「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide the test system of a game machine and the game machine capable of considering even the operation pattern of the game machine and easily performing a test before an operation without performing a manual operation.例文帳に追加

人手による操作をすることなく、遊技機の操作パターンをも考慮して稼動前の試験を容易に行うことができる遊技機の試験システム及び遊技機を提供する。 - 特許庁

A referring address of a test pattern 114 is registered in a test vector table 115 to be correlated with the core number and the version number of the IP used in the LSI of an inspection object.例文帳に追加

検査対象のＬＳＩに利用されているＩＰのコア番号及びバージョン番号とに対応付けられたテストパタン１１４の参照先がテストベクタテーブル１１５に登録されている。 - 特許庁

A pattern recognition device, upon receiving a test object signal and data for selecting various types of prescribed events, generates an output signal 402 indicating the generation of all the selected events in the test object signal.例文帳に追加

パターン認識器は、被試験信号と種々の所定イベントを選択するデータとを受け、被試験信号内の選択イベントの全ての発生を示す出力信号402を発生する。 - 特許庁

This method includes a step of performing a test in a domain and implementing a first subset of a domain of a plurality of circuits provided with a dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

１つの実施形態では、方法は、ドメイン内テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第１サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

Thereafter, before disposing cells for other circuits and forming a wiring pattern, a buffer cell is inserted in the net of a test signal for the boundary scan register connected to the test control circuit.例文帳に追加

その後、他の回路を構成するセルの配置および配線パターンの作成前に、テスト制御回路につながるバウンダリスキャンレジスタに対するテスト信号のネット中にバッファセルを挿入する。 - 特許庁

A CPU 31 reads the test programs from the memory 32 in the indicated order according to the macroprogram and also sets the pin condition to allow a pattern control part 2 to perform the test content thereof.例文帳に追加

ＣＰＵ３１は、マクロプログラムに従い、その指定順にメモリ３２から試験プログラムを読み出すとともにピン条件を設定し、パターン制御部２にその試験内容を実行させる。 - 特許庁

When an opening/closing lid 58 is in a closed state wherein the opening/closing lid 58 faces to an inspection face 561 and when the individual authentication is not performed, a test pattern 581 formed on the opening/closing lid 58 is read by a fingerprint sensor 56, and the test pattern 581 is compared to reference data.例文帳に追加

開閉蓋５８が検査面５６１に対向した閉状態で、個人認証が行われていないときに、開閉蓋５８に形成されているテストパターン５８１を指紋センサ５６で読み取り、そのテストパターン５８１を基準データと比較する。 - 特許庁

The control part C of the image forming apparatus controls timing to form the test pattern at the surface density measuring position on the photoreceptor 6 based on an output signal from a timing generating means and timing to measure the density of the test pattern by the density sensor 27.例文帳に追加

画像形成装置の制御部Ｃは、タイミング発生手段の出力信号に基づき感光体６の地肌濃度測定位置に前記テストパターンを作成するタイミング、及び濃度センサ２７が前記テストパターンの濃度を測定するタイミングを制御する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus in which generation of a vector pattern for VPG from an ALPG side can be controlled in real time and the generation of a pattern can be controlled with a synchronous relation, in a semiconductor test device provided with ALPG and VPG.例文帳に追加

ＡＬＰＧとＶＰＧとを備える半導体試験装置において、ＡＬＰＧ側からＶＰＧに対するベクタパターンの発生制御がリアルタイムに、且つ同期した関係でパターン発生の制御が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Extent of error in the carrying amount of each roller can be judged visually by comparing the test pattern image printed on the sheet with sample images representing the print results of the test pattern image under a plurality of carrying conditions.例文帳に追加

こうして用紙に印刷されたテストパターン画像は、複数の搬送条件でのテストパターン画像の印刷結果を表すサンプル画像と比較することにより、各ローラによる搬送量の誤差の度合いを目視により判断できるようになっている。 - 特許庁

