「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

A test image generating section 26 generates test image data including identification information of an image processor selected at the selecting section 25 and a test pattern.例文帳に追加

テスト画像生成部２６は、選択処理部２５が選択した画像処理装置の識別情報とテストパターンとを含むテスト画像データを生成する。 - 特許庁

The pattern generator generates test signals, and the addressor designates addressing of the signals to a known server and instructs the server to return the test signals to a test system.例文帳に追加

パターン発生器はテスト信号を生成し、アドレッサは信号を公知のサーバにアドレス指定し、テスト信号をテストシステムに戻すようにサーバに命令する。 - 特許庁

To automatically extract a test pattern for operating a test object near a boundary condition without analyzing the internal structure of the test object.例文帳に追加

検証対象の内部構造を解析することなく、検証対象を境界条件の近傍で動作させるためのテストパターンを自動的に抽出する。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

FEATURE-QUANTITY EXTRACTING METHOD, TEST PATTERN SELECTING METHOD, RESIST MODEL CREATING METHOD, AND DESIGNED-CIRCUIT-PATTERN VERIFYING METHOD例文帳に追加

特徴量抽出方法、テストパターン選択方法、レジストモデル作成方法および設計回路パターン検証方法 - 特許庁

Furthermore, the image forming apparatus provides a scale pattern of an interval corresponding to the circumferential length of a developing roller on the side part of each test pattern.例文帳に追加

さらに、各テストパターンの側部には、現像ローラ周長に相当する間隔の目盛パターンが設けられる。 - 特許庁

To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

All test patterns are sequentially inputted in the logic integrated circuit 3 which is the test target from application software of a test pattern input/output controller 4 composed of a PC, its output is read by the test pattern input/output controller 4, and an output pattern 6 is created.例文帳に追加

ＰＣで構成されたテストパターン入出力制御装置４上のアプリケーションソフトから試験対象となる論理集積回路３に全てのテストパターンを順次入力し、その出力をテストパターン入出力制御装置４に読み出しアウトプットパターン６を作成する。 - 特許庁

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

An inhibit region 404m, obtained by expanding a pattern 104m in a test element region by an element isolation width, is formed on a test chip, based on of CAD data D3 provided with a test element pattern 104.例文帳に追加

テスト素子パターン１０４ｍを有するＣＡＤデータＤ３から、テスト素子領域のパターン１０４ｍを素子分離幅だけ拡大してテストチップ上に禁止領域４０４ｍを形成する。 - 特許庁

Patterns of respective test patterns and a pad part are disposed, so that a same probe card is used for measuring the N-channel TFT test pattern 130 and the P-channel TFT test pattern 140.例文帳に追加

ＮチャネルＴＦＴテストパターン１３０とＰチャネルＴＦＴテストパターン１４０の測定には同一のプローブカードが用いられるように、それぞれのテストパターンのパターン及びパッド部が配置されている。 - 特許庁

A command retrieval part 21 and a test timing retrieval part 22 retrieve a specified command included in the test pattern stored in the test pattern storage part 32, and determine the time interval between the retrieved commands.例文帳に追加

コマンド検索部２１及び試験タイミング検索部２２は、試験パターン記憶部３２に記憶されている試験パターンに含まれる特定のコマンドを検索し、検索したコマンド間の時間間隔を求める。 - 特許庁

The test pattern has a first set of working zones and a second set of working zones.例文帳に追加

テストパターンはワーキング・ゾーンの第１セットと、ワーキング・ゾーンの第２セットとを有する。 - 特許庁

This fluorescent test chart is provided by forming a thin film pattern on a base board.例文帳に追加

本発明の蛍光テストチャートは、基板に薄膜パターンを形成したものである。 - 特許庁

To obtain many kinds of correction values from limited kinds of densities of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンの限られた種類の濃度から、多くの種類の補正値を得る。 - 特許庁

A test chart 14 is provided with a chart pattern for evaluating the resolution.例文帳に追加

