「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

SERIAL PRINTER AND METHOD FOR ACTUATING SERIAL PRINTER FOR PRINTING TEST PATTERN例文帳に追加

シリアルプリンタ及びテストパターン印刷のためのシリアルプリンタの動作方法 - 特許庁

Oozing of the conductive paste is checked by using the trench test pattern 20e.例文帳に追加

溝状テストパターン２０ｅで導電性ペーストの滲みをチェックする。 - 特許庁

Therefore, the test pattern can automatically and speedily be read.例文帳に追加

このため、自動的かつ高速にテストパターンを読み取ることができる。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DESIGNING TEST PATTERN FOR VERIFICATION例文帳に追加

検証用テストパタン設計装置及び検証用テストパタン設計方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST PATTERN DATA GENERATING METHOD FOR THE DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテストパターン発生回路 - 特許庁

SERIAL PRINTER AND ITS OPERATING METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN例文帳に追加

シリアルプリンタ及びテストパターン印刷のためのシリアルプリンタの動作方法 - 特許庁

COLOR CONVERTING DEVICE, COLOR CONVERTING METHOD, COLOR CONVERSION PROGRAM AND TEST PATTERN例文帳に追加

色変換装置、色変換方法、色変換プログラムおよびテストパターン - 特許庁

A test pattern is formed on a sheet by a fullcolor image forming apparatus 1, and then, the test pattern formed on the sheet is read by an image reading part 2.例文帳に追加

フルカラー画像形成装置１にて用紙にテストパターンを形成し、用紙に形成したテストパターンを画像読み取り部２で読み取る。 - 特許庁

To provide a test pattern generation device and the like for generating a test pattern for detecting efficiently trouble in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の故障をより効率的に検出するためのテストパターンを生成するためのテストパターン生成装置等を提供する。 - 特許庁

The hardware portion has a hardware function which generates a test pattern and conducts an operation verification by inputting the test pattern to the circuit to be tested.例文帳に追加

ハードウェア部は、テストパタンを生成し、テストパタンを被テスト回路に入力することによって動作検証を行うハードウェア機能を有する。 - 特許庁

PRINTER, METHOD OF JUDGING FORMING OF DOT, COMPUTER PROGRAM, RECORDING MEDIUM, COMPUTER SYSTEM, TEST PATTERN REGION, AND METHOD OF PRINTING TEST PATTERN REGION例文帳に追加

印刷装置、ドット形成判定方法、コンピュータプログラム、記録媒体、コンピュータシステム、テストパターン領域、及び、テストパターン領域印刷方法 - 特許庁

About one out of two conductors constituting a differential impedance test pattern 104, conductor of a characteristic impedance test pattern 105 is connected.例文帳に追加

差動インピーダンステストパターン１０４を構成する２本の配線のうち、１本について特性インピーダンステストパターン１０５の配線を接続する。 - 特許庁

After that, generates a test pattern B (S4 and S5) and readjsuts DAC1 to DAC4 to ensure that the test pattern density is equal (S6).例文帳に追加

その後、テストパターンＢを生成して（Ｓ４、Ｓ５）、テストパターン濃度が等しくなるようにＤＡＣ１〜ＤＡＣ４の再調整を行う（Ｓ６）。 - 特許庁

The width of a ridge test pattern 10e of the first test pattern 10 is made smaller than contact terminal patterns 21a, 22a, 23a of the fixed contact 2.例文帳に追加

第１テストパターン１０の畝状テストパターン１０ｅの幅を固定接点部２の接点端子パターン２１ａ，２２ａ，２３ａより細くする。 - 特許庁

The signal processing section 141(241) includes a test pattern generating section 143, a test pattern collation section 144 and a clamp processing section 145.例文帳に追加

信号処理部１４１、２４１は、試験パタン生成部１４３、試験パタン照合部１４４およびクランプ処理部１４５を含んでいる。 - 特許庁

This system enables testing of communications equipment by using a modified test pattern which is more serviceable than standard test pattern.例文帳に追加

標準のテスト・パターンと比較して修正され、それよりも活用的なテスト・パターンを使用して通信機器をテストすることが可能である。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁

A test pattern compressing function by repeating a test pattern reactivating technique in a test pattern creating process and a test pattern compressing function by discriminating a test pattern which detects the largest number of undetected failures from among a plurality of test patterns used in the repeated process are simultaneously made compatible at a high speed by using a PPPF failure simulation technique.例文帳に追加

