「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

A photomask 11 for a test has a first mask pattern 21 and a second mask pattern 22 formed in a central portion of the first mask pattern 21.例文帳に追加

試験用フォトマスク１１は、第１のマスクパターン２１と、第１のマスクパターン２１の中心部位に設けられた第２のマスクパターン２２とが形成されている。 - 特許庁

A base pattern image is generated by a concentration parameter used for generating one base pattern image patch within the plurality of base pattern image patches arranged in the test printing image.例文帳に追加

試し刷り画像に配置された複数の地紋画像パッチのうち、一つの地紋画像パッチの生成に用いられた濃度パラメータで地紋画像を生成する。 - 特許庁

Then, via a process by a indeterminate value determining means 105, the test patterns are merged by a test pattern merging means 106.例文帳に追加

その後、不確定値決定手段１０５による処理を経て、テストパタン併合手段１０６によってテストパタンの併合が行われる。 - 特許庁

Then, when the one test pattern is displayed on the one screen, the individual test patterns [n] are displayed with the determined line pair density.例文帳に追加

そして、一画面上に一のテストパターンを表示させる際には決定されたラインペア密度で各テストパターン［ｎ］が表示される。 - 特許庁

A TEG (Test Element Group) forms an electric characteristic evaluation pattern that is provided with a plurality of unit transistors T11, T12, T13, T21, T22, T23, T31, T32, and T33.例文帳に追加

ＴＥＧ（Test Element Group）１は、格子状に配列された複数の単位トランジスタＴ１１，Ｔ１２，Ｔ１３，Ｔ２１，Ｔ２２，Ｔ２３，Ｔ３１，Ｔ３２，Ｔ３３を備えた電気特性評価パターンである。 - 特許庁

After a memory device is subjected to a data holding property test (step S4) in a wafer state, test data are rewritten to data of reverse pattern (step S6).例文帳に追加

ウエハ状態でのデータ保持特性試験（ステップＳ４）終了後、テストデータを逆パタンのデータに書き換える（ステップＳ６）。 - 特許庁

A confirmation screen data generation part 220 generates a Web page 302 embedded with output data obtained from the test pattern and the test data.例文帳に追加

確認画面データ生成部２２０は、テストパターンとテストデータから求められる出力データを埋め込んでＷｅｂページ３０２を生成する。 - 特許庁

The test patterns are subjected to X-extraction (step 3), and each test pattern is mapped in the state transition of an FSM (step 4).例文帳に追加

テストパターンに対してＸ抽出を行ない（ｓｔｅｐ３）、各テストパターンをＦＳＭの状態遷移にマッピングする（ｓｔｅｐ４）。 - 特許庁

To provide a nozzle function check mechanism of an ink jet printer performing inspection of a missing dot in a test pattern printed on the surface of a test medium.例文帳に追加

テストメディア表面にプリントされたテストパターンのドット抜けを検査するインクジェットプリンタのノズル機能チェック機構を提供する。 - 特許庁

The offset voltage and the differential voltage of the differential buffer are evaluated by the tester based on a test pattern by using the test circuit.例文帳に追加

このテスト回路を用いて、テスタにより、テストパターンに基づいて、差動バッファのオフセット電圧と差動電圧の評価を行う。 - 特許庁

To select a test pattern capable of attaining the excellent test quality at irreducibly necessary strobe points.例文帳に追加

この発明は、必要最小限のストローブ・ポイントで優れたテスト品質を達成し得るテストパターンを選別することを課題とする。 - 特許庁

The OTF is measured by imaging the test chart printed with a camera through the lens and forming an imaged test pattern (340).例文帳に追加

レンズを通してカメラで前記プリントされたテストチャートを撮像して撮像テストパターンを作ってＯＴＦを測定する（３４０）。 - 特許庁

The test mask is one made by drawing a pattern regularly with the same pitch as the minimum pattern pitch of the mask pattern to draw over the drawing field of a pattern drawing system.例文帳に追加

ここで、テストマスクは、パターン描画装置の描画フィールドにまたがって、描画しようとするマスクパターンの最小パターンピッチと同一のピッチで規則的にパターンを描画したものである。 - 特許庁

To test step-out or the like in a short time, by generating a test pattern, which is specified in verification of faults such as the step-out in a high-speed serial transfer device, and by successively transferring the test pattern in a target device.例文帳に追加

高速シリアル転送デバイスでの同期外れ等障害の検証に特化した試験パターンを作成して対象装置内で連続的に転送することで、同期外れ等を短時間に検証可能とする。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

Then, a test target data matching the additional correct answer data pattern differing from the correct answer data pattern because of slight difference in timing at the time of testing but supposed to be test OK under normal circumstances is to be test OK.例文帳に追加

