「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a means for establishing a reference position within a repetitive bit pattern of a test signal.例文帳に追加

テスト信号の繰り返しビットパターン内の基準位置を設定する手段を提供する。 - 特許庁

After a test pattern is recorded on a recording medium in a state in which a prescribed first offset value is set to a tracking error signal, the reproduction of the test pattern is repeated two or more times while changing the offset given to the tracking error signal, and a second offset value at which an optimal quality for the reproduction signal quality of the test pattern is obtained is determined.例文帳に追加

トラッキングエラー信号に或る所定の第１のオフセット値を設定した状態で記録媒体に対してテストパターンを記録した後、そのテストパターンの再生を、トラッキングエラー信号に与えるオフセットを変化させながら複数回実行する。 - 特許庁

According to the derived testing position, the test of each electrode pattern part is executed.例文帳に追加

そして、この導出された検査位置に応じて各電極パターン部の検査が実施される。 - 特許庁

A net list 16 consisting of test vectors for ATE is obtained from the generated ATPG pattern.例文帳に追加

生成されたＡＴＰＧパターンからＡＴＥ用テスト・ベクターよりなるネットリスト１６を得る。 - 特許庁

PRINTER, IMAGE PROCESSOR, PRINTING CONTROL METHOD, PROGRAM, TEST PATTERN DATA, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

印刷装置、情報処理装置、印刷制御方法、プログラム、テストパターンデータ及び記録媒体 - 特許庁

To provide a waveform formatter capable of generating a high speed test pattern signal.例文帳に追加

高速の試験パターン信号を発生させることができる波形フォーマッタを提供する。 - 特許庁

Pattern memory 78 stores test patterns to be supplied for a device to be tested 40 in advance.例文帳に追加

パターンメモリ７８は、被試験デバイス４０に供給するテストパターンを予め格納する。 - 特許庁

GENERATING DEVICE FOR TEST PATTERN AND STROBE SIGNAL AND INSERTING METHOD FOR DELAY TIME INTO TIMING DATA例文帳に追加

テストパターンやストローブ信号の発生装置及びタイミングデータへの遅延時間の挿入方法 - 特許庁

The operator inputs the comparison result of the color of the test pattern T with that of the reference body R.例文帳に追加

オペレータは、テストパターンＴの色と基準体Ｒの色との比較結果を入力する。 - 特許庁

To measure banding frequency, phase and/or amplitude by using a single test pattern.例文帳に追加

単一のテストパターンを用いてバンディング周波数、位相および／または振幅を測定する。 - 特許庁

TEST PATTERN SIGNAL GENERATION DEVICE AND METHOD, COLORIMETRY SYSTEM, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加

テストパターン信号生成装置、テストパターン信号生成方法、測色システム及び表示装置 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, INFORMATION PROCESSOR, INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成方法、情報処理装置、集積回路試験システム、プログラム、記録媒体 - 特許庁

To provide a technology for shortening generation time of a test pattern in ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧにおけるテストパタンの生成時間を短縮するための技術を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus for semiconductor integrated circuit and test pattern diagnostic method capable of shortening the time required for the search for cause in the event of an abnormality such as frequency of fails during a test by allowing the diagnosis of only a test pattern.例文帳に追加

試験パターンのみを診断可能とすることで、試験中にフェイルが多発する等の異常が生じたときの原因追及に要する時間を短縮することができる半導体集積回路試験装置及び試験パターン診断方法を提供する。 - 特許庁

The projector 1 as the master gathers enlarged images of divided test patterns from the slave projectors 2 to 4 and puts the gathered images of test patterns and the image of a test pattern that the master projector 1 itself take partial charge of together into an image of one test pattern.例文帳に追加

マスタのプロジェクタ１は、分割されたテストパターンを拡大した画像を、スレーブのプロジェクタ２乃至４から収集し、収集したテストパターンの画像と、マスタのプロジェクタ１自身が担当するテストパターンの画像とを合成して、一つのテストパターンの画像とする。 - 特許庁

When the gray scale of a test pattern exceeds predetermined conditions, a gray scale control section 25 performs gray scale correction for a test pattern from a pattern generator 24 until a desired gray scale is attained and holds the correction amount.例文帳に追加

濃度コントロール部２５は、テストパターンの濃度が一定条件を越えた場合には、パターン発生器２４からのテストパターンに対して、所望の濃度になるまで階調補正を行い、このときの補正量を保持する。 - 特許庁

In the image forming device, a reflection-type sensor module 16 employs an ultraviolet LED light source 40, and therefore even if the test pattern is printed in any of C, M, Y, and K colors, a pattern of the highest concentration can be discriminated with high precision from the test pattern.例文帳に追加

反射型センサモジュール１６に紫外ＬＥＤ光源４０を用いているので、ＣＭＹＫいずれの色で印字されたテストパターンでも、高い精度で最も濃度の濃いパターンを判別することができる。 - 特許庁

With respect to each portion of the specific pattern, an output engine 134 creates a portion of the specific test pattern from the segment description code within the memory and generates output of a series of portions of the specific test pattern.例文帳に追加

