「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

This program processor 100 merges a plurality of test pattern programs 101 and prepares and stores a merged pattern program 102 in program conversion processing for an IC test.例文帳に追加

プログラム処理装置１００は、ＩＣテストのためのプログラム変換処理において、複数のテストパタンプログラム１０１を併合して併合パタンプログラム１０２を作成・記憶する。 - 特許庁

Generated test pattern data is stored in a standard memory, repeatedly written in all the areas of the mounted expansion memory and written test pattern data is printed out.例文帳に追加

発生したテストパターンデータを標準メモリに記憶し、装着した増設メモリの全ての領域に対して繰り返し書き込み、書き込み済みのテストパターンデータをプリントアウトする。 - 特許庁

To carry out test pattern printing at a plurality of times on one sheet of paper, and prevent printing of a test pattern on unused paper which occurs by forgetting to feed the printed paper again.例文帳に追加

一枚の用紙で複数回のテストパターン印刷を実施し、かつ印刷し終えた用紙の入れ直し忘れによる未使用の用紙へのテストパターンの印刷を防止する。 - 特許庁

The test pattern is read by a first detecting part 9 and a second detecting part 10 to determine whether there is a recording failure in the test pattern by a record inspecting part 26.例文帳に追加

そしてこれを第１検出部９及び第２検出部１０によって読み込み、記録検査部２６によってテストパターンに記録不良があるか否かの判定を行う。 - 特許庁

The wiring pattern 111 for test is formed in a test region (the blank part) 102 on the substrate 100, and a real wiring pattern 2 is formed in a product region 101.例文帳に追加

基板１００上のテスト領域（余白部分）１０２にテスト用配線パターン１１１が形成され、製品領域１０１に実配線パターン２が形成される。 - 特許庁

To provide a method for printing a test pattern and a test pattern image allowing adjustment of various conditions such as supplying conditions of ink and water to be performed easily.例文帳に追加

インキ、水の供給条件等の各種条件の調整を容易に行なうことができるようにするためのテストパターン印刷方法及びテストパターン画像の提供。 - 特許庁

An image of a test pattern for obtaining a concentration distribution in a fundamental image forming part 2 when an additive is used is formed, and the image of the test pattern is read.例文帳に追加

付加材を使用した場合の基本画像形成部２における濃度分布を取得するためのテストパターンの画像を形成し、そのテストパターンの画像を読み取る。 - 特許庁

A 1chipATPG executing means 110 produces a 1chipATPG test pattern 111 by using the conventional ATPG(automatic test pattern generating method) algorithm based on the new circuit information 102.例文帳に追加

１ｃｈｉｐＡＴＰＧ実行手段１１０は、新回路情報１０２に基づき、従来のＡＴＰＧアルゴリズムを用いて１ｃｈｉｐＡＴＰＧテストパタン１１１を生成する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of accurately performing image density correction by lessening influence of flare from a white part or the like on the outside of a test pattern to the test pattern.例文帳に追加

テストパターンに対するテストパターン外部の白地部等からのフレアーの影響を小さくし、画像濃度補正を精度良く実行可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A user can grasp correction amount by visually confirming a line where the C test pattern is superposed on the K test pattern and C color disappears on the image 50A.例文帳に追加

ユーザは、テスト画像５０Ａ上で、ＣのテストパターンとＫのテストパターンが重なって、Ｃの色目が消えている列を目視確認することにより、補正量を把握することができる。 - 特許庁

To remarkably decrease time and labor required for forming data when test pattern recordings are performed by different test pattern layouts in accordance with specifications/characteristics and so on of a recording apparatus.例文帳に追加

記録装置の仕様・特性等に応じて異なるテストパターンレイアウトでテストパターン記録を実行する際のデータ作成に要する時間と労力を大幅に低減させる。 - 特許庁

Next, the latent image carrier 2 and the intermediate transfer unit are brought into contact with each other again, and a test pattern 2 is generated on the latent image carrier 2 in the same condition as the test pattern 1.例文帳に追加

