「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

The element wiring forming apparatus 50 forms fuse elements 11a-11f in a pattern according to the results of memory cell test on the semiconductor device, and forms elements or wiring in a region above a region where the fuse elements are formed.例文帳に追加

素子配線形成装置５０は、メモリセルテストの結果に応じたパタンのヒューズ素子１１ａ〜１１ｆを半導体装置上に形成し、ヒューズ素子が形成された領域の上方の領域に素子又は配線を形成する。 - 特許庁

A variable for detecting the limitation of ink-receiving performance of the recording medium in each test pattern and a threshold of the variable corresponding to the type of the detected recording medium are compared by the inkjet recorder.例文帳に追加

また、インクジェット記録装置は、それぞれのテストパターンにおける記録媒体がインクを受容する受容能力の限界を検知するための変数と、検知された記録媒体の種類に対応した変数の閾値とを比較する。 - 特許庁

A third FF circuit 13 outputs third hold data Dm3 of an LL level or H level from its output terminal Q, in accordance with a test pattern input from the scan-in terminal S1 of a first FF circuit 11.例文帳に追加

第３ＦＦ回路１３は、第１ＦＦ回路１１のスキャンイン端子ＳＩから入力されるテストパターンに応じて、Ｌレベル又はＨレベルの第３保持データＤｍ３を出力端子Ｑから出力する。 - 特許庁

A test pattern 21 for inspecting the characteristics of a wiring 3 involved in an element chip 10a, and an alignment 20 which is capable of detection of a position of a semiconductor substrate, are formed on the semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板上には、素子チップ１０ａに含まれる配線部３の特性を検査するためのテストパターン２１、および半導体基板の位置を検出可能とするためのアライメント２０が形成されている。 - 特許庁

A cycle precision level simulation control part 220 obtains a cycle precision level simulation model, a cycle precision level test pattern, and an RTL description to make a cycle precision level simulation executing part 210 execute the cycle precision level simulation.例文帳に追加

サイクル精度レベルシミュレーション制御部２２０はサイクル精度レベルシミュレーションモデル、サイクル精度レベルテストパタン及びＲＴＬ記述を取得し、サイクル精度レベルシミュレーション実行部２１０にサイクル精度レベルシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

To generate an expected value required at the time of write-in test of byte mask for a memory in which a burst address in generated and in/from which parallel pattern data columns given externally to this burst address can be written and read out.例文帳に追加

メモリの内部でバーストアドレスを発生し、このバーストアドレスに外部から与えた並列パターンデータ列を書き込み、読み出すことができるメモリに対し、バイトマスク書き込み試験時に必要とする期待値を発生させる。 - 特許庁

In front of the image I2 in the sheet transfer direction in the test pattern TPa, a header image Ia is formed by using the toner carried on the developing roller before it turns to form the image I2.例文帳に追加

シート搬送方向においてテストパターンＴＰａのうち画像部Ｉ2の前方には、該画像部Ｉ2を形成する周回よりも１周前の周回で現像ローラに担持されたトナーを用いたヘッダ画像部Ｉａを形成する。 - 特許庁

To provide a printer having a test print function which enables printing only of required information in the printer by the push apart pattern of a switch button constituting the panel input section of the printer.例文帳に追加

プリンタのパネル入力部を構成するスイッチボタンの押分けパターンにより、当該プリンタの内部情報から、必要な情報のみを印刷することを可能とするテストプリント機能を有するプリンタを提供すること。 - 特許庁

A determining means 140 inputs the output signal of the semiconductor device 500 to be tested, performs a determination by use of a part of the test pattern and a determining timing signal and outputs the determination result to the outside.例文帳に追加

判定手段１４０は、被試験対象の半導体デバイス５００の出力信号を入力し、テストパターンの一部と判定用タイミング信号を用いて判定を行ない、判定結果を外部に出力する。 - 特許庁

When correcting the quantity of light based on the correction data of the EEPROM, a test pattern is printed (step 108), its density is measured (step 110), and correction data for making density distribution substantially flat is determined (step 112).例文帳に追加

ＥＥＰＲＯＭの補正データに基づいて光量補正を行いながら、テストパターンを印字させ（ステップ１０８）、この濃度を測定して（ステップ１１０）、濃度分布を略フラットにするような補正データを求める（ステップ１１２）。 - 特許庁

