next, an RTL simulation executing part 250 uses a test pattern generated so as to be used in each verification period with the internal state separately stored similarly in each verification period as an initial value executes RTL simulation in each verification period in parallel.例文帳に追加

次に、検証期間毎に分けて記憶された内部状態を初期値とし、同じく検証期間毎に用いられるよう生成されたテストパタンを用いて、RTLシミュレーション実行部250がRTLシミュレーションを検証期間毎に並列に実行する。 - 特許庁

The delivering circuit 132 includes a rate generator 144, a fail capture control 146 which specifies a defective cell and performs an output to the outside, a timing generator 148 which generates a timing signal based on a reference test frequency signal, and a pattern generator 150 which outputs an address signal for reading pattern information from the outside to the outside.例文帳に追加

受け渡し回路１３２は、レイト・ジェネレータ１４４と、不良セルを特定して、外部に出力するフェイル・キャプチャー・コントロール１４６と、基準試験周波数信号を基に、タイミング信号を発生するタイミング・ジェネレータ１４８と、パターン情報を外部から読み出すためのアドレス信号外部に出力するパターン・ジェネレータ１５０とを備える。 - 特許庁

The highest density region P1 and the lowest density region P2 in the test pattern TP are formed longer than the diameter of the detection window W, while the medium density pattern P3 is formed in such a manner that density regions with two different densities are inevitably included in the detection window W of the sensor 11 for detecting the deposition amount.例文帳に追加

そして、かかるテストパターンＴＰにおいて、最高濃度領域Ｐ１と最低濃度領域Ｐ２とを付着量検出センサ１１の検出窓Ｗの直径よりも長く作成し、付着量検出センサ１１の検出窓Ｗに必ず２つの異なる濃度の濃度領域が含まれるように中間濃度パターンＰ３を作成する。 - 特許庁

Information for generating a pseudo memory defective pattern is automatically extracted based on information about memory circuit constitution of a test specification 2 and redundancy circuit constitution, a pseudo memory pattern information file 10 is prepared, while a relieving code expected value is automatically extracted, and a relieving code expected value file 11 is prepared (STP6).例文帳に追加

試験仕様書２のメモリ回路構成及び冗長回路構成に関する情報に基づいて、擬似メモリ不良パターンを発生させるための情報を自動抽出して擬似メモリ不良パターン情報ファイル１０を作成すると共に、救済コード期待値を自動抽出して救済コード期待値ファイル１１を作成する（ＳＴＰ６）。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with a blocks 1-3 wherein sequential test input patterns are used to conduct logic verification, a signal wiring pattern to transmit signals which are used in the blocks 1-3 during the logic verification, and fixed potential wiring patterns 11a-11d which are formed surrounding the signal wiring pattern and are electrically connected to Vss.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、一連のテスト入力パターンを用いてロジック検証が行われるブロック１〜３と、ロジック検証時にブロック１〜３で使用される信号を伝達するための信号配線パターンと、信号配線パターンを取り囲むように形成され、Ｖｓｓに電気的に接続された固定電位配線パターン１１ａ〜１１ｄを有する。 - 特許庁

The printer 100 comprises a paper carrying means for carrying the printing paper, a pattern detecting sensor for detecting a test pattern printed on both sides of the printing paper carried by the paper carrying means in the direction perpendicular to the paper carrying direction, and a paper carriage correcting control means for correcting the carriage of the printing paper with the paper carrying means.例文帳に追加

プリンタ１００は、プリント用紙を搬送する用紙搬送手段と、その用紙搬送手段によって搬送されるプリント用紙の用紙搬送方向に垂直な方向の両側部にプリントされたテストパターンを検知するパターン検知センサと、用紙搬送手段によるプリント用紙の搬送を修正する用紙搬送修正制御手段と、を備える。 - 特許庁

The printer capable of recording a two-dimensional image on a recording material comprises a pattern generating means generating at least a test pattern for measuring the sharpness, a density measuring means consisting of a light source for illuminating a recording image being outputted and a photosensor, and a means for outputting the measurements from the measuring means.例文帳に追加