出力エンジン１３４は、特定テスト・パターンの各部分に対して、メモリ内のセグメント記述コードから特定テスト・パターンの部分を作成して、この特定テスト・パターンの一連の部分の出力を発生する。 - 特許庁

This device is provided with a test pattern generating section generating a test pattern consisting of plural steps, a test pattern applying section, a test deciding section, an address conversion section, and plural expansion fail memory section storing pass/fail map information consisting of plural steps converted by the address conversion section distributing for each step.例文帳に追加

本発明は、複数のステップからなるテストパターンを生成するテストパターン生成部と、テストパターン印加部と、テスト判定部と、アドレス変換部と、該アドレス変換部で変換された複数のステップからなるパス／フェイルマップ情報をステップ毎に振り分けて記憶する複数の拡張フェイルメモリ部とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The BIST control part transmits, in the test mode, control data, a command signal, test pattern data and a test address signal to the BIST logic circuit through the system bus to test the IP block, and compresses and stores the test result data received through the system bus.例文帳に追加

ＢＩＳＴコントロール部は、テストモードで、システムバスを介してＢＩＳＴロジック回路に制御データ、コマンド信号、テストパターンデータ、及びテストアドレス信号を伝送してＩＰブロックをテストし、システムバスを介して受信されるテスト結果データを圧縮して保存する。 - 特許庁

A test pattern formed by a pattern forming part 20 is projected to a screen 2 by the projection lens 12 and its image is picked up by the sensor camera 14.例文帳に追加

パターン生成部２０が生成したテストパターンを投射レンズ１２によってスクリーン２に投射し、センサカメラ１４で撮像する。 - 特許庁

A pattern generator PG generates a pattern signal S_PTN that describes a test signal S1 to be applied to a DUT1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、ＤＵＴ１に供給すべき試験信号Ｓ１を記述するパターン信号Ｓ_ＰＴＮを発生する。 - 特許庁

The system then prints the test pattern, scans the pattern and determines an image quality parameter to automatically discriminate an image defect.例文帳に追加

次に、システムはテストパターンを印刷し、パターンをスキャンし、イメージ品質パラメータを決定して自動的にイメージ欠陥を識別する。 - 特許庁

A test pattern formed by a pattern forming part 20 is projected to a screen 2 by the projection lens 12 and image-picked up by the sensor camera 14.例文帳に追加

パターン生成部２０が生成したテストパターンを投射レンズ１２によってスクリーン２に投射し、センサカメラ１４で撮像する。 - 特許庁

Next, a size of a resist pattern is measured and an optimal focal position is detected for every test pattern based on measured value of a size.例文帳に追加

次に、レジストパターンの寸法を測定し、寸法の測定値に基づいてテストパターン毎に最適なフォーカス位置を検出する。 - 特許庁

To provide a pattern data generator which can prepare various types of test pattern data as required by a user through a simple arrangement.例文帳に追加

簡単な構成で、使用者の希望に応じて種々のテストパターンデータを用意できるテストパターンデータの生成装置を提供する。 - 特許庁

A driver board 16 outputs an algorithmic pattern 41 constituted of the regular test pattern corresponding to a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

ドライバボード１６は、被試験半導体装置に対応した規則的なテストパターンで構成されるアルゴリズミックパターン４１を出力する。 - 特許庁

In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加

正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証ＮＧとはなったが、本来なら検証ＯＫとなるべき検証対象データが正解データパターン（追加正解データパターン）として登録されている。 - 特許庁

In order to test a memory 105 operated by a first clock CK1, this circuit is provided with a first test pattern generation section 101 operated by a second clock CK2 to generate test data, and a second test pattern generation section 102 operated by a third clock CK3 which is the inverted clock of the second clock CK2 to generate test data.例文帳に追加

第１のクロックＣＫ１で動作するメモリ１０５をテストするために、第２のクロックＣＫ２で動作し、テストデータを生成する第１のテストパターン生成部１０１と、第２のクロックＣＫ２の反転クロックである第３のクロックＣＫ３で動作し、テストデータを生成する第２のテストパターン生成部１０２とを設ける。 - 特許庁

When forming the correction table used in the image signal conversion part 60, the first test image including a primary color test pattern and the second test image including a multicolor test pattern which are output from a test image data generation circuit 64 are printed on paper P, and read by an image reading part 12.例文帳に追加

画像信号変換部６０で使用する補正テーブルを作成する際は、テスト画像データ発生回路６４から出力された一次色のテストパターンを含む第１のテスト画像及び多次色のテストパターンを含む第２のテスト画像を用紙Ｐに印刷し、これを画像読取部１２に読み取らせる。 - 特許庁

The slip issuing machine carries out printing of a test pattern 96 at a lower portion of a slip 94 in order to test printing omission of a printing mechanism 90.例文帳に追加

伝票発行機では、伝票９４の下部に印字機構９０の印字欠落をテストするためのテストパターン９６を印字する。 - 特許庁

The data scrambler 70 scrambles and outputs the scrambled test pattern from the scrambler 54 at the compliance test.例文帳に追加

