「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

Respective visible images are respectively formed on image forming operation conditions which are different for at least one or more means out of an exposure means, a developing means, a primary transfer means, a secondary transfer means and a fixing means, and each operation condition is properly corrected in accordance with the density information of a test pattern formed on an intermediate transfer body or a transfer material.例文帳に追加

各々の可視像はそれぞれ、露光手段、現像手段、１次転写手段、２次転写手段、定着手段の少なくとも一以上の手段について相異なる画像形成動作条件をもって形成され、各動作条件は、中間転写体上及び転写材上に形成されたテストパターンの濃度情報に応じて適宜補正される。 - 特許庁

When head rank information indicating the characteristics of the head is inputted or is acquired from the measurement result of a test pattern or the like, a driver module 206 corrects the LUT of an original data base in accordance with the head rank to generate the LUT corresponding to the head and registers it in a database file 212 as a corrected data base correspondingly to the head ID.例文帳に追加

ヘッドの特性を表すヘッドランク情報を入力されるか、あるいはテストパターンの測定結果等から取得すると、ドライバモジュール２０６は、そのヘッドランクに応じてオリジナルデータベースのＬＵＴを修正して、そのヘッドに対応したＬＵＴを作成し、修正データベースとしてヘッドＩＤと対応させてデータベースファイル２１２登録する。 - 特許庁

In the calibration for the printer having the possibility of generating the uneven density in a direction vertical to a paper feeding direction, the direction of the uneven density is set up vertically to the patch array direction of each color in the test pattern, so that the whole patch of a certain color can be prevented from being faintly printed out even when the patch is faintly printed out due to the influence of the uneven density.例文帳に追加

紙送り方向と垂直な方向に濃度ムラが生じ得るプリンタに対するキャリブレーションでは、この濃度ムラの方向とテストパターンにおける各色のパッチ配列の方向とを垂直な関係とすることにより、濃度ムラの影響でパッチが薄くプリントされる場合であっても、ある色のパッチ全てがこのように薄くプリントされることを防止する。 - 特許庁

Faults of the electrode pattern and their locations are grasped by conducting appearance inspection immediately after formation of the electrode on a glass substrate, correction of the electrode is conducted standing on information obtained with the appearance inspection, then following formation process of each composing layer is executed, followed by a non-contact continuity test is performed as the final inspection before shipment.例文帳に追加

ガラス基板上に電極を形成した直後に外観検査を実施して電極パターンの欠陥及びその位置を把握し、その外観検査で得た情報を基にして電極の修正を実施し、それ以降の各構成層の形成工程を経た後に、出荷前の最終検査として非接触による電極の導通検査を行う。 - 特許庁

By reading the internal test pattern output result for each of outputting printers 14a-14c again from an image input part (scanner part) 11 of the copying machine 10, the copying machine 10 grasps the gray level characteristics of each printer and control is performed by an incorporated gray level control means to present the same gray level characteristics even in the output from any printer.例文帳に追加

複写機１０は、出力したプリンタ１４ａ〜１４ｃ毎の内部テストパタン出力結果を、再度複写機１０の画像入力部（スキャナ部）１１から読み込むことにより、各プリンタの濃度特性を把握し、内蔵する濃度調整手段によって、どのプリンタから出力しても同じ濃度特性を示すように調整を行う。 - 特許庁

The radio receiver in a radio communication system having a transmission diversity measures a reception information level inherent to symbol by antenna of transmission from the radio transmitter, estimates the number of transmission antennas from the reception information level, performs demodulation of the estimated number of transmission antennas preferentially, performs a CRC test by using a CRC mask pattern, and detects the number of transmission antennas.例文帳に追加

送信ダイバーシティを有する無線通信システムにおける無線受信装置は、無線送信装置からの送信の送信アンテナ毎の固有シンボルごとの受信情報レベルを測定し、その受信情報レベルから送信アンテナ数を推定し、推定された送信アンテナ数に対する復調を優先的に行い、ＣＲＣマスクパターンを使ってＣＲＣ検査を行い、送信アンテナ数を検出する。 - 特許庁