Also, a test pattern for color gamut confirmation is generated by configuring setting so that the signal levels of two color signals may gradually change in a horizontal direction and the residual color signal may gradually change in a vertical direction.例文帳に追加

また２つの色信号の信号レベルが水平方向に順次変化するように、また残る色信号が垂直方向に順次変化するように設定等して色再現領域確認用のテストパターンを生成する。 - 特許庁

To provide a color filter for a liquid crystal display provided with a photo-spacer test pattern, capable of properly deciding whether photo-spacers formed in a display part of a color filter substrate are normal or defective, and to provide a manufacturing method of the color filter for liquid crystal display.例文帳に追加

カラーフィルタ基板の表示部内に形成されたフォトスペーサーの良否を正しく判定するフォトスペーサー・テストパターンを備えた液晶表示装置用カラーフィルタ基板、その製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a digital transmission that is not susceptible to the effect of the performance of a reception circuit section 2 and can conduct a DS3 transmission pulse mask test without the need for a '001' pattern generator 20 at the outside of the transmission apparatus.例文帳に追加

受信回路部２の性能による影響を受けることなく、且つ、外部に“００１”パターン発生器２０を用意しなくともＤＳ３送信パルスマスク試験を行なうことができるディジタル伝送装置を提供する。 - 特許庁

The photo-spacer test pattern 32 is constituted of a black matrix 41, a colored pixel 42, a transparent conductive film 43 and photo-spacers, which are identical with those in the display part, wherein the pitch of the photo-spacers is smaller than the pitch of photo-spacers in the display part.例文帳に追加

表示部と同一のブラックマトリックス４１、着色画素４２、透明導電膜４３、フォトスペーサーで構成されるフォトスペーサー・テストパターン３２で、フォトスペーサーのピッチが表示部のフォトスペーサーのピッチより小さいこと。 - 特許庁

Thereby, as the amount of light of a light emitting element is measured in a light exposing period for printing the page for the test pattern, it becomes possible to measure the amount of light suppressing the influence on timing of an ordinary printing operation.例文帳に追加

これにより、テストパターンのページを印刷するための露光期間において発光素子の光量を計測するので、通常の印刷動作タイミングへの影響を抑制した光量計測が可能となる。 - 特許庁

In the assembling and adjusting operations in a factory, a plural sheets of test prints are formed by a 50% gray image print pattern by raising each of the head temperature and the ambient temperature by one degree by starting from a head temperature T0 and an ambient temperature T1 in a reference temperature condition.例文帳に追加

工場での組み立て調整時に、標準温度条件のヘッド温度Ｔ０，環境温度Ｔ１から１度ずつ上げながら５０％グレイの印画パターンで複数枚のテストプリントを作成する。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

The image processor has a means for performing HS and when a test pattern is read in, the microstep division number of an optical motor is set with a value different from that for normal image reading.例文帳に追加

ＨＳを行う手段を有する画像処理装置において、テストパターンを読み込む際に、光学系モータのマイクロステップの分割数を通常の画像読み込みと異なる設定値にする事を特徴とする画像処理装置。 - 特許庁

The CRT 6 displays a prescribed test pattern on the basis of the smoothed video signal SP' and a control part 36 in an image processor 3 calculates the quantity of convergence.例文帳に追加

カラーＣＲＴ６では平滑化された映像信号Ｓ_P′に基づき所定のテストパターンが表示され、このテストパターンの撮像画像の信号を用いて画像処理装置３の制御部３６でコンバージェンス量が算出される。 - 特許庁

Even in the case the small lens to be a test object is a small eccentric lens, a standard pattern image for testing can be easily detected y moving the CCD camera 291 along the direction of curvature of the small lens.例文帳に追加

測定対象となる小レンズが、小（偏心）レンズであっても、ＣＣＤカメラ２９１を小レンズの曲率方向に沿って移動させることで、検査用基準パターン画像を検出することを容易にできる。 - 特許庁

A macro common test pattern is written to a storage part 21, a conversion library for a CPU series is previously stored in a storage part 22, and a parameter file for product is stored in a storage part 23.例文帳に追加

記憶部２１は、マクロ共通テストパタンが書き込まれる記憶部、記憶部２２はＣＰＵシリーズ用変換ライブラリが予め記憶される記憶部、記憶部２３は製品用パラメータファイルが記憶される記憶部である。 - 特許庁

A user operates a parameterized operation model 31 by using a test pattern 42 for verifying a function and an architecture parameter file 44, and optimizes the architecture parameter file 44 by verifying the architecture of the microprocessor.例文帳に追加