記録材料上に２次元画像を記録可能に構成されたプリンタであって、少なくとも鮮鋭度測定用のテストパターンを発生させるパターン発生手段と、出力される記録画像を照明する照明光源と光センサからなる濃度測定手段と、この測定手段による測定結果の出力手段とを備えることを特徴とするプリンタ。 - 特許庁

A test print in which a lateral stripe test pattern comprising a lateral line group is formed with test input gray level values belonging to the black area is output.例文帳に追加

横ライン群からなる横縞テストパターンが黒領域に属するテスト入力階調値で形成されているテストプリントを出力し、横縞テストパターンの測定濃度値と当該横縞テストパターンに対応するテスト入力階調値とに基づいて導出されたテスト入力階調値−濃度値関係から、各テスト入力階調値における測定濃度値が最小となる色成分の当該最小測定濃度値を特定し、最小測定濃度値と略同一の濃度値を有する修正入力階調値を色成分毎に算出する。 - 特許庁

The image forming apparatus 1 forms an image of a test pattern in a printer 3, before forming the image of an object to be imaged and outputs the image after a fixer 5 applies a fixing treatment according to fixing condition for confirming the fixing properties.例文帳に追加

画像形成装置１では、対象画像の画像形成を行うに先だって、プリンタ部３においてテストパターンの画像形成を行い、定着器５が定着性確認用の定着条件により定着処理を施して出力する。 - 特許庁

The information on each of two or more positions established by an user so that the test pattern composed of the record at an outward trip scan and the record at a return trip scan is recorded in each of two or more positions containing a recess and projection of the recording medium.例文帳に追加

往路走査での記録と復路走査での記録とにより構成されるテストパターンを記録媒体の凹部と凸部とを含む２つ以上の各位置に記録するようユーザが設定した前記２つ以上の各位置の情報を受け付ける。 - 特許庁

The density of a test pattern toner image is detected by an image density sensor 20, and a developing bias potential and a grid voltage optimum for a potential control part 26 are calculated and set by a system control part 27 based on the detected image density, and an image forming operation is performed.例文帳に追加

テストパターンのトナー像の画像濃度を画像濃度センサ２０で検出し、システム制御部２７は検出された画像濃度に基づいて電位制御部２６に最適な現像バイアス電位、グリッド電圧を演算・設定し、作像動作が実行される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which an increment in pattern area is suppressed to the minimum and a BIST circuit which can obtain redundancy relieving information is realized, a fault rate of the BIST circuit itself can be reduced by using simple algorithm and its test method.例文帳に追加

パターン面積の増加を最低限に抑えてリダンダンシ救済情報を取得可能なBIST回路を実現し、簡易なアルゴリズムを使用してBIST回路自体の故障率を下げることが可能な半導体記憶装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

Then LUT data for converting density characteristics so that the density of an original image coincides with that of an output image are set up on the basis of the read picture signal and gradation characteristic information stored as the prescribed test pattern.例文帳に追加

次に、読み取った画像信号と当該所定のテストパターンとして記憶している階調特性情報とに基づいて、原画像の濃度と出力画像の濃度とが一致するように濃度特性を変換するＬＵＴのデータを設定する(S4-S5)。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of semi-automatically correcting magnification color aberration by an image pickup lens in which the characteristics related to the magnification color aberration are not known only by designating a region having the influence of the magnification color aberration followed by picking up an image of the monochromatic test pattern.例文帳に追加

モノクロのテストパターンを撮像し、倍率色収差の影響が出ている領域を指定するのみで、倍率色収差に関する特性が未知である撮像レンズによる倍率色収差の補正を半自動処理によって可能にする。 - 特許庁

The method achieved in the printer analyzes image data of a dash in the test pattern irregularly distributed in a process direction in a region of the image receiving member and locates the print head in the printer to detect a missing inkjet in the printer.例文帳に追加

プリンタ内で実現される方法が、受像部材の領域の中のプロセス方向に不規則に分布したテストパターン内の長点の画像データを分析し、プリンタ内のプリントヘッドの位置を識別してプリントヘッド内の行方不明のインクジェットを検出する。 - 特許庁

