「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

Input circuits 102 input a common test pattern to each of pairs of shift registers in, for example, two lines out of the N lines of the N-line M-stage shift register circuit 101.例文帳に追加

Ｎ行並列配置Ｍ段のシフトレジスタ回路１０１のＮ行のうち例えば２行のシフトレジスタ回路を１組として、各組において、１組の２行のシフトレジスタ回路に対して入力回路１０２が共通の同一テストパターンを入力する。 - 特許庁

This is because of the following reasons: In an ultraviolet region with a wavelength of 400 nm or less, the difference in reflectivity between a white ground and printed portions of the C, M, and Y colors becomes large, and concentration difference occurs among a plurality of patterns included in the test pattern.例文帳に追加

これは、波長４００ｎｍ以下の紫外域では、ＣＭＹ各色において白下地と印字部分との反射率差が大きくなり、テストパターンに含まれる複数のパターン間で濃度差が発生するためである。 - 特許庁

The inspecting device 17 displays respective patterns corresponding to gradations expressed by a high-order bit and the low-order bit of a video signal for a test pattern recorded in an inner memory 17a on the same screen.例文帳に追加

検査装置１７は、内部メモリ１７ａに記録されたテストーパターン用映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示する。 - 特許庁

To provide a clock data recovery (CDR) IC that can adjust a jitter transmission band at a DC test for an IC without the need for employing an expensive measurement device such as a pulse pattern generator and a jitter analyzer, and to provide its jitter transmission band adjustment method.例文帳に追加

パルスパターン発生器やジッタアナライザのような高価な測定器を用いず、しかもＩＣのＤＣテスト時でのジッタ伝達帯域調整が可能なＣＤＲ ＩＣおよびそのジッタ伝達帯域調整方法を提供することにある。 - 特許庁

A face surface of a nozzle, a distance between recording mediums, and a recording medium conveyance speed are arbitrarily altered by a test pattern, and it enabled it to judge the quality of performance of the recording head quantitatively by an outputted recording image density.例文帳に追加

ノズルのフェース面と記録媒体間の距離と記録媒体搬送速度とをテストパターンで任意に変更し、出力された記録画像濃度によって記録ヘッドの性能の良否を定量的に判定できるようにした。 - 特許庁

Abnormal nozzles are found out from void lines generated in a solid recording area 31a in the test pattern, ink nondischarging or ink flying bending is determined from the presence or absence of dots by the dot group area 31b when there are the abnormal nozzles.例文帳に追加

テストパターンにおけるベタ記録エリア３１ａに発生した白抜けラインより異常ノズルを見出し、異常ノズルがあった場合に、ドット群エリア３１ｂによるドットの有無からインク不吐出又はインク飛行曲がりを判別する。 - 特許庁

In this test faciliting circuit, the LFSR is composed of scan flip-flops 107 arranged regularly in a scan chain 109, an output value from the inspected circuit 101 are pattern-compressed, and signature is scanned in the scan chain 109 as a pseudo-random number sequence.例文帳に追加

スキャンチェーン１０９中で規則的に配列されたスキャンフリップフロップ１０７を用いてＬＦＳＲを構成し、被検査回路１０１からの出力値をパターン圧縮し、シグニチャを擬似乱数列としてスキャンチェーンにスキャンインする。 - 特許庁

To reflect a result of inspection of damage due to cleaning treatment on manufacture of a semiconductor device by providing a TEG (Test Element Group) having an easy-to-collapse pattern for a semiconductor device having a TEG for inspecting damage due to a cleaning treatment.例文帳に追加

洗浄処理によるダメージを検査するためのＴＥＧを有する半導体装置において、倒壊しやすいパターンを有するＴＥＧを提供し、洗浄処理によるダメージ検査の結果を半導体装置の製造に反映する。 - 特許庁

In the IC tester, including the electronic load part connecting a current source on both ends of a diode bridge, the diode bridge and the current source are synchronized with the test pattern signal to be connected via an on/off control switch.例文帳に追加

