「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

The tester body 20 is provided with a tester controller 40 and a test unit 22, and the test unit 22 includes a pin assign converter 90, a pattern generator 50 and a waveform shaper 60.例文帳に追加

テスタ本体２０は、テスタコントローラ４０及び試験ユニット２２を有し、試験ユニット２２には、ピンアサインコンバータ９０、パターン発生器５０及び波形整形器６０が含まれる。 - 特許庁

This method also includes a step of performing a test among the domains and implementing a second subset of the domain of the plurality of circuits provided with the dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

本方法はまた、ドメイン間テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第２サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

A programmable logic device 150 is formed on a burn-in board BIB, and when performing a burn-in test, a test pattern signal and a logical value are supplied to the programmable logic device 150.例文帳に追加

バーンインボードＢＩＢ上に、プログラマブルロジック装置１５０を設け、バーンイン試験の際には、このプログラマブルロジック装置１５０に、テストパターン信号と論理値を供給する。 - 特許庁

The test pattern generator dynamically arranges a test signal to a line selected in advance for a VBI period in the video frame at a period of the frame by adopting a concealment technology.例文帳に追加

テスト・パターン・ジェネレータはＶＢＩ期間における事前選択されたラインに、ビデオ・フレームの時間周期でテスト信号を隠蔽技法を使用してそのフレームに動的に配置する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit for remarkably reducing an amount of a scanning test pattern and shortening a full scanning test time by modifying the constitution of an inside scanning chain at any time without increasing a test terminal and remarkably shortening a once-scanning shift action period in an LSI full scanning design, and to provide its test method.例文帳に追加

ＬＳＩのフルスキャン設計において、テスト端子を増加させずに、内部スキャンチェーンの構成を随時変更し、１回のスキャンシフト動作期間の大幅な短縮を行うことで、スキャンテストパターン量の大幅な削減とフルスキャンテスト時間の短縮を可能とする半導体テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

When a test execution part 68 detects a test execution operation by differently pushing an alarm stop switch 20 in a normal monitoring state, the test execution part 68 outputs a prescribed point in a fire alarm sound of a prescribed pattern, such as a sweep alarm sound to be subjected to acoustic pressure measurement test, as a test sound from a speaker 56.例文帳に追加

試験実行部６８は、通常監視状態における警報停止スイッチ２０の押分け等による試験実行操作を検知した場合、所定パターンの火災警報音の内の音圧測定の対象となるスイープ警報音などの所定箇所をスピーカ５６から試験音として出力させる。 - 特許庁

Further, conventionally, as a connection test of a row address and a column address between a logic section and a memory is performed by an actual operation test of a whole LSI, a fault detecting rate of a circuit is low, but this test can be performed by a scan-test, and a test pattern having a high fault detecting rate of a circuit can be automatically made.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

This test chart 40 consists of a character pattern and a background pattern, the character pattern is printed in a medium tone color using black (K) ink, and the background pattern is printed in the same medium tone color as that of the character pattern by adjusting blending three ink colors in total C(cyan), M(magenta), and Y(yellow).例文帳に追加

このテストチャートは、文字パターンと背景パターンとから構成され、文字パターンは、Ｋ（墨版）のインクを用いた中間色で印刷し、背景パターンは、Ｃ（シアン），Ｍ（マゼンタ），Ｙ（イエロー）計３色のインクの配合を調整することにより、文字パターンと同一の中間色で印刷する。 - 特許庁

An external inspection circuit 24 includes a control circuit 38 stored with a test pattern producing program for producing a test pattern according to a signal SIG2, a signal generator 40 for outputting a signal SIG4 (frequency setting signal) according to the test pattern, and a comparison discriminator 42 for comparing a signal SIG3 with an expected value to output a comparison result.例文帳に追加

外部検査回路２４はテストパタン生成プログラムが記憶され、信号ＳＩＧ２に応じてテストパタンを生成する制御回路３８と、テストパタンに応じて信号ＳＩＧ４（周波数設定信号）を出力する信号発生器４０と、信号ＳＩＧ３と期待値とを比較して比較結果を出力する比較判定器４２とを含む。 - 特許庁

