「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a downsized test terminal for installation of a substrate, which prevents a test pattern provided on the substrate from being damaged, and also prevents misregistration of a probe from occurring, and also to provide a substrate with the test terminal.例文帳に追加

基板に設けられたテストパターンを傷つけたり、プローブの位置ずれが生じたりするのを防止でき、かつ、小型化を実現可能な基板設置用テスト端子、及びテスト端子付き基板を提供する。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

The entire test time for the semiconductor device 20 is reduced by utilizing the nonvolatile program period and entering the logic test pattern to test a logic circuit 30 such as a CPU within this period.例文帳に追加

この不揮発性プログラム期間を利用し、この期間内にＣＰＵ等のロジック回路３０をテストするためのロジックテストパターンを入力し、半導体装置２０全体のテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

An imaging means (printer 300) outputs a plurality of test patterns including an identical test pattern and the gradation characteristics of the imaging means are corrected based on the read out results of these test patterns.例文帳に追加

画像形成手段（プリンタ３００）が、同一のテストパターンを含む複数枚のテストパターンを出力し、それらのテストパターンを読み取った結果から画像形成手段の階調特性の補正を行う。 - 特許庁

An image composition circuit 53 combines a mask image 57 for a test having a prescribed reference pattern 65 with the endoscope image 30a including a test chart image 35a to generate a mask composite image 67 for the test.例文帳に追加

画像合成回路５３は、テストチャート画像３５ａを含む内視鏡画像３０ａに所定の基準パターン６５を有するテスト用マスク画像５７を合成し、テスト用マスク合成画像６７を生成する。 - 特許庁

The recorded test pattern is reproduced (step S3), and based on plural of reproducing signals captured, the recording conditions capable of forming the first test mark and the second test mark favorably are selected, respectively (step S4).例文帳に追加

記録されたテストパターンを再生し（ステップＳ３）、得られた複数の再生信号に基づいて、第１テストマーク及び第２テストマークを良好に形成できる記録条件をそれぞれ選定する（ステップＳ４）。 - 特許庁

A test condition assigning part 13 stores the condition identification code of the test condition data in the condition identification code of the telephone number management data based on the pattern identification code included in test condition data.例文帳に追加

試験条件割当部１３は、試験条件データに含まれるパターン識別コードに基づいて、当該試験条件データの条件識別コードを電話番号管理データの条件識別コードに格納する。 - 特許庁

To provide a simple solution not requiring tracking/control of an inversion characteristic executed by a test developer in developing a test code, and capable of maintaining the algorithmic side of a test pattern.例文帳に追加

試験コードを開発する際に、試験開発者が反転特性の追跡・管理を行なう必要がなく、なおかつ試験パターンのアルゴリズム的側面を維持することができる単純なソリューションを提供する。 - 特許庁

Before an image piece is recorded by each of the recording sections 14-19, a test pattern is recorded on a blank between the pieces.例文帳に追加

各記録部１４〜１９で画像コマを記録する前に、コマ間の余白にテストパターンを記録する。 - 特許庁

The system and method generate digital images of printed documents that do not have test pattern data within them.例文帳に追加

インクジェット画像生成システムにおいて、テストパターンデータをもたない印刷物のデジタル画像を生成する。 - 特許庁

The image display device 10 displays a test pattern 11a on the display device when the inspection mode is selected.例文帳に追加

画像表示装置１０は、検査モードが選択されると、表示器１１にテストパターン１１ａを表示する。 - 特許庁

A TOP dimension and a BOTTOM dimension of the test pattern for each focusing are measured, respectively (step S12).例文帳に追加

フォーカスごとのテストパターンのＴＯＰ寸法とＢＯＴＴＯＭ寸法をそれぞれ測定する（ステップＳ１２）。 - 特許庁

The three or more line segments included in the captured test pattern image have an inclination relative to a predetermined line.例文帳に追加

撮像テストパターン画像に含まれる３つ以上の線分は、所定ラインに対して傾きを有する。 - 特許庁

To provide a test pattern that enable accurate measurement for gate resistance of a semiconductor element.例文帳に追加

正確な半導体素子のゲート抵抗の測定を可能にするテストパターンを提供することを目的とする。 - 特許庁

To print a test pattern while saving the storage capacity of a storage medium mounted on a serial printer.例文帳に追加