ユーザは、機能検証用テストパターン４２およびアーキテクチャパラメータファイル４４を用いてパラメタライズされた動作モデル３１を動作させ、マイクロプロセッサのアーキテクチャの検証を行なってアーキテクチャパラメータファイル４４を最適化する。 - 特許庁

While the inner circuit processes the high-speed test pattern and outputs an output expectation value, the inner circuit converts the high-speed output expectation value to a low-speed output expectation value to return it to the low-speed LSI tester.例文帳に追加

内部回路は高速のテストパターンを処理して出力期待値を出力するが、これら出力される高速の出力期待値を低速の出力期待値に変換して低速ＬＳＩテスタに戻す。 - 特許庁

A failure simulator 1 executes a failure simulation by a test pattern to an IC entered as IC circuit information, and outputs information on non-detected node and the number of toggles for every node to a circuit designing part 2.例文帳に追加

故障シミュレーション部１は、ＩＣ回路情報として入力されたＩＣに対してテストパターンにより故障シミュレーションを実施し、未検出ノード及び各ノード毎のトグル数の情報を回路設計部２に出力する。 - 特許庁

To provide an ink ejector in which positional shift between an ink chamber provided in a cavity plate and a driving electrode provided in a piezoelectric actuator can be detected easily and accurately without printing a test pattern.例文帳に追加

キャビティープレートに設けられたインク室と圧電アクチュエータに設けられた駆動電極との位置ずれ量を、テストパターンを印刷しなくても容易にかつ正確に検出することのできるインク噴射装置の提供。 - 特許庁

To provide a circuit pattern for inspecting blind via hole misregistration, which inspects within a short time the misregistration of the blind via hole by a wiring test for testing the electrical continuity between required points in a wiring.例文帳に追加

配線内の要所間の電気的導通を検査する布線検査によってブラインドビアホールの位置ずれを短時間内に検査することを可能とするブラインドビアホール位置ずれ検査用回路パターンを提供すること。 - 特許庁

A signal generation module M1 that is implemented by a microcomputer 24 of a television 20, generates an analog video signal capable of displaying a test pattern, so that it is not necessary to connect a signal generator or the like outside and workability is improved.例文帳に追加

テレビジョン２０のマイコン２４が実行する信号発生モジュールＭ１がテストパターンを表示可能なアナログ映像信号を生成するため、外部に信号発生器等を接続せずに済み、作業性がよい。 - 特許庁

In a radio communication apparatus 2 provided with a Bluetooth (BT) (R) communication part 26 and an SS radio communication part 27, a test pattern is transmitted from the BT(R) communication part 26 (step S2) and received by the SS radio communication part 27 (step S3).例文帳に追加

Bluetooth（ＢＴ）通信部２６とＳＳ無線通信部２７が設けられた無線通信装置２において、ＢＴ通信部２６からテストパターンを送信し（ステップＳ２）、ＳＳ無線通信部２７により受信する（ステップＳ３）。 - 特許庁

And an external command of the discriminating circuit 31 is a mode register set command, the circuit 31 discriminates whether an illegal pattern of a normal operation test mode of external memory address signals A0-An is inputted or not, and outputs a discrimination signal SGX.例文帳に追加

そして、判定回路３１は、外部コマンドがモードレジスタセットコマンドであって、外部メモリアドレス信号A0〜Anが通常動作テストモードのイリーガルパターンが入力されたか否か判定して、判定信号SGXを出力する。 - 特許庁

To provide a diagnostic method dispensing with reloading a test pattern after diagnosis, and capable of shortening the time required from the finish of the diagnosis to the start of mass production, and to provide a semiconductor testing device that uses the same.例文帳に追加

診断後に試験パターンを再ロードする必要がなく、診断終了から量産開始までにかかる時間を短縮することが可能な診断方法及びこれを用いた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

An image forming apparatus causes a density adjustment unit to form a cleaner toner image 61 so as to cover a whole area on which a test pattern may be formed, on the surface of an image carrier (for instance, an intermediate transfer belt 4).例文帳に追加

画像形成装置において、濃度補正部は、像担持体（例えば中間転写ベルト４）の表面のうち、試験パターンが担持され得る領域の全体を覆うように、清掃用トナー画像６１を担持させる。 - 特許庁

