「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

An LSI tester 111 acquires the core number and the version number of the used IP, referring to the register block 106, and acquires the test pattern 114, referring to the test vector table 115.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１１１は、レジスタブロック１０６を参照して、利用されているＩＰのコア番号及びバージョン番号を獲得し、それによりテストベクタテーブル１１５を参照してテストパタン１１４を獲得する。 - 特許庁

When a test key of a control panel or a remote control device is operated by the user, a control part controls to superpose and display a test pattern TP (horizontal line Lh and vertical line Lv) on an input image Pi.例文帳に追加

制御部は、ユーザによって操作パネル又はリモコンのテストキーが操作されると、入力画像Ｐｉ上にテストパターンＴＰ（水平ラインＬｈ及び垂直ラインＬｖ）を重畳表示させる。 - 特許庁

Also, the test device main body 1 is so configured that a waveform of a pattern signal is multiplied in the socket substrate and is connected to terminals of the ICs as test objects through a scramble part which can selectively change over the signal accelerated by the multiplication.例文帳に追加

ソケット基板においてパターン信号の波形を逓倍し，逓倍により高速化した信号を選択切替えられるスクランブル部を介して試験対象のＩＣの端子と接続するよう構成する。 - 特許庁

The modulation conditions for the exposure light quantity in the lithographic processes are selected so as to control the dimensional variance of the test patterns to a specified value or smaller on the basis of the dimensional variance of the test pattern (S4, S5).例文帳に追加

テストパターンの寸法ばらつきに基づいて、当該テストパターンの寸法ばらつきが所定値以下となるように、リソグラフィー処理における露光量変調条件を選択する（Ｓ４〜Ｓ５）。 - 特許庁

To execute simulation by generating an integrated test pattern by merging plural test patterns for verification at the time of simulation.例文帳に追加

複数の検証用テストパタンをシミュレーション時にマージして、一体化したテストパタンを生成し、シミュレーションを実施することのできる回路検証用シミュレーション装置及び回路検証用シミュレーション方法を提供する。 - 特許庁

Based on the compared result, the inkjet recorder selects the test pattern with the most impact amount of ink among a plurality of test patterns in a range not exceeding the receiving performance of the recording medium.例文帳に追加

インクジェット記録装置は、その比較した結果に基いて、複数のテストパターンから、記録媒体の受容能力を越えない範囲において、最もインク打ち込み量の多いテストパターンを選択する。 - 特許庁

To provide a driver IC also having a function capable of supplying test pattern signals for the inside of the IC without the need for the supply of various test patterns signals from the outside and to provide an inspection method of the same.例文帳に追加

外部から各種検査パターン信号を供給することなく、ＩＣ内部に検査パターン信号を供給できる機能を併せ持たせたドライバＩＣ及びその検査方法を提供すること。 - 特許庁

Next, a predetermined value is set for the argument, and a test pattern including the test program and the argument set with the predetermined value is created and supplied to the semiconductor circuit to be tested.例文帳に追加

次に、前記引数に所定の値を設定して、前記テストプログラムおよび前記所定の値が設定された引数を含むテストパタンを生成し、前記テスト対象の半導体回路に供給する。 - 特許庁

To provide a substrate tester and a test condition setting method capable of selecting a test condition suited to a substrate even when surface pattern information of the substrate is unobtainable in advance.例文帳に追加

基板表面のパターンの情報が事前に得られなくても、基板に適した検査条件を選択することができる基板検査装置および検査条件設定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The interval of via contacts 4 in a substrate is widened by putting together four gold pads 2 on the test substrate 1, to thereby enable to arrange efficiently a wiring pattern 5 in the test substrate on one layer.例文帳に追加

試験基板１の４個の金パッド２を１まとめにすることで、基板内のビアコンタクト４の間隔が広がって、試験基板内配線パターン５を１つの層に効率良く配置できるようになる。 - 特許庁

After power supply voltage drop completion in a power supply domain D113, the test control section 103 transmits a test pattern through the address/data bus 101 to the functional circuit block D109 and compares a result with an expected value.例文帳に追加

電源ドメインＤ１１３の電源電圧降圧完了後、テスト制御部１０３は、アドレス／データバス１０１を介して機能回路ブロックＤ１０９にテストパターンを送信し、その結果を期待値と比較する。 - 特許庁

A step pulse is applied through a measuring pad 14 composing a part of one end of the test coupon, and an impedance of every test coupon is calculated from a reflection wave reflected from a connection of each pattern wiring portion.例文帳に追加

テストクーポンの一端を構成する測定用パッド１４からステップパルスを印加して、各パターン配線部の接続部から反射する反射波から各テストクーポン毎のインピーダンスを算出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit test design support device capable of creating a test pattern preventing malfunction of a chip even when simultaneously operating functional blocks on the chip in a range wider than actual operation.例文帳に追加

