「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

In the operation aptitude test method, a combination of the stimulus and a selection button in response to it offsets the effect of learning of the previous operation aptitude test and shortens a period till a next operation aptitude test by using operation patterns 202, 203, 204, 205, and 206 different from a basic operation pattern 201.例文帳に追加

運転適性検査方法において、刺激とそれに対する選択ボタンとの組み合わせが基本操作パターン２０１とは異なる操作パターン２０２，２０３，２０４，２０５，２０６を用いることにより、前回の運転適性検査時の学習効果を相殺し、次回の運転適性検査までの期間を短縮して実施できるようにした。 - 特許庁

When an address signal bit (A0-A19) and/or a data bit (DQ0-DQ15) are accessed in the prescribed pattern state by the prescribed number of times continuously, setting of a test mode can be performed, a test command indicating test operation contents are indicated by using an address signal bit and/or a data bit.例文帳に追加

アドレス信号ビット（Ａ０−Ａ１９）および／またはデータビット（ＤＱ０−ＤＱ１５）が所定のパターンの状態で所定回数連続的にアクセスされると、テストモードの設定が可能となり、テスト動作内容を指定するテストコマンドをアドレス信号ビットおよび／またはデータビットを用いてテスト内容を指定する。 - 特許庁

To provide a memory board test device which can perform a test by applying a test pattern signal from any connection part side in a memory board having such a structure that a plurality of memory chips are incorporated, these memory chips are connected in parallel and both ends of these connection lines being connected in parallel are connected to the connection parts of one side and the other side.例文帳に追加

複数のメモリチップを搭載し、これら複数のメモリチップを並列接続し、この並列接続した接続線の両端を一方と他方の接続部に接続した構造のメモリボードにおいて、何れの接続部側からでも試験パターン信号を印加して試験を行うことができるメモリボード試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system capable of highly accurately determining correlation between the distribution pattern of defects in a semiconductor wafer found in a defect inspection, and the distribution pattern in a defective semiconductor chip found in an electric test, in a short time.例文帳に追加

欠陥検査で発見された半導体ウエハの欠陥の分布パターンと、電気的試験で発見された不良半導体チップの分布パターンとの間の相関関係を、極めて高い確度をもって、より高精度に短時間に行う。 - 特許庁

A pattern generator 4 repeatedly impresses the same test pattern to a DUT 2 via a driver 6, and power source current values measured in those times are turned into digital signals in a signal conversion circuit 8a so as to be supplied to an equalizing unit 8b.例文帳に追加

パタン発生器４からドライバ６を介してＤＵＴ２へ同一テストパタンを繰り返し印加し、そのとき測定された電源電流値を信号変換回路８ａでディジタル信号として平均化処理部８ｂへ供給する。 - 特許庁

To provide an exposure method, an exposure device, and a manufacturing method of a semiconductor device, capable of supplying an optimal exposure amount distribution on a wafer even if a dimensional error exists between a device pattern and an exposure amount adjustment test pattern.例文帳に追加

デバイスパターンと露光量調整用のテストパターンとの間に寸法誤差があっても、ウェハ上に最適な露光量分布を与えることが可能な露光方法、露光装置、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To generate a memory test pattern by VHDL description with respect to its method, device and program simply if a data sheet and a memory test sequence are prepared, without any knowledge of a very high speed integrated hardware description language (VHDL) and skill of circuit designing.例文帳に追加

本発明はメモリテストパターン合成方法，装置及びプログラムに関し，ＶＨＤＬの知識や回路設計スキルがなくても，メモリのデータシートやメモリテストシーケンスを用意すれば簡単にＶＨＤＬ記述のメモリテストパターンを作成できることを目的とする。 - 特許庁

In the operation test of the plurality of circuit blocks CB (1) to CB (m) having the same circuit structure, a common test pattern data TPD is transmitted to each of the circuit blocks CB (1) to CB (m) via selector circuits SLT (1) to SLT (m).例文帳に追加

同一の回路構成を有する複数の回路ブロックＣＢ（１）〜ＣＢ（ｍ）の動作テスト時において、共通のテストパターンデータＴＰＤをセレクタ回路ＳＬＴ（１）〜ＳＬＴ（ｍ）を介して、回路ブロックＣＢ（１）〜ＣＢ（ｍ）の各々へ伝達する。 - 特許庁

To provide a probe test device and its method which can easily analyze a main cause of fail bit by obtaining information of fail bit for each step in which a different test pattern is given to a semiconductor device such as a semiconductor memory and the like.例文帳に追加

半導体メモリ等の半導体装置に対して異なるテストパターンを与えるステップ毎にフェイルビットの情報を取得し、フェイルビットになった要因を容易に解析できるようにしたプローブテスト装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