ダイオードブリッジの両端に電流源を接続した電子負荷部を含むＩＣテスタにおいて、 これらダイオードブリッジと電流源とを、テストパターン信号に同期してオンオフ制御するスイッチを介して接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁

The test pattern TP formed when initializing is constituted of a pair of line segments L1 and L2 inclined at the same angle in opposite directions while putting a line orthogonal to the moving direction of a paper conveying belt 6 in between as shown by (C).例文帳に追加

イニシャライズ時に形成されるテストパターンＴＰが、（Ｃ）に示すように、用紙搬送ベルト６の移動方向に直交する直線を挟んで相反する方向へ同じ角度で傾斜した一対の線分Ｌ１，Ｌ２から構成されている。 - 特許庁

The test patterns are read, detection rates and average concentration of embedded additional information in relation to the respective large dot patterns are obtained, and a large dot pattern wherein the values thereof are set in reference ranges and closest to ideal values is determined (S107).例文帳に追加

それらのテストパターンを読み、それぞれの大ドットパターンに関して埋め込まれた付加情報の検出率と平均濃度を求め、それらの値が基準範囲にありかつ理想値に最も近い大ドットパターンを決定する（Ｓ１０７）。 - 特許庁

The apparatus includes a controller which, during performing an arbitrary recording, controls, when the rear end of a sheet leaves the upstream-side conveyor, a rotating position of the drive-side roller of the downstream-side conveyor is the same as when the test pattern is recorded.例文帳に追加

任意の記録を行う際、シート後端が上流側搬送手段を抜ける時の下流側搬送手段の駆動側ローラの回転位置が、テストパターンを記録するときと同じになるように制御する制御手段を備える。 - 特許庁

To provide a recording apparatus in which a displacement in a recording position is the most suitably adjusted in a recording sheet of paper having a relatively smaller size in a scanning direction, when a test pattern of a plurality of items including a recording position displacement in a forward and backward directions.例文帳に追加

往方向と復方向の記録位置ずれを含む複数の項目のテストパターンを走査方向に記録する際に、走査方向のサイズが相対的に小さい記録用紙において記録位置のずれを最適に調整すること。 - 特許庁

A printer 15 has a microphone in the inside, executes a test pattern for measuring operation sound for driving each drive section of the printer 15 at each prescribed time independently, and records the operation sound at that time at a recording storage section.例文帳に追加

プリンタ１５は、その内部にマイクを備え、稼働音測定用のテストパターンを実行することによってプリンタ１５の各駆動部をそれぞれ所定の時間毎に単独で駆動させ、そのときの稼働音を録音記憶部に録音する。 - 特許庁

To provide a device for image formation in which the amount of toner deposition can be accurately detected and no undesirable influences are given to the image density and gradation control (AIDC control) even when the total length of a gradation test pattern is decreased.例文帳に追加

階調テストパターンの全長を短くしても正確にトナー付着量を検出することができ、画像濃度および階調性の制御（ＡＩＤＣ制御）に悪影響を及ぼさない画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device wherein a control means which is substantially equivalent to a control signal to be stored in a WCS memory which controls the generation of a test pattern provided at an ALPG is provided outside the WCS memory.例文帳に追加

ＡＬＰＧが備える試験パターンの発生を制御するＷＣＳメモリに格納すべき制御信号と、実質的に等価な制御手段を、当該ＷＣＳメモリ外に備えるＡＬＰＧとする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The prescribed test pattern includes first and second kinds of density areas arranged alternately and having different density from each other, and at least the first kind of density area includes a narrow area and a wide area.例文帳に追加

所定のテストパターンは、交互に配された互いに濃度の異なる第１種と第２種との濃度領域を含んでおり、かつ、少なくとも第１種の濃度領域が、幅の細い領域と幅の太い領域とを含んでいる。 - 特許庁

The charging and discharging pattern of the plurality of test pieces 31 to 33 is scheduled to minimize the regenerative power supplied from the plurality of bidirectional DC-DC converters 21 to 23 to the bidirectional AC-DC converter 11.例文帳に追加