When the image read section reads a test pattern outputted from an image output section, a paper sheet 300 on which the test pattern image is outputted is set on a platen glass pane 303 of the image read section in a way that a main scanning direction 301 of the image output section at output of the test pattern image is dissident with a main scanning direction 302 of the image read section.例文帳に追加

画像出力部によって出力されたテストパターン画像を画像読取部によって読取る際、テストパターン画像が出力された用紙３００を、テストパターン画像を出力したときの画像出力部の主走査方向３０１と、画像読取部の主走査方向３０２とが一致しないようにして、画像読取部のプラテンガラス３０３上にセットする。 - 特許庁

The distortion compensating power amplifier includes: a test pattern addition part 10 for adding a test pattern to an input signal Vin; a predistortion part 20 for applying distortion compensation processing using a distortion correction coefficient for canceling distortion during amplification to the test pattern-added input signal Vin to generate predistortion signal; and an amplification part 30 for amplifying the predistortion signal.例文帳に追加

入力信号Ｖinにテストパタンを付加するテストパタン付加部１０と、テストパタンが付加された入力信号Ｖinに、増幅時の歪みを打ち消すための歪み補正係数を用いて歪み補償処理を施してプリディストーション信号を生成するプリディストーション部２０と、プリディストーション信号を増幅する増幅部３０と、を備える歪み補償電力増幅器である。 - 特許庁

Uni test pattern for matching the ink impact position of a plurality of head units 51 in the main scanning direction, and Bi test pattern for matching the ink impact position of each head unit 51 in the main scanning direction between going and returning strokes of scanning are formed simultaneously on the same print paper P and the conditions for forming two types of test pattern are made to coincide with each other.例文帳に追加

複数のヘッドユニット５１間の主走査方向に対するインク着弾位置を一致させるためのＵｎｉテストパターンと、各ヘッドユニット５１における往復走査間の主走査方向に対するインク着弾位置を一致させるためのＢｉテストパターンと、を同じプリントペーパＰ上に同時に作成し、２種類のテストパターンの作成条件を一致させる。 - 特許庁

In addition, the chip is a data source, a test pattern is generated by the data source, the test pattern is transmitted to a data destination by using the set of signal paths, the received pattern is compared with expected data at the data destination and whether or not the defective signal path exists is determined by utilizing this comparison result.例文帳に追加

また、前記チップはデータ・ソースであり、このデータ・ソースでテスト・パターンを生成し、信号パスの組を使用してテスト・パターンをデータ宛先に送り、データ宛先で、受け取ったパターンを期待されるデータと比較し、この比較の結果を利用して、欠陥のある信号パスが存在するかを判定する。 - 特許庁

Layout polygonal data forming the test pattern is created, and informations on a design rule identifier, a check sort of rule, a check value, a fine adjustment range of check pattern, and steps are added to an edge of a counterpart as a checking object of polygonal data within a predetermined range, thereby, the correct test pattern can be formed.例文帳に追加

テストパターンを構成するレイアウトのポリゴンデータを作成し、そのポリゴンデータのチェック対象となる対のエッジに、デザインルール識別子、ルールのチェック種別、チェック値、チェックパターンの微調整範囲およびステップの情報を、所定の範囲内で順次付加させていくことで正しいテストパターンを生成する。 - 特許庁

Since the dot pattern printed by the heating elements 12a and 12z at the opposite ends is formed differently from the dot pattern printed by other heating elements 12b through 12y, opposite end positions of a printed test pattern 22 can be grasped definitely and the thermal head 12 can undergo GO/NO-GO test simply and accurately.例文帳に追加

両端の発熱素子１２ａ、１２ｚで印字されるドットのパターンが、他の発熱素子１２ｂ〜１２ｙで印字されるドットのパターンとが異なって形成されているため、印字されたテストパターン２２の両端位置を明確に把握でき、簡単かつ正確にサーマルヘッド１２の良否を検査できる。 - 特許庁

By this invention, when the same data pattern for test is latched to a different data latch circuit 4, since a latch is performed by only transfer to the data latch circuit 4 from the test latch circuit 12 without inputting data from the outside whenever, a time required for latching the data pattern for test to the data latch circuit 4 can be shortened largely, and a test time also can be shortened.例文帳に追加

