「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

During a series of test pattern cycles, scanning with a probe pulse 609 of the test pattern is performed so that it is vertical to an equivalent time sampling for re- configuration of DUT waveform.例文帳に追加

一連のテストパターンサイクルの期間中にテストパターンのプローブパルス６０９による走査をＤＵＴ波形の再構成のために等価時間サンプリングと垂直になるように行う。 - 特許庁

A test pattern generating section 11 generates test pattern image data in which many gradations are assigned to a density portion considered to be more important by a user, determined based on the density histogram of print data.例文帳に追加

テストパターン生成部１１は、印刷データの濃度ヒストグラムに基づいて決定された、ユーザーが重視する濃度部分に多くの階調を割り当てたテストパターン画像データを生成する。 - 特許庁

In this case, a test pattern 3 for impedance measurement is formed in the same layer as the internal layer circuit 1, and at the same time at least one end of the test pattern 3 is exposed on an end face 16 at the core 2.例文帳に追加

内層回路１と同じ層にインピーダンス測定用のテストパターン３を形成すると共にテストパターン３の少なくとも一端をコア部２の端面１６に露出する。 - 特許庁

The present invention refers to a test pattern 1, a set of test patterns and a method of evaluating the transfer properties of a pattern as well as a method of determining at least one parameter of a transfer process.例文帳に追加

転移処理の少なくとも一つのパラメータを決める方法と同様に，テストパターン１，テストパターンの集合，テストパターンの転移特性を評価する方法についても言及している。 - 特許庁

The print head 3 is alternately turned on and off at each prescribed number by each of the test pattern data, and the turned-on position and the turned-off position are shifted by one pixel at each of the test pattern data.例文帳に追加

プリントヘッド３は各テストパターンデータにより所定数毎に交互に点灯及び消灯するとともに、点灯及び消灯位置がテストパターンデータ毎に１画素ずつずれる。 - 特許庁

An image forming part 11 forms a test pattern image 10 for density detection, on a printing medium 1 such as a photoreceptor, an intermediate transfer body and paper, and a detection part 2 detects density of the test pattern image.例文帳に追加

感光体や中間転写体や紙などの印刷媒体１に、作像部１１が濃度検出用のテストパターン画像１０を形成し、検出部２がその濃度を検出する。 - 特許庁

An indeterminate value reactivating means 104 allocates into an indeterminate value in a test pattern, a value used in a corresponding position within a test pattern one or a random number behind inside the set.例文帳に追加

不確定値再活性手段１０４は、テストパタン内の不確定値に、セット内で１つまたは任意個だけ後ろにあるテストパタンで対応する位置に用いられている値を割り当てる。 - 特許庁

An operation rate calculation test pattern generating means prepares the operation rate calculation test pattern of the gate from the 0/1 probability data of each register and the operation rate data of each register in the logic circuit.例文帳に追加

動作率算出用テストパタン生成手段は、論理回路中のレジスタ毎の０／１確率データとレジスタ毎の動作率データからゲートの動作率算出用テストパタンを作成する。 - 特許庁

A density calculation section 220 calculates an average density of patches configuring a test pattern image by each prescribed main scanning directional position on the basis of the test pattern image read by an image reading section.例文帳に追加

濃度算出部220は、画像読取部によって読み込まれたテストパターン画像に基づいて、所定の主走査方向位置毎に、テストパターン画像を構成する各パッチの平均濃度を算出する。 - 特許庁

The result of simulation with delay fetched by the second test pattern generation circuit 15 is forcedly assigned to the corresponding scan flip-flop as a PLS test pattern with expected value.例文帳に追加

第２のテストパターン生成回路１４で取り込まれたディレイ付きのシミュレーション結果は、対応するスキャンフリップフロップに期待値付きＰＬＳ用テストパターンとして強制的に割り付けされる。 - 特許庁

The mainframe 20 receives the test pattern data transmitted from the ultrasonic probe 10 and compares the received content with preinformed transmitted content of the test pattern data.例文帳に追加

装置本体２０は、超音波プローブ１０から送信されるテストパターンデータを受信してその受信内容と予め知らされている当該テストパターンデータの送信内容とを比較する。 - 特許庁

