「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

The manufacturing method of the test mask includes steps of forming a pattern of a light shielding film on a glass substrate and of changing the film thickness of the light-shielding film in the pattern, wherein the step of changing the film thickness of the light-shielding film is repeated to produce a test mask.例文帳に追加

テストマスクは、数種類の透過率を有し、かつ各々の種類の透過率において寸法の異なるパターンを有するようにしたものであり、テストマスクの製造方法は、ガラス基板上の遮光膜のパターン形成を行う工程と、パターンの遮光膜の膜厚を変える工程と、を備え、前記遮光膜の膜厚を変える工程を繰り返し、テストマスクを作製する。 - 特許庁

This one-chip microcomputer 10 is provided with a starting register 18 for starting test operation for an incorporation self-checking function, and an incorporation self-check starting pattern generator 19 for setting an initial value to a test control circuit (a pseudo random number generator 14, a logic circuit checking compressor 15, a pattern generator 16 and a memory checking compressor 17).例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

When a test pattern is printed on a recording medium and density correction is performed in the main scanning direction based on density information of the test pattern, the image forming apparatus decides a correction laser power amount B to be used when performing the density correction by multiplying a correction laser power amount A based on the density information by a correction coefficient G in accordance with a value of laser power used when forming an image.例文帳に追加

画像形成装置は、記録媒体にテストパターンを印字し、その濃度情報に基づいて主走査方向の濃度補正を行う際、画像形成時に用いられるレーザパワー値に応じた補正係数Ｇを、濃度情報に基づく補正レーザパワー量Ａに乗算することにより、濃度補正を行う際の補正レーザパワー量Ｂを決定する。 - 特許庁

Test pattern generation can be achieved simply and in a short time by making an LSI chip 101 operate, an object to be evaluated, by an actual device set board apparatus 100 in which the LSI chip 101 is installed, probing its LSI terminal signals 111 to 116, 124, 125, and converting its probe signals 118 to 123, 127 into a test pattern 170 of arbitrary format.例文帳に追加

評価対象とするＬＳＩチップ１０１を搭載する実機セットボード装置１００でＬＳＩチップ１０１を動作させ、そのＬＳＩ端子信号１１１〜１１６，１２４，１２５をプローブし、そのプローブ信号１１８〜１２３，１２７を任意のフォーマットのテストパターン１７０へ変換することで、簡便にかつ短時間でのテストパターン生成が可能となる。 - 特許庁

When a recording medium newly replaced corresponding to a detection signal indicative of a containing means 3 that contains the recording medium is different from that heretofore used, a control means 7 generates a test pattern and a density sensor 51 reads a visible image of the test pattern, then correction of a correction value is executed.例文帳に追加

記録媒体を格納した格納手段３の交換を示す検知信号に応じて、新たに交換された記録媒体４２がそれまでに使用されていた記録媒体と異なる場合に、制御手段７は、テストパターンを発生させ、そのテストパターンの可視画像を濃度センサ５１で読み取ることで補正値の修正を行うようにしている。 - 特許庁

An unevenness of a density differently generated in response to an area of a density can be effectively corrected by preparing a table group for correction making the correction process different depending on a area of the density, recording a test pattern corresponding to a plurality of the densities according to a test pattern of a predetermined density and making possible to select the table group for correction used for correction.例文帳に追加

濃度域に応じて補正を異ならせた補正テーブル群を用意し、予め所定の濃度のテストパターンに従って、複数の濃度に対応したテストパターンを記録し、濃度域毎のむらの発生に応じて、補正に用いる補正テーブル群を選択可能とすることにより、濃度域に応じて発生が異なる濃度むらを効果的に補正可能にする。 - 特許庁

When predetermined time elapses after a test pattern detection means 30 detects a toner image 40 of a test pattern formed on an intermediate transfer belt 11 by an upstream-side toner image forming unit 20 adjacent thereto, an exposure part 231 starts to form an electrostatic latent image corresponding to a toner image 50 of a printed image on a surface of a photoreceptor drum 21.例文帳に追加

テストパターン検出手段３０が、隣接する上流側のトナー像形成ユニット２０が中間転写ベルト１１上に形成したテストパターントナー像４０を検出してから、所定時間経過後に露光部２３１が、感光体ドラム２１表面に対して印刷画像トナー像５０に対応する静電潜像形成を開始するように構成する。 - 特許庁

A laser printer determines whether an execution condition for the calibration, when receiving a PDL data is satisfied or not, when receiving it, and substitutes a test pattern data of forming a test pattern, for a data expressing an attribute image included in the PDL data, when the received PDL data are rasterized, to be converted into a printing image data, in case of satisfying the execution condition.例文帳に追加