To provide an image recorder which makes a correct adjustment so that the angle of a recording head is correctly adjusted to be orthogonal to the carrying direction of a recording medium, or to be parallel to the rotation shaft of a drum even when a scanner to photograph a test pattern recorded in the recording medium, in an inclination adjustment of recording head of the image recorder.例文帳に追加

画像記録装置の記録ヘッドの傾き調整において、記録媒体に記録したテストパターンを撮影するスキャナが傾いて取り付けられていた場合でも、記録ヘッドの角度を、記録媒体の搬送方向に対して直交するように、あるいはドラムの回転軸に対して平行になるように、正確に調整することが可能な画像記録装置を提供する。 - 特許庁

In the manufacturing method for the printer, a first and a second test patterns are printed by changing a relative position of adjoining short heads by a plurality of the number of times, a relative position between the short heads is determined by acquiring a joint density, and a density correcting value to an image part printed in an overlapping region is calculated on the basis of the pattern printed by the short heads at the determined relative position.例文帳に追加

隣接した短尺ヘッドの相対位置を複数変化させて第１、第２テストパターンを印刷し、繋ぎ目濃度を取得して短尺ヘッド間の相対位置を決定し、決定した相対位置である短尺ヘッドによって印刷されたパターンに基づいて重複領域で印刷される画像部分に対する濃度補正値を算出する印刷装置の製造方法 - 特許庁

In this image recorder 100, when the observation direction is matched with a measurement direction of an optical density of a gradation test pattern in an optical density measurement means 15, an input image signal is converted to an output drive level by using an LUT formed based on the measured result of the optical density and the image is recorded by using the output drive level.例文帳に追加

本発明に係る画像記録装置１００によれば、記録する画像の観察方向が光学濃度測定手段１５における階調テストパターンの光学濃度の測定方向と一致している場合、この光学濃度の測定結果に基づいて作成されたＬＵＴを用いて入力画像信号を出力駆動レベルに変換し、この出力駆動レベルを用いて画像を記録する。 - 特許庁

The method for testing a semiconductor integrated circuit having a novolatile memory element and a peripheral circuit part other than the novolatile memory element comprises a first step for applying a high voltage to all memory cells in the novolatile memory element and a second step for imparting a test pattern to the peripheral circuit part other than the novolatile memory element while applying a high voltage wherein both steps are performed simultaneously.例文帳に追加

不揮発性記憶素子と不揮発性記憶素子以外の周辺回路部を備えた半導体集積回路の試験方法において、不揮発性記憶素子の全メモリセルに高々電圧を印加する第１のステップと、不揮発性記憶素子以外の周辺回路部に高電圧を印加しながら試験パターンを付与する第２のステップとを有し、上記両ステップを同時に実施する。 - 特許庁

A control section 128 extracts an image signal with a maximum level to separate an image in one fluorescent color, extracts an image signal of other level depending on the position of the image signal and the arrangement relation of fluorescence to separate an image in other fluorescent color, and by using the image of the test pattern of each fluorescent color a missed convergence amount is calculated.例文帳に追加

制御部１２８により最大レベルの画像信号を抽出することで１の蛍光体色の画像が分離されるとともに、その画像信号の位置と蛍光体の配列関係とから他のレベルの画像信号を抽出することで他の蛍光体色の画像が分離され、各蛍光体色のテストパターンの画像を用いてミスコンバージェンス量が算出される。 - 特許庁

In the multiplex computer system comprising computers 10 and 20 which have the same function and an operation managing device 30 which totally manages those computers, the operation managing device 30 is provided with an operation simulation part 35, which simulates the operation of the operation managing device 30 according to a predetermined operation pattern to test the computer system.例文帳に追加

同一機能を有する複数台の計算機１０、２０と、これら各々の計算機を統括して管理する運転管理装置３０からなる多重化計算機システムであって、運転管理装置３０に操作模擬部３５を設け、この操作模擬部３５によりあらかじめ決められた操作パターンで運転管理装置３０の操作の模擬を行い、計算機システムの試験を行うようにしたものである。 - 特許庁

A failure of an internal circuit having a possibility of causing a failure in an inspection using a test pattern is extracted as a preliminary suspectable failure by a preliminary suspectable failure extraction means 102, and a failure simulation is executed to the preliminary suspectable failure by a failure certification means 104, to thereby detect candidates of the internal circuit failure causing each failure in the inspection.例文帳に追加