The video display device adjusts itself by displaying the test pattern on a dot matrix type display device and video signals from a preceding stage are displayed as they are in the partial area of the test pattern.例文帳に追加

ドットマトリクス型の表示デバイス上にテストパターンを表示して自身を調整するようになされた映像表示装置であって、テストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示されるようにしたことを特徴とする映像表示装置。 - 特許庁

During muting when the display device is turned on, the test pattern generation block 10 generates a predetermined test pattern and the CRC determination processing block 12 determines whether the internal circuit has errors or not by the CRC result.例文帳に追加

ここでは、表示装置の電源ＯＮ時などミュートをかけている間に、テストパターン発生ブロック１０で所定のテストパターンを発生させ、ＣＲＣ判定処理ブロック１２は、そのＣＲＣ結果により内部回路に誤りがないかどうかを判断する。 - 特許庁

A user selects the color distribution of a test pattern in a color distribution selection picture (step S5) to thereby change calculation methods and parameters for use in calculating an image quality evaluation value in accordance with the selected color distribution of the test pattern (step S6).例文帳に追加

色分布選択画面において、テストパターンの色分布をユーザが選択することにより（ステップＳ５）、選択されたテストパターンの色分布に応じて画質評価値を算出する際に用いられる計算方法やパラメータを変更する（ステップＳ６）。 - 特許庁

A color signal correction amount calculation section 84 calculates a correction amount for correcting density unevenness for each nozzle for each of signals of RGBCMY based on read data obtained by reading a test pattern of cyan, for each density value of the test pattern.例文帳に追加

色信号補正量算出部８４によって、シアンのテストパターンを読み取った読取データに基づいて、ＲＧＢＣＭＹの各信号について、各ノズルに対する濃度むらを補正するための補正量を、テストパターンの濃度値毎に算出する。 - 特許庁

As a test pattern for determining a correction value of sub-scan feeding amount of a print medium, a test pattern including a plurality of color patches being printed using different correction values is printed with an ink duty of lower than 100% using one kind of ink.例文帳に追加

印刷媒体の副走査送り量の補正値を決定するためのテストパターンとして、異なる補正値を用いてそれぞれ印刷される複数のカラーパッチを含むテストパターンを、１種類のインクを用いて１００％未満のインクデューティで印刷する。 - 特許庁

Respective deviations of longitudinal magnification, lateral magnification, parallelism, squareness, skew, side registration and lead registration in the test pattern are obtained based on the test pattern reading result, and then, the installation position, driving timing and driving velocity, etc., of respective constituent members are adjusted so as to correct the deviation.例文帳に追加

テストパターンの読み取り結果から、テストパターンにおける縦倍率、横倍率、平行度、直角度、スキュー、サイドレジ、リードレジのずれを求め、ずれが修正されるように各種構成部材の取付位置、駆動タイミング、駆動速度等を調整する。 - 特許庁

A test pattern including a plurality of color patches to be printed respectively using a varying correction value, as a test pattern for determining a correction value of a subscan feed of a printing subscan feed, is printed using one kind of ink with less than 100% ink duty.例文帳に追加

印刷媒体の副走査送り量の補正値を決定するためのテストパターンとして、異なる補正値を用いてそれぞれ印刷される複数のカラーパッチを含むテストパターンを、１種類のインクを用いて１００％未満のインクデューティで印刷する。 - 特許庁

Further, a test pattern for confirming gradation is transferred outside the printing region of a backup roller of a fused transfer part toward the printed medium, reflection density of the test pattern on the backup roller is detected and, thereby, the printing density and the gradation characteristic is correlated.例文帳に追加

そして、印刷媒体への溶融転写部のバックアップローラの印字領域外に、階調確認用のテストパターンを転写させ、該バックアップローラ上のテストパターンの反射濃度を検出することにより、印字濃度及び階調特性の補正を行う。 - 特許庁

The semiconductor device comprises an input terminal into which test pattern data is input in series at a first speed, and an output terminal that corresponds to the input terminal one to one and outputs test pattern data to the outside in series at a second speed different from the first speed.例文帳に追加

