「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

A printer 100 comprises a section 21 for detecting a state change at each section, a section 23 storing the image data of a plurality of test patterns, and a section 22 for selecting the image data of a test pattern corresponding to a state change detected at the state detecting section 21 among the image data for generating a test pattern stored at the data storage section 23.例文帳に追加

プリンタ１００は、各部位における状態変化を検出する状態検出部２１と、複数のテストパターンの画像データを記憶しているデータ記憶部２２と、データ記憶部２２に記憶されているテストパターン作成用の画像データの中から状態検出部２１によって検出された状態変化に対応したテストパターンの画像データを選択する選択部２２とを備える。 - 特許庁

The built-in self-test circuit 11 further has decoders 20-23 having a plurality of encoded processing data and successively decoding and outputting the processing data in response to each received common control signal Ccs respectively and a test pattern generating circuit 13 outputting bit data corresponding to the processing data received from the decoders 20-23 to the DRAM 17 as each test pattern.例文帳に追加

組込み自己テスト回路１１は更に、符号化された複数の処理データを有し、受け取った各共通制御信号Ｃｃｓに夫々対応して処理データを順次に復号化して出力するデコーダ２０〜２３と、デコーダ２０〜２３から受け取った処理データに対応するビットデータを各テストパターンとしてＤＲＡＭ１７に出力するテストパターン発生回路（１３）とを有する。 - 特許庁

The semiconductor memory test pattern forming method is structured; to make the operation data of the semiconductor memory test pattern described in a format independent of the types of semiconductor testing apparatus and; to output the test specifications of the above semiconductor memory based on the above operation data after verifying the above operation data with an emulation function corresponding to the above format.例文帳に追加

半導体メモリの試験パターンを作成する方法において、半導体試験装置の種類に依存しないフォーマットで記述された半導体メモリ試験パターンの動作データを作成し、上記動作データを上記フォーマットに対応するエミュレート機能により検証した後、上記動作データにもとづいて上記半導体メモリの試験仕様書を出力する構成とする。 - 特許庁

A burn-in test control and pattern generating circuit 503 is provided at periphery of a memory circuit as an exclusive test circuit at the reliability test such as burn-in inside a semiconductor integrated circuit including a memory circuit, the circuit supplies a pattern being able to apply appropriate stress, and it is confirmed whether the stress is applied correctly or not by providing an output discriminating circuit 505 inside the circuit.例文帳に追加

メモリ回路を含む半導体集積回路内部にバーンイン等の信頼性テスト時にメモリ回路周辺に専用のテスト回路としてバーンインテスト制御およびパターン発生回路５０３を設け適切なストレス印加が可能なパターンを供給し、この出力を回路内部に出力判定回路５０５を設けストレスが正しく印加されているか確認する。 - 特許庁

To provide a projector capable of realizing processing for autofocus or processing for correcting image distortion using a test pattern even while displaying a video according to an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパタンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

The test pattern is read by a sensor 41 installed right after each printing head 12 and a defective discharge nozzle inside each printing head is detected from the image.例文帳に追加

該テストパターンを各印字ヘッド１２の直後に備えられたセンサ４１で読み取り、この画像から各印字ヘッド１２内の吐出不良ノズルが検出される。 - 特許庁

To obtain a small-sized and inexpensive circuit that generates a frame pattern for a test device for high-speed data communication.例文帳に追加

本発明の課題は、上記問題点に鑑み、高速データ通信の試験装置における安価かつ小型なフレームパターンを発生する回路を提供することである。 - 特許庁

To provide a projector constituted to perform autofocus and image distortion correcting processing using a test pattern while displaying a video by an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパターンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を常時可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

To provide the sticking position determination apparatus of an imaging element capable of accurately determining the sticking position of an imaging element using a test pattern easy to prepare.例文帳に追加

撮像素子の貼付け位置を作成容易なテストパターンを使用して正確に決定することのできる撮像素子貼付け位置装置等を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device capable of operating by a DDR system using a pattern memory without changing an operation frequency of a rate signal.例文帳に追加

レート信号の動作周波数を変更することなく、パターンメモリを用いてＤＤＲ方式で動作することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide an image recorder and an image recording method which can output a good image by suppressing the effect of defective print of a test pattern for correcting density.例文帳に追加

濃度補正用テストパターンの印字不良の影響を抑え、良好な画像出力を行うことができる画像記録装置、画像記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a judgement method and a device suitable for judgement of roughness of a line and a space pattern formed on a test piece.例文帳に追加

本発明の目的は、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供することにある。 - 特許庁

A pattern control board 80 is mounted with connectors 121 to 126 for externally outputting the test signal from the testing CPU 161.例文帳に追加

そして、図柄制御基板８０には、試験用ＣＰＵ１６１からの試験信号を外部に出力するためのコネクタ１２１〜１２６が搭載されている。 - 特許庁

The sheet is then fed up to a position where the carrying amount is regulated by means of a sheet discharge roller (S130), and the plurality of test pattern images are printed (S140).例文帳に追加