本発明によれば、異なるデータラッチ回路４にテスト用の同じデータパターンをラッチする際に、その都度、外部からデータパターンを入力せずに、テストラッチ回路１２からデータラッチ回路４に転送するだけで済むため、テスト用のデータパターンをデータラッチ回路４にラッチするまでの時間を大幅に短縮でき、テスト時間も短縮できる。 - 特許庁

In the test mode, the control part 2 executes the designated operation pattern by measuring a time from the execution start time to the execution end time decided by the measurement pattern made correspond to the operation pattern at the speed decided by the measurement pattern.例文帳に追加

制御部２は、テストモード時には、指定された運行パターンを、当該運行パターンに対応付けられた計時パターンで定められた実行開始時刻から実行終了時刻までの間を、当該計時パターンで定められた速さで計時して、実行する。 - 特許庁

To improve a test pattern that is printed to distinguish the displacement of the alignment of print heads from a print head property that affects the ejection of ink from the print heads, and to provide a method for analyzing image data corresponding to the printed test pattern.例文帳に追加

プリントヘッド配向のずれと、プリントヘッドからのインクの射出に影響を与えるプリントヘッド特性と、を識別するため、印刷されるテストパターンを改良、および印刷されるテストパターンに対応する画像データの分析法を提供する。 - 特許庁

The projector device 1 projects a test pattern as a specified image on a screen 3, images the test pattern projected on the screen 3 by a camera 12, and measures image signal intensity representing the lightness of the picked-up image by a control part 11.例文帳に追加

プロジェクタ装置１は、所定画像であるテストパターンをスクリーン３へ投射し、スクリーン３上に投射されたテストパターンをカメラ１２で撮像し、撮像画像の明るさを示す画像信号強度を制御部１１で計測する。 - 特許庁

To solve a problem that when transmitting a test pattern from an LSI tester in the LSI tester or an LSI tester simulation model, which range of an address area in a DUT memory is accessed can not be known and a defect of the test pattern cannot be previously detected.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ又はＬＳＩテスタシミュレーションモデルでは、ＬＳＩテスタ側からテストパターンを送信する際に、ＤＵＴメモリのどの範囲のアドレス領域をアクセスしたかを知ることはできず、テストパターンの不備を事前に検出できない。 - 特許庁

When the test pattern is read out, the identification code is read out together in order to determine a printer printed out the test pattern thus readily specifying a printer for setting calibration data generated based on the read out data.例文帳に追加

そして、テストパターン読取りのとき、この識別コードもともに読取ることによってテストパターンをプリントしたプリンタを判別し、これに応じて、読取りデータに基づいて作成されたキャリブレーションデータを設定するべきプリンタを容易に特定できる。 - 特許庁

The ejection operation of the ink by a recording head 202 is controlled to record a first test pattern by a first time interval between a plurality of scans in recording to the same recording position when the test pattern is recorded.例文帳に追加

テストパターンを記録するときの同一の記録位置への記録における複数回の走査の間の時間の間隔が、第一の間隔で第一のテストパターンの記録を行うように、記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁

The electron beam plotting method plots a desired pattern on a test piece with an electron beam, wherein the plotting is performed by moving the test piece so as to plot the desired pattern relative to the electron beam.例文帳に追加

電子ビームによって試料に所望のパターンを描画する電子ビーム描画方法であって、前記試料を前記電子ビームに対して前記所望のパターンを描くように動かすことにより、前記描画を行なうことを特徴とする。 - 特許庁

The predistortion part 20 compares the test pattern added to the input signal Vin with a test pattern part included in an output signal Vout from the amplification part 30 and updates the distortion correction coefficient so that a difference of the compared result may be minimized.例文帳に追加

プリディストーション部２０は、入力信号Ｖinに付加されたテストパタンと、増幅部３０の出力信号Ｖoutに含まれるテストパタン部分とを比較して、比較結果の差分が最小となるように、歪み補正係数を更新する。 - 特許庁

At the time of preparing a patch sheet 120, an output medium information 124 (kind of printing paper, magazine ID, etc.), and an output condition information 128 (data and time, temperature at the time of outputting a test pattern for correction) are exposure-recorded together with the test pattern for correction.例文帳に追加

パッチシート１２０作成時に、較正用テストパターンとともに、出力媒体情報１２４（印画紙種、マガジンＩＤ等）、及び出力条件情報１２８（較正用テストパターン出力時の日時、温度）を露光記録する。 - 特許庁