第１の速度でテストパターンデータが直列に入力される入力端子と、入力端子と一対一に対応し、第１の速度と異なる第２の速度でテストパターンデータを直列に外部に出力する出力端子と、を含む。 - 特許庁

The transfer of the verification/test pattern of the DUT (external computer→FPGA for control→pattern storage memory), the transfer of the verification/test control data of the DUT (external computer→FPGA for control), and the transfer of the verification/test result (result storage memory→FPGA for control→external computer) are instructed by software for control through a microcomputer.例文帳に追加

ＤＵＴの検証／テストパターンの転送（外部コンピュータ→制御用ＦＰＧＡ→パターン格納メモリ）と、ＤＵＴの検証／テスト制御データの転送（外部コンピュータ→制御用ＦＰＧＡ）と、検証／テスト結果の転送（結果格納メモリ→制御用ＦＰＧＡ→外部コンピュータ）は、共にマイコンを介して制御用ソフトウェアによって指示される。 - 特許庁

This method for evaluating the etching accuracy comprises forming a test pattern 2 for measuring resistance including test patterns 21-24 each with a predetermined width and a space between lines arranged in rows and columns on all over the test substrate, measuring a resistance value after etching, and assuming a finished state of a circuit pattern by converting the resistance value into the widths of the line.例文帳に追加

縦、横に配列された所定線幅および線間のテストパターン２１〜２４を含む抵抗測定用テストパターン２をテスト基板の全面にわたって形成し、エッチング後に抵抗値を測定し、その抵抗値を線幅に換算して回路パターンの仕上がり状態を想定しエッチング精度を評価する。 - 特許庁

A test pattern is prepared by a data converting part 2 based on the logic simulation result, a test controller 4 makes the device 5 tested based on the test pattern, a waveform displaying part 6 superposes waveforms of a data of the device 5 and the logic simulation data to be displayed, and both waveforms are automatically compared to be evaluated.例文帳に追加

デ−タ変換部２によって論理シミュレーション結果に基づきテストパターンを作成し、テストコントローラ４はテストパターンに基づきデバイス５をテストさせ、波形表示部６はデバイス５のデータ及び論理シミュレーションデータの波形を重ね合わせて表示すると共に、両者の波形を自動比較して評価するようにする。 - 特許庁

The inkjet recoding device performs test printing prior to printing based on image data inputted, prints a plurality of test pattern images on recording medium so as to provide a plurality of drying times, prints drying levels correspondent to the test pattern images on the recording medium and discharges a recording medium to stick undried ink.例文帳に追加

入力された画像データに基づく印字以前にテスト印字を行い、複数の乾燥時間となるように、記録媒体に複数のテストパターン画像各々を印字するとともに、各テストパターン画像に応じた乾燥レベルを印字して排出し、更に、未乾燥のインクを付着するための記録媒体を排出する。 - 特許庁

In a test pattern load device 30, the test patterns to be executed are divided into a size storable in the memory 11 for storing the test patterns and stored in parallel and horizontal directions in the memory 11 for storing the test patterns, and test program information indicating the location of storage and division information on the number of divisions etc. are reported to a verification processing part 13.例文帳に追加

テストパターンロード装置３０で、実行すべきテストパターンを、テストパターン格納用メモリ１１に格納可能なサイズに分割してこれをテストパターン格納用メモリ１１の水平方向並列に格納すると共に、その格納位置を表すテストプログラム情報及び分割数等の分割情報を検証処理部１３に通知する。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁

To provide a misconnection monitoring system that a primary time switch of a main signal control signal inserts a test pattern, a monitor function is provided to each switch panel so as to monitor the test pattern between the switch panels, and each switch panel monitors the test pattern among them to particularize the position at which misconnection takes place.例文帳に追加

本発明は誤接続監視システムに関し、主信号制御信号の１次側時間スイッチからテストパターンの挿入を行ない、各スイッチ盤に監視機能を持たせることで、一連の接続の正当性を確認すると同時に、各スイッチ盤間でテストパターンを監視することで誤接続の発生した箇所を特定することができる誤接続監視システムを提供することを目的としている。 - 特許庁

