「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

Since the gradation of the test pattern displayed on the screen is changed by a transmission defect of each bit, the defect of the low-order bit and the defect of the high-order bit can be visually judged on the single screen.例文帳に追加

このとき、各ビットの送信不良によって、画面に表示されるテストパターンの階調は変化するため、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できる。 - 特許庁

TEST PATTERN-GENERATING APPARATUS, METHOD FOR CUTTING LOOP, METHOD FOR CUTTING PROPAGATION PATH, METHOD FOR DETECTING DELAY FAILURE AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE METHOD例文帳に追加

テストパターン生成装置、ループ切断方法、伝播経路切断方法、遅延故障検出方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

The control device controls the light irradiation devices, recording heads and transfer device to form onto the recording medium, a test pattern for judging whether or not the light energy of the light irradiation devices is proper.例文帳に追加

制御装置は、光照射装置の光エネルギーが適正であるか否かを判断するためのテストパターンを、光照射装置、記録ヘッド及び搬送装置を制御して記録媒体上に作成させる。 - 特許庁

To record a test pattern with which a color shift can be visually detected highly accurately in a process of correcting the color shift caused by a difference in output characteristic of recording heads of a recording apparatus.例文帳に追加

記録装置における記録ヘッド個々の出力特性の違いに起因した色ずれを補正する処理において、目視による色ずれ検出を高精度に行うことが可能なテストパターンを記録する。 - 特許庁

The density of a 3rd test pattern is detected, and electrostatic potential of the toner carrier which is electrostatically charged by an electrostatic charger is adjusted based on the detected density so as to correct a graduation curve (S40 to S43).例文帳に追加

第３のテストパターンの濃度を検出し、検出された濃度に基づいて、階調カーブを補正するため、帯電装置が帯電させるトナー担持体の帯電電位を調整する（Ｓ４０〜Ｓ４３）。 - 特許庁

Such a configuration reduces a contact area of the lead 15 with the conductive pattern than in the conventional art, to reduce the release of heat at high-temperature function test.例文帳に追加

このような構造にすることにより、リード１５と導電パターンを接触させた際の接触面積が従来よりも小さくなり、高温ファンクションテストにおける熱の逃げを小さくすることができる。 - 特許庁

The projection video display apparatus 100 computes a positional relationship between the projection image display apparatus 100 and a projection plane 400, based upon the three or more crossing points included in a captured test pattern image.例文帳に追加

投写型映像表示装置１００は、撮像テストパターン画像に含まれる３つ以上の交点に基づいて、投写型映像表示装置１００と投写面４００との位置関係を算出する。 - 特許庁

To provide an inspection circuit of an address decoder in which constitution for improving inspection efficiency by decreasing the input of a test pattern can be achieved more simply and without providing restriction for data setting.例文帳に追加

テストパターンの入力数をより少なくして検査効率を向上させる構成を、より簡単に且つテスト用のデータ設定に制約を設けることなく実現できるアドレスデコーダの検査回路を提供する。 - 特許庁

The lowest value for an extension percentage of electrolytic Ni-plated products is 4.9%, and cracks and disconnections of the wiring pattern 10 after thermal shock test disappear and reliability is enhanced with respected to repeated bending stress.例文帳に追加

電解Ｎｉめっき品の伸び率の最低値は４．９％であり、熱衝撃試験後の配線パターン１０のクラック、断線が無くなり、繰り返し曲げ応力に対する信頼性を向上できる。 - 特許庁

The projection image display device 100 is configured to display a test pattern image constituting at least a part of each of three or more line segments composing three or more cross points.例文帳に追加

投写型映像表示装置１００は、３つ以上の交点を構成する３つ以上の線分のそれぞれの少なくとも一部分を構成するテストパターン画像を表示するように構成される。 - 特許庁

In a verification support apparatus, normal simulation by a random test pattern generated in accordance with a set Seed number is executed as in a conventional technology by steps S101-S109.例文帳に追加

検証支援装置では、ステップＳ１０１〜Ｓ１０９によって従来技術と同様に、設定されたＳｅｅｄ番号に応じて発生させたランダムなテストパターンによる通常のシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

Hereafter, the memorized internal state is set as an initial value, and an RTL simulation executing part 250 executes RTL simulation in parallel at each verification period using a test pattern generated at each verification period.例文帳に追加

次に、記憶された内部状態を初期値とし、検証ピリオド毎に生成されたテストパタンを用いて、ＲＴＬシミュレーション実行部２５０がＲＴＬシミュレーションを検証ピリオド毎に並列に実行する。 - 特許庁

