「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

PRINTER, TEST PATTERN FORMING METHOD IN PRINTER, AND TEST PATTERN FORMING PROGRAM例文帳に追加

プリンタ、プリンタにおけるテストパターン形成方法、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁

Test pattern supplying units 42 and 52 supply a test pattern to the projector.例文帳に追加

テストパターン供給部４２、５２はテストパターンをプロジェクタに供給する。 - 特許庁

A test pattern generation part 210 generates a test pattern 301 including the test pattern and the test data from a program specification for a Web system 100.例文帳に追加

テストパターン生成部２１０は、Ｗｅｂシステム１００のプログラム仕様からテストパターンとテストデータを含むテストパターン３０１を生成する。 - 特許庁

TEST PATTERN SUBSTRATE FOR MANUFACTURING COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタ製造用テストパターン基板 - 特許庁

TEST PATTERN BOARD FOR MANUFACTURING COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタ製造用テストパターン基板 - 特許庁

PATTERN GENERATING CIRCUIT AND TEST DEVICE例文帳に追加

パターン発生回路及び試験装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加

テスト・パターン発生装置及び方法 - 特許庁

Based on image data for forming a test pattern (A), the test pattern is printed (first test pattern output).例文帳に追加

テストパターン（Ａ）を形成するための画像データに基づいて、テストパターンを印刷する（第１のテストパターン出力）。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁

TEST PATTERN, TEST PATTERNING METHOD, RECORDER AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン、テストパターン作成方法、記録装置及びプログラム - 特許庁

OFFSET TEST PATTERN DEVICE AND METHOD例文帳に追加

オフセット・テスト・パターン装置および方法 - 特許庁

INK JET PRINTER, PROGRAM, AND TEST PATTERN例文帳に追加

インクジェットプリンタ、プログラム、及びテストパターン - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン作成方法およびプログラム - 特許庁

TEST PATTERN-FORMING APPARATUS FOR LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

論理回路のテストパタ—ン作成装置 - 特許庁

To reduce the test pattern length to allow the test pattern data quantity to be saved.例文帳に追加

テストパターン長を短縮して、テストパターンデータ量の削減を可能にする。 - 特許庁

SEQUENCE CIRCUIT AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM REUSING TEST PATTERN DATA BASE例文帳に追加

テストパターンデータベースを再利用する順序回路自動テストパターン生成システム - 特許庁

TEST CIRCUIT, PATTERN GENERATION SYSTEM, AND PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加

テスト回路、パタン生成装置、及びパタン生成方法 - 特許庁

A test pattern generation circuit 1 to generate a test pattern for disturbance test is provided within on SDRAM.例文帳に追加

ディスターブテスト用のテストパターンを生成するテストパターン発生回路１をＳＤＲＡＭ内に設ける。 - 特許庁

To provide a memory test circuit in which a test employing an arbitrary test pattern is made possible.例文帳に追加

任意のテストパタンによるテストが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

The test pattern formed at the test pattern formation part 25 is detected by a pattern detecting device 30.例文帳に追加

テストパターン形成部２５に形成されたテストパターンは、パターン検出装置３０にて検出される。 - 特許庁

PRINTER AND TEST PATTERN PRINTING METHOD例文帳に追加

印字装置およびテストパタ—ン印字方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION SYSTEM AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

テストパターン生成装置及びその方法 - 特許庁

PATTERN TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン検査方法及びパターン検査装置 - 特許庁

A test pattern is generated in a step S1.例文帳に追加

ステップＳ_１ でテストパターンを作成する。 - 特許庁

TEST PATTERN AND COLOR IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

テストパターン及びカラー画像形成装置 - 特許庁

CYCLE DETERMINING METHOD FOR LSI TEST PATTERN例文帳に追加

ＬＳＩテストパターンのサイクル決定方法 - 特許庁

TEST TOOL USED FOR SKIN PATTERN READER例文帳に追加

スキンパターン読み取り器に用いるテストツール - 特許庁

RECORDER AND TEST PATTERN RECORDING METHOD例文帳に追加

記録装置及びテストパターン記録方法 - 特許庁

By correcting the image data of the test pattern by using the correction table, the test pattern is printed (second test pattern output).例文帳に追加

補正テーブルを用いて上記テストパターンの画像データを補正してテストパターンを印刷する（第２のテストパターン出力）。 - 特許庁

The dynamic defect detection test pattern can contain a last-shift-launch test pattern and a broad-side test pattern, for example.例文帳に追加

動的欠陥検出テストパターンは、例えば、ラスト−シフト−ローンチテストパターン及びブロードサイドテストパターンを含むことができる。 - 特許庁

TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TEST UNIT AND METHOD FOR SETTING TEST PATTERN例文帳に追加

環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法 - 特許庁

The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.例文帳に追加

テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁

WIRING TEST PATTERN AND EVALUATION METHOD THEREFOR例文帳に追加

配線テストパターン及びその評価方法 - 特許庁

SERVICEABLE TEST PATTERN SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

活用的なテスト・パターン装置および方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRINTING TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンをプリントする方法及び装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION APPARATUS AND GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパターン作成装置及び作成方法 - 特許庁

To form a test pattern high in visibility.例文帳に追加

視認性の高いテストパターンを形成する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING FACILITY AND ITS METHOD例文帳に追加

テストパターン生成設備およびその方法 - 特許庁

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN TEST DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT TEST METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

The test pattern generation means generates the test pattern through the use of the undetected failure list.例文帳に追加

テストパターン生成手段は、未検出故障リストを用いてテストパターンを生成する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION DEVICE, CONTROL METHOD OF TEST PATTERN GENERATION DEVICE, AND FAILURE DETECTION DEVICE例文帳に追加

テストパターン生成器、テストパターン生成器の制御方法、および、故障検出装置 - 特許庁

A test device 50 tests the inspection product 20 by using the test pattern and expectation value pattern.例文帳に追加

テスト装置５０は、テストパタン及び期待値パタンを用いて試験品２０をテストする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING CIRCUIT PATTERN, AND TEST PATTERN例文帳に追加

回路パターン検査装置および検査方法およびテストパターン - 特許庁

TEST PATTERN PRODUCING APPARATUS, CIRCUIT DESIGN APPARATUS, TEST PATTERN PRODUCING METHOD, CIRCUIT DESIGN METHOD, TEST PATTERN PRODUCING PROGRAM, AND CIRCUIT DESIGN PROGRAM例文帳に追加

テストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラム - 特許庁