The ink jet recorder 10 comprising an ink jet head 20 for ejecting ink drops from a nozzle opening is further provided with an ink jet miss detecting means 110 consisting of an inspection plate onto which a test print pattern is formed by the ink jet head 20, and a means for detecting the print pattern on the inspection plate.例文帳に追加

ノズル開口からインク滴を吐出するインクジェットヘッド２０を具備するインクジェット式記録装置１０において、前記インクジェットヘッド２０によって試験的に印字パターンが形成される検査板と、該検査板上の前記印字パターンを検出する検出手段とを有するインク噴射ミス検出手段１１０を設ける。 - 特許庁

A terminal electrode 7 for test is provided on the outside of each printed board 2 formed in a base material substrate 1 and the electrode 7 is electrically connected to the wiring pattern, etc., of the printed board 2 through a conductor pattern 8 provided on a narrow-width piece 3 which integrally connects the printed board 2 to the base material substrate 1.例文帳に追加

前記素材基板１のうち各プリント基板２の外側の部分に、前記テスト用端子電極７を設けて、このテスト用端子電極７を、前記プリント基板２を素材基板１に一体的に連結する細幅片３に設けた導体パターン８を介して、プリント基板２における配線パターン等に電気的に接続する。 - 特許庁

A circuit simulator 12 inputs the outputted test pattern 18 for power analysis and timing information 23 differently prepared in order to operate the pattern, and calculates circuit information 24 and signal toggle information 25 for each cluster by using a combinatorial circuit as a unit, and executes circuit simulation by using the calculated results.例文帳に追加

回路シミュレータ１２は、この出力された電力解析用テストパターン１８とこれを動作させるために別途準備されたタイミング情報２３とを入力として、組合せ回路を単位とするクラスタ毎に回路情報２４と信号トグル情報２５とを算出し、これを用いて回路シミュレーションを行う。 - 特許庁

A pattern element showing an operation summary to be executed in a pseudo program performing multi-task communication with a test object program is disposed on a scenario chart editing screen by use of a scenario chart editing means 101, and details of an operation shown by the pattern element is input to form a scenario chart.例文帳に追加

シナリオチャート編集手段１０１を用いて、シナリオチャート編集画面上に、試験対象プログラムとマルチタスク通信を行う擬似プログラムにおいて実行されるべき動作概要を表す図形要素を配置するとともに、前記図形要素が表す動作の詳細を入力し、シナリオチャートを作成する。 - 特許庁

The test pattern defines a measuring direction to incline against at least one of main scanning direction and sub-scanning direction of the print head of a printer when shift of print position is measured, and includes a pattern being printed such that a specified distance corresponding to the shift of print position can be measured.例文帳に追加

このテストパターンは、例えば、プリンタの印刷ヘッドの主走査方向および副走査方向の少なくとも一方に対して斜め方向になるように、印刷位置のずれを測定する際の測定方向を規定するとともに、印刷位置のずれに対応した所定の距離を測定可能に印刷されるパターンを含んでいる。 - 特許庁

To obtain a method of verifying connection between macros of an LSI capable of performing the verification of the propriety of connection between macros, without requiring man-hours of extracting only the net list from the subject of verification, the man-hours of making a test pattern, the man- hours of analyzing whether the subject of verification is connected correctly from the output pattern, and others.例文帳に追加

検証対象からネットリストだけを抽出する工数、テストパタンを作成する工数、出力パタンから検証対象が正しく接続されているか解析する工数等を必要とせず、マクロ間接続の正当性を短時間で行うことが可能なＬＳＩのマクロ間接続検証方式を得る。 - 特許庁

The communication test means 18 tests whether it is possible to execute the communication function by utilizing the other pattern of the communication setting data stored in the storage means 14, while maintaining a state where it is possible for the communication means 16 to execute the communication function by utilizing the one pattern of the communication setting data.例文帳に追加

通信テスト手段１８は、上記の一方のパターンの通信設定データを利用して通信手段１６が通信機能を実行することができる状態を維持しながら、記憶手段１４に記憶されている他方のパターンの通信設定データを利用して通信機能を実行することができるのか否かをテストする。 - 特許庁

A resin layer of 200 μm or less, an inner layer circuit board having an inner layer circuit pattern for evaluating the insulation and a fluorescent layer are laminated one on top of the other, in the order, and a part of the resin layer is removed to expose terminal parts of the circuit pattern, thereby forming a test piece for testing and evaluating the insulation reliability and its manufacturing method.例文帳に追加