テストチャート１４には解像度を評価するためのチャートパターンが設けられている。 - 特許庁

An image of the chart pattern is formed on a reticle plate 16 through the test lens 12.例文帳に追加

チャートパターンの像は、被検レンズ１２を通して、レチクルプレート１６で結像する。 - 特許庁

ELECTRON BEAM TYPE PATTERN INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR SETTING INSPECTION CONDITION OF TEST PIECE例文帳に追加

電子線式パターン検査装置、及び、試料の検査条件の設定方法 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, TEST PATTERN DATA COMPRESSION METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、情報処理装置のテストパターンデータ圧縮方法及びプログラム - 特許庁

TEST PATTERN PRODUCING DEVICE, SIMULATION RESULT ANALYZING DEVICE AND LSI SIMULATING SYSTEM例文帳に追加

テストパターン発生装置、シミュレーション結果解析装置およびＬＳＩシミュレーションシステム - 特許庁

The test pattern recorded on the recording medium P is read by an image sensor 40.例文帳に追加

記録媒体Ｐに記録されたテストパターンをイメージセンサ４０により読み取る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE, AND GENERATING METHOD FOR TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁

PATTERN GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターン発生回路及び半導体装置並びに半導体装置の試験方法 - 特許庁

The amount of sticking toner of the test pattern 1 is detected from a value of the reflected light.例文帳に追加

この反射光の値から、テストパターン１のトナー付着量を検出する。 - 特許庁

A latent image is formed on a toner carrier by exposing based on a test pattern (S61).例文帳に追加

トナー担持体にテストパターンにもとづいて露光して静電潜像を形成する(S61)。 - 特許庁

a genetic algorithm for automatic test pattern generation for large synchronous sequential circuits 例文帳に追加

大型同期順序回路向けテストパターン自動生成のための遺伝的アルゴリズム - コンピューター用語辞典

A test procedure changing part 33 of the programmable remote controller 3 starts output of the test pattern B in accordance with the input file.例文帳に追加

プログラマブルリモコン３のテスト手順変更部３３は、入力したファイルに従いテストパターンＢの出力を開始する。 - 特許庁

The LSI tester 111 executes a test program 113 using the acquired test pattern 114, and tests the LSI 101.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１１１は獲得したテストパタン１１４を用いてテストプログラム１１３を実行し、ＬＳＩ１０１のテストを行う。 - 特許庁

Whether a test command from a test command output device has been received or not is confirmed in a variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

変動パターンコマンド受信待ち処理にて、テストコマンド出力装置からのテストコマンドを受信したか否か確認する。 - 特許庁

According to the test pattern, voltage is applied by a voltage generating section 11 to each input terminal of a test workpiece 5.例文帳に追加

このテストパターンに従って電圧発生部１１にて被検査ワーク５の各入力端子に対して電圧を印加する。 - 特許庁

A test pattern 28 is projected from an off-axis collimator to a right side peripheral surface part or a left side peripheral surface part of the test lens 12.例文帳に追加

軸外コリメータから被検レンズ１２の右側周面部又は左側周面部にテストパターン２８を投写する。 - 特許庁

The test device 1 transmits a test frame 24 with a predetermined signal pattern to a port 18a of the repeater 18.例文帳に追加

検査機器１は、中継器１８のポート１８ａに対して所定の信号パターンの試験フレーム２４を送信する。 - 特許庁

The test latch circuit 12 holds temporarily a data pattern for test inputted through a data input/output buffer 9.例文帳に追加

テストラッチ回路１２は、データ入出力バッファ９を介して入力されたテスト用のデータパターンを一時的に保持する。 - 特許庁

To easily generate an optional piece of bit pattern data for test to be used for a memory test of a FIFO memory.例文帳に追加

