「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

A test pattern image to correct the ink density discharged by the discharge nozzles is read by an optical sensor in a lower reading resolution than a nozzle resolution, and an ink density distribution is prepared by acquiring test pattern image data.例文帳に追加

吐出ノズルが吐出するインクの濃度を補正するためのテストパターン画像を、光学センサがノズル解像度よりも低い読取解像度で読み取り、テストパターン画像データを得てインク濃度分布を作成する。 - 特許庁

Then the macro common test pattern is read out of the storage part 21 in sequence and converted with the above-mentioned data for conversion to generate a macro test pattern for product, which is written to a storage part 27.例文帳に追加

次に、マクロ共通テストパタンを記憶部２１から順次読み出し、読み出したパタンを、上述した変換用データによって変換して製品用マクロテストパタンを作成し、記憶部２７に書き込む。 - 特許庁

Using the test pattern generated by the test pattern generator 4, a resistor level trouble diagnosing device 5 performs the trouble diagnosis of a resistor level so as to generate the information for performing a gate level trouble diagnosis.例文帳に追加

レジスタレベル故障診断器５はテストパタン作成器４が生成したテストパタンを用いて、レジスタレベルの故障診断を行うことにより、ゲートレベル故障診断を行うための情報を生成する。 - 特許庁

Simulation is calculated on the basis of the measured data and the design data of the new test pattern and the simulation data of the new test pattern whose shape is deformed by an optical proximity effect are outputted.例文帳に追加

この実測データと新規テストパターンの設計データに基づいてシミュレーション計算がなされ、光近接効果によって形状が変形された新規テストパターンのシミュレーションデータが出力される。 - 特許庁

A video signal processing section sequentially lights and scans a laser diode for each light source and generates a test pattern A (S1 and S2) and adjusts DAC1 to DAC4 to ensure that the test pattern density is equal (S3).例文帳に追加

ビデオ信号処理部は、レーザダイオードを一発光源ずつ順次点灯走査させ、テストパターンＡを生成して（Ｓ１、Ｓ２）、テストパターン濃度が等しくなるようにＤＡＣ１〜ＤＡＣ４の調整を行う（Ｓ３）。 - 特許庁

The horizontal lines have gradation values set in advance at each horizontal stripe test pattern, and the vertical lines have gradation values set in advance at each vertical stripe test pattern.例文帳に追加

横縞テストパターン毎に予め設定された階調値によって前記横ラインが形成され、前記縦縞テストパターン毎に予め設定された階調値によって前記縦ラインが形成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus, capable of making an input test pattern associate with an abnormality of voltage in detecting the abnormality of the voltage, when the test pattern is input into a device.例文帳に追加

テストパターンをデバイスに入力した時の電圧の異常を検出する際に、入力テストパターンと電圧の異常との対応付けをすることができる半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Since test pattern is arranged by prescribed distribution in the wafer, if the insulation of the test pattern is measured, the insulation of all elements in the wafer can be evaluated by analogizing the insulation of surrounding elements.例文帳に追加

テストパターンはウエハ内に所定の分布で配置されているので、テストパターンの絶縁性を測定すると、その周辺の素子の絶縁性を類推することにより、ウエハ内の全素子の絶縁性を評価できる。 - 特許庁

FAILURE LIST AND TEST PATTERN PREPARATION DEVICE, FAILURE LIST AND TEST PATTERN PREPARATION METHOD, FAILURE LIST PREPARATION AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION DEVICE, AND FAILURE LIST PREPARATION AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD例文帳に追加

故障リスト及びテストパターン作成装置、故障リスト及びテストパターン作成方法、故障リスト作成及び故障検出率算出装置、及び故障リスト作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁

To solve a problem in a magnetic particle flaw detection test wherein the magnetic particle pattern that is applied to an inspection surface and adsorbs to and accumulates on a flaw is hidden in the magnetic powder precipitated from the test liquid and the detection of the magnetic particle pattern is difficult.例文帳に追加