従って、検証時に、タイミングの微妙なずれにより、正解データパターンと異なるものになってしまったが、本来検証ＯＫとなるべき追加正解データパターンと一致する検証対象データは検証ＯＫとなる。 - 特許庁

The image forming apparatus is provided with a test pattern image generating means 11 for forming a prescribed test pattern image on an image carrier 13, a density distribution measuring means 151 for measuring density distribution of the test pattern image, and an image noise characteristic calculating detecting means 152 for detecting the plurality of image noise characteristics of the test pattern image from the measured density distribution.例文帳に追加

画像形成装置に像担持体１３上に所定のテストパターン像を形成するテストパターン像発生手段１１と、テストパターン像の濃度分布を計測する濃度分布計測手段１５１と、計測された濃度分布からテストパターン像の複数の画像ノイズ特性を検出する画像ノイズ特性算出検出手段１５２とを設ける。 - 特許庁

The apparatus is provided with a distance detecting device 6 equipped with a test pattern irradiating part 21 for irradiating a test pattern prepared for detecting the projection distance between the projection lens 11 and the projection screen, and also, equipped with an imaging part 22 for imaging the test pattern irradiated on the projection screen, for detecting the projection distance based on the test pattern imaged by the imaging part 22.例文帳に追加

投射レンズ１１と投射面との間の投射距離を検出するためのテストパターンを照射するテストパターン照射部２１と、投射面上に照射されたテストパターンを撮像するための撮像部２２とを有しこの撮像部２２によって撮像されたテストパターンから投射距離を検出するための距離検出装置６を備える。 - 特許庁

A distance detector 6 is provided for detecting a projection distance from a test pattern imaged by an imaging part 22, the distance detector 6 comprising a test pattern projection part 21 for projecting the test pattern used to detect the projection distance between the projection lens 11 and the projection surface, and an imaging part 22 for imaging the test pattern projected onto the projection surface.例文帳に追加

投射レンズ１１と投射面との間の投射距離を検出するためのテストパターンを照射するテストパターン照射部２１と、投射面上に照射されたテストパターンを撮像するための撮像部２２とを有しこの撮像部２２によって撮像されたテストパターンから投射距離を検出するための距離検出装置６を備える。 - 特許庁

Also, when the control section generates the screen data, it enlarges or reduces the test pattern to change the size so that the size of the test pattern to be displayed on each the changeover screen has a ratio of 10% to the size of the display screen and sets the driving level of a background region to make the background region of the test pattern have the intensity level corresponding to the test pattern.例文帳に追加

また、画面データを生成する際には、各切替画面において表示するテストパターンのサイズが表示画面のサイズに対して１０％の比率となるように、テストパターンを拡大又は縮小してサイズ変更するとともに、テストパターンの背景領域がそのテストパターンに対応する輝度レベルとなるように背景領域の駆動レベルを設定する。 - 特許庁

The apparatus is provided with a distance detecting device 6 equipped with a test pattern irradiating part 21 for irradiating a test pattern prepared for detecting the projection distance between the projection lens 11 and the projection screen, and also, equipped with an imaging element 28 for imaging the test pattern irradiated on the projection screen, for detecting the projection distance based on the test pattern.例文帳に追加

投射レンズ１１と投射面との間の投射距離を検出するためのテストパターンを照射するテストパターン照射部２１と、投射面上に照射されたテストパターンを撮像するための撮像素子２８とを有し撮像素子２８で撮像されたテストパターンから投射距離を検出するための距離検出装置６を備える。 - 特許庁

To enable a test of high accuracy wherein, with a simple circuit with few number of gates, a test pattern is easily generated, related to a test of an input/output part of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の入出力部のテストに、テストパターンの作成が容易で、少ないゲート数の単純な回路でよく、精度の高いテストを可能とすること。 - 特許庁

To provide a system for generating data patterns/test data, which avoid test omission and generate efficiently the data pattern/test data with high correlation among the data.例文帳に追加

テスト漏れを回避でき、データ間での相関性が高く、しかも効率良く生成でき、信頼性が保証されたデータパターン/テストデータを生成可能なシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a scan test pattern input method capable of minimizing tester memory capacity for storing test patterns and reproducing all the test patterns created by ATPG.例文帳に追加

テストパタンを記憶するテスターメモリ容量を最小限とし、かつＡＴＰＧによって生成された全てのテストパタンを再現可能なスキャンテストパタン入力方法を提供する。 - 特許庁

The first test module is configured to provide a first test pattern to the second test module on the interconnect in response to a first signal from the operating system.例文帳に追加

第１のテストモジュールは、構成されて、オペレーティングシステムからの第１の信号に応答して、第１のテストパターンを、相互接続部上の第２のテストモジュールに供給する。 - 特許庁