テストパターンを用いた検査におけるフェイルの原因となる可能性のある内部回路の故障を初期被疑故障抽出手段１０２により初期被疑故障として抽出し、この初期被疑故障に対して故障検証手段１０４により故障シミュレーションを実施して検査における各フェイルの原因となる内部回路故障の候補を検出する。 - 特許庁

After writing data in the memory cells according to a test pattern in which logical values are set so that the memory cells surrounding a target cell have a polarity (logic) repelling that of the target memory cell, all the memory cells are repetitively read to determine that the logical values are equal to those in writing, thereby identifying a defective memory cell.例文帳に追加

本発明は、ターゲットのメモリセルの極性（論理）に対して、周囲のメモリセルの極性が反発になるように論理値が設定されたテストパターンにしたがって、メモリセルにデータを書き込んだ後、全てのメモリセルについて、繰り返し読み出し動作を行い、書き込みのときと同じ論理値であることを判定することによって、不良メモリセルを特定することを特徴とする。 - 特許庁

The center server machine 8 detects a difference in color between the print-out 336 of a test pattern and the master sheet 337 from the up-loaded read image data, and the printer 3A or 3B as an object for investigation draws up a new printer ICC profile expressing the present color space according to the detection result, and updates the corresponding printer ICC profile in the printer ICC profile data base 330.例文帳に追加

センタサーバマシン８は、そのアップロードされた読取イメージデータから、テストパターンのプリントアウト３３６とマスタシート３３７との間のカラーの違いを検出し、その検出結果に基づいて、調査対象のプリンタ３A又は３Bの現在のカラースペースを表した新しいプリンタICCプロファイルを作成し、プリンタICCプロファイルデータベース３３０内の対応するプリンタICCプロファイルを更新する。 - 特許庁

An ocular fundus of a test eye E is imaged through a stereographic imaging system after an objective lens 24 and the obtained parallax image is used for three-dimensional measurement treatment in the image processing system, and optical characteristics of human eyes are simulated while the simulated eye 300 is loaded with a gray-scale pattern to a simulated ocular fundus corresponding to the ocular fundus and imaged on stereo through the stereographic imaging optical system.例文帳に追加

被検眼Ｅの眼底を対物レンズ２４以降のステレオ撮影光学系を介してステレオ撮影し、得られた視差画像を用いて３次元測定処理を行う画像処理装置において、人眼の光学特性を模擬するとともに、眼底に相当する眼底模擬面に濃淡パターンを付与した模型眼３００をステレオ撮影光学系を介してステレオ撮影する。 - 特許庁

Further, the image recording apparatus being a calibration object records a test pattern image on the electronic paper by using the electronic paper whose paper calibration data are known and employing image data corrected by the paper calibration data and derives machine calibration data to correct variations in the finish of the recorded image due to the image recording apparatus being the calibration object on the basis of the finish of the image (refer to Figure 2(B)).例文帳に追加

また、ペーパキャリブレーションデータが既知の電子ペーパを用い、該ペーパキャリブレーションデータに基づいて補正した画像データを持ちて校正対象の画像記録装置により電子ペーパにテストパターン画像を記録し、該画像の仕上がりに基づいて校正対象の画像記録装置に起因する記録画像の仕上がりの変動を補正するためのマシンキャリブレーションデータを導出する（（Ｂ）参照）。 - 特許庁

A system controller 84 controls an overlap ratio which is a ratio of the size of a dot to the distance between adjoining dots becomes smaller in the case when a test pattern is formed on paper than an overlap ratio in the case when an image is formed on the paper K by the smallest dots in size of dots enabled to be selectively set to the recording head prepared in a head unit 66.例文帳に追加

システムコントローラ８４は、テストパターンを用紙に形成する場合に、隣接するドット間距離に対するドットの大きさの割合であるオーバーラップ率が、ヘッドユニット６６に設けられた記録ヘッドに対して選択的に設定可能とされたドットの大きさのうちの最も小さなドットで用紙Ｋに画像を形成した場合のオーバーラップ率より小さくなるように制御する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device wherein the problems are prevented such as a short circuit, an adhesion failure, and focus deviation etc., due to over-etching of wiring because the areas of overlapping regions for connection are randomly different, in a method for forming fine wiring which is a test pattern and wide leads connected to it on a semiconductor substrate by double exposure using two masks.例文帳に追加

