「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

The printer is provided with a control means 1 for differentiating the internal information of a test printer being outputted by the push apart pattern of a switch button constituting the panel input section of the printer.例文帳に追加

プリンタのパネル入力部を構成するスイッチボタンの押分けパターンにより、出力されるテストプリントの内部情報を異ならせる制御を行う制御手段１を配設する。 - 特許庁

To provide a diagnostic control system for safely and correctly perform diagnosis by preventing the malfunction of a module due to a test pattern or the error of a diagnostic report concerning the diagnosis of a common bus.例文帳に追加

共有バスの診断において、テストパターンによるモジュールの誤動作や診断報告の誤りを防止し、安全かつ正確な診断を実施するための診断制御方式を提供する。 - 特許庁

A remote diagnostic signal is inputted from the managing device 15 to a remote operation control means 19, and a photosensitive drum 1 and respective process units are operated to form a test pattern on a recording material P.例文帳に追加

管理装置１５から遠隔診断信号を遠隔動作制御手段１９に入力して感光ドラム１、各プロセス機器を動作させて記録材Ｐ上にテストパターンを形成させる。 - 特許庁

A test pattern (100) which is comprised of a plurality of marks (101 and 102) arranged in the sub-scan direction on a platen plate (31) and disposed by a plurality of the number in the main scan direction is detected by using a reading sensor (30).例文帳に追加

プラテン板（31）上の副走査方向に配列された複数のマーク（101,102）から構成され、主走査方向に複数配置されるテストパターン（100）を、読取センサ（30）を用いて検出する。 - 特許庁

All offset parameters of an exposure device, a superposition measuring instrument, etc. are reset to 0, and a test wafer is precedently exposed by using a complementary divided mark, in which a design pattern is divided into M blocks.例文帳に追加

露光装置、重ね合わせ測定器等のオフセットのパラメータを全て０にリセットし、設計パターンがＭ個のブロックに分割された相補分割マークを使って試験ウエハに先行露光する。 - 特許庁

Thereafter, the test pattern is outputted and read in accordance with the number of sampling times, and maximum density is adjusted and a gamma correction part is updated based on the read result (s103 to s123).例文帳に追加

その後、テストパターンを出力し上記サンプリング数に応じたその読取りを行ない、その結果に基づいて最大濃度の調整やガンマ補正部の更新を行なう(Ｓ１０３〜Ｓ１２３)。 - 特許庁

Input image data and test pattern data are corrected by a correcting section 3 based on linear component data and nonlinear component data of an amount of color mis-registration separately held by a holding section 4.例文帳に追加

保持部４に別々に保持されている色ずれ量の線形成分データと非線形成分データとに基づいて、入力画像データ及びテストパターンデータを補正部３で補正する。 - 特許庁

To make efficiently executable the inspection of the thickness of the coating film of a paint in a highly accurate manner by accurately forming the coating pattern of the paint ejected from a coating gun on a test piece.例文帳に追加

塗装ガンから吐出される塗料の塗布パターンをテストピース上に正確に形成し、塗料の塗装膜厚検査を効率的かつ高精度に遂行することを可能にする。 - 特許庁

A changeover means MUX is provided to each of test pattern supply routes and, by this changeover means, a state applying a terst pattern to each semiconductor device to be tested and a state applying an original parameter to each semiconductor device to be tested can be changed over.例文帳に追加

各試験パターン供給経路に切替手段ＭＵＸを設け、この切替手段により試験パターンを被試験半導体デバイスに印加する状態と、各被試験半導体デバイスの各個に独自のパラメータを印加する状態に切り替ることができる構成とした。 - 特許庁

When the correction is performed again, based on the read data of the pattern for detecting the density deviation and the test pattern having the first mark, the position of the first mark is obtained, and based on the position of the first mark obtained, the positional information of the second mark is operated to calculate the position of the target delivering nozzle.例文帳に追加

再補正の際、濃度むら検出用のパターン及び第１マークを有するテストパターンの読取データに基づいて、第１マークの位置を求め、求めた第１マークの位置に基づいて第２マークの位置情報を演算し、目標吐出ノズル位置を算出する。 - 特許庁