次に、排紙ローラにより搬送量が調整される位置まで紙送りし（Ｓ１３０）、上記複数のテストパターン画像を印刷する（Ｓ１４０）。 - 特許庁

To solve the difficulty of correctly reading the color of ink because a difference between the color of a transfer belt and the color of the ink is small when a test pattern is formed on the transfer belt.例文帳に追加

搬送ベルト上にテストパターンを形成すると搬送ベルトの色とインクの色の差が小さいため正確に読取ることが困難である。 - 特許庁

To clarify the defect of a driving system by eliminating color variation in a low density imaging area and adjusting an apparatus with a corrected test pattern.例文帳に追加

低濃度の画像形成領域の色変動をなくし、補正されたテストパターンで装置を調整して、駆動系の持つ不具合を明確にするようにする。 - 特許庁

The method generates the test pattern that is hardly perceptible to human observation, but detectable by an imaging device in a printer on an image receiving member.例文帳に追加

方法が、人間観察に知覚されにくく、それにもかかわらずプリンタの中の画像装置により検出可能なテストパターンを受像部材上に生成する。 - 特許庁

To provide a projector capable of always realizing processing for autofocus or processing for correcting image distortion using a test pattern even while displaying a video according to an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパターンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を常時可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

The image recording condition when the dot diameter D becomes the predetermined size in the test pattern image can be inputted into the control device 9.例文帳に追加

この制御装置９には、テストパターン画像においてドット径Ｄが所定の大きさとなるときの画像記録条件を入力可能となっている。 - 特許庁

Signals corresponding to the respective beams of the multiple beams by the secondary electron group are detected by a plurality of detectors, and the evaluation of the pattern on the test piece face is carried out.例文帳に追加

複数の検出器で二次電子群によるマルチビームの各ビームに対応する信号を検出し、試料面上のパターンの評価を行なう。 - 特許庁

To implement a function verification by inputting arbitrary image data within small circuit scale, without the need to prepare a test pattern or an expected value.例文帳に追加

テストパターンや期待値を予め用意する必要がなく、少ない回路規模で、任意の画像データを入力して機能検証の実施を可能にする。 - 特許庁

At that time, the control device 50 controls the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23 according to a charging and discharging pattern of the plurality of test pieces 31 to 33.例文帳に追加

その際、複数の複数の試料３１〜３３の充放電パターンに応じて、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３を制御する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus for appropriately adjusting image quality by improving the transferability of a test pattern from an intermediate transfer body to a belt member.例文帳に追加

中間転写体からベルト部材へのテストパターンの転写性を良好にして、適正に画質調整を行うことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the printer controller 160 reads this preset value from the NVRAM 161, combines the read preset value with a test pattern image and thereby, creates/prints factory pages.例文帳に追加

プリンタコントローラ１６０はこの設定値をＮＶＲＡＭ１６１から読み出し、テストパターン画像と組み合わせて工場ページを生成し、印刷する。 - 特許庁

A decision is made whether the image data falls within an allowable range from a true test pattern or not (S108) and the decision results are outputted (S110, 112).例文帳に追加

そして、画像データが真のテストパターンからの許容範囲内にあるか否かを判定し（Ｓ１０８）、その判定結果を出力する（Ｓ１１０，１１２）。 - 特許庁

After that, an image recognizing section 206 extracts the leading end of transfer paper and the leading end of the test pattern from an image stored in the image storage section 203.例文帳に追加

その後、画像記憶部２０３に記憶された画像より、転写紙先端とテストパターン先端の部分を画像認識部２０６にて、抽出する。 - 特許庁

A test pattern is printed using an ink other than yellow and defective nozzles are specified by checking all nozzles in each nozzle array of a print head unit 21.例文帳に追加

イエロー以外のインクを用いてテストパターンを印刷して印字ヘッドユニット２１の各ノズル列４３の全ノズル４２をチェックし不良ノズルを特定する。 - 特許庁

Print data for printing the test pattern is generated by performing halftoning using a diffusion matrix where the weight value of error diffusion is adjusted.例文帳に追加

このテストパターンを印刷するための印刷データは、誤差拡散の重み値を調整した拡散マトリクスを用いてハーフトーン処理することによって生成する。 - 特許庁

To provide a drawing apparatus capable of drawing a test pattern for adjusting alignment at a high speed and at a high adjusting resolution level, and to provide a drawing method.例文帳に追加

アライメント調整用のテストパターンを高速且つ高い調整分解能レベルで描画可能な描画装置、および描画方法を提供すること。 - 特許庁

A controlling part 2 corrects a delivering period of an ink delivering control signal on the basis of a test pattern recorded beforehand onto the sheet material by an inkjet head 8.例文帳に追加

制御部２はインクジェットヘッド８により予めシート材に記録されたテストパターンに基づいてインク吐出制御信号の吐出周期を補正する。 - 特許庁

In addition, the amplitude of the detected output signal is compared with a reference value, thus judging as to whether the junction state between the test pin 17 and pattern 17a is confirming.例文帳に追加

