「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

IMAGE RECORDING APPARATUS, METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, AND PROGRAM例文帳に追加

画像記録装置、検査パターン生成方法及びプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PREPARATION METHOD OF TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路およびテストパターン作成方法 - 特許庁

In a wafer, a test pattern (b) is set by prescribed distribution.例文帳に追加

ウエハ内に、所定の分布で（ｂ）のテストパターンを設ける。 - 特許庁

A sensor 34 detects the amount of deposited toner of the test pattern.例文帳に追加

センサ３４は、テストパターンのトナー付着量を検知する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN OF LOGIC CIRCUIT例文帳に追加

論理回路のテストパターン作成方法および作成装置 - 特許庁

Thereafter, detection signals of the respective test pattern groups (A-E) are analyzed to obtain frequency characteristics of the respective test pattern groups (A-E).例文帳に追加

次に、各テストパターン群（A〜E）の検知信号を解析し、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を取得する。 - 特許庁

Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００のテストパターン記憶手段１３０には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁

The master unit transmits to the slaves a distorted test pattern formed by distorting a standard test pattern by a specified distortion level.例文帳に追加

マスタユニットは、基準テストパターンを所定の歪みレベルで歪ませた歪みテストパターンをスレーブに向けて送信する。 - 特許庁

The test pattern memory means 130 outputs a necessary test pattern every cycle period according to the address designation signal.例文帳に追加

テストパターン記憶手段１３０は、アドレス指定信号により、サイクル周期毎に必要なテストパターンを出力する。 - 特許庁

PROGRAM, STORAGE MEDIUM, AND METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN例文帳に追加

プログラム、記憶媒体、テストパターン作成方法及び装置 - 特許庁

Test pattern data with a single gray pixel value is formed in an image recording medium as a test pattern image, and the test pattern image is obtained as image data to be evaluated.例文帳に追加

単一の濃淡画素値を有するテストパターンデータを画像記録媒体にテストパターン画像として形成し、前記テストパターン画像を被評価画像データとして取得する。 - 特許庁

MIXED SIGNAL LSI TESTER AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN例文帳に追加

ミックスドシグナルＬＳＩテスタおよびテストパターン生成方法 - 特許庁

When an indication on printing for a test pattern is inputted from the outside, a preparation of image data for the test pattern or the like is performed.例文帳に追加

外部からテストパターンの印刷指示が入力されると、テストパターン用の画像データ作成等が行われる。 - 特許庁

TEST PATTERN, AND METHOD OF MONITORING DEFECT USING THE SAME例文帳に追加

テストパターン及びこれを用いる欠陥モニタリングの方法 - 特許庁

A pattern generating circuit of the logic chip is operated in a first test mode, to generate an internal test pattern for the memory chip.例文帳に追加

ロジックチップのパターン発生回路は、第１試験モード時に動作し、メモリチップ用の内部試験パターンを発生する。 - 特許庁

LIQUID DROP EJECTION RECORDER AND TEST PATTERN RECORDING METHOD例文帳に追加

液滴吐出記録装置及びテストパターン記録方法 - 特許庁

The second scanning test pattern corresponds to the identified label.例文帳に追加

第２のスキャンテストパターンは、識別されたラベルに対応する。 - 特許庁

To efficiently compress a test pattern set of a logical circuit.例文帳に追加

論理回路のテストパタンセットを効率よく圧縮する。 - 特許庁

To provide a device for preparing the test pattern of a logic circuit capable of obtaining a high rate of failure detection with a compact test pattern.例文帳に追加

コンパクトなテストパターンで高い故障検出率を得る論理回路のテストパターン作成装置を提供する。 - 特許庁

PRINTER, METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN AND PRINT SYSTEM例文帳に追加

印刷装置、テストパターン製造方法及び印刷システム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION, FAILURE DETECTION RATE CALCULATING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION, AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD例文帳に追加

テストパターン作成及び故障検出率算出装置並びにテストパターン作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁

The density sensor 5 detects the toner density of the test pattern image.例文帳に追加

濃度センサ５は、テストパターン像のトナー濃度を検知する。 - 特許庁

LAYOUT METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST ELEMENT PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路のテスト素子パターンのレイアウト方法 - 特許庁

To efficiently compress a test pattern set of a logic circuit.例文帳に追加

論理回路のテストパタンセットを効率よく圧縮する。 - 特許庁

A test pattern insert data generating means 50 inserts the test pattern T to a position set by the input data Di to generate the test pattern insertion data TD.例文帳に追加

試験パターン挿入データ生成手段５０は、入力データＤｉ中の設定された位置に試験パターンＴを挿入し、試験パターン挿入データＴＤを生成する。 - 特許庁

To provide a test pattern of a semiconductor device, and to provide a test method using the same.例文帳に追加

半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法が提供される。 - 特許庁

CONTINUOUS APPLICATION AND DECOMPRESSION OF TEST PATTERN TO TECHNOLOGICAL FIELD OF CIRCUIT UNDER TEST例文帳に追加

テスト中回路技術分野へのテストパターンの連続的な適用およびデコンプレッション - 特許庁

To utilize a set where a test case has been reduced during a test pattern execution stage.例文帳に追加