テストパタンの再活性化手法をテストパタン生成工程において繰り返すことによるテストパタン圧縮機能、及び当該繰り返し工程において用いられる複数のテストパタンの中から最も多くの未検出故障を検出するテストパタンを識別することによるテストパタン圧縮機能を、ＰＰＰＦ故障シミュレーション手法を用いることで同時に高速に両立する。 - 特許庁

A test specification generation part 230 creates a test specification 303 based on these test pattern 301 and Web page 302, and an automatic test execution part 240 executes a system test based on this test specification 303.例文帳に追加

試験仕様書生成部２３０は、これらのテストパターン３０１とＷｅｂページ３０２に基づいて試験仕様書３０３を作成し、自動試験実行部２４０は、この試験仕様書３０３に基づいてシステムテストを実行する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d.例文帳に追加

この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。 - 特許庁

A pattern matching part matches the test pattern generated from the formal specification with the stored pattern, and inserts the corresponding program code into the test program.例文帳に追加

パターンマッチ部は、形式的仕様から生成されたテストプログラムに対して、格納されているパターンとのマッチングを行い、対応するプログラムコードをテストプログラムに挿入する。 - 特許庁

To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method capable of easily preparing a test pattern.例文帳に追加

テストパターン作成の容易化等を実現できるテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁

A color-classified test pattern is printed in a test printing region of a recording paper 16 using each printing head 12.例文帳に追加

記録紙１６上のテスト印字領域に色別のテストパターンが各印字ヘッド１２により印字される。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING SIMULATION CIRCUIT PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST SUBSTRATE, AND GROUP OF TEST SUBSTRATES例文帳に追加

模擬回路パターン評価方法、半導体集積回路の製造方法、テスト基板、及びテスト基板群 - 特許庁

In this semiconductor test device for executing the test by forwarding plural test patterns to a device to be measured via test pattern memories 702, 703, following the measurement sequence by the test program in order to execute the function test of the semiconductor device 704 which is measuring object, the measurement sequence is changed so that the number of times of test pattern transfer between pattern memories in the semiconductor test device becomes minimum.例文帳に追加

測定対象となる半導体デバイス704 の機能テストを行うためにテストプログラムによる測定シーケンスにしたがって複数のテストパターンをテストパターンメモリ702,703 を介して被測定デバイスに転送し、テストを実行する半導体テスト装置において、半導体テスト装置内のパターンメモリ間におけるテストパターンの転送回数が最小になるように測定シーケンスを変更する。 - 特許庁

One device prepares patten data for an error test and error test identification information showing that a packet is for an error test, generates a packet for an error test having the pattern data for an error test and the error test identification information and transmits the packet for an error test to other devices.例文帳に追加

一の装置が、エラーテスト用パターンデータと、パケットがエラーテスト用であることを示すエラーテスト識別情報とを作成し、エラーテスト用パターンデータと、エラーテスト識別情報とを有するエラーテスト用パケットを生成し、他の装置に送信する。 - 特許庁

Another embodiment is possible in which a test pattern is formed on a recording paper 16 instead of forming a test pattern on the belt 33; the test pattern is read by a test pattern-reading section provided separately from an adsorption belt conveyance section; and the speed variation data of the recording paper 16 is determined from the reading result for storing.例文帳に追加

ベルト３３にテストパターンを形成する代わりに記録紙１６上にテストパターンを形成し、該テストパターンを吸着ベルト搬送部とは別に設けられたテストパターン読取部によって読み取り、その読取結果から記録紙１６の速度変動データを求めて記憶しておく態様も可能である。 - 特許庁

The system acquires two or more synthetic light emission integration images while changing an end test pattern address, and carries out comparison of synthetic light emission integration images on good and defective semiconductor devices in an ascending order of the end test pattern addresses, i.e., in ascending order of the end test pattern addresses close to the starting test pattern address.例文帳に追加

終了テストパターンアドレスを変化させながら複数の合成発光積分画像を取得し、終了テストパターンアドレスが小さい順、すなわち開始テストパターンアドレスに近い終了テストパターンアドレスから順に良品および不良品半導体装置の合成発光積分画像の比較を行う。 - 特許庁