テストパターンである微細配線とそれに繋がる幅広の引き出し配線とを２枚のマスクを用いた２重露光により半導体基板上に形成する方法において、繋ぎ合わせるオーバーラップ領域の面積がランダムに異なっていたため発生していた、配線のオーバーエッチングにより短絡、密着性不良、フォーカスずれ等の諸問題を発生させない半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The base recording strategy adjustment means includes: a pulse width dependency measurement control means 42a measuring the pulse width dependency on a difference in each reproduction signal modulation degree by reproducing each test pattern recorded for each erasure power condition; and a base pulse width selection control means 42b determining the optimum base pulse width for obtaining approximately the constant reproduction signal modulation degree independently of the erasure power condition.例文帳に追加

ベース記録ストラテジ調整手段は、各消去パワー条件毎に記録された各テストパターンを各々再生させ各再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定制御手段（４２ａ）、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を決定するベースパルス幅選択制御手段（４２ｂ）を含む。 - 特許庁

Thus, when the manuscript for the skew detection to be conveyed has a skew, as the image data recorded by reading the test pattern are outputted as the triangular image S having the base of a width dimension D in accordance with a skew amount of the manuscript, the width dimension D of the base of the outputted triangular image S is visually measured, thereby obtaining the skew amount of the manuscript.例文帳に追加

これにより、搬送される斜行検知用原稿に斜行がある場合は、テストパターンを読み取って記録した画像データが、原稿の斜行量に応じた幅寸法Ｄの底辺を備える三角形状の画像Ｓとして出力されるので、この出力された三角形状の画像Ｓの底辺の幅寸法Ｄを目視で測定することで、原稿の斜行量を知ることができる。 - 特許庁

In this semiconductor testing device constituted so that input terminals of the plurality of DUTs are connected in parallel, and that a test signal is applied thereto simultaneously, the plurality of DUTs are mounted on a common DUT interface board, and a wiring pattern distributed in the branched state to the plurality of DUTs is branched at one branch point, and formed so that each length from the branch point to each DUT point is set to be equal.例文帳に追加

複数のＤＵＴの入力端子を並列接続して試験信号を同時に印加するように構成された半導体試験装置において、 前記複数のＤＵＴは共通のＤＵＴインタフェースボードに実装され、前記複数のＤＵＴに分岐配線する配線パターンは１箇所の分岐点で分岐され、この分岐点から各ＤＵＴ点までが等しい長さになるように形成されていることを特徴とするもの。 - 特許庁

The image forming apparatus 101 is provided with an image forming station forming developer images of two or more colors, a fixing apparatus 102 fixing the developer image formed on a sheet S, a detecting means detecting density or the chromaticity of a test pattern developer image fixed by a fixing apparatus 102, wherein a part of exchange parts for the image forming apparatus is a facing part facing a color sensor 115.例文帳に追加

本発明に係る画像形成装置の代表的な構成は、複数色の現像剤像を形成する画像形成ステーションと、シートＳ上に形成した現像剤像を定着させる定着器102と、定着器102により定着されたテストパターン現像剤像の濃度又は色度を検知する検知手段と、を備えた画像形成装置101において、画像形成装置の交換部品の一部がカラーセンサ115に対向する対向部であることを特徴とする。 - 特許庁

A test pattern success/failure judging circuit includes a second logical circuit group capable of holding the parallel signals for a plurality of channels outputted from a receiving circuit 15, a third logical circuit group generating the expected value of the signal newly outputted from the receiving circuit, and a fourth logical circuit group comparing the parallel signals presently received from the receiving circuit and the expected value, thereby no signal synchronization is required for this signal comparison.例文帳に追加

受信回路（１５）から先に出力された複数チャネル分のパラレル信号を保持可能な第２論理回路群と、この保持信号に基づいて、上記受信回路から新たに出力される信号の期待値を生成する第３論理回路群と、受信回路から現在取り込まれたパラレル信号と上記期待値とを比較する第４論理回路群とを含んでテストパターン合否判定回路を構成することにより、上記信号比較における信号同期を不要とする。 - 特許庁