レーザプリンタは、ＰＤＬデータを受信すると、その時点でキャリブレーションの実行条件が満足されているか否かを判断し、実行条件が満足されている場合には、受信したＰＤＬデータをラスタライズして印刷画像データに変換する際、ＰＬＤデータが有する付属画像を表すデータを、テストパターンを形成するためのテストパターンデータに置換する。 - 特許庁

The exposure mask including a test mark 7 composed of an asymmetric diffraction grating pattern 10 varying in diffraction efficiency with +1st order light and -1st order light and a reference pattern 20 for obtaining an image which is a reference when measuring the deviation of the image of the asymmetric diffraction grating pattern 10 is used as the exposure for focus measurement.例文帳に追加

フォーカス測定用の露光マスクとして、＋１次光と−１次光とで回折効率の異なる非対称回折格子パターン１０と、非対称回折格子パターン１０の像のずれを測定する際の基準となる像を得るための基準パターン２０とで構成されたテストマーク７を含むものを用いる。 - 特許庁

Use of a low-speed test device having a small number of terminals is made possible, by controlling the first and second transistors according to a pattern signal generated by the pattern generating section, and by providing a self-diagnosis control circuit (115) for transmitting the pattern signal to the input circuit.例文帳に追加

上記パターン生成部で生成されたパターン信号に従って上記第１トランジスタ及び上記第２トランジスタを制御することでパターン信号を上記入力回路に伝達する自己診断制御回路（１１５）を設けることによって、端子数が少なく且つ低速な試験装置の使用を可能にする。 - 特許庁

A test pattern of a semiconductor device includes a conductive pattern 100 disposed on a semiconductor substrate, and the conductive pattern 100 includes a plurality of line regions 100a, which are aligned in parallel and spaced at a uniform interval, and a plurality of connecting regions 100b for connecting the plurality of line regions 100a in a zigzag shape.例文帳に追加

半導体素子のテストパターンは半導体基板上に配置された導電パターン１００を具備して、該導電パターン１００は互いに平行しながら等しい間隔で離隔された複数のライン領域１００ａ及び該複数のライン領域１００ａをジグザグの構造で接続する接続領域１００ｂを含む。 - 特許庁

In the calibration processing, an object printer outputs a test pattern (S501), and in the case of generating a correction table through the read of this pattern (S504-S507), a conversion parameter for converting the read result into a standard color space signal is converted by a profile corresponding to a scanner reading the pattern.例文帳に追加

キャリブレーションの処理において、対象プリンタからテストパターンを出力し（Ｓ５０１）、このパターンを読取って補正テーブルを作成する際（Ｓ５０４〜Ｓ５０７）、読取りを行なったスキャナに対応したプロファイルで上記読取り結果を標準色空間信号に変換するときの変換パラメータを変換する。 - 特許庁

The image forming apparatus samples the correction test pattern by high speed scanning in response to the number of samples, stores temporarily color data to an image memory and thereafter converts the data into color information so that the sampling is carried out at a higher speed than that of prior arts and also the labor of pattern replacement can be omitted by pattern replacement using an RDF.例文帳に追加

補正テストパターンのサンプリングをサンプリング数に応じて高速スキャンでサンプリングし、その色データを一時的に画像メモリに記憶してから色情報に変換することでこれまでより高速にサンプリングできるだけでなく、ＲＤＦによるパターン交換を行うことでパターン交換の手間を省くことができる。 - 特許庁

A concrete concealed pattern attaching mechanism is configured to form the particular concealed pattern onto the color image without fail, in the case of forming a normal image, on the basis of the hardware control signal and the software control signal, and when no color image data are received, a test pattern selected by a selection section is synthesized with output image data.例文帳に追加

具体的な隠しパターン付加機構は、ハードウェア的制御信号とソフトウェア的制御信号とに基づいて通常画像を形成する際には特定の隠しパターンが必ずカラー画像上に形成されるように構成し、カラー画像データが入力されていないときには選択部により選択されたテストパターンを合成する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which reduces loading effect by dry etching that occurs due to density difference between a test pattern for estimating transistor characteristics and a pattern in a pixel main body and that causes different processed shapes and displays different characteristics in a process for forming a TFT thin film transistor of the liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置のＴＦＴ薄膜トランジスタ形成工程において、トランジスタ特性を評価するテストパターンと画素本体内のパターンの密度差からドライエッチによるローディング効果で、加工形状が異なり、特性に差が現れる。 - 特許庁