複数の試料３１〜３３の充放電パターンは、複数の双方向ＤＣ−ＤＣコンバータ２１〜２３から双方向ＡＣ−ＤＣコンバータ１１に供給される回生電力が最小化されるようスケジュールされている。 - 特許庁

To provide a CAM design system capable of automating and automatically checking a series of manual operation such as an optimum blank layout, a test pattern design, a correction of a change in dimension, a confirmation of a manufacturing constraint, and a writing of a manufacturing work instruction or the like.例文帳に追加

板取の最適レイアウト、テストパターン設計、寸法変化の補正、製造上の制約確認、製造作業指示書の作成など、一連の人手介入作業を自動化し、自動チェックするＣＡＭ設計システムを提供する。 - 特許庁

Further, a test pattern is recorded and reproduced while changing the recording condition for each sector with respect to the already inspected recording track, then the optimum value of the recording pulse condition is searched by taking the average jitter value for each obtained recording condition as the reference for the discrimination.例文帳に追加

更に、検査済みの記録トラックに対してセクタ毎に記録条件を変えながらテストパタンの記録再生を行い、得られた記録条件毎の平均ジッタ値を判断基準として、記録パルス条件の最適値を探査する。 - 特許庁

To provide a projection type video display device with which the respective characteristic points can be easily detected even in the case in which the number of characteristic points is large and the whole test pattern image cannot be taken by an image taking device.例文帳に追加

テストパターン画像の全体を撮像装置によって撮像することができず、特徴点の数が多いようなケースであっても、各特徴点を簡易に検出することを可能とする投写型映像表示装置を提供する。 - 特許庁

Under a state where a black 1 head among at least five removable print heads for color printing is replaced by a scanner head 51 for image scanning, a predetermined test pattern is printed by means of all print heads 54 but the scanner head 51.例文帳に追加

カラー記録用の少なくとも５個の着脱式印字ヘッドのうちブラック１ヘッドを画像走査用のスキャナヘッド５１と交換した状態で、スキャナヘッド５１以外の全印字ヘッド５４で予め定めたテストパターンを印字する。 - 特許庁

A test pattern whereby a shift amount of an ink hitting position between back-and-forth scans at each position in the main scanning direction of a printing paper P can be obtained is formed for the entire width of the main scanning direction in a printing region on the printing paper P.例文帳に追加

プリントペーパＰの主走査方向各位置における往復走査間のインク着弾位置のずれ量が得られるテストパターンを、プリントペーパＰ上のプリント領域における主走査方向の全幅に亘って作成する。 - 特許庁

Moreover, because an all figure patterns stopping command 38 is not received, a figure pattern having been displayed before cutting the power supply can be redisplayed when the current is again switched on without outputting trial test information to the outside (a connector 20, or the like).例文帳に追加

更に、全図柄停止コマンド３８を受信していないので、外部（コネクタ２０等）に試射試験情報を出力することなく、電源断前に表示されていた図柄を電源再入時に再表示することができる。 - 特許庁

Otherwise, outside the printing region on a photosensitive drum, the test pattern for confirming gradation is successively developed in a main scanning direction, a developing current which flows thereon is detected and, thereby, the printing density and the gradation characteristic are corrected.例文帳に追加

若しくは、感光ドラム上の印字領域外に、主走査方向に順次階調確認用のテストパターンを現像し、そのとき流れる現像電流を検出することにより、印字濃度及び階調特性の補正を行う。 - 特許庁

The multi-display system combining a plurality of displays with one another corrects and controls dispersion of display luminance as degradation of a viewing angle of each display depending on a viewing location by using photographing data of a portable camera terminal as a test pattern.例文帳に追加

複数のディスプレイを組み合わせたマルチディスプレイシステムは、携帯カメラ端末の撮影データをテストパターンとして、視聴場所に依存する各ディスプレイの視野角特性劣化としてのディスプレイ輝度のバラ付きを補正制御する。 - 特許庁

A sequence control part 10 performs the control to stop the test to the block, when the address outputted from a pattern generating part 11 is included in the block specified by the block address stored in the bad block determining part 15.例文帳に追加