To unify a plurality of pattern programs using effectively a free timing set in a system, and to eliminate thereby a wasteful idle period to enhance a through-put in a device test.例文帳に追加

当該システムで空いているタイミングセットを有効利用して、複数本のパターンプログラムを１本化して、無駄なアイドル期間を削除してデバイス試験のスループットを向上する半導体試験装置、タイミングセットの最適化方法、タイミングセットの最適化プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide dicing equipment and a chip manufacturing method capable of easily dividing even a thick wafer or a wafer where a so called test pattern, TEG is formed in a street into chips, and preventing any chipping from being generated on the back face.例文帳に追加

厚いウエーハであっても、またストリートにТＥＧと称されるテストパターンが形成されたウエーハであっても、容易にチップに分割することができると共に裏面にチッピングを生じさせないダイシング装置、及びチップ製造方法を提供すること。 - 特許庁

A difference between the number of recording marks obtained from a reproducing signal on the basis of the test pattern and the number of recording marks used for the recording is obtained, and the recording or reproduction laser power is set from a range of the recording or reproduction laser power when the difference reaches a prescribed number or below.例文帳に追加

テストパターンに基づく再生信号から求めた記録マーク数と、記録に用いた記録マーク数との差を求め、その差が所定数以下になるときの記録または再生レーザーパワーの範囲内から記録または再生レーザーパワーを設定する。 - 特許庁

To realize a macro-test circuit in an LSI in which the number of external input terminals for testing is not increased even if the number of input terminals for testing provided in a macro-fashion is increased and the versatility of varying the input pattern of testing data is high.例文帳に追加

マクロに設けられるテスト入力端子の数が増加しても、テスト用の外部入力端子の数が増加することがなく、かつ、テストデータの入力パターンを可変する自由度の大きい、ＬＳＩにおけるマクロテスト回路を実現すること。 - 特許庁

The image of a test pattern is formed and density change before and after transfer is detected by density detection sensors 63 and 64, and an offset value is read out from an offset setting table 112 according to the detected transfer state so as to adjust the set transfer voltage.例文帳に追加

そして、テストパターンを像形成して転写前後の濃度変化を濃度検知センサ６３及び６４で検知し、検知された転写状態によりオフセット値をオフセット設定テーブル１１２から読み出して設定された転写電圧を調整する。 - 特許庁

To provide: a photosensitive composition having high thermal cycle test resistance, high storage stability, and a smooth-shape inner surface when a via is formed; a photosensitive laminate using the photosensitive composition; a method for forming a permanent pattern; and a printed board.例文帳に追加

優れたサーマルサイクルテスト耐性、保存安定性を有し、バイアを形成したときの内壁面の形状がスムースである感光性組成物、該感光性組成物を用いた感光性積層体、永久パターン形成方法、及びプリント基板の提供。 - 特許庁

The inkjet recording device includes: a detection means 414 that detects either an environmental temperature or environmental humidity in which the recording device body 1 is placed; and a control means 401 that controls the inkjetting amount to the test pattern.例文帳に追加

インクジェット記録装置には、記録装置本体１が設置されている環境温度と環境湿度の少なくとも一方を検出する検出手段４１４と、テストパターンへのインク打込み量を制御する制御手段４０１とが備えられている。 - 特許庁

To provide a recording apparatus which can check not only an absorbing capacity of ink by a recording medium, but also the presence or absence of band irregularities and the presence or absence of micro beading when bidirectional recording is carried out, and to provide a recording method and a test pattern recording method.例文帳に追加

記録媒体によるインクの吸収能力だけでなく、双方向記録が行われる際のバンドムラの有無及びマイクロビーディングの有無を確認することができる記録装置、記録方法及びテストパターン記録方法を提供する。 - 特許庁

A logical simulation part 103 inputs a net list 101 and a test pattern 102, performs a logical simulation, and generates toggle information 104, which indicates a logical value of a signal of a pin, for each pin held in a cell described in the net list 101.例文帳に追加

論理シミュレーション部１０３は、ネットリスト１０１及びテストパターン１０２を入力し、論理シミュレーションを行い、ネットリスト１０１に記述されたセルが有するピン毎に、そのピンの信号の論理値を示すトグル情報１０４を生成する。 - 特許庁