The image forming device provided with a scanner 1 for image read and a print head part 14 for printing is provided with a test pattern image data storage ROM 7, where a test pattern is stored, and a picture processing part 12 which reads the printed test pattern by the scanner 1 and performs discrimination processing of this image data to diagnose defects of the print head part 14 and the scanner 1.例文帳に追加

画像を読み取るスキャナ１と、印字のためのプリントヘッド部１４とを備える画像形成装置であって、テストパターンを記憶するテストパターンイメージデータ記憶ＲＯＭ７と、印字された前記テストパターンを前記スキャナ１で読み取り、そのイメージデータを判断処理することにより前記プリントヘッド部１４及びスキャナ１の不良を診断する画像処理部１２、を備える。 - 特許庁

This inspection method for the semiconductor integrated circuit includes a burn-in pattern generating process for generating a burn-in test pattern for performing a burn-in test for the integrated circuit, and the generating process is characterized by including an equalization process for generating an equalization burn-in test pattern equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明による半導体集積回路の検査方法は、前記半導体集積回路のバーインテストを行うためのバーンインテストパターンを生成するバーンインパターン生成工程を含み、該バーンインパターン生成工程は、前記半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化する平準化バーンインテストパターンを生成する平準化工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

A method for measuring and controlling high frequency banding includes a step (S110) for creating a test pattern, a step (S120) for detecting the test pattern by an optical sensor, a step (S130) for specifying beat frequency based on the detected test pattern, and a step (S140) for specifying the amplitude, phase and amplitude of the high frequency banding based on the beat frequency.例文帳に追加

高周波バンディングを測定および制御する方法であって、テストパターンを作成するステップ（Ｓ１１０）と、光学センサーによりテストパターンを検知するステップ（Ｓ１２０）と、検知されたテストパターンに基づいてビート周波数を特定するステップ（Ｓ１３０）と、ビート周波数に基づいて高周波バンディングの周波数、位相および振幅を特定するステップ（Ｓ１４０）を含む。 - 特許庁

The semiconductor test system 200 includes test pattern generators 210 and 250 associated with the respective stations 230 and 260 to generate a test pattern and expected data provided for semiconductor devices on the associated station in response to a test instruction provided by a host 100, and comparators 220 and 240 associated with the respective stations to compare the expected data and data output from the semiconductor devices on the associated station.例文帳に追加

半導体テストシステム(200)はステーション(230,260)に各々対応し、ホスト(100)から提供されるテスト命令に応答して対応するステーション上の半導体装置に提供されるテストパターンと期待データを生成するテストパターン発生器(210,250)と、ステーションに各々対応し、期待データと対応するステーション上の半導体装置から出力されるデータを比べる比較器(220,240)を含む。 - 特許庁

The pattern data generator generating a test pattern based on register data forming a pattern comprises means for setting the register data forming a pattern being generated, and means for generating pattern data based on the register data set by the setting means.例文帳に追加

本発明のテストパターンの生成装置は、パターン作成用のレジスタデータに基づいてパターンデータを生成する装置であって、生成しようとするパターンの作成用のレジスタデータの設定手段と、上記設定手段により設定したレジスタデータに基づいてパターンデータを生成するパターンデータ生成手段とで構成されることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which expansion of a test pattern can be performed without changing design of BIST by enabling an operation test in which an address signal supplied from the outside is taken in, in addition to an operation test by BIST.例文帳に追加

ＢＩＳＴによる動作試験に加えて、外部から供給されるアドレス信号を取り込んだ動作試験を可能とすることにより、ＢＩＳＴを設計変更することなく試験パターンの拡充を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To sufficiently detect a failure of an interface part of a BIST design object circuit with a scan test design object circuit, and automatically generate a test pattern in a semiconductor integrated circuit using both a BIST and a scan test.例文帳に追加