シリアルプリンタに搭載された記憶媒体の記憶容量を節約してテストパターンを印刷できるようにする。 - 特許庁

For film thickness of a test pattern region of the dummy board, the relation between immersion time and film reducing amount is plotted.例文帳に追加

ダミー基板のテストパターン領域の膜厚について、浸漬時間と膜減り量の関係をプロットする。 - 特許庁

The bit test pattern vector and the sample vector of the bits vary when compared several times.例文帳に追加

ビット・テスト・パターン・ベクトルおよびビットのサンプル・ベクトルは両方とも何回かの各比較に対して変化する。 - 特許庁

TEST PATTERN FOR STEREOSCOPIC IMAGE EXTINCTION EVALUATION, STEREOSCOPIC IMAGE CROSSTALK EVALUATION METHOD AND COMPUTER STORAGE DEVICE例文帳に追加

立体画像消失評価用試験パターン、立体画像クロストーク評価方法及びコンピュータ記憶装置 - 特許庁

To measure respectively output voltage values from a device to be measured for a test pattern for every AD start.例文帳に追加

ＡＤスタートごとのテストパターンに対する被測定デバイスからの出力電圧値をそれぞれ測定する。 - 特許庁

To print, on each backing paper, a test pattern in which a density patch is dynamically arranged, while avoiding see-through portions.例文帳に追加

個々の裏紙に対して、裏写り部分を避けて動的に濃度パッチを配置したテストパターンを印刷する。 - 特許庁

The side register adjustment value set in the LPH 14 is reset before outputting the test pattern.例文帳に追加

そして、テストパターンを出力する前に、ＬＰＨ１４に設定されていたサイドレジ調整値がリセットされる。 - 特許庁

In this IC testing system, an IC testing device 150 impresses a test pattern signal to a tested IC.例文帳に追加

ＩＣ試験システム１０において、ＩＣ試験装置１５０は、被試験ＩＣに試験パターン信号を印加する。 - 特許庁

Producing an assignment decision diagram that represents the RTL digital circuit generates the test pattern.例文帳に追加

テストパターンはＲＴＬデジタル回路を表現する割当決定図を作成することにより生成される。 - 特許庁

To enhance a judging precision of an adjustment test pattern in adjustment of a printing timing in a printing apparatus.例文帳に追加

印刷装置における印字タイミングの調整において、調整用テストパターンの判定精度を高める。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that detects a position of a test pattern by preventing an effect of a sheet material.例文帳に追加

シート材の影響を抑制してテストパターンの位置を検出する画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To improve the quality of testing by generating a test pattern which detects bridge failures of LSI, with high accuracy.例文帳に追加

ＬＳＩのブリッジ故障を高精度に検出するテストパターンを作成し、テストの品質を向上する。 - 特許庁

In a test pattern generating apparatus 1 for generating a test pattern to be used for evaluating the image quality of a display 5, based on the resolution of the display 5 or the standard of an input signal to the display 5, a display condition input section 2 sets the output conditions for outputting the test pattern onto the display 5.例文帳に追加

ディスプレイ５の画質評価に使用するテストパターンを生成するための、テストパターン生成装置１において、表示条件入力部２が、ディスプレイ５の解像度あるいはディスプレイ５への入力信号の規格等に基づいて、ディスプレイ５にテストパターンを出力するための出力条件を設定する。 - 特許庁

To provide a method for managing a pattern object file in a module type test system of an open architecture.例文帳に追加

オープンアーキテクチャのモジュール式試験システム内のパターンオブジェクトファイルを管理するための方法を提供する。 - 特許庁

A test pattern is formed when turning the power on, or printing sheets of the number predetermined, or being demanded by users.例文帳に追加

電源投入時または所定印刷枚数時またはユーザー要求時に、テストパターンを形成する。 - 特許庁

TEST PATTERN PRINTING METHOD AND MAINTENANCE METHOD IN DROPLET DISCHARGE DEVICE, AND DROPLET DISCHARGE DEVICE例文帳に追加

液滴吐出装置におけるテストパターン印刷方法及びメンテナンス方法並びに液滴吐出装置 - 特許庁

The pattern 50 belongs to the same net with test lands 44 and 46, and common electric signals flow through it.例文帳に追加