If the projection area projects from the projection object after vertexes of the projection object meet the edge of the projection object, a portion of the outline of the test pattern image in a picked-up image matches a portion of the edge of the projection object.例文帳に追加

投写対象物の頂点が投写対象物の縁に一致した後、投写領域が投写対象物からはみ出した場合には、撮像画像に写っているテストパターン画像の輪郭の一部は投写対象物の縁の一部に一致する。 - 特許庁

To provide an image forming device which detects the concentration distribution of a test pattern with high sensitivity, by using a reflection-type optical sensor of a simple configuration, and corrects an image forming position of a recording head with high precision, and to provide a method of correcting the image forming position.例文帳に追加

簡易な構成の反射型の光学センサを用いてテストパターンの濃度分布を高感度で検出し、記録ヘッドの画像形成位置を高い精度で補正することができる画像形成装置と画像形成位置の補正方法とを提供する。 - 特許庁

Next, a test pattern original is read by a scanner part, and a second polygon motor adjustment value Msp is provided to the polygon motor and a carriage motor adjustment value Msc is provided to a carriage motor so as to obtain the image printed by using the printer part of 100% magnifying force.例文帳に追加

次にテストパターン原稿をスキャナ部により読み込み、プリンタ部を用いて印刷された画像が１００％の倍率となるように、ポリゴンモータに第２のポリゴンモータ調整値Ｍｓｐ及びキャリッジモータにキャリッジモータ調整値Ｍｓｃを提供する。 - 特許庁

To perform such works as replacing a part or adjusting the position efficiently in a short time when a product is inspected or repaired at the time of shipment from a factory by grasping the cause of positional shift easily using a simple test pattern.例文帳に追加

工場出荷時等による点検，修理時等において、簡単な構成のテストパターンを用いて位置ずれの原因を容易に把握できるようにして、部品交換や位置調整等の作業を短時間に、かつ、効率的に行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a digital color document producing method having a sampling function equivalent to the existing printing methods, and a printer comprising an interrupting separator capable of periodically forming a test pattern on a non-document sheet at the time of production operation.例文帳に追加

既存の印刷法と同等のサンプリング機能をもつデジタルカラー文書作成方法を提供すると共に、生産操業時に非文書シート上に周期的にテストパターンを形成することのできる割り込みセパレータを備えたプリンタを提供する。 - 特許庁

When positional relation between the mark electrodes 24m, 25m and 26m and the rectangular hole 43 is checked after the piezoelectric actuator is laid fixedly onto the cavity plate, positional shift can be detected directly and easily without printing a test pattern.例文帳に追加

このため、圧電アクチュエータをキャビティープレートに積層固定した後、マーク電極２４ｍ，２５ｍ，２６ｍと角孔４３との位置関係を調べれば、テストパターンを印刷しなくても、上記位置ずれ量を容易にかつ直接正確に検出することができる。 - 特許庁

To evaluate the adjustment or the like of hue and chroma even other than a blue color signal by especially applying a test pattern, a signal generator and a method of evaluating a video device to operation confirmation of various video devices.例文帳に追加

本発明は、テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法に関し、特に各種映像機器の動作確認に適用して、青色色信号以外についてもＨＵＥ、クロマの調整等を評価することができるようにする。 - 特許庁

The logical simulation execution part 4 executes logical simulation to the normal circuit and logical simulation to the failed circuit generated by the strength failure generation part 1 using the same test pattern 12 and outputs their simulation results 4a, 4b.例文帳に追加

論理シミュレーション実行部４は、正常回路に対する論理シミュレーションと、強度故障生成部１で生成された故障回路に対する論理シミュレーションとを同一のテストパターン１２を用いて実行し、それらのシミュレーション結果４ａ，４ｂを出力する。 - 特許庁

On the end edge of a first large substrate 110 having a plurality of TFT substrate areas 10, a test terminal 111 to be connected, via a wiring pattern, to an external connection terminal 102 formed on each TFT substrate area 10 is formed.例文帳に追加