シーケンス制御部１０は、パターン発生部１１から出力されるアドレスがバッドブロック判定部１５に記憶されているブロックアドレスで特定されるブロックに含まれる場合には、そのブロックに対する試験を中止する制御を行う。 - 特許庁

The composite video signal satisfying a display mode of characters being components of a test pattern is generated on the basis of a horizontal synchronizing signal Hsyc and a vertical synshconizing signal Vsync in compliance with the broadcast system standards from the video signal.例文帳に追加

映像信号の放送方式規格に見合う水平同期信号Ｖｓｙｎｃ及び垂直同期信号Ｈｓｙｎｃを基準にして、テストパターンを構成するキャラクタの表示態様を満たすコンポジットビデオ信号を生成する。 - 特許庁

To provide a method of dividing a wafer which can divide a wafer into individual devices without being affected by a test metal pattern arranged on a street, and prevent detection of the configuration of the divided devices.例文帳に追加

ストリートに配設されたテスト用の金属パターンの影響を受けることなく個々のデバイスに分割することができるとともに、分割されたデバイスの構成を検出することができないようにしたウエーハの分割方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method of designing a circuit which can design a circuit in which it can be determined that is not faulted if an inspection by a used test pattern is passed even if it does not raise a fault coverage.例文帳に追加

故障検出率をあげなくとも、使用されるテストパターンでの検査に合格すれば、故障していないと判断することができる回路を設計することが可能な回路設計装置及び回路設計方法を提供する。 - 特許庁

A differential signal VRx1 between a test pattern signal VRx being an output from an input buffer 10 and an external reference voltage Vref applied by an LSI tester, and the like is applied to CDR12 to generate a clock signal CLK2.例文帳に追加

入力バッファ１０の出力であるテストパタン信号ＶＲｘとＬＳＩテスタ等より印加される外部基準電圧Ｖｒｅｆとの差動信号ＶＲｘ１がＣＤＲ１２に印加され、クロック信号ＣＬＫ２が生成される。 - 特許庁

A camera 110 and a coordinate measurement device 111 measure an inner pincushion distortion by using a test pattern displayed on a cathode ray tube 109 and a data approximate device 112 uses an approximate curve to generate the inner pincushion distortion at a pixel level.例文帳に追加

ＣＲＴ１０９に表示したテストパターンを用い、カメラ１１０と座標測定装置１１１からインナーピン歪量を測定し、データ近似装置１１２が近似曲線を用いて画素レベルでのインナーピン歪量を作成する。 - 特許庁

An advertisement area 27 is recorded in advance of a user document area 29 on the same recording medium 11 as the user document area 29 and then a test pattern is recorded in the advertisement area 27 or a space area 28 contiguous thereto.例文帳に追加

ユーザドキュメント領域２９と同じ記録媒体１１で、ユーザドキュメント領域２９に先立って広告領域２７を記録し、広告領域２７の内部あるいはこれに隣接した空白領域２８にテストパターンを記録する。 - 特許庁

Also, the control section generates the screen data in which the test pattern to be displayed on each the changeover screen is moved and disposed at the different display position at every time when the screen is switched, and changes the display position of the same on each the changeover screen.例文帳に追加

また、各切替画面においてその画面上に表示するテストパターンを、画面を切り替える毎に移動させて異なる表示位置に配置した画面データを生成し、各切替画面に亘ってその表示位置を変化させる。 - 特許庁

In order to form the color adjusting characteristic curve and/or the process adjusting characteristic curve, a computer 5 for ascertaining image forming data having the function of a test pattern and/or transmitting the same is provided to the pre-printing stage 1.例文帳に追加

色調整特性データおよび／またはプロセス調整特性データを生成するために、印刷前段階１には、テストパターンの役目をする画像形成情報をつきとめるおよび／または転送するコンピュータ５が備えられている。 - 特許庁

To obtain a TEG(test element group) pattern for evaluating plasma damage which can eliminate the defective blowing out of all fuses and, at the same time, can make all gates to be able to be measured under the same condition without giving any damage to the gates.例文帳に追加