チップ上の機能ブロックを実動作よりも、広範囲かつ同時に動作させても、チップを誤動作させないテストパターンを作成できる半導体集積回路テスト設計支援装置を提供する。 - 特許庁

The input pattern is imparted to the semiconductor integrated circuit 112 from the test bench 102, and an output from the semiconductor integrated circuit 112 and the output expected value automatically prepared within the test bench 102 are compared.例文帳に追加

そして、テストベンチから入力パターンを半導体集積回路１１２へ与えるとともに、半導体集積回路からの出力とテストベンチ内で自動作成した出力期待値を比較する。 - 特許庁

The personal computer 1 varies a ratio of color signals RGB to generate various test pattern signals under a plurality of color temperature conditions and allows the color image display panel to display various test patterns.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ１は、色信号ＲＧＢの比率を変えることにより複数の色温度条件のもとで各種テストパターン信号を発生しカラー画像表示パネルに各種テストパターンを表示させる。 - 特許庁

The control unit 21 generates a test pattern, supplies a liquid crystal panel 10 therewith, and acquires an output image from an image pickup camera 30.例文帳に追加

そして、制御部２１は、テストパターンを生成し、液晶パネル１０に供給し、撮影カメラ３０から出力画像を取得する。 - 特許庁

A test pattern print signal for determining a correction value of sheet feed amount is stored as a part of data constituting a printer driver.例文帳に追加

紙送り量の補正値を決定するためのテストパターン印刷信号は、プリンタドライバを構成するデータの一部として格納されている。 - 特許庁

Subsequently, the sheet is fed up to a position where the carrying amount is regulated by means of a sheet discharge roller (S130), and the test pattern image is printed (S140).例文帳に追加

次に、排紙ローラにより搬送量が調整される位置まで紙送りし（Ｓ１３０）、上記テストパターン画像を印刷する（Ｓ１４０）。 - 特許庁

To reduce influence to an effect of suppressing density variation of a printed image when a distortion occurs on a test pattern printed by a single color.例文帳に追加

単色にて印刷されたテストパターンに歪みが生じた場合の、印刷画像の濃度ムラを抑制する効果への影響を低減する。 - 特許庁

A ratio of the TOP dimension to the BOTTOM dimension (the TOP dimension/the BOTTOM dimension) is computed for each test pattern (step S13).例文帳に追加

テストパターンごとに、ＴＯＰ寸法とＢＯＴＴＯＭ寸法の比率（ＴＯＰ寸法／ＢＯＴＴＯＭ寸法）を算出する（ステップＳ１３）。 - 特許庁

In a processing (ST3), according to a test pattern 33 for verification and the event 34, simulation to the virtual scan chain is executed.例文帳に追加

処理（ＳＴ３）では、検証用のテストパターン３３及び事象３４に従って、仮想スキャンチェーンに対するシミュレーションを実行する。 - 特許庁

Since the same test pattern TPb is also formed on the other surface Sb of the sheet S, the density difference between these images is emphasized when observed.例文帳に追加

シートＳの反対面Ｓｂにも同様のテストパターンＴＰｂを形成するので、両画像部の濃度差が強調されて見える。 - 特許庁

To obtain a printer in which a sensor can detect an optimal test pattern even when it is formed of light color ink.例文帳に追加

テストパターンが淡い色のインクで形成されている場合であっても、センサが最適なテストパターンを検出することができるようにする。 - 特許庁

Then, the CPU 20 instructs an operation decoding circuit 440 to transfer a test pattern from the transfer source node to a different transfer destination.例文帳に追加

すると、ＣＰＵ２０は転送元ノードから異なる転送先へテストパタンを転送する指示をオペレーション解読回路４４０へ行う。 - 特許庁

Input means 110 receives a text definition file containing description of a specific test pattern including one or more segment description statements.例文帳に追加

入力手段１１０は、１つ以上のセグメント記述ステートメントを含む特定テスト・パターンの記述を含むテキスト定義ファイルを受け入れる。 - 特許庁

A test pattern is printed by ejecting ink of each color with a density corresponding to a halftone from an ink head 16 in a carriage 15.例文帳に追加

キャリッジ１５内のインクヘッド１６から各色毎のインクを中間階調に相当する濃度で吐出して、テストパターンをプリントする。 - 特許庁

To provide a test pattern where the deviation value between yellow Y, magenta M, cyan C and black K which are formed so as to be superposed can be clearly detected.例文帳に追加

重ね合わせて形成されるイエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、黒（Ｋ）間での画像のずれ量が明確に検知されるテストパターン。 - 特許庁

To provide a printing correction method for photographing with a digital camera a printing correction test pattern printed by a printer, and generating data for printing correction.例文帳に追加

プリンタが印刷した印刷補正テストパターンをデジタルカメラで撮影し、印刷補正のデータを生成する印刷補正方法を提供する。 - 特許庁

A test pattern including a plurality of color patches being printed using different correction values is printed according to an interlace recording mode.例文帳に追加