A test pattern TP having a highest density region P1, lowest density region P2 and intermediate density pattern P3 which has density regions with different densities is formed on a photoreceptor drum 41 to measure the amount of the toner deposition in the copying machine 1.例文帳に追加

複写機１は、トナー付着量を測定するために感光体ドラム４１に最高濃度領域Ｐ１と、中間濃度領域Ｐ３と、異なる濃度の濃度領域を含む中間濃度パターンＰ２と、を備えるテストパターンＴＰを作成する。 - 特許庁

A frame processor 50 executes a process of decompressing the test pattern 20 output from the pattern generator 30 in operation in software manner by executing a previously set program, and generates/outputs a pulse shape signal, based on the decompressed data.例文帳に追加

フレームプロセッサー５０は、あらかじめ設定されたプログラムを実行することにより、パターンジェネレーター３０から出力されたテストパターン２０の伸張処理をソフト的に行い、さらに、伸張されたデータに基づいて、パルス波形を生成して出力する。 - 特許庁

This method includes inserting test points into a circuit for reducing the number of specified bits required for transition fault testing of the circuit by reducing the dependency of a second time-frame pattern of the circuit on a first time-frame pattern of the circuit.例文帳に追加

方法は、回路の第１時間フレームパターンに対する回路の第２時間フレームパターンの依存性を減らすことによって回路の遷移故障試験に必要な指定されるビットの個数を減らすために回路に試験点を挿入することを含む。 - 特許庁

A plurality of base pattern image patches are generated by making density parameters of at least either of a latent image part and a background part different from each other, and a test printing image with the plurality of generated base pattern image patches arranged therein is transmitted to a printer.例文帳に追加

潜像部と背景部のうちの少なくとも一方の濃度パラメータを夫々異ならせて複数の地紋画像パッチを生成し、当該生成された複数の地紋画像パッチを配置した試し刷り画像を印刷装置に送信する。 - 特許庁

A signal of a prescribed pattern is recorded on the center track out of three adjacent tracks in a test area while changing the recording power, and a signal of a prescribed pattern is recorded on tracks in both sides while changing the recording power at the same timing.例文帳に追加

テスト領域内の隣接する３トラックのうち中心トラックに記録パワーを変化させながら所定パターンの信号を記録し、両側に隣接するトラックに所定パターンの信号を記録パワーを同一タイミングで変化させながら記録する。 - 特許庁

Under a plurality of different synchronous moving speed conditions, a pattern (an inside mark and an outside mark constituting a focus test mark) in a pattern region formed in a measuring reticle on a reticle stage is transferred onto different wafers, respectively, through a projection optical system.例文帳に追加

複数の異なる同期移動速度条件の下で、レチクルステージ上の計測用レチクルに形成されたパターン領域内のパターン（フォーカステストマークを構成する内側マーク，外側マーク）を投影光学系を介して、異なるウエハ上にそれぞれ転写する。 - 特許庁

At least either frequency information for driving the primary coil L1 or drive pattern information of the primary coil L1 can be set in the test register 216, thereby the frequency or driving pattern in continuous power transmission can be selected as required.例文帳に追加

また、テストレジスタ２１６には、１次コイルＬ１の駆動のための周波数情報および１次コイルの駆動パターン情報の少なくとも一方を設定することができ、これによって、連続送電時の周波数や駆動パターンを適宜、選択することができる。 - 特許庁

By using the digitized image of an uncorrected formed image generated by the picture reproducing system of a test image as the learning pattern of a neural network, digital image data including the test image are defined as learning reference data in a direct learning process.例文帳に追加

ニューラルネットワークを使用し、テスト画像の画像再生システムにより発生された未修正結像のディジタル化画像をニューラルネットワークの学習パターンとして用い、テスト画像の格納されているディジタル画像データを直接学習プロセスでの学習基準データとして定める。 - 特許庁

An unoccupied area capable of arranging the first test pad in a test pad arranging layer immediately the an upper side of the selected processing pattern is searched out of the processing patterns by an unoccupied area searching means 12 based on wiring rule information 31 and target layer information 34.例文帳に追加

そして、配線ルール情報３１とターゲット層情報３４に基づいて、空き領域探索手段１２により、選択された処理パターンの直上のテストパッド配線層に第１テストパッドを配置できる空き領域が処理パターン中から探索される。 - 特許庁

A scan chain circuit 1 temporarily holds data output and input to a combination logic circuit 2 during normal operation, and serially transfers a test pattern signal SCANIn by making a plurality of flip-flops F/F function as a shift register during execution of the scan test.例文帳に追加