The method for detecting the missing nozzle of the inkjet printer prints a rectangular test pattern with each nozzle of a print head or with a nozzle belonging to one group, scans the test pattern with an optical sensor being an automatic alignment sensor, and detects the missing nozzle.例文帳に追加

プリントヘッドの各ノズルまたは１つのグループに属するノズルで矩形状のテストパターンを印刷し，自動整列センサである光センサで前記テストパターンをスキャンしてミッシングノズルを検出するインクジェットプリンタのミッシングノズル検出方法。 - 特許庁

When a user touches an instruction part of the test pattern 5 with a finger in accordance with an instruction of the test pattern 5 displayed on the touch panel 3a, the onboard terminal 3 generates screen format data from an input based on a touch position and transmits the data to the server 2.例文帳に追加

タッチパネル３ａに表示されたテストパターン５の指示に応じて、利用者がテストパターン５の指示部分に指を触れると、車載端末３は、接触位置に基づいた入力から画面形式データを生成しサーバ２に送信する。 - 特許庁

When a reading section 10 reads the test pattern, a data processing section 20 determines the necessity of adjusting the recording head 60 based on the test pattern read by the reading section 10, and a printing adjusting section 90 adjusts the recording head.例文帳に追加

さらに読み取り部１０が前記テストパターンを読み取ると、前記読み取り部１０で読み取ったテストパターンに基づき記録ヘッド６０の調整の要否をデータ処理部２０が判断し、印字調整部９０が記録ヘッドを調整する。 - 特許庁

When the correction of the operation coefficient to be used for the γ-correction is instructed (steps S13 and S14), a test pattern and an original image on a platen are composited and are subjected to copy output, when it is not an test pattern reading mode (step S17 to S19).例文帳に追加

γ補正に用いられる演算係数の補正が指示されると（ステップＳ１３，Ｓ１４）、テストパターン読取モードでない場合はテストパターンと原稿台４０上の原稿画像とを合成してコピー出力する（ステップＳ１７〜Ｓ１９）。 - 特許庁

At this time, an operator turns the imaging apparatus 50 to a test pattern (not shown in figure) and pushes and moves the upper barrel 21B to the totally most focusing position, in a direction orthogonal to an optical axis, while observing a test pattern image displayed on a monitor.例文帳に追加

ここで作業者は、撮像装置５０をテストパターン（不図示）に向けて、モニタに表示されるテストパターン画像を観察しながら、全体的に最もピントが合う位置へと、上筒２１Ｂを光軸直交方向に押して移動させる。 - 特許庁

The toner density estimating method includes: sensing photo-reflectance of a test pattern having a plurality of grayscales formed by using toner; and estimating a toner density based on a rate of change in the photo-reflectance sensed by the grayscales of the test pattern.例文帳に追加

トナーを用いて形成された複数階調のテストパターンの光反射特性を検知し、テストパターンの階調による検知された光反射特性の変化率からトナーの濃度を推定するトナー濃度推定方法である。 - 特許庁

In the testing device wherein signals from a pattern generation section put in the body section are sent to test heads through optical fibers, the optical fibers connect the pattern generation section and the test heads through WDM couplers or DWDM couplers.例文帳に追加

本体部に収納されたパターン発生部からの信号を、光ファイバを介してテストヘッドに接続する試験装置において、光ファイバは、ＷＤＭカップラまたはＤＷＤＭカップラを介してパターン発生部とテストヘッドを接続する。 - 特許庁

The user places a print-out 336 of a test pattern and a test pattern master sheet 337 side by side on a document table of an image scanner 338, and reads the print-out 336 and the master sheet 337 by one image scanning operation of the image scanner 338.例文帳に追加

ユーザは、テストパターンのプリントアウト３３６と、テストパターンマスタシート３３７とを、イメージスキャナ３３８の原稿台に並べて置いて、プリントアウト３３６とマスタシート３３７をイメージスキャナ３３８に一回のイメージスキャニング動作で読み取らせる。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁

Read image data of a test pattern in which pattern elements (for example, lines) are sparsely recorded on a recording medium by a recording head having a plurality of recording elements are acquired.例文帳に追加