まず、異なる補正値を用いてそれぞれ印刷される複数のカラーパッチを含むテストパターンをインターレース記録モードに従って印刷する。 - 特許庁

The first set of working zones is generally angled relative to the second set of working zones, thus forming an "X" shaped test pattern.例文帳に追加

ワーキング・ゾーンの第１セットは、ワーキング・ゾーンの第２セットに対して一般に角度をつけられ、よって「Ｘ字」形状のテストパターンを形成する。 - 特許庁

Then, when the printing is performed, the subscan feed is corrected according to the correction value set in compliance with the printing results of the test pattern.例文帳に追加

そして、印刷を行う際に、テストパターンの印刷結果に応じて設定された補正値に従って副走査送り量を補正する。 - 特許庁

An imaging part 6 is configured to receive light reflected by the test pattern image from a plurality of vertical positions and to measure the light quantity of each reflected light.例文帳に追加

撮像部６は、そのテストパターン画像の複数の上下位置からの反射光を受光し、各反射光の光量を測定する。 - 特許庁

(1) A test chart including a light and dark pattern is arranged instead of an original, and the sensor is moved in an optical path direction of the optical system.例文帳に追加

すなわち、（１）明暗パターンを含むテストチャートを原稿の代わりに配置し、センサ部を光学系の光路方向に移動させる工程。 - 特許庁

To shorten a supply time of an address signal from a pattern generator to a defect analysis memory in a memory test device.例文帳に追加

メモリ試験装置において、パターン発生器から不良解析メモリまでのアドレス信号の供給時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To provide a protection circuit having a small pattern area for countermeasure of an electrostatic discharge damage capable of passing an electrostatic discharge damage test of a human body model and a machine model.例文帳に追加

人体モデルとマシンモデルの両方の静電破壊試験をパスするとともにパターン面積の小さな保護回路を提供する。 - 特許庁

To efficiently measure impedance by making constant the contact state of a probe pin for the measurement point of the test pattern of a printed- circuit board.例文帳に追加

プリント基板のテストパターンの測定ポイントに対するプローブピンの接触状態を一定にして、インピーダンスの測定を効率的に行う。 - 特許庁

The temperature at the time of outputted the test pattern for correction of the read output condition information is compared with the present temperature (at the time of measuring the density).例文帳に追加

読み取った出力条件情報１２８の較正用テストパターン出力時と現在（濃度測定時）の温度を比較する。 - 特許庁

A fault simulation part 16 executes a fault simulation based on the inputted test pattern and simultaneously counts up operation differences.例文帳に追加

故障シミュレーション部１６では、入力されたテストパターンに基づく故障シミュレーションが行われると同時に動作の差がカウントされる。 - 特許庁

The normal images on the intermediate transfer belt are transferred on a medium passing the papers in a secondary transfer, and the test pattern passes through the secondary transfer without passing the paper.例文帳に追加

画像形成制御条件を調整するために中間転写ベルト上のテストパターンがセンサで読取られ、フィードバックされる。 - 特許庁

Then, the image forming apparatus causes the density adjustment unit to remove the cleaner toner formed on the image carrier and form the test pattern after removing the cleaner toner image.例文帳に追加

そして、像担持体に担持された清掃用トナー画像を除去させ、清掃用トナー画像を除去した後に試験パターンを担持させる。 - 特許庁

To enhance a judging precision of an adjustment test pattern in adjustment of a tilting amount or alignment of an ink delivering section in a printing apparatus.例文帳に追加

印刷装置におけるインク吐出部の傾き量又はアライメントの調整において、調整用テストパターンの判定精度を高める。 - 特許庁

A color test pattern of a different type is outputted by changing selection of a three dimensional lookup table used for LUT transform processing.例文帳に追加

ＬＵＴ変換処理に用いる３次元ルックアップテーブルの選択を変えることによって異なる種類のカラーテストパターンを出力する。 - 特許庁

To accurately perform test of an arbitrary pattern to a 64B/66B encoding or decoding, with high reproducibility.例文帳に追加

６４Ｂ／６６Ｂ符号化あるいは復号化の処理部に対する任意のパターンの試験を正確に且つ高い再現性で行えるようにする。 - 特許庁

If the distorted test pattern is normally received by the slave, a response distorted by the same distortion level is returned from the slave to the master unit.例文帳に追加

スレーブは、その歪みテストパターンを正常に受信した場合には、マスタユニットに対して同じ歪みレベルで歪ませたレスポンスを返送する。 - 特許庁

The lines of each recorded test pattern are detected by an optical sensor 210 provided downstream of the plurality of line recording heads.例文帳に追加

記録された各テストパターンは複数のライン記録ヘッドの下流に設置された光学センサ２１０によりテストパターンのラインを検出する。 - 特許庁