To improve circuit simulation accuracy by extracting parasitic capacitance (overlapping capacitance value) of overlapped portions of a gate electrode and source/drain regions of a MOS transistor by using a small-area test pattern and precision is improved.例文帳に追加

ＭＯＳトランジスタのゲート電極とソース／ドレイン領域の重なり部分の寄生容量（オーバーラップ容量値）を小面積のテストパターンにより高精度に抽出して回路シミュレーション精度を向上する。 - 特許庁

LFSR 100 also includes a phase changing circuit capable of arbitrarily changing phases of the test pattern by entering a controlling signal having a maximum clock number 4 and average clock number log_24.例文帳に追加

また、ＬＦＳＲ１００には、最大クロック数４、平均クロック数ｌｏｇ_2４の制御信号の入力により、テストパターンの任意の位相変更をおこなうことができる位相変更回路が形成されている。 - 特許庁

After grouping the stations, for the groups, the test pattern creating part 13 extracts all combinations of groups for selecting entrance stations and groups for selecting exit stations (s2).例文帳に追加

テストパターン生成部１３は、各駅のグループ分けが完了すると、これらのグループについて、入場駅を選択するグループと、出場駅を選択するグループと、の組み合わせを全て抽出する（ｓ２）。 - 特許庁

When roll paper 220 for issuing detailed slip is set, a detailed slip issuing device prints a test pattern TP on roll paper 220 by a print head 218, and decides the suitability of print by a mark detecting sensor 212.例文帳に追加

明細票発行装置は、明細書発行用のロール紙２２０がセットされると、印字ヘッド２１８によって、ロール紙２２０にテストパターンＴＰを印刷し、マーク検知センサ２１２で印字の適否を判定する。 - 特許庁

In a calibration mode, a previously stored prescribed test pattern is recorded on a recording sheet by a printer unit B, the recording sheet is carried to a reader unit A and read out by using a CCD sensor or the like (S1 to S3).例文帳に追加

キャリブレーションモードにおいて、予め記憶している所定のテストパターンをプリンタユニットＢにて記録紙に記録し、その記録紙をリーダユニットＡに搬送すると共にＣＣＤセンサ等を用いて読み取る(S1-S3)。 - 特許庁

To effectively utilize an existing pattern memory to conduct a desired IC test without increasing memories, even in an IC of which the number of pins is extremely small although a circuit scale is large.例文帳に追加

回路規模は大きいが、その一方、ピン数が極端に少ないＩＣに対しても、既存のパターンメモリを有効に活用して、メモリの増強をすることなく、所望のＩＣテストを行うことを可能とすること。 - 特許庁

To provide a printing device which measures the amount of extension after printing by output of a prepared test pattern, and performs printing positions and a deformation process for each printing object such as letters, graphics and images.例文帳に追加

用意されたテストパターンによる出力により印刷後の伸び量を測定し、文字、図形、イメージといった印刷オブジェクト毎に印字位置や変形の処理を行うことが可能な印刷装置を提供する。 - 特許庁

One embodiment of this system is a nondestructive method, by which profile data about test pattern lines are acquired by using spectral data measured, using an optical measurement instrument and a profile library.例文帳に追加

一実施形態が、光学計測装置を使用して測定されたスペクトルデータとプロファイルライブラリとを使用することによって、テストパターン線のプロファイルデータを取得するための非破壊的な方法である。 - 特許庁

A rate generation circuit 4 generates a rate signal RATE having a predetermined cycle, and also generates an end rate signal END_RATE which is asserted with the completion of a predetermined test pattern as a trigger.例文帳に追加

レート発生回路４は、所定の周期のレート信号ＲＡＴＥを発生するとともに、所定の試験パターンの完了を契機としてアサートされるエンドレート信号ＥＮＤ＿ＲＡＴＥを発生する。 - 特許庁

Namely, an address signal contained in the test pattern generated by means of the ALPG 2 is not used for address designation, but for generating analog signals supplied to the DUT 100a having the A/D-converting function.例文帳に追加

つまり、ＡＬＰＧ２で生成したテストパターン中に含まれるアドレス信号を、アドレス指定のために用いるのではなく、ＡＤ変換機能を有するＤＵＴ１００ａへのアナログ信号の生成に用いる。 - 特許庁