２００μm以下の樹脂層、絶縁性評価用の内層回路パターンを形成した内層回路板及び蛍光性層を、順に積層させ、そして該樹脂層の一部を除去して、該内層回路パターンの端子部分を露出させた、絶縁性信頼評価試験用の試験片及びその作成方法である。 - 特許庁

This is the control method of the optical laser disk drive being characterized in that the laser diode is controlled such that a test pattern is recorded in at least one of a header and a tail of the recording unit block including data area having predetermined size, input/output characteristics of the laser diode are detected using the recorded test pattern, and target output is generated on the basis of the detected input/output characteristics.例文帳に追加

一定の大きさを有するデータ領域を含む記録単位ブロックの先端と後端のうち少なくとも一つにテストパターンを記録し、前記記録されたテストパターンを用いてレーザーダイオードの入出力特性を検出し、前記検出された入出力特性に基づいて前記レーザーダイオードが目的とする出力を発生させるように前記レーザーダイオードを制御することを特徴とする光ディスクドライブの制御方法を構成する。 - 特許庁

As to an area in which an address given as a measurement test pattern continues over 16 bits on an LSB side, the address decoder 11 for selecting four ROMs 3A-3D mounted in the microcomputer outputs a decode signal for simultaneously selecting the ROMs 3A-3D corresponding to the area in receipt of an IDDQ test signal.例文帳に追加

マイコンに搭載される４つのＲＯＭ３Ａ〜３Ｄを選択するためのアドレスデコーダ１１は、ＩＤＤＱテスト信号が与えられると、測定用のテストパターンとして与えられるアドレスがＬＳＢ側の１６ビットに亘り連続する領域については、その領域に対応するＲＯＭ３Ａ〜３Ｄを同時に選択するようにデコード信号を出力する。 - 特許庁

A fault detection rate calculation part 7 computes data indicating fault detectability in each combined circuit block with the input values input and determines external detectability of fault points included in the fault detectability data to calculate a fault detection rate 5 of a test pattern 3 for the test object logic circuit 2.例文帳に追加

故障検出率算出部７では、その入力値が入力される各組合せ回路ブロックにおける故障検出性を示すデータを求め、その故障検出性データに含まれる故障個所についての外部検出可能性を判断することにより、テスト対象論理回路２に対するテストパターン３の故障検出率５を算出する。 - 特許庁

An equalizer 96 includes a gain emphasis part 110 which increases a gain in a specific frequency band, and a gain upper limit setting part 112 which determines an upper limit value of the gain according to a distortion amount contained in a reproduced waveform 104 of the longest pattern 30b recorded in a test recording area 42 in the reproduction period of the test recording area.例文帳に追加

イコライザ９６は、特定周波数帯域のゲインを上げるゲイン強調部１１０と、記録テスト領域４２の再生期間において、該記録テスト領域４２に記録されている最長パターン３０ｂの再生波形１０４に含まれる歪量に応じて、ゲインの上限値を決定するゲイン上限設定部１１２とを有する。 - 特許庁

The defective memory cell is detected by continuing dummy read operation on the same memory cell immediately after write operation on the memory cell with an internal clock signal having a frequency increased with respect to a test mode clock signal responsive to each write access request issued according to a test pattern, and surely simulating the worst case.例文帳に追加

テスト・パターンにより発行される各ライト・アクセス要求に応答して、テスト・モード・クロック信号に対して増加された周波数を有する内部クロック信号を使用して、メモリ・セルに対してライト動作直後に、同一のメモリ・セルに対してダミー・リード動作を続け、最悪の場合の状況を確実にシミュレートして、欠陥メモリ・セルを検出する。 - 特許庁

The risky portion extracting part 110 extracts a risky portion with a risk of generating the malfunction in the test caused by the IR drop of an electric power source, from the semiconductor integrated circuit, and the ATPG 150 generates the test pattern to restrain an operation rate of an instance included in the risky portion, in the risky portion extracted by the risky portion extracting part 110.例文帳に追加

危険箇所抽出部１１０は、半導体集積回路から、電源のＩＲドロップに起因してテスト時に誤動作が生じうる危険箇所を抽出し、ＡＴＰＧ１５０は、危険箇所抽出部１１０により抽出された危険箇所に対して、該危険箇所に含まれるインスタンスの動作率を抑制するようにテストパターンを生成する。 - 特許庁