When it is evaluated that the wiring pattern 111 for test reaches a reference level for shipment as a product, the test region 102 is cut from the substrate 100 and the remaining product region 101 is shipped as the product.例文帳に追加

評価の結果、テスト用配線パターン１１１が製品として出荷することができる基準レベルに達しているとされた場合、テスト領域１０２が基板１００から切り取られ、残った製品領域１０１が製品として出荷される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can cut the cost and time for a test by effectively using a spare cell which is originally used for circuit modification alone for raising trouble detection ratio by a shorter test pattern, and its modification method.例文帳に追加

本来回路修正のためだけに使用されるスペアセルを、より短いテストパターンで故障検出率を上げるために有効利用して、テストのためのコストと時間を削減することができる半導体集積回路およびその修正方法を提供する。 - 特許庁

The vehicle under test includes a projector equipped with the radio communication function, a reflector for adjusting the projection angle from the projector, and a screen displaying the vehicle speed pattern projected by the projector arranged on the front wind shield of the vehicle under test.例文帳に追加

被試験車両に、無線による送受信機能を有するプロジェクタと、このプロジェクタからの投射角を調整する反射体と、前記被試験車両のフロントウインドウに配設されてプロジェクタが投影した車速パターンを表示するスクリーンを設置する。 - 特許庁

The record timing in recording the best test pattern chosen from the two or more test patterns is stored, Based on the record timing, the registration adjustment at the reciprocating record corresponding to the recording medium curvature is made, and then the recording of image is performed.例文帳に追加

複数の前記テストパターンから選択された最良のテストパターンを記録した際の記録タイミングを格納し、この記録タイミングに基づいて、前記記録媒体の湾曲に対応した往復記録でのレジストレーション調整をして画像の記録を行わせる。 - 特許庁

To output an optional data pattern to a plurality of drive units in a test mode in a semiconductor device which accepts parallel data inputted to a plurality of terminals in a normal operation mode and accepts serial data by a particular terminal in the test mode.例文帳に追加

通常動作モード時には、複数の端子に入力されたパラレルデータを受け付け、テストモード時には、特定端子でシリアルデータを受け付ける半導体装置において、テストモード時に、任意のデータパターンを複数の駆動部に出力することを可能にする。 - 特許庁

An access point 1 performs radio communication with a radio terminal 2 by OFDM, and performs a return test of test pattern data for measuring an error rate for a guard interval time of the OFDM by providing a plurality of candidate values in the guard interval time.例文帳に追加

アクセスポイント１は、無線端末２との間でＯＦＤＭにより無線通信を行い、ＯＦＤＭのガードインターバル時間に対する誤り率を測定するためのテストパタンデータの折り返し試験をガードインターバル時間に複数の候補値を設けて行う。 - 特許庁

The apparatus generates a test pattern for the operation test of the built-in memory, which is used for a device having a memory macro, a serial input interface and a latch circuit for latching signals input serially and outputting them in parallel to the memory macro.例文帳に追加

メモリマクロと、シリアル入力インターフェースと、当該シリアル入力された信号をラッチしメモリマクロにパラレルに出力するラッチ回路とを有するデバイスに対する、当該内蔵メモリの動作試験用のテストパターンを発生するテストパターン発生装置に関する。 - 特許庁

To provide an electron beam lithography apparatus or lithographing method capable of discriminating during lithographing whether or not an electron beam is emitted onto a test piece, the electron beam lithography apparatus emitting an electron beam to the test piece to lithograph thereon a pattern circuit or the like.例文帳に追加

試料に電子線を照射してパターン回路等を描画する電子線描画装置において、電子線が試料に照射されているかどうかを描画中に判定できる電子線描画装置または描画方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test pad arrangement device and a program capable of arranging favorably a number of test pads as much as possible on a wiring pattern after lay-out design is finished, and capable of contributing to the facilitation of a trouble analysis and to the shortening of a trouble analysis time.例文帳に追加

レイアウト設計終了後の配線パターンにできるだけ多くのテストパッドを好適に配置することができ、故障解析の容易化および故障解析時間の短縮化に寄与することができるテストパッド配置装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

When an inspection result indicating that a chip has a defect in electrical characteristics is repeated ten times continuously, whether the cause is due to adhesion or attachment of an insulating substance on the probe head or not is judged by conducting a needle-point test using the test pattern T.例文帳に追加

チップの電気的特性が不良であるという検査結果が、１０回連続して得られた時には、その原因がプローブ先端への絶縁物の固着や付着にあるかどうかを、テストパターンＴを使用した針先テストを行って判断する。 - 特許庁