磁粉探傷試験において、検査面に適用されキズに吸着して集積した磁粉模様が、検査液から沈殿した磁粉の中に隠れて、磁粉模様の検知が困難となっている。 - 特許庁

A test pattern display means 210 displays a test pattern T on the screen of the monitor 100, based on the gradation values of the three primary colors RGB stored in a gradation value storing means 220.例文帳に追加

テストパターン表示手段２１０によって、階調値格納手段２２０内に格納されている三原色ＲＧＢの階調値に基づいて、カラーモニタ１００の画面上にテストパターンＴを表示させる。 - 特許庁

To provide a test pattern detection device which has a high read precision of a test pattern while improving a position precision of an element by suppressing distortion of an element holding part when attaching a detection sensor.例文帳に追加

検知センサ取り付け時の素子保持部の歪みを抑え、素子の位置精度を上げつつ、テストパターンの読み取り精度が高いテストパターン検知装置を提供し、画像品質の高い画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A forming processing of a test pattern is performed by using a recording head 124, and the amount of variation of dot forming position is detected for each recording element of the recording head 124 by a variation amount detecting part 128 from the test pattern.例文帳に追加

記録ヘッド１２４を用いてテストパターンの形成処理を行い、当該テストパターンから、記録ヘッド１２４の記録素子ごとのドット形成位置の変動量を変動量検出部１２８で検出する。 - 特許庁

The printer driver 96 comprises a test pattern supply module 102 for reading out the test pattern print signal TPS from the hard disc 92 and supplying it to a printer 20.例文帳に追加

プリンタドライバ９６は、ハードディスク９２からテストパターン印刷信号ＴＰＳを読み出すとともに、プリンタ２０にそのテストパターン印刷信号ＴＰＳを供給するテストパターン供給モジュール１０２を備える。 - 特許庁

A sixth process performs the failure simulation by switching to the test pattern acquired in the fourth process while using the prescribed test pattern to the correcting circuit at timing corresponding to the undetected failures .例文帳に追加

第６の工程は、修正回路に対して所定のテストパターンを用いながら未検出故障相当のタイミングでは第４の工程で求めたテストパターンに切り換えて故障シミュレーションを行う。 - 特許庁

A test pattern is transferred to paper conveyed and supplied by a posture correction part 60 and a resist roll 61 by using a secondary transfer part 20, and the test pattern on the paper is read by an image reading part 2.例文帳に追加

姿勢補正部６０やレジストロール６１によって搬送、供給される用紙に、二次転写部２０を用いてテストパターンを転写し、用紙上のテストパターンを画像読み取り部２で読み取る。 - 特許庁

At first, a sheet is fed up to a position where the carrying amount is regulated by means of an LF roller (S110), and a plurality of test pattern images are printed by combining first and second test pattern images (S120).例文帳に追加

まず、ＬＦローラにより搬送量が調整される位置まで用紙を送り（Ｓ１１０）、第１のパターン画像と第２のパターン画像を組み合わせた複数のテストパターン画像を印刷する（Ｓ１２０）。 - 特許庁

The allowable range is set in order to prevent erroneous diagnosis based on the difference in the volume of information between the test pattern printed by means of the printer and the test pattern data taken in by means of the image scanner.例文帳に追加

許容範囲は、プリンタにより印刷されたテストパターンとイメージスキャナにより取り込まれたテストパターンデータとの情報量の違いに基づく誤診断を防止するために設定される範囲である。 - 特許庁

A plurality of waveform generating circuits generates the test waveform of each continuous pattern data from the continuous pattern data generated in the pattern generating circuit and the clock for determining the change timing of each continuous pattern data generated in an edge generator.例文帳に追加

複数の波形発生回路は、パターン発生回路で発生した連続パターンデータと、エッジ発生器で発生した各連続パターンデータの変化タイミングを決定するクロックとから、各連続パターンデータのテスト波形を発生する。 - 特許庁

A pattern inside the forbidden region 404m is removed from a pattern 204m of the main chip of a memory cell for the formation of a main chip modified pattern 7, data D4 and data D7 are composited into a pattern D8 for a test chip.例文帳に追加