In a communication system 100 based on an OSI reference model, a pattern-body generating circuit 122 for a communication device 120 generates and outputs the main body of a jitter-test pattern for the jitter test.例文帳に追加

ＯＳＩ参照モデルに基づく通信システム１００において、送信装置１２０のパターン本体生成回路１２２は、ジッタテスト用のジッタテストパターンの本体を生成して出力する。 - 特許庁

When a test is started, a control means 110 generates a timing signal for generating a test pattern signal according to set information and generates the address designation signal of the test pattern memory means 130 every cycle period.例文帳に追加

試験が開始されると、制御手段１１０は、設定情報に従ってテストパターン信号を生成するタイミング信号を発生するとともに、サイクル周期毎にテストパターン記憶手段１３０のアドレス指定信号を発生する。 - 特許庁

By the light, data are latched by an IC that is operating under the influence of a test program, test pattern output is obtained from the IC, and it is judged whether the IC is in an appropriate operation state or not according to the test pattern output.例文帳に追加

この光により、試験プログラムの影響下で作動中のＩＣにデータがラッチされ、そのＩＣからテストパターン出力が得られ、そのテストパターン出力によってＩＣが正しい動作状態にあるか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus whose timing of application of a test pattern waveform common to each DUT by a test waveform application circuit is not different from those of individual test pattern waveforms, and whose circuit scale has been reduced.例文帳に追加

試験波形印加回路が、各々のＤＵＴへ共通な試験パターン波形を印加する場合と個別の試験パターン波形を印加する場合とで印加タイミングのずれがなく、回路規模を縮小した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A test transfer pattern is formed on a wafer by using a test exposure mask having a mask pattern with varied pattern area rates in the peripheral region so as to obtain the proximity correction data for each pattern area rate based on the transfer patterns (ST5, ST6).例文帳に追加

周辺領域におけるパターン面積率を変化させたマスクパターンを有するテスト用の露光マスクを用いてウェハ上にテスト用の転写パターンを形成し、当該転写パターンに基づいて前記パターン面積率毎の近接効果補正用データを得る（ＳＴ５，ＳＴ６）。 - 特許庁

In addition, from read image data, a primary differentiated value of gradation value at the corresponding position of the test pattern and at an adjoining read pixel position is calculated (S84), and a test pattern arrangement possibility (adaptability) of the test pattern to a candidate position of the less than 1-pixel unit of the read pixel pitch is derived from the primary differentiated value (S86).例文帳に追加

また読取画像データから、テストパターンの対応位置及び隣接読取画素位置における階調値の一次微分値を算出し（Ｓ８４）、読取画素ピッチの１画素未満単位の候補位置に対するテストパターンのテストパターンの配置可能性（適合度）を一次微分値から導出する（Ｓ８６）。 - 特許庁

The signal selection part 6 switches a video signal decoded by the decoding part 5 and a test pattern signal b inputted from a pattern generator 10, in accordance with a mode switching signal c and selects the video signal a in a normal mode and selects the test pattern signal b in a test mode.例文帳に追加

信号選択部６は、デコード部５でデコードされたビデオ信号ａと、パターンジェネレータ１０から入力されるテストパターン信号ｂとをモード切換信号ｃに応じて切り換え、通常モードにおいてはビデオ信号ａを、テストモードにおいてはテストパターン信号ｂを選択する。 - 特許庁

The time Q is defined as the total time of the conveyance time Q_1 of a test pattern from the exposure position of the test pattern to a sensor and the time Q_2 since the test pattern is detected by the sensor until the color shift correction value calculated based on the detection results is set for the system and reflected to image formation.例文帳に追加

時間Ｑを、テストパターンの露光位置からセンサまでのテストパターンの搬送時間Ｑ_1と、センサでテストパターンが検知されてから、検知結果に基づき算出される色ズレ補正値がシステムに対して設定され画像形成に反映されるまでの時間Ｑ_2の合計時間とする。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