ＢＩＳＴとスキャンテストを併用する半導体集積回路において、ＢＩＳＴ設計対象回路とスキャンテスト設計対象回路とのインタフェース部分の十分な故障検出を可能にし、かつテストパターンの自動生成を可能にする。 - 特許庁

The reading apparatus with a configuration particularly provided with light sources 1a to 1c of the primaries carries out the simulated reading test while controlling the light source of each primary under the operating conditions for the test corresponding to the characteristic with respect to the color and the gradation of the test pattern.例文帳に追加

特に各原色ごとの光源１ａ〜１ｃを備えた構成において、テストパターンが有する色及び階調に関する特性に対応したテスト用の動作条件で各原色ごとの光源を制御しながら疑似読取テストを行う。 - 特許庁

When detecting the pattern, a first photographic video image A resulting from superimposing the test pattern on an input video image, a second photographic video image B resulting from inverting black and white luminance levels of only the test pattern in the video image A and a third photographic video image B' resulting from inverting black and white luminance levels of the video image B are stored in a storage part.例文帳に追加

そのパターンの検出にあたっては、入力映像にテストパターンを重畳した第1の撮影映像Ａと、その映像Ａにおいてテストパターンのみの輝度レベルを白黒反転させた第２の撮影映像Ｂと、この映像Ｂの輝度レベルを白黒反転させた第３の撮影映像Ｂ´とを記憶部に記憶させる。 - 特許庁

The first and third video images A, B' are then added by an arithmetic part, thereby intensively extracting the test pattern.例文帳に追加

しかる後に、第１および第３の映像Ａ，Ｂ´を演算部で加算演算することにより、テストパターンを強調して抽出する。 - 特許庁

The read image data of the test pattern 102 recorded on a recording medium by a recording head having a plurality of recording elements is acquired.例文帳に追加

複数の記録素子を有する記録ヘッドによって記録媒体上に記録されたテストパターン102の読取画像データを取得する。 - 特許庁

Each timing when the test pattern data are outputted from each driver 30 to the DUTs, is calibrated individually by a delay adjustment part 20.例文帳に追加

各ドライバ３０からＤＵＴに対して試験パターンデータが出力されるタイミングは、個々に遅延調整部２０で校正される。 - 特許庁

If being multi-projection, the control part (101) makes a liquid crystal part (104) project a test pattern according to the configuration of multi-projection.例文帳に追加

マルチ投影の場合、制御部（１０１）は、マルチ投影の構成に応じたテストパターンを液晶部（１０４）により投影させる。 - 特許庁

For every function configuring a test pattern to execute a security attack designated by a specification unit 702, an attack object is specified.例文帳に追加

特定部７０２にて指定されたセキュリティ攻撃を実行する試験パターンを構成する機能ごとに、攻撃対象を特定する。 - 特許庁

The test pattern for linearity inspection which is composed of a plurality of rectangular patterns 1 to 6 having the same length and different widths, is used.例文帳に追加

長さが同じで幅が異なる複数の矩形パターン１〜６により構成されるリニアリティ検査用テストパターンを使用する。 - 特許庁

To highly precisely sense the property of a reflection density sensor by securely forming a test pattern toner image for sensing a sensing property of the reflection density sensor with a sufficient amount of toner depositions.例文帳に追加

トナー付着量が十分な反射濃度センサ検出特性検出用テストパターントナー画像を確実に形成する。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it makes one pattern to be switched and displayed on one screen respectively.例文帳に追加

Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

To provide a test pattern which enables the ease identification of a poor place even in a print head with many nozzles arrayed in a highly dense state.例文帳に追加

多数のノズルが高密度に配置された印刷ヘッドについても不良箇所を容易に識別できるテストパターンを提案する。 - 特許庁

To efficiently prepare a test pattern for an updated program when contents of a program to be tested are changed.例文帳に追加

テスト対象のプログラムの内容が更新された場合に、更新後のプログラム用のテストパターンを効率的に作成できるようにする。 - 特許庁