データスクランブラ７０は、コンプライアンステスト時に、スクランブラ５４からのスクランブル処理後のテストパターンに対してスクランブル処理を行って出力する。 - 特許庁

To automatically generate a test scenario for test script to cover a transition pattern passing through a specified screen only by specifying a screen to be tested.例文帳に追加

テストしたい画面を指定するだけで、指定した画面を通る遷移パターンを網羅するテストスクリプト用のテストシナリオを自動生成する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory which can perform a high speed read-out test by a comparatively complicated test pattern without increasing circuit area.例文帳に追加

回路面積を増大させず、比較的複雑なテストパターンによる高速な読み出しテストが実行可能な半導体記憶装置を得る。 - 特許庁

A test pattern 96 is recorded on a land 90 with a predetermined recording light quantity, and test patterns 98 and 99 are recorded on grooves 92 and 94 with various recording light quantities.例文帳に追加

ランド90に予め定めた記録光量でテストパターン96を記録し、グルーブ92,94に種々の記録光量でテストパターン98,99を記録する。 - 特許庁

The image of a test pattern is formed on the photoreceptor drums 21 for four primary colors YMCK so as to form the image of a test patch 51 on the transfer belt 11.例文帳に追加

４原色ＹＭＣＫ感光ドラム２１上にテストパターンを作像して、転写ベルト１１上にテストパッチ５１を像形成する。 - 特許庁

In the image processing apparatus, an image pickup section 11 outputs a test image signal obtained by picking up the monochromatic test pattern where a black frame is arranged on a white background.例文帳に追加

撮像部１１は白地の背景に黒枠を配置したモノクロのテストパターンを撮像して得たテスト画像信号を出力する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING FOCUS VARIATION IN PHOTOLITHOGRAPHY PROCESS USING TEST FEATURE PRINTED FROM PHOTOMASK TEST PATTERN IMAGE例文帳に追加

フォトマスクのテストパターンイメージから印刷されたテストフィーチャーを用いるフォトリソグラフィ工程における焦点変化を測定するシステム及び方法 - 特許庁

To conduct a test without requiring authoring of additional test software every time a message exchange pattern application is tested.例文帳に追加

メッセージ交換パターンアプリケーションがテストされるたびに、追加のテストソフトウェアのオーサリングを必要とすることなく、このテストを実施可能とする。 - 特許庁

To provide a test pattern preparation device for reducing test patterns for an LSI (Large-Scale Integration) tester without lowering the rate of failure detection.例文帳に追加

故障検出率を低下させずに、ＬＳＩテスタ用テストパターンを削減することが可能なテストパターン作成装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device performance test of which can be carried out in a short time with high efficiency regardless of the content of a test pattern or the circuit scale.例文帳に追加

テストパターンの内容、あるいは回路規模によらず、動作試験が短時間且つ高効率で行える半導体装置の実現。 - 特許庁

The test is conducted by using a tester having a test mask and an radiator to emit light and an objective lens to observe the test mask and a reference grid provided in a pattern observing area of the test mask.例文帳に追加

テストマスクと、テストマスクの、パターンを観察する領域に、光を照射する照射手段と、テストマスクを観察するための対物レンズと、基準格子と、観察手段とを備える検査装置を用いて、検査を行う。 - 特許庁

In the digital audio data inspection device 1, a test signal generating means 3 repeatedly generates a specific test signal pattern; the equipment 2 to be inspected records/reproduces the pattern as a digital audio signal; a sample data synchronizing means 7 makes the reproduced sample data a sample data pattern synchronized with the test signal pattern; and a sample data comparison means 8 compares the sample data with the test signal pattern.例文帳に追加

デジタルオーディオデータ検査装置１は、試験信号発生手段３によって、特定の試験信号パターンを繰り返し発生させ、デジタルオーディオ信号として、被検査機器２で収録・再生し、サンプルデータ同期手段７によって、その再生されたサンプルデータを、試験信号パターンに同期させたサンプルパターンとし、サンプルデータ比較手段８によって、サンプルパターンと試験信号パターンとの比較を行うことを特徴とする。 - 特許庁

When one test pattern is repeatedly printed, each recording element to be used is switched each time the test pattern is recorded in a single recording medium or a specified plurality of numbers of recording media.例文帳に追加

同一の前記テストパターンの印字を繰り返し行う場合に、1つあるいは既定の複数の記録媒体に前記テストパターンを記録するごとに、使用する前記記録素子を切りかえる。 - 特許庁

Alternatively, the color distribution of the test pattern is automatically discriminated on the basis of image data (step S7), and calculation methods and parameters are changed in accordance with the discriminated color distribution of the test pattern (step S8).例文帳に追加

或いは、画像データに基づいてテストパターンの色分布を自動的に判別し（ステップＳ７）、判別されたテストパターンの色分布に応じて計算方法及びパラメータを変更する（ステップＳ８）。 - 特許庁