The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁

Pattern information generated by a printed circuit board diagnostic program, test program information and test jig production information are converted into data having the mutual relation to be correlated by the program, because they are single data respectively, to be displayed on a display 3 using a trouble analyzer.例文帳に追加

プリント回路基板診断プログラムが生成するパターン情報、テストプログラム情報、テスト治具製造情報は各々単体のデータであるため、これに相互関係を持つデータに変換しプログラムのより関連付けを行い、故障解析装置を用いてディスプレイ３へ表示する。 - 特許庁

To provide a means for quantitatively grasping the positioning accuracy when the test place of a recording medium is moved from a head to a probe in the recording medium test equipment provided with the head for reading the recorded information of the recording medium and the probe for reading the recorded pattern.例文帳に追加

記録媒体の記録情報を読み出すヘッドと記録パターンを読み出すプローブとを備えた記録媒体検査装置において、記録媒体の検査箇所をヘッドからプローブに移動させた際の位置決め精度を定量的に把握するための手段の提供を課題とする。 - 特許庁

A pattern generator PG generates test patterns S_PTN1 to S_PTN4 for describing test signals S_TEST to be output by drivers DR_1 to DR_4, and control patterns S_PTN5 and S_PTN6 for describing control signals S_CNT2 and S_CNT1 to be output by drivers DR_5 and DR_6.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４と、ドライバＤＲ_５、ＤＲ_６が出力すべき制御信号Ｓ_ＣＮＴ２、Ｓ_ＣＮＴ１を記述する制御パターンＳ_ＰＴＮ５、Ｓ_ＰＴＮ６を生成する。 - 特許庁

A resist film is formed on the etched layer of a test substrate provided with an etched layer, a plurality of regions in the resist film are sequentially exposed by each changing exposure amounts and focus values in a predetermined test pattern, and is developed to form resist patterns at a plurality of the regions (Steps 1 to 5).例文帳に追加

被エッチング層を備えたテスト基板の当該被エッチング層上にレジスト膜を形成し、レジスト膜の複数の部位を所定のテストパターンで露光量とフォーカス値とをそれぞれ変化させて逐次露光し、現像して、前記複数の部位にレジストパターンを形成する（ステップ1〜5）。 - 特許庁

The test pattern signal is further supplied from the programmable logic device 150 to a plurality of devices DUT to be tested, and output signals from the devices DUT to be tested are compared with the logical value in the programmable logic device 150, and the compared results are stored in the programmable logic device 150 as test results.例文帳に追加

テストパターン信号は、プログラマブルロジック装置１５０から、さらに複数の被試験デバイスＤＵＴに供給され、被試験デバイスＤＵＴからの出力信号は、プログラマブルロジック装置１５０で論理値と比較され、その比較結果は、試験結果として、プログラマブルロジック装置１５０に格納される。 - 特許庁

This target M of the non-contact extensometer is formed by a pattern different in optical property from the surface of the test pieces, which has an elliptical edge shape taking the extension direction (longitudinal direction) of the test piece S as a minor axis and the direction (cross direction) orthogonal to the extension direction as a major axis.例文帳に追加

試験片Ｓの伸び方向（長手方向）を短軸とし、上記伸び方向と直交する方向（幅方向）を長軸とした楕円状の縁部形状を有して試験片の表面とは光学的性質を異ならせたパターンからなる非接触伸び計ターゲットＭとする。 - 特許庁

The test cell is turned back at the subscriber side end of the ATM terminating apparatus 2 and when the private unit 4 confirms that the test cell pattern is normal and has no error, an LP2 release cell is transmitted from the private unit 4 to the ATM terminating apparatus 2.例文帳に追加

この試験用セルは、ＡＴＭ終端装置２の加入者側末端で折り返され、自社局内装置４にて、この試験用セルパタンに誤りがなく正常であると確認されると、自社局内装置４からＡＴＭ終端装置４へＬＰ２解除セルが送信される。 - 特許庁

A decorative pattern is formed by a synthetic resin emulsion prepared by mixing an acrylic resin emulsion having a yield value when the tensile test of a dry film is performed with an ethylene/vinyl acetate copolymer emulsion elastically deformed when the tensile test of the dry film is performed.例文帳に追加