制御部１１は、Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

In the case of registration correction, in a present set condition (condition where it is assumed that registration deviation does not exist), the C test pattern and the K test pattern are plotted so that a central short line forming the C pattern in each step state is superposed on the corresponding K line, and a test image 50A is formed on the paper.例文帳に追加

レジストレーション補正時には、現在の設定状態（レジストレーションずれがないと仮定した状態）で、Ｃの各階段状パターンを形成している中央の短ラインが、対応するＫのラインと重なるように、ＣのテストパターンとＫのテストパターン描き、用紙上にテスト画像５０Ａを形成する。 - 特許庁

To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.例文帳に追加

パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

In the network test system for transmitting a test frame to a frame exchange device and detecting the alteration error, a pseudo random pattern is inserted into the payload part of the test frame and the value of a pseudo random pattern insertion position is added to an additional information part for test.例文帳に追加

試験フレームをフレーム交換装置に送信して改変エラーを検出するネットワーク試験システムにおいて、前記試験フレームのペイロード部に擬似ランダムパターンを挿入し、試験用付加情報部に擬似ランダムパターンを挿入した位置の値を付加したことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory test pattern forming method by which an accurate semiconductor memory test pattern can be made based on semiconductor memory designer's semiconductor memory test specifications and its verification is facilitated and the semiconductor memory test specifications can also be formed.例文帳に追加

半導体メモリ設計者の半導体メモリ試験仕様にもとづいて正確な半導体メモリ試験パターンを作成することができ、その検証を容易になし得ると共に、半導体メモリ試験仕様書も生成することができる半導体メモリ試験パターンの作成方法を提供する。 - 特許庁

A method for generating the test pattern for the tester includes: the step of cyclizing a first test pattern 201 generated in logic design with a cycle in accordance with a clock signal 20 of the highest frequency to be used in a semiconductor integrated circuit; and the step of changing a timing edge in the first test pattern 201 to a period boundary just before the timing edge, to generate a second test pattern 301.例文帳に追加

本発明によるテスタ用テストパタンの生成方法は、論理設計時に生成された第１テストパタン２０１を、半導体集積回路で用いられる最高周波数のクロック信号２０に応じたサイクルでサイクライズするステップと、第１テストパタン２０１におけるタイミングエッジを、タイミングエッジ直前のピリオド境界に変更して第２テストパタン３０１を生成するステップとを具備する。 - 特許庁

This processor includes a test pattern generating unit 17 for generating a color test pattern image signal RGBctp 1, an input signal selector 18 for inserting the color test pattern image signal RGBctp 1 into an inputted video signal RGBsource, and a color adjusting signal processing unit 19 for performing color adjustment for an MIX video signal RGBmix 0 to which the color test pattern image is inserted.例文帳に追加

カラーテストパターン画像信号ＲＧＢｃｔｐ１を発生するテストパターン発生部１７と、入力した映像信号ＲＧＢsourceにカラーテストパターン画像信号ＲＧＢｃｔｐ１を挿入する入力信号セレクタ１８と、カラーテストパターン画像を挿入したＭＩＸ映像信号ＲＧＢｍｉｘ０に対し色調整を行う色調整信号処理部１９とを有する。 - 特許庁

It is possible to test the entire memory space by setting not so as to finish a test even if an output of the terminal 12 does not coincide with a test pattern due to the setting of the LSI tester.例文帳に追加

ＬＳＩテスタの設定で端子１２の出力がテストパターンと一致しなくてもテストを終了しないように設定することで、全メモリ空間をテストすることができる。 - 特許庁

To test by mixing at random individual instructions selected from test object instructions at random and a command string pattern constituted of pre-created test object instructions.例文帳に追加

試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンとをランダムに混在させて試験を行うことを可能にする - 特許庁

A circuit 300 which can be dealt with by a scanning test is tested by loading into a programmable device 200, both a scanning pattern and a self test circuit in which the total number of test patterns obtained automatically is the smallest.例文帳に追加

自動で得られる総テストパターン数がもっとも少ない自己テスト回路とスキャンパターンの両方をプログラマブルデバイス２００にロードしてスキャンテスト対応回路３００のテストを行なう。 - 特許庁