ＴＦＴ基板領域１０を複数有する第１の大型基板１１０の端縁に、各ＴＦＴ基板領域１０に形成されている外部接続端子１０２に対し配線パターンを介して接続するテスト端子１１１を形成する。 - 特許庁

The pattern data PTN of the output expected values corresponding to input signals IN1-INm are inputted in series from a test input terminal 9, converted into parallel data by a S/P converter 7, and fed to a first input side of a comparator 5.例文帳に追加

入力信号ＩＮ１〜ＩＮｍに対応した出力期待値のパターンデータＰＴＮが、試験入力端子９から直列に入力され、Ｓ／Ｐ変換器７で並列データに変換されて比較器５の第１の入力側に与えられる。 - 特許庁

To permit easy trouble analyzing work at the outside of a circuit by outputting a number information of a pattern detecting a trouble or the positional information of a scan F/F if necessary to the outside of the circuit, when a test is effected employing a logic BIST circuit formed in an LSI.例文帳に追加

LSI に形成されたロジックBIST回路を用いてテストを行う際に、故障を検出したパターンの番号情報や必要に応じてスキャンF/F の位置情報を外部に出力させて外部で故障解析作業を容易に行うことを可能とする。 - 特許庁

Then, when response information to the test pattern is inputted through an operation part 32, the fatigue degree of the diagnostic reading doctor is discriminated on the basis of the response information, and information of the level of the fatigue degree of the diagnostic reading doctor discriminated as the discriminated result is displayed.例文帳に追加

そして、当該テストパターンに対する応答情報が操作部３２を介して入力されると、当該応答情報に基づいて読影医の疲労度を判定し、その判定結果として判定された読影医の疲労度レベルの情報を表示させる。 - 特許庁

After this adjustment, the image processing unit 15 adjusts R, G and B values of pixels of a color image based on color image data received from a transmission apparatus 2 formed on the projection device 14 for each pixel based on the color adjustment result of the test pattern.例文帳に追加

この調整後、画像処理部１５は、投射デバイス１４上に形成する送信装置２から受信したカラー画像データに基づくカラー画像の各画素のＲ値、Ｇ値及びＢ値を、テストパターンの色調整結果に基づいて画素毎に調整する。 - 特許庁

To improve a gradation correction characteristic for a density portion considered to be more important by a user, without increasing the total of test pattern images, in an image forming apparatus that subjects print data to gradation correction and forms an image based on print data subjected to the gradation correction.例文帳に追加

印刷データに階調補正を施し、その階調補正された印刷データに基づいて画像を形成する画像形成装置において、テストパターン画像の総量を増やさずに、ユーザーが重視する濃度部分の階調補正特性を向上させる。 - 特許庁

To provide an image forming device which detects the concentration distribution of a test pattern with high sensitivity by using a reflection-type optical sensor of a simple configuration, and corrects an image forming position of a recording head with high accuracy, and to provide a method of correcting the image forming position.例文帳に追加

簡易な構成の反射型の光学センサを用いてテストパターンの濃度分布を高感度で検出し、記録ヘッドの画像形成位置を高い精度で補正することができる画像形成装置と画像形成位置の補正方法とを提供する。 - 特許庁

A data fetch control part 2 changes a raster size and makes color CRT 6 display inversely a test pattern formed by arranging a plurality of dots generated by a signal generator 4, so that positions of light-emitting fluorescent substances in the dots are different from one another among the dots.例文帳に追加

データ取込制御部２はラスタサイズを変更して信号発生器４で発生した複数個のドットを配列してなるテストパターンをドット内の発光螢光体の位置がドット間で互いに異なるようにカラーＣＲＴ６に反転表示させる。 - 特許庁

In a method for inspecting reliability of distance data computed based on a stereo image, a pair of pickup images are obtained by photographing a test chart 21 disposed in an image pickup direction and having a luminance pattern drawn on it by a stereo camera.例文帳に追加

ステレオ画像に基づき算出された距離データの信頼性を検査する方法において、ステレオカメラの撮像方向に配置されていると共に輝度パターンが描かれたテストチャート２１を、ステレオカメラで撮影することによって一対の撮像画像を得る。 - 特許庁