乾燥皮膜の引張試験を行なったときに降伏値を有するアクリル樹脂エマルジョンと、乾燥皮膜の引張試験を行なったときに弾性変形するエチレン−酢酸ビニル共重合体エマルジョンとを混合した合成樹脂エマルジョンにより装飾模様を形成した装飾シート。 - 特許庁

To provide a generating method and the like generating both or either test programs and/or test pattern programs used in each of plurality of semi-conductor testing devices of different programming languages, in which processing lines are simple and vainness is removed, without artificial technique.例文帳に追加

プログラム言語が異なる複数の半導体試験装置のそれぞれで用いるテストプログラム及びテストパタンプログラムのいずれか又は両者を生成するための生成方法等であって、人為的な手法ではなく、処理工程がシンプルで無駄を取り除いた生成方法等を提供する。 - 特許庁

In the test pattern area 10, a plurality of unit test patterns 12, wherein ruled line patterns 14 corresponding to individual printing elements and having a fixed length in a relative moving direction are arrayed as parallel lines at different heights in the relative moving direction, are arrayed along the array direction of the printing elements.例文帳に追加

ここで、テストパターン領域１０は、個々の印刷素子に対応する罫線パターン１４であって、相対的な移動方向に一定長を有するものを、相対的な移動方向に段違いに配置した単位テストパターン１２が、印刷素子の配列方向に沿って複数個配列してなる。 - 特許庁

The compressing means stores the fail data at a predetermined compression ratio by allocating a plurality of addresses of the pattern memory to the single address of the data fail memory in the execution of the first test and executes the second test without compression on only the group having a plurality of addresses of the pattern memory corresponding to the fail data stored in the data fail memory.例文帳に追加

その圧縮手段は、第１回目のテスト実行において、パターンメモリの複数のアドレスをデータフェイルメモリの単一アドレスに割り当てることにより、フェイルデータを、あらかじめ定めた圧縮比率で格納し、そのデータフェイルメモリに格納されたフェイルデータに対応するパターンメモリの複数のアドレスを有するグループのみについて、圧縮をすることなく、第２回目のテストを実行する。 - 特許庁

When the difference between the density of the test pattern of the solid image formed by the nozzle group 78A on the inlet side and the density of the test pattern of the solid image formed by the nozzle group 78B on the outlet side read again by the optical sensor is at least the threshold value, a liquid flow rate adjusting means 84 is controlled so as to increase a flow rate to an ink outlet passage 80B.例文帳に追加

光学センサによって再度読み取った、流入口側ノズル群７８Ａによって形成されたベタ画像のテストパターンの濃度と、流出口側ノズル群７８Ｂによって形成されたベタ画像のテストパターンの濃度との差が閾値以上である場合、インク流出路８０Ｂへの流量を増加させるように液体流量調整手段８４を制御する。 - 特許庁

To detect the direction of deviation between the first and second LED print heads 2, 3, on the basis of a pattern formed by the first LED print head 2, overlapping with the pattern, two types of patterns for detecting rightward deviation and leftward deviation are formed by the second LED print head 3 on a photosensitive body, so as to form test patterns (first and second test patterns) for detecting rightward/leftward deviation.例文帳に追加

第１及び第２のＬＥＤプリントヘッド２、３間のずれの方向を検出するために、第１のＬＥＤプリントヘッド２で形成したパターンを基準に、それに重ねて第２のＬＥＤプリントヘッドで右ずれ及び左ずれ検出用の２種のパターンを感光体上に形成し、それぞれ左・右のずれ検出用のテストパターン（第１及び第２のテストパターン）を形成する。 - 特許庁

The evaluation device for a peripheral device of a personal computer with a universal serial bus temporarily stores a test pattern sent to the USB function and retransmits the token or discard it in response to the reply data from the USB function so as to attain programming without notifying a time until preparation of return of the DATA packet is finished and the design efficiency of the test pattern can be enhanced.例文帳に追加

ユニバーサルシリアルバスを持つパソコンの周辺機器の評価装置は、ＵＳＢファンクションに対し送出したテストパタンを一時的に保持して、ＵＳＢファンクションからの返信データに応じて再送、又は、破棄することにより、ＤＡＴＡパケットの返信の用意が完了するまでの時間を意識せずにプログラミングを行うことができ、テストパタンの設計効率を向上することができる。 - 特許庁