To restrain the increase in the cost of a burn-in test and in the unit price of chip by making a burn-in test pattern capable of enhancing the activation ratio able to be set in a short time in the burn-in test for a logical LSI.例文帳に追加

ロジックLSI のバーンインテストに際して、活性化率を高めることが可能なバーンインテストパターンを短時間で設定でき、バーンインテストのコストアップひいてはチップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁

A test pattern f and a test program g for skew detection suited for a measured LSI are created based on the minimum resolution, the maximum skew value, circuit connection information d and a test program c.例文帳に追加

最小分解能および最大スキュー値と回路接続情報ｄとテストプログラムｃをもとに被測定ＬＳＩに合わせたスキュー検出用のテストパタンｆとテストプログラムｇを生成する。 - 特許庁

The difference between a reproduced signal from a magnetic domain 80 sandwiched by the test patterns 98 and 99 of the test pattern 96 and a reproduced signal from an unsandwiched magnetic domain 82 is calculated for each recording light quantity of the test patterns 98 and 99.例文帳に追加

テストパターン96のテストパターン98,99に挟まれた磁区80からの再生信号と、挟まれていない磁区82からの再生信号との差を、テストパターン98,99の記録光量毎に求める。 - 特許庁

To provide an LSI test device which can reduce periods necessary for an LSI test by reducing the frequency for setting test timing information contained in a function pattern, in an LSI tester.例文帳に追加

ファンクションパターンに含まれるテストタイミング情報をＬＳＩテスタに設定する回数を減らして、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することが可能なＬＳＩテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To distinguish a transfer material with a pattern formed therein from other pieces of transfer material even when image formation is made with any arbitrary test pattern.例文帳に追加

任意にテストパターンを画像形成した場合でも、テストパターンが形成された転写材とその他の転写材とを容易に区別すること。 - 特許庁

A memory tester distributes test pattern data generated by a pattern generation part 10 into a plurality of DUTs, and outputs the data from a driver 30 individually.例文帳に追加

メモリテスタは、パターン発生部１０で生成した試験パターンデータを複数のＤＵＴに分配し、ドライバ３０から個別に出力する。 - 特許庁

A test operation result pattern TRPa obtained by the operation and the comparing pattern CPa are compared in a comparison circuit 70.例文帳に追加

そして、当該動作によって得られたテスト動作結果パターンＴＲＰａと比較用パターンＣＰａとが比較回路７０で比較される。 - 特許庁

In comparison with an element pattern (a), the test pattern of a corresponding part to a coil contact section 4 is split up and down by an insulation layer.例文帳に追加

テストパターンは、（ａ）の素子パターンと比較すると、コイルコンタクト部４に対応する部分が絶縁層によって上下に分断されている。 - 特許庁

To exactly specify a defective recording element even when the read image of a test pattern is distorted.例文帳に追加

テストパターンの読取画像に歪みが発生する場合にも不良記録素子を正確に特定する。 - 特許庁

The boundary scan test of the circuit board is conducted by way of a connection jig provided with a circuit pattern of testing.例文帳に追加

回路基板のバウンダリスキャンテストを、テストの回路パターンを設けた接続治具を介して行う。 - 特許庁

DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR SUPPORTING GENERATION OF TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターン生成支援装置、テストパターン生成支援方法、テストパターン生成支援プログラム、および記録媒体 - 特許庁

METHOD OF GENERATING DELAY TROUBLE TEST PATTERN FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF INSPECTING DELAY TROUBLE THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路の遅延故障テストパターン生成方法および遅延故障検査方法 - 特許庁

To accurately set many kinds of correction values from limited kinds of densities of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンの限られた種類の濃度から、多くの種類の補正値を精度良く設定する。 - 特許庁

To effectively use resources by forming a wiring pattern for test at a blank part on a substrate.例文帳に追加

基板の余白部分にテスト用配線パターンを形成し、資源を有効利用できるようにする。 - 特許庁

The print head 2 is alternately turned on and off at each prescribed number by each of the test pattern data.例文帳に追加

プリントヘッド２は各テストパターンデータにより所定数毎に交互に点灯及び消灯する。 - 特許庁