本発明は、すべてのヒューズの切断不備を解消するとともに、測定前のゲートにはほとんどダメージを与えることをなくしてすべて同一の条件下で測定ができるようになるプラズマダメージ評価用ＴＥＧパターンを得る。 - 特許庁

To provide a method for correcting mask data for an LSI, the method capable of reducing the number of measurement points on a test pattern transferred onto a wafer and reducing the measuring time while carrying out optical proximity correction and process proximity correction with high accuracy.例文帳に追加

光近接効果補正とプロセス近接効果補正を高精度に行いながら、ウエハー上に転写したテストパターンの測定点数の削減および測定時間の短縮を行えるＬＳＩ用マスクデータ補正方法を実現する。 - 特許庁

To achieve the followings in detecting a test pattern using a media sensor: to decrease an influence of a cockling generated on media on accuracy of detection more than before; to shorten a time required for detection; and to form an image with a high quality.例文帳に追加

メディアセンサを用いたテストパターンの検出において、メディアに生じたコックリングが検出精度に及ぼす影響を従来以上に軽減すると共に、検出に要する時間を短縮し、高品質な画像形成を可能とすること。 - 特許庁

On predetermined input/outputs (I/O), data inputs may be inverted to create a desired test pattern (such as stripes) which are "worst case" for I/O circuitry or column stripes which are "worst case" for memory arrays.例文帳に追加

所定の入力／出力（Ｉ／Ｏ）において、データ入力は、Ｉ／Ｏ回路用の「最悪な場合」である所望の検査パターン（たとえば、データストライプ）、または、メモリアレイ用の「最悪の場合」である列ストライプを作成するために反転されうる。 - 特許庁

To provide an inkjet printer having such a test pattern as a decision can be made simply whether a failed print nozzle is present or not, and a failed print nozzle, if any, can be determined at a glance.例文帳に追加

印字不良な印字ノズルがあるか否かを簡便に判定できるようにして、さらに印字不能な印字ノズルがある場合には何番目の印字ノズルであるかを、ひと目でわかるテストパターンを有するインクジェットプリンタを提供すること。 - 特許庁

To solve the problem that a nozzle is determined to be defective even though it is normal by blurring manner of ink in the case of executing the inspection by recording a test pattern consisting of a minute dot group onto non-coat paper in the nozzle defect inspection in an inkjet printer.例文帳に追加

インクジェットプリンタにおけるノズル不良検査は、非コート紙に対して微細なドット群からなるテストパターンを記録して検査を実施した場合、インクの滲み方により正常であるにも拘わらずノズル不良と判断される。 - 特許庁

According to the operation of the image forming device, it is determined at a step 400 whether or not print data for printing the test pattern are inputted, and if the print data are inputted, it is determined at a step 402 whether or not a yellow head 12Y is driven from the print data.例文帳に追加

ステップ４００で、テストパターンを印字するための印字データが入力されたか否かを判断し、印字データが入力されると、ステップ４０２で、印字データに基づいてイエローヘッド１２Ｙが駆動されるか否かを判断する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus in which a test pattern optimal for deciding whether an normal operation is carries out or not is selected automatically upon occurrence of a state change, e.g. replacement of an unit or elimination of trouble, at each section.例文帳に追加

ユニット交換やトラブル解消等のように各部に状態変化が生じた後に、正常動作を行うか否かの確認を行うための最適なテストパターンを自動的に選択して作成する画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits capable of measuring the frequency characteristics of the power current of an object to be measured at any timing regardless of whether a test pattern is impressed onto the object to be measured or not.例文帳に追加

被測定対象に対して試験パターンを印加しているか否かに拘わらず、任意のタイミングで被測定対象の電源電流の周波数特性を測定することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

The tool for adjustment is moved to a position where the test pattern is correctly read by the image reading device in this condition, and the positioning member is fixed to an image reading device main body after adjusting a mounting position of the positioning member.例文帳に追加

その状態においてテストパターンが画像読取装置により正しく読みとられる位置に調整用治具を移動させ、位置決め部材の装着位置を調整した後、位置決め部材を画像読取装置本体に固定する。 - 特許庁