On both ends of a picture reading effective area, the test chart obtained by symmetrically filling a stripe pattern regulated by the same pixel pitch and the same density and a condensing lens position discriminating means 13 discriminating the aberration of the condensing lens 71 of the picture reader by discriminating both of the stripe pattern and the coinciding degree of density from picture data obtained by read-scanning this test chart.例文帳に追加

画像読取有効範囲の両端に、同じ画素ピッチと同じ濃度で規定された縞パターンを対称に記したテストチャートＴと、このテストチャートＴを読取走査した画像データから、縞パターンと、濃度の一致度合いとの双方を判別することによって、画像読取装置Ｆの集光レンズ７１の位置ずれを判別するようにした集光レンズ位置判別手段７６とを備える。 - 特許庁

Next, the density of the developer image attached to the non subject region in formation of the test pattern is detected, the ghost occurrence level and a transfer bias level in which no ghost phenomenon occurs based on the density level of the developer in the non subject region of the test pattern are estimated and the transfer bias level for image formation according to the estimate is set.例文帳に追加

そして、テストパターンの形成の際に非対象領域に付着した現像剤像の濃度を濃度検出センサ７１によって検知し、ゴースト発生レベルと、テストパターンにおける非対象領域の現像剤像の濃度レベルとに基づいてゴースト現象が発生しない転写バイアスレベルを推測し、その推測に応じた画像形成用の転写バイアスレベルを設定する。 - 特許庁

Thereby, because it can be decided whether trouble such as a fault of the fingerprint sensor 56 or dirt of the inspection face 561 occurs or not based on a comparison result of the test pattern 581, the trouble of the individual authentication can be found before the individual authentication is performed with the simple structure wherein the test pattern 581 formed on the opening/closing lid 58 is made to be read.例文帳に追加

これにより、テストパターン５８１の比較結果に基づいて、指紋センサ５６の故障や検査面５６１の汚れなどの不具合が発生しているか否かを判断することができるので、開閉蓋５８に形成されているテストパターン５８１を読み取らせるといった簡単な構成で、個人認証が行われる前に、個人認証の不具合を発見することができる。 - 特許庁

This design method for a semiconductor integrated circuit is provided with a net list creation step (S121) for creating a net list, which includes connection information between and inside macros of the semiconductor integrated circuit and identification information about the used macro, and a test pattern creation step (S122) creating a test pattern for the semiconductor integrated circuit on the basis of the identification information about the used macro inside the net list.例文帳に追加

半導体集積回路のマクロ間及びマクロ内の結線情報並びに使用するマクロの識別情報を含むネットリストを生成するネットリスト生成ステップ（Ｓ１２１）と、ネットリスト内の使用マクロの識別情報を基に半導体集積回路の試験パターンを生成する試験パターン生成ステップ（Ｓ１２２）とを有する半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁

To measure an output voltage of a circuit pattern using a tester with no extra space required for forming a test point on a substrate body that has the circuit pattern, related to a circuit board where a plurality of signal lines of a flexible flat cable are connected to the circuit pattern of the substrate body.例文帳に追加

フレキシブルフラットケーブルの複数の信号ラインが基板本体の回路パターンに接続されている回路基板において、回路パターンを有する基板本体にテストポイントを形成するためのスペースを余分に設ける必要性を無くしているにもかかわらず、回路パターンの出力電圧の測定をテスタを用いて測定することができるようにする。 - 特許庁

This method for inspecting a semiconductor circuit comprises both an operation step for making the semiconductor circuit operate by changing over between a pass condition for passing an output pattern of the semiconductor circuit of when a test pattern is inputted and a specification step for specifying the faulty part of the semiconductor circuit on the basis of the output pattern of when the semiconductor circuit is made to operate.例文帳に追加

試験パターンを入力したきの半導体回路の出力パターンがパスするパス条件とフェイルするフェイル条件とを途中で切り替えて動作させる動作ステップと、半導体回路を動作させたときの出力パターンを基に半導体回路の故障箇所を特定する特定ステップとを有する半導体回路の検査方法が提供される。 - 特許庁