さらに、検出された出力信号の振幅を基準値と比較し、テストピン１７とパターン１７ａとの接合状態の良否を判定する。 - 特許庁

To prevent false recognition of a chip coordinate correction value due to an unstabilized electrical contact test of an inspection start chip, caused by defective pattern formation in a wafer outermost circumference.例文帳に追加

ウェハ最外周でのパターン形成不備による検査スタートチップの電気接触試験の不安定化によるチップ座標補正値の誤認識を防止する。 - 特許庁

Carrying amount of each roller can thereby be corrected by performing input operation based on a printed test pattern image (S160-S210).例文帳に追加

このため、印刷したテストパターン画像に基づく入力操作を行わせることで、各ローラによる搬送量を補正することができる（Ｓ１６０〜Ｓ２１０）。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of accurately performing image density correction using an output test pattern by eliminating a reading error of an image reading means.例文帳に追加

画像読取手段の読取誤差を解消し、出力テストパターンを用いた画像濃度補正を精度良く行うことが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a layout display apparatus and method which enables to display, in a short time, a defined layout pattern in lithographic data or test data.例文帳に追加

描画データもしくは検査データに定義されたパターンレイアウトを短時間で表示することが可能なレイアウト表示装置およびレイアウト表示方法を提供する。 - 特許庁

An excessive polishing condition calculation device 30 which calculates an excessive polishing condition acquires a condition under which excessive polishing occurs, based on the results of polishing with a test pattern.例文帳に追加

過研磨条件を算出する過研磨条件算出装置３０は、試験パターンに対する研磨結果から、過研磨が発生する条件を求める。 - 特許庁

A sensitivity ratio calculation section 86 calculates a sensitivity ratio of each of signals of C and M having sensitivity to cyan for each density value of the test pattern of cyan.例文帳に追加

感度比率算出部８６によって、シアンのテストパターンの濃度値毎に、シアンに感度を有するＣ、Ｍの各信号の感度比率を算出する。 - 特許庁

To save the consumption of paper by urging the reuse of paper used for printing a test pattern, and to alleviate a workload of a user when the user reuses the paper.例文帳に追加

テストパターン印刷に用いる用紙の再利用を促して用紙の消費を節約すると共に用紙を再利用する際のユーザーの作業負担を軽減する。 - 特許庁

Through the image of the chart pattern and the image of the reticle projected on the screen 18 in a magnified manner, the resolution and eccentricity of the test lens 12 are evaluated.例文帳に追加

スクリーン１８に拡大投影されたチャートパターンの像及びレチクルの像によって、被検レンズ１２の解像度及び偏芯状態が評価される。 - 特許庁

Concerning the test pattern corresponding to the ratio having the highest value of a plurality of computed ratios, a focus point upon exposure is a best focusing (step S14).例文帳に追加

算出した複数の比率のうち最も値が大きい比率に対応するテストパターンについて露光した時のフォーカスポイントをベストフォーカスとする（ステップＳ１４）。 - 特許庁

A focus detection part (123) images the projected test pattern and detects a focus at a position on a multi-projection screen depending on the configuration of multi-projection.例文帳に追加

焦点検出部（１２３）は、投影されたテストパターンを撮像し、マルチ投影の構成に応じた、マルチ投影画面上での位置でフォーカスを検出する。 - 特許庁

The flare amount of a test pattern (Σ(K(i, j)×X (x+i, y+j))) is stored beforehand, and the input image Y (x, y) is corrected by Y(x, y)/(1+flare amount).例文帳に追加

テストパターンのフレア量（Σ（Ｋ（ｉ，ｊ）×Ｘ（ｘ＋ｉ，ｙ＋ｊ）））を予め記憶しておき、入力画像Ｙ（ｘ，ｙ）を、Ｙ（ｘ，ｙ）／（１＋フレア量）により補正する。 - 特許庁

A unit delay simulator 4 is actuated first and the gate and wires of the logic circuit are estimated to a uniform delay time to find answer output to a test pattern.例文帳に追加

当初、ユニット遅延シミュレータ４を起動し、論理回路のゲートおよび配線を一律の遅延時間に見積もってテストパタンに対する応答出力を求める。 - 特許庁

Logical circuit simulation 302 is executed by using an RT net list of the entire LSI and a test pattern 301 to collect the number 303 of memory accesses.例文帳に追加

ＬＳＩ全体のＲＴネットリスト及びテストパタン３０１を用いて論理回路シミュレーション３０２を実行し、メモリアクセス回数３０３を収集しておく。 - 特許庁

A test pattern formed in a belt 33 is read, and the resulting speed variation data of the belt 33 based on the reading result is stored beforehand.例文帳に追加

ベルト３３に形成されたテストパターンを読み取り、その読取結果に基づいて求められたベルト３３の速度変動データを予め記憶しておく。 - 特許庁