スキャンチェーン回路１は、通常動作時には、組み合わせ論理回路２に入出力されるデータを一時保持する一方、スキャンテスト実行時には、複数個のフリップフロップＦ／Ｆをシフトレジスタとして機能させテストパターン信号ＳＣＡＮＩｎをシリアル転送する。 - 特許庁

The test pattern of an LSI for control is stored in a memory LSI as expected value data, and when the input/output timing is adjusted, the device is coped with all of the test patterns in a common discrimination circuit by means of discriminating with comparison of expected value data in the memory LSI and input data.例文帳に追加

制御用ＬＳＩのテストパターンをメモリＬＳＩに期待値データとして記憶し、入出力タイミング調整時には、入力データとメモリＬＳＩ内の期待値データを比較判定することで、共通の判定回路で全てのテストパターンに対応する。 - 特許庁

A second MR element 22 of a plurality of test patterns TEG is provided with the same material, film thickness and track width Tw as those of a first MR element in a thin film magnetic head with the height h formed differently depending on each test pattern TEG.例文帳に追加

複数のテストパターンＴＥＧの第２ＭＲ素子２２は、薄膜磁気ヘッド１０における第１ＭＲ素子３と同一の材料、同一の膜厚及び同一のトラック幅Ｔｗであって、それぞれのテストパターンＴＥＧによってハイトｈが異なるように形成される。 - 特許庁

Also, each gate signal from the main and ancillary gate generation part 206 is inputted in the trim region-test pattern generation part 208, and a gate signal in the arbitrary scanning and ancillary scanning direction is obtained independently, so that a plurality of test patterns can be printed on the same printing paper separately.例文帳に追加

主・副走査ゲート発生部２０６からの各種ゲート信号がトリム領域・テストパターン生成部２０８に入力され、任意の主走査・副走査方向のゲート信号が独立に得られ、複数のテストパターンを、独立して同一の印刷用紙に印字できる。 - 特許庁

When shift resisters 200 that are not to be masked output indeterminate values according to the test pattern at this time, control signals which make the indeterminate mask device 220 mask the output of the shift resister are read from test data, to control the indeterminate mask device 220.例文帳に追加

このときのテストパターンに応じて、マスク対象とならなかったシフトレジスタ２００が不定値を出力する場合に、テストデータから不定マスク器２２０に対して当該シフトレジスタの出力をマスク対象とする制御信号を読み出して不定マスク器２２０を制御する。 - 特許庁

When inputting test tubes into the rack, setting information for controlling a test tube input pattern is output to the rack device based on blood collection instruction information acquired from the terminal of the host system, and the test tubes are input automatically into one rack in the patterned and classified state every patient, and ever hospital ward.例文帳に追加

本発明では、この試験管のラックへの投入に際し、前記上位システムの端末から取得した採血指示情報に基づいて、ラック装置へ試験管投入パターン制御のための設定情報を出力し、一つのラックに、患者ごと又は病棟ごとなどにパターン化して区分けした状態で試験管を自動的に投入するようにしている。 - 特許庁

Plural test patterns are recorded (step S2) on the basis of image data corrected by a partially different correction value α, a test pattern that looks smoothest from among the test patterns is selected visually, a number corresponding to it is inputted (step S3), and a γ-table corresponding to the number is updated as the γ-table for image data correction (step S4).例文帳に追加

部分的に異なる補正値αによって補正された画像データに基づいて、複数のテストパターンを記録し（ステップＳ２）、それらのテストパターンの中から、最も平滑に見えるテストパターンを目視により選択して、それに対応する番号を入力し（ステップＳ３）、その番号に対応するγテーブルを画像データ補正用γテーブルとして更新する（ステップＳ４）。 - 特許庁

A signal A of H level is inputted to a scan test pin 11 to switch an internal circuit 12 to a scan test mode, an OR circuit 13 is operated to cut off a stationary current path of a cell 14 via an inner pin 14a, and a test pattern for scan tests is applied to the internal circuit 12 to execute IDDQ tests, thereby raising the failure detectivity.例文帳に追加

スキャンテストピン１１に‘Ｈ’レベルの信号Ａを入力して内部回路１２をスキャンテストモードに切り換えるとともに、オア回路１３により内部ピン１４ａを経由してセル１４の定常電流パスをオフ状態にし、スキャンテスト用のテストパターンを内部回路１２に印加してＩＤＤＱテストを行なうことにより故障検出率を高める。 - 特許庁

Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.例文帳に追加

試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁

The LCD unit 14 then compares the transmitted test data with a predetermined specified pattern and verifies transmission quality in the display device based on a result of the comparison.例文帳に追加

そして、ＬＣＤ部１４が、伝送されたテストデータと予め決められた規定パターンとを比較し、該比較結果に基づいて、上記表示装置における伝送品質を検証する。 - 特許庁

A counter section 14 counts a period required for executing the pipeline process in the pattern generating section 11 after the automatic program function of a memory under test 20 starts a write operation.例文帳に追加

カウンタ部１４は、被試験メモリ２０の自動プログラム機能による書き込み動作が開始されてからパターン発生部１１でパイプライン処理に要する時間分だけ時間を計時する。 - 特許庁

Upon occurrence of a cancel due to failure of recording during print operation of one page, a test pattern 401 is recorded in the remaining area of a recording medium 8 for which a print job is canceled.例文帳に追加

１ページ印刷中に記録不良によるキャンセルが発生した場合、当該印刷ジョブがキャンセルされた記録媒体８の残領域にテストパターン４０１を記録するようにする。 - 特許庁

In the case of adjusting the position of the sensor block, a deviation in a sub-scanning direction is adjusted by using a test chart expressing a pattern having a straight part inclined from the sub- scanning direction.例文帳に追加

センサブロックの位置の調整においては、副走査方向に対して傾斜した直線部を有するパターンを表したテストチャートを用いて、副走査方向のずれを調整する。 - 特許庁

In a model base OPC, the result of measuring the line width of a test pattern is compared with the calculation result of the model to judge whether or not the fitting residual falls within the tolerance of error (-a, +a).例文帳に追加

モデルベースＯＰＣにおいて、テストパターンの線幅の実測結果とモデルによる計算結果を比較し、まず、フィッティング残差が誤差許容範囲（−ａ、＋ａ）以内であるか否かを判断する。 - 特許庁

For a subset of a test rod pattern design which may be a subset of a fuel bundle in a reactor core, a reactor action is simulated and a plurality of simulation results are produced.例文帳に追加

原子炉の炉心における燃料バンドルのサブセットであっても良い試験ロッドパターンデザインのサブセットに対して原子炉動作がシミュレートされて、複数のシミュレーション結果が生成される。 - 特許庁

The control device controls the conveyance mechanism and the print quality-improving head so that they form a test pattern by conveying the thermosensitive paper and discharging the print quality-improving liquid on the thermosensitive paper.例文帳に追加

そして、制御装置は、感熱紙を搬送するとともに感熱紙に画質向上液を吐出させてテストパターンを形成するように、搬送機構及び画質向上ヘッドを制御する。 - 特許庁

A predetermined internal test pattern for checking a gray level change for each printer is sent and printed out of a copying machine (base unit) 10 to a plurality of printers (slave units) 14a-14c.例文帳に追加

複写機（親機）１０から複数のプリンタ（子機）１４ａ〜１４ｃに対して、プリンタ毎の濃度変動をチェックするための予め定められた内部テストパタンを送出し、印刷出力させる。 - 特許庁

A compressed-data generation means 20 has a function which compresses a test pattern to be given to this LSI tester 100 and which generates compresses data 30.例文帳に追加

ＬＳＩテスタに与えるテストパターンの圧縮データを生成する圧縮データ生成手段と、前記圧縮データに基づきＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタとを含むＬＳＩテストシステムである。 - 特許庁

A signal having a change equal to or more than a fixed level in a waveform is extracted by carrying out the simulation of low accuracy while using a test pattern prepared in accordance with a function being a simulation object.例文帳に追加

シミュレーション対象とする機能に応じて作成したテストパターンを用いて低精度のシミュレーションを実行し、波形に一定以上の変化がある信号を抽出する。 - 特許庁

It can utilize the test pattern provided with lengthened or shortened continuous identical bit (CID) section, or lengthened or shortened pseudo-random bit sequence (PRBS) section.例文帳に追加

長くされ、または短くされた連続同一ビット（ＣＩＤ）部分を有する、または長くされ、または短くされた擬似ランダム・ビット・シーケンス（ＰＲＢＳ）部分を有するテスト・パターンを使用可能である。 - 特許庁

An image of a test object contacted with the transparent rotating roller is read together with the pattern attached to the transparent rotating roller by a one-dimensional imaging element 24 comprising a plurality of imaging elements.例文帳に追加

複数の撮像素子からなる１次元撮像素子２４により、透明回転ローラに付されたパターンと共に透明回転ローラに接触された被検体の画像が読み取られる。 - 特許庁