When an address generated from the test pattern generating section 105 coincides with a defective address stored in the fail information storing section 108, a checker pattern is inputted to each memory after relieving processing without changing data from the test pattern generating section 105 by using a data scramble section 107 discriminating whether data inputted to a memory is reversed or not in accordance with a value of the least significant bit of a defective address.例文帳に追加

テストパターン生成部１０５から生成されるアドレスがフェイル情報格納部１０８に格納された不良アドレスと一致した場合に、不良アドレスの最下位ビットの値に応じてメモリへのデータ入力を反転させるかどうかを判定するデータスクランブル部１０７を用いることで、テストパターン生成部１０５からのデータを変更することなく、救済処理後の各々のメモリに対して、チェッカーパターンを入力する。 - 特許庁

A test pattern recording and reproducing operation when optimum detrack amounts is obtained is performed by changing the detrack amount in recording and also the detrack amount in reproduction gradually.例文帳に追加

最適なデトラック量を求める際のテストパターンの記録再生動作について、記録時のデトラック量と共に再生時のデトラック量も段階的に変化させて行う。 - 特許庁

Signals fixed to the logic level H or L are inputted to input terminals INm+1 to INn of a functional macro 1 in at least one test pattern.例文帳に追加

また、集積回路が複数の機能マクロを内蔵する場合に、試験用外部端子を少なくしてコストの削減を図るとともに、各機能マクロの試験時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device permitting to write a data pattern consisting of bit-string data including at least one or more zero logic, and to provide an electrical test method therefor.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の０論理を含むビット列データからなるデータパターンを書き込むことができる半導体メモリ素子およびその電気的検査方法を提供する。 - 特許庁

When a power source is switched on, the luminous device displays a specific test pattern, and detects the luminance by a photoelectric transducing element 106 arranged on each pixel and stores it in a storage circuit 104.例文帳に追加

電源投入時、特定のテストパターンを表示して、各画素に配置された光電変換素子１０６によって輝度を検出し、記憶回路１０４に格納する。 - 特許庁

The test pattern lines can be designed, to evaluate the effectiveness of a method used for correcting optical proximity effects, microloading effects, or other process effects.例文帳に追加

テストパターン線は、光学近接効果、マイクロローディング効果、または、他のプロセス効果を補正するための方法の有効性を評価するように設計されることが可能である。 - 特許庁

After skew adjustment, the skew file confirming pattern comparing part 27 is used to re-adjusting the skew, and then the corrected skew file is used for functional test of the DUT31.例文帳に追加

スキュー調整後、スキューファイル確認用パターン比較部２７を用いてスキューの再調整を行い、修正したスキューファイルを用いてＤＵＴ３１の機能試験を行う。 - 特許庁

To obtain a logic LSI which is shortened in testing time by making the preparation of an input pattern for test extremely easier and, at the same time, is improved in measurement accuracy by making measurement extremely easier.例文帳に追加

テスト用入力パターンの作成を極めて容易にし、試験時間を短縮すると共に、測定を極めて容易にし、測定効率を改善した論理ＬＳＩを得る。 - 特許庁

Set times Ta1 and Ta2 consider jitter generated on the belt by contact and separation operation in contact and separation and secure transfer of the normal images and transfer braking of the test pattern.例文帳に追加

設定時間Ｔa1、Ｔa2は、接離時に接離動作によりベルトに発生するジッタを考慮し、通常画像の転写とテストパターンの転写制動を確保する。 - 特許庁

To provide a technology in which a test pattern for determining the correction value of positional shift at the time of bi-directional printing can be printed depending on a print mode being used actually.例文帳に追加

実際に使用される印刷モードに応じて、双方向印刷時の位置ズレの補正値を決定するためのテストパターンを印刷することができる技術を提供する。 - 特許庁

In addition, the receiver 4 counts the number of code errors of the test pattern and determines which transmission line among the respective transmission lines is used as the operation system from a counting result.例文帳に追加

また、受信装置４は、テストパターンの符号誤りの数を計測し、計測結果から各伝送路のうちいずれの伝送路を運用系として用いるか決定する。 - 特許庁

Or the image forming apparatus or the image processing apparatus is provided with a means for comparing the expanded data from the extension memory 21 with the original test pattern data and discriminating whether or not they are coincident.例文帳に追加

又は、増設メモリ２１の伸張したデータを元のテストパターンデータと比較して一致するかを判定する手段を備える画像形成装置又は画像処理装置。 - 特許庁

The leakage current of the pin electronic part in each test pattern is measured and stored preliminarily, and an influence of the leakage current is corrected by the stored value.例文帳に追加