メモリセルの本チップのパターン２０４ｍから、禁止領域４０４ｍ内にあるパターンを除き、本チップ修正パターン（Ｄ７）とし、データＤ３とデータＤ７とを合成して、テストチップのためのパターンデータＤ８とする。 - 特許庁

Before the start of a test, a pattern generating instruction is loaded to a pattern generation instruction storage circuit 110 and a pattern edit instruction is loaded to a pattern edit instruction storage circuit 120 respectively via a BIST control circuit 310.例文帳に追加

テスト開始前までに、ＢＩＳＴ制御回路３１０を介して、パターン発生命令記憶回路１１０にパターン発生命令が、パターン編集命令記憶回路１２０にパターン編集命令が、それぞれロードされる。 - 特許庁

A light intensity pattern is formed by optical simulation using the pattern data (S13), and a model for specifying the quantity of corrections correlated with the difference in size between the light intensity pattern and the test pattern is developed (S14, S15).例文帳に追加

パターンデータを用いた光学シミュレーションにより光強度パターンを形成し（Ｓ１３）、テストパターンに対する光強度パターンの寸法相違に相関する補正量を規定するモデルを生成する（Ｓ１４，Ｓ１５）。 - 特許庁

A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.例文帳に追加

検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁

A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.例文帳に追加

テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁

To provide a pattern forming method capable of securing the wide margin of exposure in test pattern formation and a mask used for the execution.例文帳に追加

テストパターン形成における露光のマージンを広く確保することができるパターン形成方法およびこの実施に用いるマスクを提供する。 - 特許庁

Using an exposure mask form, based on a prescribed pattern data, a test pattern is formed on different bases on a semi conductor substrate (S10-S12).例文帳に追加

所定のパターンデータに基づいて形成した露光マスクを用いて半導体基板上の異なる下地にテストパターンを形成する（Ｓ１０〜Ｓ１２）。 - 特許庁

To realize a pulse pattern generator which outputs a test signal having high waveform quality even if the shape of an eye pattern is altered.例文帳に追加

アイパターンの形状を変更しても波形品質の高い試験用信号を出力するパルスパターン発生装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

A layout pattern of the memory cell for the test is made a same pattern as the layout pattern of the memory cell, the memory cell section 103 for the test is arranged closely to a memory cell arranged at a position at which a ferroelectric capacitor is easy to deteriorate.例文帳に追加

テスト用メモリセルのレイアウトパターンは、メモリセルのレイアウトパターンと同一としてあり、テスト用メモリセル部１０３は、複数のメモリセルのうち、強誘電体キャパシタが劣化しやすい位置に配置されているメモリセルに対して、近接して、配置されている。 - 特許庁

In a first IC 510 in an LED writing control circuit 502 of a writing section 500, a test pattern is formed, image data from an image memory section 301 and the test pattern formed in the first IC 510 are composed, and the composite pattern is lighted on an LED head 503.例文帳に追加

書込部５００のＬＥＤ書込制御回路５０２内の第１ＩＣ５１０にて、テストパターンを形成し、画像メモリ部３０１からの画像データと第１ＩＣ５１０で生成したテストパターンとを合成しＬＥＤヘッド５０３にて点灯させる。 - 特許庁

First, as shown in Fig. 2 (a), in a step St 11, the analysis of signal data is performed with respect to respective test patterns P_1-P_n contained in a test pattern group 150.例文帳に追加

まず、図２（ａ）に示すように、ステップＳｔ１１において、テストパターン群１５０に含まれる各テストパターンＰ_1〜Ｐ_nについて、信号データの解析を行なう。 - 特許庁

In a memory test, the ECC circuit 12 generates code information with error detection functions under specified conditions from a test pattern to output it to the code memory 11.例文帳に追加

ＥＣＣ回路１２は、メモリテスト時に、テストパターンから指定の条件でのエラー検知機能を有するコード情報を生成してコード用メモリ１１に出力する。 - 特許庁

A test pattern formed on a test reticle Rt is projected onto a light reception surface 42 of an image pickup mechanism 41 via a projection optical system PLe to be inspected.例文帳に追加