パターン部５０はテストランド４４，４６と同一ネットに属しており、共通の電気信号が流れる。 - 特許庁

To provide an electronic component mounting apparatus for accurately forming a wiring pattern in a test carrier.例文帳に追加

試験用キャリアに配線パターンを正確に形成することが可能な電子部品実装装置を提供する。 - 特許庁

The storage section then stores, as the image data, a test pattern for determining whether to correctly display a video image on the screen on the basis of the video signal, and the video signal generation section extracts a test pattern stored in the storage section and outputs it as a test pattern video signal.例文帳に追加

そして、前記記憶部は、前記画像データとして、前記映像信号に基づいて前記画面に正しく映像が表示されるか否かを判断するためのテストパターンを格納し、前記映像信号生成部は、前記記憶部に格納されているテストパターンを抽出してテストパターン映像信号として出力する。 - 特許庁

Laser light is radiated from an optical sensor 4 to the test pattern 1 to detect reflected light.例文帳に追加

このテストパターン１に対して、光センサ４からレーザ光を照射したときの反射光を検知する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for test pattern selection for computational lithography model calibration.例文帳に追加

コンピュータリソグラフィモデル較正のためのテストパターン選択のための方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁

A printer draws unit patterns 31a-31f constituting the test pattern by one outward trip scanning.例文帳に追加

プリンタは、１回の往路走査により、テストパターンを構成する単位パターン３１ａ〜３１ｆの描画を行う。 - 特許庁

A projector body comprises a projection lens and a photographing lens and superimposes a test pattern by button operation.例文帳に追加

プロジェクタ本体は、投射用レンズと撮影用レンズを備え、釦操作により、テストパターンを重畳する。 - 特許庁

The lens inspection device 2 includes an illumination optical system 3 and a liquid crystal panel 5 displaying the test pattern 12.例文帳に追加

レンズ検査装置２は、照明光学系３と、テストパターン１２を表示する液晶パネル５とを有する。 - 特許庁

The electronic voting terminal is also provided with a bar code reader 19 for reading a bar code in a test print pattern to perform automatic collation.例文帳に追加

またテスト印字パターン中のバーコードを読み込んで自動照合するバーコードリーダ１９を備える。 - 特許庁

A test pattern is printed on an area which is set as an appropriate area by analyzing a concentration of a print image.例文帳に追加

プリント画像の濃度を解析して適切なエリアを設定して、このエリアにテストパターンをプリントする。 - 特許庁

Even when one test pattern is deviated from the screen 70, the tilt angle of the screen 70 can correctly be calculated.例文帳に追加

１個のテストパターンがスクリーン７０から外れてもスクリーン７０の傾斜角度を正しく算定できる。 - 特許庁

The one chip microcomputer 10 has a starting register 18 starting a test operation and a built-in self test starting pattern generator 19 setting initial values in test control circuits (a pseudo random number generator 14, a logic circuit inspection compressor 15, a pattern generator 16 and a memory inspection compressor 17) for a built-in self test function.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

A micro computer (ASIC) comprises a scan chain for the LSSD scanning test, and a clock generating circuit 10 which generates a shift clock which has each latch circuit of the scan chain latch a test pattern and a clock for performing the test which imports the output of an circuit to be tested corresponding to the test pattern, and supplies them to the scan chain.例文帳に追加

マイクロコンピュータ（ＡＳＩＣ）に、ＬＳＳＤスキャンテストのためのスキャンチェーンと、テストパターンをスキャンチェーンの各ラッチ回路にラッチさせるためのシフト用クロックおよびテストパターンに対する被テスト回路の出力を取り込むためのテスト実行用クロックを生成し、スキャンチェーンに供給するクロック生成回路１０とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

An image processing unit 60 of an image forming apparatus 1 stores test image data 610 representing a test image including a monochromatic test pattern formed including regions N1 to N5 whose densities belong to a range of low density and a multicolor test pattern having regions N6 to N10 whose densities belong to a range of high density.例文帳に追加

画像形成装置１の画像処理部６０は、濃度が低濃度域の範囲に属する領域Ｎ１〜Ｎ５を含んで形成される単色のテストパターンと、濃度が高濃度域の範囲に属する領域Ｎ６〜Ｎ１０を有する多次色テストパターンとを含むテスト画像を表すテスト画像データ６１０を記憶する。 - 特許庁