To enable recording of a test pattern of only second liquid not overlapped with first liquid in a configuration in which discharge of first liquid and second liquid is controlled from common image data.例文帳に追加

共通の画像データから第１液体及び第２液体の吐出が制御される構成において、第１液体と重ならない第２液体のみの検査パターンを記録することができるようにする。 - 特許庁

The speed change pattern is set so that a change following time elapse of rotational speed of the steam turbine 11 having a cut-off load is simulated by the steam turbine 2 for the test in the load cutoff state.例文帳に追加

そして、変速パターンは、負荷が遮断された蒸気タービン１１の回転速度の時間経過に伴う変化を、負荷遮断状態の試験用蒸気タービン２が模擬するように設定される。 - 特許庁

An input pattern and an output expected value for the simulation are expressed by a structural body constituted of a starting pointer, a data size, a next pointer and a parameter of control information on a memory 104 within a test bench 102.例文帳に追加

テストベンチ１０２内では、シミュレーションのための入力パターンおよび出力期待値はメモリ１０４上の開始ポインタ、サイズ、次ポインタ、制御情報のパラメータからなる構造体で表現する。 - 特許庁

A parametric generator 130 fetches description information from the text definition file and arranges on the basis of this reference information a segment description code describing the segment of the specific test pattern, in memory 132.例文帳に追加

パラメトリック発生器１３０は、テキスト定義ファイルから記述情報を取り出し、この基準情報に基づいて、特定テスト・パターンのセグメントを記述するセグメント記述コードをメモリ１３２に配置する。 - 特許庁

A test chart 91 is printed which includes: a YMC non-discharge detecting pattern image 71 consisting of a process black colored Y+M+C dot 88 and a K dummy jet adjusting image 73 consisting of a K dot 74.例文帳に追加

また、プロセスブラック色のＹ＋Ｍ＋Ｃドット８８から成るＹＭＣ不吐出検知パターン画像７１と、Ｋドット７４から成るＫダミージェットと調整画像７３と、を含むテストチャート９１を印字する。 - 特許庁

When the count value exceeds a specific threshold, a full-delay simulator 5 is activated to find answer output to the test pattern in consideration of delay times by the gate and wires of the logic circuit.例文帳に追加

そして、カウント値が所定のしきい値を超えると、フル遅延シミュレータ５を活性化し、論理回路のゲートおよび配線ごとの遅延時間を考慮して、テストパタンに対する応答出力を求める。 - 特許庁

Accordingly, by applying electric voltage to the first test pattern, and analyzing the difference between resistance in cases with and without metal failure in the metal patterns, a form or a size of the metal failure is detected.例文帳に追加

これにより、前記第１テストパターンに電圧を印加して、前記金属パターンの金属フェイルがない場合とある場合との抵抗差異を分析して、金属フェイルの形態やサイズを検出することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for improving the precision of failure analysis by detaledly discussing validity and effectiveness of a test pattern in practical chips, and to provide its failure analysis method.例文帳に追加

実際のチップにおいてテストパターンの妥当性と有効性を詳細に検討でき、不良解析の精度を向上させることができる半導体装置およびその不良解析方法を実現する。 - 特許庁

To provide an IC tester for generating a flat-top pulse, as needed, by realizing high-speed direct measurement by on/off control of an electronic load part, by synchronizing it with a test pattern signal.例文帳に追加

テストパターン信号に同期して電子負荷部をオンオフ制御することにより高速直流測定が実現でき、必要に応じてフラットトップパルスを発生させることができるＩＣテスタを提供すること。 - 特許庁

An operation level simulation control part 220 acquires an operation level simulation model, an operation level test pattern and an RTL description through a data input device 100, and makes an operation level simulation executing part 210 execute operation level simulation.例文帳に追加

動作レベルシミュレーション制御部220は、データ入力装置100を介して動作レベルシミュレーションモデル、動作レベルテストパタン及びRTL記述を取得し、動作レベルシミュレーション実行部210に動作レベルシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

To provide a video display device enabling an adjuster of a plant to numerically manage an adjustment value by realizing OSD display even when displaying a test pattern for adjustment from the controller of a display device.例文帳に追加

表示デバイスのコントローラより調整用のテストパターンを表示してもＯＳＤ表示可能にすることで工場の調整者が調整値を数値管理できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

The marker image formed by energizing a predetermined LED 64 in the main scanning direction and a density image formed by energizing all the LEDs are included in the test pattern.例文帳に追加