During a shift mode of a scanning test, selectors SEL1-SEL3 select the path of inputting an input signal for a test pattern of a macro cell 23 from data input terminals 41-43 and supplying it to the macro cell 23, and test signals for scan path inputted from scan input terminals 44 are supplied to registers FF1-FF6 for scan path arranged in a user logic circuit.例文帳に追加

スキャンテストのシフトモード時において、セレクタＳＥＬ１〜ＳＥＬ３は、データ入力端子４１〜４３からマクロセル２３のテストパターン用の入力信号を入力してマクロセル２３に供給するパスを選択すると共に、スキャン入力端子４４から入力されるスキャンパス用のテスト信号がユーザ論理回路中に配されるスキャンパス用レジスタＦＦ１〜ＦＦ６へ供給される。 - 特許庁

Also, a medium 62 for test being the same as the slave 2 is supplied and adhered closely for the master carrier 3 held at the prescribed position, magnetic transfer is performed for the medium 62 for test, and a supply position of the slave 2 is verified by testing a transfer position of a transfer pattern in a magnetically transferred medium 62' by the transfer position test means 66.例文帳に追加

また、所定位置に保持されたマスター担体３に対してスレーブ媒体２と同一の検査用媒体６２を供給密着させて、該検査用媒体６２に磁気転写を行い、磁気転写がなされた検査用媒体６２’における転写パターンの転写位置を転写位置検査手段６６により検査することによりスレーブ媒体２の供給位置を検証する。 - 特許庁

A print management device 30 periodically reads data of the number of prints or the like from printers 50a and 50b and instructs print of a test pattern image to printers a prescribed period or longer after the latest day when print execution of the text pattern is instructed.例文帳に追加

印刷管理装置３０は、印刷枚数などのデータを定期的に印刷装置５０ａ，５０ｂから読み込み、テストパターン画像の印刷実行を指示した最新の日から所定期間以上経過したときなどに、該当する印刷装置に対してテストパターン画像の印刷の指示を行なう。 - 特許庁

When test pattern data 124 is supplied from a pattern memory 110 to an LSI 104 in synchronization with a reference clock signal 120, the LSI 104 operates based on the supplied data 124 to output data 104A corresponding to the data 124 and a strobe signal 8.例文帳に追加

基準クロック信号１２０に同期してパターンメモリー１１０からテストパターンデータ１２４がＬＳＩ１０４に供給されると、ＬＳＩ１０４は供給されたテストパターンデータ１２４にもとづいて動作し、同テストパターンデータに対応するデータ１０４Ａを出力すると共にストローブ信号８を出力する。 - 特許庁

Further, the system is provided with scanning adjustment means from 75 through 79 which automatically adjust a resonant scanner 14a and a galvanoscanner 14b for scanning the surface of the specimen with light so that the two-dimensional pattern of the confocal image coincides with the two-dimensional pattern of the color image when the two-dimensional test patter is picked up.例文帳に追加

また、二次元テストパターンを撮像したときに、共焦点画像の二次元パターンがカラー画像の二次元パターンに一致するように、試料表面を光で走査するためのレゾナントスキャナー１４ａ及びガルバノスキャナー１４ｂの自動調整を行う走査調整手段７５〜７９を備えている。 - 特許庁

In an inspection test by turning on electricity for the wiring pattern 4, if there is defective soldering such as insufficient strength due to lack of solder amount and failure to solder, the solder 7 will not allow a conductive path between the land 3 and the wiring pattern 4 and soldering with regard to the land 3 is detected as being 'open'.例文帳に追加

配線パターン４の通電による検査において、半田量の不足による強度不足や、半田付けのし忘れなどの半田付け不良の場合には、半田７がランド３と配線パターン４との間を導通させないので、ランド３に関する半田付けはオープンとして検出される。 - 特許庁

The lap supply device comprises: a CPU 31 for calculating a gear change pattern of the lap roller motor 26 on the basis of a measurement result for a spinning sliver weight obtained in test spinning; and a CPU 31 for controlling the lap roller motor 26 on the basis of the gear change pattern calculated by the CPU 31.例文帳に追加