テストレチクルＲｔ上に形成されたテストパターンを、被検投影光学系ＰＬｅを介して撮像機構４１の受光面４２上に投影する。 - 特許庁

To provide a method of generating a test pattern capable of conducting a dynamic test for each path in a semiconductor integrated circuit including a memory circuit.例文帳に追加

メモリ回路を含む半導体集積回路の各パスの動的な試験を行うことが可能となるテストパターン生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A test data generating part 14 generates test data based on the pattern identification code and condition identification code stored in the telephone number management data.例文帳に追加

試験データ生成部１４は、電話番号管理データに格納されているパターン識別コードおよび条件識別コードに基づいて試験データを生成する。 - 特許庁

A test mask having a plurality of test patterns is produced (S1, S5) by changing shapes and layouts according to the shape and layout of a design pattern.例文帳に追加

設計パターンの形状および配置状態に応じて形状および配置状態を変化させた複数のテストパターンを備えたテストマスクを作製する（Ｓ１，Ｓ５）。 - 特許庁

To provide systems and methods for detecting focus variation in photolithography process using test features printed from photomask test pattern images.例文帳に追加

フォトマスクのテストパターンイメージから印刷されたテストフィーチャーを用いるフォトリソグラフィ工程における焦点変化を測定するシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

A pattern generator ALPG generates test patterns S_PTN1 to S_PTN4 describing a test signal S_TEST to be outputted by drivers DR_1 to DR_4.例文帳に追加

パターン発生器ＡＬＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４を生成する。 - 特許庁

The start time of the alignment test signal is adjusted until the frequency content of the return alignment test signal corresponds to the alternating pattern of frequencies.例文帳に追加

位置調整検査信号の開始時間は、戻り位置調整検査信号の周波数コンテンツが周波数の交互パターンに対応するまで調整される。 - 特許庁

A simulation is executed (step 1), an input/output switch timing of an integrated circuit is calculated to create a test program and a test pattern (step 2, step 3).例文帳に追加

シミュレーションを実行して（ステップ１）集積回路の入出力の切替えタイミングを算出し、テストプログラムとテストパタンとを作成する（ステップ２，ステップ３）。 - 特許庁

A storage part for storing the program code to be inserted into the test program is provided to store a combination of a pattern matched with the test program and the program code to be inserted thereinto.例文帳に追加

テストプログラムに対して挿入したいプログラムコードの記憶部を設け、テストプログラムにマッチするパターンと挿入したいプログラムコードとの組を格納する。 - 特許庁

An angle of view of the off-axis collimator is set to θ and the test pattern 28 that is aerially imaged is imaged through the test lens to obtain a first image.例文帳に追加

画角θに軸外コリメータをセットして、被検レンズを通して空中結像したテストパターン２８を撮像することにより、第１撮像画像を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test can be performed even after redundancy relief, by using a test pattern used before redundancy relief.例文帳に追加

冗長救済後も冗長救済前に用いたテストパターンを用いてテストすることができる半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

And the simulation test bench to be inputted in the corresponding input signal line is generated by reading the test pattern file and performing bit distribution (a step 12).例文帳に追加

そして、そのテストパターンファイルを読み込み、ビット分配して対応する入力信号線へ入力するシミュレーションテストベンチを生成する（ステップ１２）。 - 特許庁

The test pattern generator and the test memory analyzer are synchronized by using a vertical integral time code and a trigger packet sent from a transmission station.例文帳に追加

テスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザは伝送ステーションによって送られた垂直インテグラル・タイム・コード及びトリガ・パケットを使用して同期化される。 - 特許庁

To improve the accuracy of evaluation of the reproduced quality of test pattern data for deciding optimum laser power at the time of recording data even if high speed test writing is performed.例文帳に追加

高速試し書きの場合でも、データ記録時の最適なレーザパワーを決めるためのテストパターンデータの再生品質の評価を精度良くできるようにする。 - 特許庁