The evaluating apparatus includes a light source 4, a test pattern 5 having a standard pattern formed for evaluating an infrared optical system, the infrared lens 10 for forming a pattern image of the test pattern with light irradiated from the light source, and an image sensor 6 for detecting the formed pattern image.例文帳に追加

評価装置は光源４と、赤外線光学系評価用の標準パターンが形成されたテストパターン５と、光源光が照射された前記テストパターンのパターン像を結像する赤外線レンズ１０と、結像されたパターン像を検知する画像センサ６とを有する。 - 特許庁

Address information needed to analyze the memory test pattern operation is read out of a memory test pattern source 2 to calculates address operation and a pattern operation analytic log 5 for the pattern operation analysis is generated; and address operation in command performance is extracted from the pattern operation analytic log 5 to generate a pattern operation grasping log 7.例文帳に追加

メモリテストパターンソース２よりメモリテストパターン動作の解析に必要なアドレス情報を読み取り、アドレス動作を計算により求め、パターン動作解析のためのパターン動作解析ログ５を生成し、パターン動作解析ログ５より、コマンド実行時のアドレス動作を抽出し、パターン動作把握ログ７を生成する。 - 特許庁

To improve precision of detecting pattern imperfection without increasing the number of test patterns.例文帳に追加

テストパターン数を増大させることなくパターンの不具合検出精度を向上させる。 - 特許庁

DELAY FORMULA DERIVING METHOD, TEST PATTERN, LSI CHIP, CALCULATING METHOD AND CALCULATION DEVICE例文帳に追加

遅延式抽出方法、テストパターン、ＬＳＩチップ及び計算方法並びに計算装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PERMITTING TO WRITE VARIOUS PATTERN DATA THEREIN, ELECTRICAL TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

多様なパターンデータが書き込み可能な半導体メモリ素子およびその電気的検査方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING FAILURE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF GENERATING DC TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路の故障検出方法およびＤＣテストパターン発生方法 - 特許庁

The image processor with a means for conducting head shading reads the test pattern and checks whether or not a denser part is consecutive in an output of the test pattern in the subscanning direction when the test pattern is read and includes the denser part in the density than the average density by a prescribed value or over.例文帳に追加

ヘッドシェーディングを行う手段を有する画像処理装置において、テストパターンを読み取り、テストパターン中に平均濃度よりも所定の値以上濃度が濃い部分があったとき、その部分が出力の副走査方向に連続しているかどうか検査する。 - 特許庁

To detect disturbance of regularity of an address included in a test pattern of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験パターンに含まれるアドレスの規則性の乱れを検出する。 - 特許庁

To provide a color image processor capable of obtaining a color test pattern with a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成でカラーテストパターンを得ることのできるカラー画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a microprocessor capable of preventing increase of a test pattern for checking an operation.例文帳に追加

動作確認を行うためのテストパターンの増大を防止可能なマイクロプロセッサを得ること。 - 特許庁

The invention further is directed to a method of evaluating the transfer properties of such a test pattern 1.例文帳に追加

さらに，前述のテストパターン１の転移特性を評価する方法へ向けられる。 - 特許庁

Correction value of feeding amount is determined by examining print results of the test pattern.例文帳に追加

このテストパターンの印刷結果を調べることによって、各送り量の補正値を決定する。 - 特許庁

Then at a step 406, the test pattern is printed on the printed pale-blue ground.例文帳に追加

そして、ステップ４０６で、印字した薄青色の下地の上にテストパターンを印字させる。 - 特許庁

Next, a position of ink reaching the printing surface by the test pattern printing is measured (S5).例文帳に追加

次に、テストパターン印刷によって印刷面に着弾したインクの位置を測定する（Ｓ５）。 - 特許庁

In the condition, a prescribed test pattern is input to the device chip 4 to check operation.例文帳に追加

この状態で、デバイスチップ４に所定のテストパターンを入力して動作をチェックする。 - 特許庁

A control part 30 forms a toner image of a test pattern to the photoreceptor drum 4.例文帳に追加

制御部３０は、テストパターンのトナー画像を感光体ドラム４に対して形成させる。 - 特許庁

The assigned test pattern is subjected to simulation with delay in an interlocking simulator part 5.例文帳に追加

割り付けられたテストパターンは、連動シミュレータ部５でディレイ付きのシミュレーションが実行される。 - 特許庁

The generated test pattern signal is supplied to a semiconductor device 500 to be tested.例文帳に追加

生成されたテストパターン信号は、被試験対象の半導体デバイス５００に供給される。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

To perform automatically and accurately the mask processing of an expectation pattern for an LSI operation test.例文帳に追加

ＬＳＩの動作テスト用の期待値パターンのマスク処理を自動且つ正確に行う。 - 特許庁