テストパターンには、主走査方向の特定のＬＥＤ６４を点灯させることによって形成されるマーカ画像および全ＬＥＤを点灯させることによって形成される濃度画像が含まれる。 - 特許庁

Reading is started (step 10), the line sensor is moved as shown by an arrow Y (step 108) to make a first scan (step 110), and a read signal of a test pattern is analyzed to set reference (step 112).例文帳に追加

読み取りを開始し（ステップ１００）、ラインセンサを矢印Ｙ方向に移動し（ステップ１０８）、第１のスキャンを行い（ステップ１１０）、テストパターンの読取信号を解析し、基準を設定する（ステップ１１２）。 - 特許庁

To provide a sampling method for current value of power source of an integrated circuit and the device thereof capable of obtaining all information on current of power source when a test pattern is applied to a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスにテストパタンを印加したときに流れる電源電流の全ての情報を余すことなく取得する集積回路の電源電流値のサンプリング装置及び方法の提供。 - 特許庁

For example, the pattern generator PG schedules the order of the test patterns for each of the plurality of DUTs 1 so as to reduce a total variation in operating currents I_OP that flow through the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

たとえばパターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１に流れる動作電流Ｉ_ＯＰの合計の変動が小さくなるように、複数のＤＵＴ１ごとのテストパターンの順序をスケジューリングする。 - 特許庁

The projection type video display device 100 calculates a positional relationship between the projection type video display device 100 and a projection plane 400 on the basis of the three or more intersections included in the test pattern image.例文帳に追加

投写型映像表示装置１００は、テストパターン画像に含まれる３つ以上の交点に基づいて、投写型映像表示装置１００と投写面４００との位置関係を算出する。 - 特許庁

The projection image display device 100 calculates a positional relationship between the projection image display device 100 and the projection surface 400 based on the three or more cross points contained in the imaging test pattern image.例文帳に追加

投写型映像表示装置１００は、撮像テストパターン画像に含まれる３つ以上の交点に基づいて、投写型映像表示装置１００と投写面４００との位置関係を算出する。 - 特許庁

An imaging element control section 91 brings an imaging element 9 to an imaging state respectively synchronously with a time when the DMD 4 displays the full black image on the screen 6 and a time when the DMD 4 displays the test pattern image.例文帳に追加

撮像素子制御部９１が、ＤＭＤ４によりスクリーン６に全黒画像を表示する時とテストパタン画像を表示する時にそれぞれ同期して撮像素子９を撮像状態にする。 - 特許庁

To provide a system which verifies fast whether an LSI designed by electronic design automating technology and a test pattern of the LSI generated on the basis of CAD data at the time of development designing are proper.例文帳に追加

電子設計自動化手法で設計したＬＳＩと、開発設計時におけるＣＡＤデータを基に作成されたそのＬＳＩのテストパターンの適否を高速に検証するシステムを提供する。 - 特許庁

To accurately calibrate an image even when a readily available scanner or the like is used to read a test pattern in the case of calibration to maintain proper image output characteristics of a printer or the like.例文帳に追加

プリンタ等の適切な画像出力特性を維持するために行われるキャリブレーションで、簡易に利用できるスキャナ等を用いてテストパターンの読取りを行なった場合でも正確なキャリブレーションを行う。 - 特許庁

This test pattern is reproduced, and an amplitude and a center level of the reproduced signal are measured by an envelope detecting circuit 14, LPF 15, differential circuit 16, A/D conversion circuits 17 and 18.例文帳に追加

このテストパターンを再生し、エンベロープ検出回路１４と、ＬＰＦ１５と、差分回路１６と、Ａ／Ｄ変換回路１７および１８とによって、再生信号の振幅および中心レベルを測定する。 - 特許庁

The normal operation mode continues from a start of the protocol test until the time count means 1b detects a lapse of the switching time, and a selection 2d of a pseudo master 2 selects a normal operation pattern storage section 2a.例文帳に追加

プロトコル試験の開始から計時手段１ｂが切替え時間の経過を検出するまでは正常動作モードであり、擬似マスタ２の選択部２ｄは、正常動作パターン記憶部２ａを選択する。 - 特許庁

To provide an inkjet recording apparatus that can determine a detection region of a test pattern according to a recording format even if the apparatus can perform recording using both a margined recording and a marginless recording.例文帳に追加

縁有り記録と、縁無し記録とによって記録を行うことが可能であっても、記録形式に応じてテストパターンの検知領域を定めることのできるインクジェット記録装置を提供する。 - 特許庁