次に、再び潜像担持体２と中間転写ユニットとを当接し、テストパターン１を作成した時と同じ条件で、潜像担持体２上にテストパターン２を作成する。 - 特許庁

The test pattern 33 is read out by means of a scanner 31, and an arithmetic unit 32 measures the luminance of three colors RGB for each dot in the line width direction of the test pattern 33 thus read out.例文帳に追加

スキャナ３１でテストパターン３３を読み取り、演算装置３２で読み取ったテストパターン３３のライン幅方向の１ドット毎にＲＧＢ３色の輝度を測定する。 - 特許庁

The bulk control section 106 transmits a test pattern PB to each of plural lines which are under the control of the control section 101 at communication start or reception of the test pattern PB.例文帳に追加

制御部１０１の制御下で、バルク制御部１０６は、通信起動時もしくはテストパターンＰB受信時に、前記複数回線各々にテストパターンＰBを送出する。 - 特許庁

Accordingly the LFSR 100 can output the test pattern in consideration of matching with log_24 a test pattern automatically generated from ATPG by a smaller number of clocks.例文帳に追加

これにより、ＬＦＳＲ１００は、ＡＴＰＧから自動生成されたテストパターンとのマッチングを考慮したテストパターンを、より少ないクロック数で出力することができる。 - 特許庁

The integrated test pattern and a logic circuit are read from the compile data storage part 13 and operation of the logic circuit is simulated by using the test pattern by a simulation part 18.例文帳に追加

シミュレーション部１８は、コンパイルデータ記憶部１３から、一体化されたテストパタン及び論理回路を読み込み、該テストパタンを用いて論理回路の動作をシミュレーションする。 - 特許庁

This invention solves the problem that the relative positions of elements of a test pattern dynamically change depending upon the measured size of the pint medium on which a user tries to print the test pattern.例文帳に追加

ユーザがテストパターンをプリントしようとするプリント媒体の測定されたサイズに依存して、テストパターンの複数の要素の相対位置が動的に変化し問題となる。 - 特許庁

The pulse width of the probe pulses is shorter than the cycle of maximum frequency component signal of the test pattern, for wide band measurement of the test pattern waveform.例文帳に追加

これらプローブパルスのパルス幅は上記テストパターンの最大周波数成分信号の周期に比べて短くし、テストパターン波形の広帯域計測ができるようにする。 - 特許庁

The time P is defined as the time from the timing for writing an image of a page forming the test pattern to the timing for writing an image where the correction value is reflected with the test pattern.例文帳に追加

時間Ｐを、テストパターンを形成するページの画像を書き出すタイミングから、テストパターンによる補正値を反映した画像を書き出すタイミングまでの時間とする。 - 特許庁

To provide an extraction method capable of optimizing a test pattern by increasing the number of don't care values included in an external input value in the test pattern for a logic circuit.例文帳に追加

論理回路に対するテストパターンにおける外部入力値に含まれるドントケア値の数を多くし、テストパターンの最適化を図ることが可能な抽出方法を提供する。 - 特許庁

The sensor 27 measures the density of the surface and the test pattern several times.例文帳に追加

濃度センサ２７は前記地肌と前記テストパターンの濃度測定を複数回行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a test pattern data generating method for the device.例文帳に追加

半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法を提供する。 - 特許庁

The impedance of the test pattern 62 is measured by a measuring instrument connected to the probe A.例文帳に追加

プローブＡと接続される計測器でテストパターン６２のインピーダンスを測定する。 - 特許庁

To simply inspect whether or not a roller trace is formed to a test pattern.例文帳に追加

テストパターンにローラー痕が形成されるか否かの検査を簡単に行うことである。 - 特許庁

The nozzles are selected on the basis of a breadth of a ruled line on a test pattern or the like.例文帳に追加

ノズルの選択は、テストパターン上の罫線の幅等に基づいて実行される。 - 特許庁

A CPU (central processing unit) starts an image evaluation program (S11), thereby forming a test pattern (S12).例文帳に追加