ラップ供給制御装置は、試験紡出時の紡出スライバ重量の測定結果からラップローラ用モータ２６の変速パターンを演算するＣＰＵ３１と、ＣＰＵ３１により演算された変速パターンに基づきラップローラ用モータ２６を制御するＣＰＵ３１とを備えている。 - 特許庁

Therefore, this system does not require man-hours of extracting only the net list from the subject of verification, the man-hours of making the test pattern, the man-hours of analyzing whether the subject of verification is correctly connected from the output pattern, and others, so that this can confirm propriety of the connection between the macros, in a shorter time.例文帳に追加

よって検証対象からネットリストだけを抽出する工数や、テストパタンを作成する工数や、出力パタンから検証対象が正しく接続されているか解析する工数等を必要としないので、より短時間でマクロ間の接続の正当性が確認できる。 - 特許庁

A morphemic analyzing part 15a of a classification rule preparing part 15 executes the morphemic analysis of a test data group 21 stored in a data base 3, and a frequency pattern detecting part 15b detects the combination of words repeatedly appearing in a plurality of text data as a frequency pattern from the morphemic analysis results.例文帳に追加

分類ルール作成部１５内の形態素解析部１５ａは、データベース３に格納されたテキストデータ群２１を形態素解析し、頻出パターン検出部１５ｂは形態素解析結果から複数のテキストデータに繰り返し出現する単語の組み合わせを頻出パターンとして検出する。 - 特許庁

In situations where the electromagnetic wave is fed to the circuit 22 to be tested from the electromagnetic wave feeding part 18 and the test pattern is fed to the circuit 22 to be tested from the pattern feeding part 12, the power supply current measuring part 14 can measure the power supply current of the circuit 22 to be tested.例文帳に追加

電源電流測定部１４は、電磁波供給部１８により電磁波が被試験回路２２に供給され、パターン供給部１２によりテストパターンが被試験回路２２に供給されている状態において、被試験回路２２の電源電流を測定することができる。 - 特許庁

Meanwhile, if the size width (a) of the transfer paper 100 is not more than the predetermined size width L2 (value obtained by subtracting the width L1 of the detection pattern forming area from the width L of the conveying belt), the test pattern for detection is formed in parallel with an image to be formed on the transfer paper 100 in a main scanning line direction.例文帳に追加

一方、転写紙１００のサイズ幅ａが、所定サイズ幅Ｌ２（搬送ベルト幅Ｌから検知用パターン形成領域幅Ｌ１を減算した値）以下の場合は、転写紙１００に形成する画像と主走査線方向並列に検知用テストパターンを形成する。 - 特許庁

The supply current measuring part 14 can measure a supply current in the circuit 22 to be tested in the state where the electromagnetic wave is supplied to the circuit 22 to be tested by the electromagnetic wave supply part 18 and the test pattern is supplied to the circuit 22 to be tested by the pattern supply part 12.例文帳に追加

電源電流測定部１４は、電磁波供給部１８により電磁波が被試験回路２２に供給され、パターン供給部１２によりテストパターンが被試験回路２２に供給されている状態において、被試験回路２２の電源電流を測定することができる。 - 特許庁

An image density sensor 351 is provided in a sheet conveyance path disposed from a portion following fixation in a first stage apparatus 200 to a portion before transfer in a second stage apparatus 400 so as to detect a density of a test pattern (a pattern image) formed on a sheet P by the first stage apparatus 200.例文帳に追加

画像濃度センサ３５１は、前段機２００における定着後から後段機４００における転写前までの間における用紙の搬送経路に設けられており、前段機２００により用紙Ｐに形成されたテストパターン（パターン画像）の濃度を検出する。 - 特許庁

In a line image pattern formed by deviating the writing timing in a main scanning direction and/or a sub scanning direction, a toner image of line Y formed by an image forming means for Y in the test pattern is formed so as to be superposed within a matte patch range by M or C toner.例文帳に追加

主走査方向及び／又は副走査方向について書き込みタイミングをずらして形成した線像パターンで、該テストパターン内でＹの画像形成手段によって形成されたＹ線のトナー像はＭ又はＣトナーによるマット状のパッチ範囲内に重ねて形成されている。 - 特許庁