テスト・パターン実行段階の間にテスト・ケースの縮小されたセットを活用する。 - 特許庁

TEST SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND SCAN TEST PATTERN PREPARATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテストシステム、検査方法およびスキャンテストパターン作成方法 - 特許庁

A pattern generator 20 generates a functional test pattern comprising steps of logical data.例文帳に追加

パターンジェネレータ２０は論理データの各ステップからなる機能テストパターンを発生する。 - 特許庁

Test whether the filename string matches the pattern string, returning true or false.例文帳に追加

filenameの文字列がpatternの文字列にマッチするかテストして、真、偽のいずれかを返します。 - Python

To make generatable a simulation test bench capable of compression test pattern files of plural input signal lines into one test pattern file thereby reducing the occupied quantity of the test pattern file in a recording medium.例文帳に追加

複数の入力信号線のテストパターンファイルを一つのテストパターンファイルにデータ圧縮し、テストパターンファイルの記録媒体における占有量を減少させるシミュレーションテストベンチ生成を可能とする。 - 特許庁

The evaluating condition output section 21 outputs the evaluating conditions of the test to the test pattern testing section 1 for carrying out testing of the test pattern.例文帳に追加

特に、評価条件出力部２１は、テストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に、当該試験の評価条件を出力する。 - 特許庁

To verify the validity of an input pattern, and to detect faults in a test circuit itself, in the test circuit for inputting a serial test pattern.例文帳に追加

シリアルテストパターンを入力するテスト回路において、入力パターンの妥当性を確認と、テスト回路自体の故障検出を可能にする。 - 特許庁

To reduce the number of timing sets in a test pattern for a tester without lowering test accuracy of a function test by a tester.例文帳に追加

テスタによる機能テストのテスト精度を低下させずに、テスタ用テストパタンにおけるタイミングセット数を削減する。 - 特許庁

A fourth process acquires the test pattern closest to the test conditions in the third process among the prescribed test patterns.例文帳に追加

第４の工程は、所定のテストパターンのうち第３の工程のテスト条件に最も近いテストパターンを求める。 - 特許庁

Each gateway includes a test pattern generator and a test memory analyzer that are used for an in-operation test of the video signal.例文帳に追加

各ゲートウェイはビデオ信号の稼働中テストを行うためのテスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザを含む。 - 特許庁

An individual test pattern preparing means 11 prepares a pin information table 15 on the basis of LSI pin assign information 1 and adds pattern data having a pattern in regard to a no-pattern logic pin to a common test pattern 2 for preparing an individual test pattern 7.例文帳に追加

個別テストパターン作成手段１１は、ＬＳＩピンアサイン情報１に基づいてピン情報テーブル１５を作成し、パターンなし論理ピンに対するパターンを有するパターンデータを共通テストパターン２に対し追加して個別テストパターン７を作成する。 - 特許庁

A test pattern image composed of a plurality of pieces of test patch data different in line area ratio is formed.例文帳に追加

ライン面積率が異なる複数のテストパッチデータよりなるテストパターン像を形成する。 - 特許庁

AUTOMATIC GENERATING METHOD FOR LSI TEST PATTERN PROGRAM, ITS DEVICE, AND LSI TEST METHOD例文帳に追加

ＬＳＩテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにＬＳＩテスト方法 - 特許庁

The plural test patterns are read from a compile data storage part by a test pattern generating part 17.例文帳に追加

テストパタン生成部１７は、コンパイルデータ記憶部２３から複数のテストパタンを読み込む。 - 特許庁

The pattern generating means generates a test pattern signal used to form a test pattern including a plurality of gradation patches differing in gradation from each other.例文帳に追加

パターン生成手段は、それぞれ階調が異なる複数の階調パッチを含むテストパターンを形成するためのテストパターン信号を生成する。 - 特許庁

A test pattern (line pattern) on a recording medium is read (S80), and a corresponding position of the test pattern is acquired by a pixel unit of reading pixel pitch (S82).例文帳に追加

記録媒体上のテストパターン（ラインパターン）を読み取り（Ｓ８０）、読取画素ピッチの画素単位でテストパターンの対応位置を取得する（Ｓ８２）。 - 特許庁

A device 42 under test prepares test patterns comprising a combination of an impressed pattern P_1 and an expected pattern which is an output of a normal tested pattern corresponding to the pattern P_1.例文帳に追加

テスト装置４２が、印加パターンＰ_１とこれに対応する正常な被テストデバイスの出力である期待パターンとの組み合わせから成るテストパターンを準備する。 - 特許庁

MOVABLE STAGE FOR PLACING TEST PIECE, CIRCUIT PATTERN MANUFACTURING APPARATUS, AND CIRCUIT PATTERN TESTING DEVICE例文帳に追加

試料載置用可動ステージ、回路パターンの製造装置、及び回路パターンの検査装置 - 特許庁