各テストパターンにおけるピンエレクトロニクス部のリーク電流を予め測定して保存しておき、この保存された値によりリーク電流の影響を補正するようにした。 - 特許庁

To provide a photosensitive composition which is excellent in TCT (thermal cycle test) resistance and insulation reliability, as well as a photosensitive laminate, a method for forming a permanent pattern, and a printed board.例文帳に追加

ＴＣＴ（サーマルサイクルテスト）耐性及び絶縁信頼性に優れた感光性組成物、並びに、感光性積層体、永久パターン形成方法、及びプリント基板の提供。 - 特許庁

The driver's aid auxiliary 5b displays progression of the travel test by changing color of a travel route based on the command value of a travel speed pattern.例文帳に追加

そして、ドライバーズエイド補助装置５ｂは、走行速度パターンの指令値に基づいて走行経路の色を変化させる等により走行試験の経過状態を表示する。 - 特許庁

The image-forming part 3 includes an image-reading part (A) which detects the color and surface reflection light quantity of the color image of the test pattern which has been output to the paper sheet in the image-forming part 3.例文帳に追加

また、画像形成部３で用紙に出力されたテストパターンのカラー画像の色と表面反射光量とを検知する画像読み取り部Ａを備える。 - 特許庁

Terrain information 13 of a road surface on which the travelling test is performed is displayed on a region (main screen 11) on which the traveling speed pattern 12 of the driver's aid display device 4 is displayed.例文帳に追加

ドライバーズエイド表示装置４の走行速度パターン１２が表示される領域（メイン画面１１）に、走行試験を行う路面の地形情報１３を表示する。 - 特許庁

To form a test pattern that determines the proper inkjetting amount even when a hygrothermal environment in which an inkjet recording device is placed varies.例文帳に追加

インクジェット記録装置の置かれた温湿度環境が変動した場合にも、適正なインク打込み量を判断することができるテストパターンを作成できるようにする。 - 特許庁

A secondary electron emitted from a wafer is detected by a detector 41-9, and converted into image data by an image processing part 42-9, and a prescribed pattern test is carried out.例文帳に追加

ウエハから放出された二次電子は、検出器４１−９で検出され、画像処理部４２−９で画像データに変換され、所定のパターン検査が実施される。 - 特許庁

Attribute information 64 on a print job is printed and simultaneously a test pattern image 61 is formed on the first printing paper P, when print job data is received.例文帳に追加

印刷ジョブデータを受信すると、まず、１枚目の印刷用紙Ｐに、印刷ジョブに関する属性情報６４を印字すると共に、テストパターン画像６１を形成する。 - 特許庁

This invention is achieved by improving an IC tester which provides an object to be tested with a test pattern and compares output of the object to be tested with an expected value to perform tests.例文帳に追加

本発明は、被試験対象に試験パターンを与え、被試験対象の出力と期待値とを比較し、試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

When the test pattern is projected on the screen S, a user then inputs identification information for identifying a partial graphic that is shaped most closely to the standard graphic.例文帳に追加

つぎに、使用者は、テストパターンをスクリーンＳ上に投射したときに、標準図形と最も近い形状となる部分図形を識別するための識別情報を入力する。 - 特許庁

To improve LSI quality by facilitating generation of a test pattern between a plurality of clock domains, and by improving a detection rate of a delay fault between the clock domains.例文帳に追加

複数のクロックドメイン間のテストパターンの生成の容易化およびクロックドメイン間の遅延故障の検出率の向上を図ることにより、ＬＳＩの品質向上を図ること。 - 特許庁

As a result, the large current characteristic of the main pattern 1 can be obtained with high precision, from characteristic which is obtained by a probe test using a fine current in the subpattern 2.例文帳に追加

従って、サブパターン２おける微小電流によるプローブテストで得られた特性から、メインパターン１の大電流特性を高い精度で得ることが可能である。 - 特許庁

To provide a method of forming a test pattern of a semiconductor device that allows recognizing an overetch or an underetch occurring at a side wall after an etching process.例文帳に追加

エッチング工程後に側壁で発生するオーバーエッチングまたはエッチング不足を確認することが可能な半導体素子のテストパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

First display apparatuses 2a to 2d display an image quality evaluation test pattern at one point of time and a digital camera 6 photographs the patterns displayed on the display apparatuses and thereafter stores the patterns to a storage means 3c.例文帳に追加

一時点において、画質評価用のテストパターンを第１のディスプレイ２ａ〜２ｄに表示し、これをデジタルカメラ６で撮影した後、記憶手段３ｃに記憶する。 - 特許庁