ＣＰＵは、画像評価プログラムを起動し（Ｓ１１）、テストパターンを形成する（Ｓ１２）。 - 特許庁

The test pattern 11a has a plurality of gradation patterns 11c, 11 m, 11y.例文帳に追加

テストパターン１１ａは、複数の階調模様１１ｃ、１１ｍ、１１ｙを有する。 - 特許庁

TEST PATTERN CREATION METHOD, SIMULATION METHOD, INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND SIMULATION APPARATUS例文帳に追加

テストパターン作成手法、シミュレーション方法、情報処理装置およびシミュレーション装置 - 特許庁

For example, a test pattern with about 80% ink duty is printed using a black ink.例文帳に追加

例えば、ブラックインクを用いて、約８０％のインクデューティのテストパターンを印刷する。 - 特許庁

To test a device whose data rate has risen without allowing the number of bits of pattern data to increase.例文帳に追加

パターンデータのビット数を増加させずに、データレートが増加したデバイスを試験する。 - 特許庁

To display a test pattern corresponding to a wide color gamut on a display part of a display device.例文帳に追加

広色域に対応したテストパターンを表示装置の表示部に表示すること。 - 特許庁

To control vehicle travel not to depart from allowable range of travel test pattern.例文帳に追加

走行テストパターンの許容範囲を外れないように、車両の走行を制御する。 - 特許庁

The scanner reads the test pattern by a resolution which is lower than the resolution of a recording head.例文帳に追加

スキャナは、記録ヘッドの解像度よりも低い解像度でテストパターンを読み取る。 - 特許庁

PATTERN SHAPE OF PRINTED CIRCUIT BOARD, AND INSULATION DETERIORATION TEST METHOD OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント配線板のパターン形状及びプリント配線板の絶縁劣化試験方法 - 特許庁

A selector 110 selectively outputs input data D1 and a test pattern SIN.例文帳に追加

セレクタ１１０は、入力データＤ１とテストパターンＳＩＮを選択的に出力する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DESIGN SUPPORT SOFTWARE SYSTEM, AND AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM例文帳に追加

半導体集積回路、設計支援ソフトウェアシステム、および、テストパターン自動生成システム - 特許庁

TWO-DIMENSIONAL TEST PATTERN USED FOR COLOR CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM AND ADJUSTMENT OF THE SYSTEM例文帳に追加

カラー共焦点顕微鏡システムとその調整に使用される二次元テストパターン - 特許庁

The amount of sticking toner of the test pattern 2 is detected from a value of the reflected light.例文帳に追加

さらに、この反射光の値から、テストパターン２のトナー付着量を検出する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATING CIRCUIT, SCAN PATH INITIALIZING METHOD, TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路、スキャンパス初期化方法、テストパターン生成システム、及びプログラム - 特許庁

The output test pattern T1 is formed of patterns K1, C1, M1 and Y1.例文帳に追加

また、出力テストパターンＴ１は、パターンＫ１、Ｃ１、Ｍ１、Ｙ１から形成されている。 - 特許庁

To reduce the size of a test pattern almost without lowering a failure detection rate.例文帳に追加

故障検出率を殆ど下げることなく、テストパターンのサイズを大幅に削減する。 - 特許庁

Laser light is radiated to the test pattern 2 to detect reflected light.例文帳に追加

そして、テストパターン２に対して、レーザ光を照射したときの反射光を検知する。 - 特許庁

A gray pattern 31 is test printed by a first print engine 12 and the density of the gray pattern 31 is measured by means of a densitometer 24.例文帳に追加

第１プリントエンジン１２によりグレーパターン３１をテストプリントし、濃度計２４でグレーパターン３１を濃度測定する。 - 特許庁

The test pattern creating part 13 determines a route pattern applied for each combination of the groups selected in s2 (s3).例文帳に追加

テストパターン生成部１３は、ｓ２で抽出したグループの組み合わせ毎に、適用する経路パターンを決定する（ｓ３）。 - 特許庁

To allow an inspection using a test element group (TEG) pattern to be carried out without removing a layer above the TEG pattern.例文帳に追加

ＴＥＧパターンより上の層を除去しなくてもＴＥＧパターンを用いた検査を行うことができるようにする。 - 特許庁