ＦＩＦＯメモリのメモリ試験に使用する任意の試験用ビットパターンデータの生成を容易に行うことを可能にする。 - 特許庁

To easily generate a test pattern by suppressing reduction of integration degree in a test circuit for a dual port memory.例文帳に追加

デュアルポートメモリのテスト回路において、集積度の低下を抑え、テストパターンの生成を容易にすることを目的とする。 - 特許庁

To reduce the development period of a test pattern and the LSI test time, and to eliminate the necessity for an expensive analogue/digital mixed tester.例文帳に追加

テストパターンの開発期間およびＬＳＩのテスト時間を短縮し、高価なアナログデジタル混在用テスタを不要にする。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATOR, SCAN TEST METHOD, METHOD FOR DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT, AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATING METHOD, METHOD FOR EXECUTING SCAN TEST CIRCUIT DESIGN例文帳に追加

スキャンテスト回路、自動テストパターン生成装置、スキャンテスト方法、スキャンテスト回路設計方法、自動テストパターン生成方法、スキャンテスト回路設計方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体および自動テストパターン生成方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The same code pattern data generating means 10 generates code pattern data in the inside and generates the same code pattern data Do with the same codes based on the test pattern insertion data TD and the code pattern data.例文帳に追加

同符号パターンデータ生成手段１０は、符号パターンデータを内部で発生させ、試験パターン挿入データＴＤと符号パターンデータから、同符号を持つ同符号パターンデータＤｏを生成する。 - 特許庁

The memory test circuit constitutes a part of a test pattern, executes the test to a memory 2 according to a pattern mode signal for specifying the partial pattern consisting of a plurality of operation and stores the pattern mode signal in a defect information storing register 17 as the part of the defect information.例文帳に追加

本発明にかかるメモリテスト回路は、テストパタンの一部を構成し、複数の動作からなる部分パタンを指定するパタンモード信号に応じてメモリ２に対するテストを実行するとともに、パタンモード信号を不良情報の一部として不良情報格納レジスタ１７に格納するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.例文帳に追加

パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In the case of the marginless recording, a detection of the ink ejection status is performed from the test pattern with respect to the ejection ports that perform recording at a region between both ends of the marginless test pattern, and that eject the ink forming the pixels of the marginless test pattern.例文帳に追加

また、縁無し記録の際には、縁無しテストパターンの両端部の間の領域に記録され、縁無しテストパターンにおける画素を形成するインクを吐出する吐出口について、テストパターンからインクの吐出状態の検出を行う。 - 特許庁

When the start key of a final control element 16 is operated, set in a mode for recording a test pattern, the image data of a test pattern stored in an image memory 18 are read out, and the image data of the test pattern are recorded in two sheets of recording paper 73 and 74 in a recorder 15.例文帳に追加

テストパターンを記録するモードに設定されて、操作部１６のスタートキーが操作されると、画像メモリ１８に記憶しているテストパターンの画データが読み出されて、そのテストパターンの画データが記録部１５で記録紙７３，７４に記録される。 - 特許庁

In the case of the margined recording, a detection of the ink ejection status is performed from the test pattern with respect to ejection ports that perform recording at a region between both ends of the margined test pattern, and that eject the ink forming the pixels of the margined test pattern.例文帳に追加

縁有り記録の際には、縁有りテストパターンの両端部の間の領域に記録され、縁有りテストパターンにおける画素を形成するインクを吐出する吐出口について、テストパターンからインクの吐出状態の検出が行われる。 - 特許庁

A test program and a test pattern generating program are downloaded into the CPU cores 2c and 3c of the LSI or the group of LSIs to generate test patterns by the test pattern generating program and diagnose internal function blocks etc.例文帳に追加

そして、上記ＬＳＩもしくは上記ＬＳＩ群のＣＰＵコア２ｃ，３ｃに試験プログラムおよび試験パターン生成プログラムをダウンロードし、上記試験パターン生成プログラムにより、試験パターンを発生させ、内部の機能ブロック等の診断を行う。 - 特許庁