複数の記録素子を有する記録ヘッドによって記録媒体上にパターン要素（例えば、ライン）がまばらに記録されたテストパターンの読取画像データを取得する。 - 特許庁

A pattern forming part of a controller forms a test pattern of a dot shape by controlling ink droplets ejected from three ink ejection openings 8 of first to third ejection openings.例文帳に追加

制御装置のパターン形成部が、第１〜第３吐出口の３つのインク吐出口８からインク滴が吐出されるように制御してドット状のテストパターンを形成する。 - 特許庁

A serializer 105 is synchronized with the multiplied clock signal generated by the PLL circuit 107, and outputs a serial data of a serial-converted test pattern from a pattern generation part 102.例文帳に追加

シリアライザ１０５は、ＰＬＬ回路１０７が生成する逓倍クロック信号に同期しパターン発生部１０２からのテストパターンをシリアル変換したシリアルデータを出力する。 - 特許庁

This semiconductor testing apparatus 1 tests a plurality of devices to be tested 20a-20d in parallel using a test pattern P1 generated by a pattern generating section 11.例文帳に追加

半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を用いて複数の被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験を並行して行うものである。 - 特許庁

A pattern feature extracting part 2 extracts description of a test pattern.例文帳に追加

パターン特徴抽出部２がテストパターンの特徴を抽出し、パターン変換部３が抽出したテストパターンの特徴を考慮してテストパターンの並び替え、スクランブルコードとともに出力する。 - 特許庁

In a fifth step, the test pattern of the semiconductor memory in which reappearance of the occurrence of defective operation is confirmed is incorporated in the evaluation pattern of the semiconductor memory of the semiconductor memory tester.例文帳に追加

第５ステップでは、動作不良発生の再現が確認された半導体メモリへのテストパターンを半導体メモリテスタの当該半導体メモリの評価パターンに組み込む。 - 特許庁

The exposure quantity calculation part 8 automatically measures the pattern rate, and optimizes the exposure time of a photoresist film according to the pattern rate to eliminate the need for test exposure.例文帳に追加

露光量算出部８で自動的にパターン率を測定し、このパターン率の大きさでフォトレジスト膜の露光時間を最適することで、試し露光を不要にできる。 - 特許庁

To provide a means of inspecting function of logic circuit with a high detection capability at low cost by reducing the necessary amount of a pattern memory without reducing the number of step of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンのステップ数を減少させずにパターンメモリの必要量を減らし、低コストで検出力の高い論理回路の機能検査手段を提供すること。 - 特許庁

In the test pattern generation supporting device 310, if the acquisition part 311 acquires the connection information 301 of testing circuit 200 and a path exempt out of test, the detection part 312 detects paths between all FFs constituting the test objective circuit 200, and forms the extra test objective path list 400.例文帳に追加

テストパターン生成支援装置３１０では、取得部３１１がテスト対象回路２００の接続情報３０１およびテスト対象外パスが取得された場合、検出部３１２はテスト対象回路２００を構成する全ＦＦ間のパスを検出し、テスト対象外パスリスト４００を作成する。 - 特許庁

A step of a top module necessary for generating hardware logic simulation includes a step for converting an original unit test into an expansion unit test, and a step for generating an input pattern file by performing a unit test to the wrapper class by the expansion unit test.例文帳に追加

さらにハードウエアロジックシュミレーション発生に必要とするトップモジュールのステップは、オリジナルユニットテストを拡充ユニットテストに転換するステップ、拡充ユニットテストはラッパークラス（ｗｒａｐｐｅｒ ｃｌａｓｓ）に対してユニットテストを行い入力パターンファイルを発生するステップを含む。 - 特許庁

In the test mode, a row decoder fixes pre-decoding signals RX0-RX3 to an activated state, and word lines selected for writing a test pattern in a short time are activated en bloc by controlling pre-decoding signals X0-X3 in accordance with the test signal in the test mode.例文帳に追加

テストモードにおいて、ロウデコーダは、プリデコード信号ＲＸ０〜ＲＸ３を活性化状態に固定し、プリデコード信号Ｘ０〜Ｘ３をテストモードにおいてテスト信号に応じて制御することにより、テストパターンを短時間で書込むために選択したワード線を一括して活性化する。 - 特許庁