A test output obtained by printing a predetermined test pattern is read by a scanner on the network and correction data is formed on the basis of the test output and stored.例文帳に追加

所定のテストパターンを印字したテスト出力をネットワーク上のスキャナで読み込み、それをもとに補正データを作成し、記憶する。 - 特許庁

Thereby, a test flow of the test plan program can be verified without loading a pattern program in the offline simulation environment of the test device.例文帳に追加

これにより、試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、パターンプログラムをロードすることなくテストプランプログラムのテストフローを検証できる。 - 特許庁

A test recording is carried out by the generation of a test pattern utilizing a control judgment device (CPU) 1, and the signal processing selection at the test recording time.例文帳に追加

制御判断装置（ＣＰＵ）１を利用したテストパターン発生とテスト記録時の信号処理選択によりテスト記録をおこなう。 - 特許庁

To shorten a test pattern (test time) by controlling an address counter and controlling an address in a test mode.例文帳に追加

この発明は、テストモードにおいてアドレスカウンタを制御し、アドレスをコントロールすることにより、テストパターン（テスト時間）を短縮することを目的とする。 - 特許庁

A plurality of test resist patterns are formed (S2, S6) by transferring the test patterns by a lithographic process including pattern exposure using the test mask.例文帳に追加

テストマスクを用いたパターン露光を含むリソグラフィー処理により、テストパターンを転写した複数のテスト用レジストパターンを形成する（Ｓ２，Ｓ６）。 - 特許庁

A control part 44 generates a Moire' pattern by an arithmetic operation of both a reading pattern formed when the image sensor 40 reads the test pattern and a reference pattern.例文帳に追加

制御部４４は、イメージセンサ４０がテストパターンを読み取って形成される読み取りパターンと、基準パターンとの演算によりモワレパターンを生成する。 - 特許庁

In order to test programmable routing resources completely in a self test area, an exhaustive test pattern is applied to a wire group under test which is reconfigured repeatedly.例文帳に追加

自己試験区域内でプログラム可能経路指定資源を完全に試験するために網羅的なテスト・パターンが繰り返し再構成される試験中のワイヤ群に適用される。 - 特許庁

To check whether a test pattern is transferred normally or not, when a pattern data written in a device program is transferred to a pattern memory.例文帳に追加

デバイスプログラムに記述されたパタンデータをパタンメモリに転送する際に正常にテストパタンが転送されたか否かをチェックすること。 - 特許庁

Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.例文帳に追加

この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリＢＩＳＴを行う。 - 特許庁

To perform image quality evaluation suitable to a test pattern for use in image quality evaluation.例文帳に追加

画質評価に用いるテストパターンに適した画質評価を行う。 - 特許庁

An error rate of transmission data is acquired on the basis of difference between the received content of the test pattern data and the transmitted content of the test pattern data.例文帳に追加

そして、テストパターンデータの受信内容と当該テストパターンデータの送信内容との差に基づいて送受信データの誤り率が求められる。 - 特許庁

The imaging part 22 comprises an imaging element 28 for imaging the test pattern and an optical system 26 for guiding the test pattern to the imaging element 28.例文帳に追加

また、撮像部２２は、テストパターンを撮像するための撮像素子２８と、テストパターンを撮像素子２８に導くための光学系２６とを有する。 - 特許庁

When it is test pattern mode, a test pattern is read and the correction of the operation coefficient, a correction situation, removing number of corrections, etc., are notified (step S20).例文帳に追加

テストパターン読取モードの場合は、テストパターンを読取り、演算係数の補正と補正の状況、補正残回数等を報知する（ステップＳ２０）。 - 特許庁

To restrain an increase of a test pattern to conduct a dynamic compaction.例文帳に追加

テストパターンの増加を抑制して効果的にダイナミックコンパクションを行なう。 - 特許庁

To provide a test apparatus that efficiently changes a pattern list.例文帳に追加

パターンリストを切り替えを効率よく実行する試験装置を提供する。 - 特許庁

In addition, a test pattern is formed on the intermediate transfer belt 8 based on the test pattern data corrected by the correcting section 3 and is detected by a detecting section 11.例文帳に追加

また、補正部３で補正されたテストパターンデータに基づいて、中間転写ベルト８上にテストパターンを形成し、検知部１１で検知する。 - 特許庁