「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing device which applies test pattern data to many DUTs without complicating a layer constitution of a printed board.例文帳に追加

プリント基板の層構成を複雑化させることなく、多数のＤＵＴに対して試験パターンデータを印加することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The color pattern of the color patch is set in response to the image characteristic (S203), and a test chart by the set color patch is outputted to the printer (S204).例文帳に追加

そして該画像特性に応じてカラーパッチの配色を設定し（Ｓ２０３）、該設定されたカラーパッチによるテストチャートをプリンタに出力させる（Ｓ２０４）。 - 特許庁

An engine controlling CPU performs an operation for measuring the amount of light in a period T2 with a range of the light exposing period T1 for one page for printing the test pattern.例文帳に追加

エンジン制御ＣＰＵは、テストパターンを印刷する１ページ分の露光期間Ｔ１の範囲内の期間Ｔ２にて、光量計測動作を行う。 - 特許庁

To form an image with the quality of a print result image approximately kept constant in a print step without needing to print a special image such as a test pattern, etc.例文帳に追加

テストパターン等の特殊な画像を印刷する必要なく、印刷において印刷結果画像の画質をほぼ一定に維持して画像形成を行う。 - 特許庁

To shorten the input time of an input test pattern for simulation in an LSI comprising low speed operation logic circuits and high speed operation logic circuits mixedly.例文帳に追加

低速動作論理回路と高速動作論理回路が混在するＬＳＩにおけるシミュレーション用入力テストパターンの入力時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a failure detection circuit and a failure detection method capable of easily detecting the failure with a test pattern prepared in a memory BIST circuit.例文帳に追加

メモリＢＩＳＴ回路が持つテストパターンにより容易に故障検出することが可能な故障検出回路、および故障検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for promptly measuring pattern dependence in film thickness, etc., by using nondestructive test of surface shape for an optional chip section on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ上の任意のチップ領域の表面形状を非破壊で検査することによって膜厚のパターン依存性等を迅速に計測すること。 - 特許庁

To provide a projector capable of carrying out automatic focusing and processing of image distortion correction using a test pattern while displaying a video image by an input signal.例文帳に追加

入力信号による映像を表示しながらも、テストパターンを使用したオートフォーカスや画像歪み補正の処理を可能とするプロジェクタを提供する。 - 特許庁

To provide a train control system which acquires accurate step response data by outputting a control command according to a notch pattern for a running test.例文帳に追加

自動で走行試験用のノッチパターンに従って制御指令を出力することで正確なステップ応答データを得られる列車制御装置を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that when a test pattern is formed on a conveying belt, as the difference between the color of the conveying belt and the color of ink is small, it is difficult to accurately read it.例文帳に追加

搬送ベルト上にテストパターンを形成すると搬送ベルトの色とインクの色の差が小さいため正確に読取ることが困難である。 - 特許庁

To solve a problem wherein a user load is high from the viewpoint of cost and productivity when determining whether it is necessary to execute calibration by the recording and color measurement of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンを記録・測色してキャリブレーションを実行する必要があるかを判定するとコストや生産性の観点からユーザー負荷が高い。 - 特許庁

When solutions other than 'all di are 0' are found by solving it, the respective solutions correspond to error generation patterns in the test response pattern 104.例文帳に追加

これを解いて「すべてのｄｉが０」以外の解を求めると、それぞれの解がテスト応答パターン１０４中のエラー発生パターンに対応している。 - 特許庁

To provide a device and method for automatically producing test pattern by which a corrected part can be activated by detecting the difference between an uncorrected circuit and a corrected circuit.例文帳に追加

修正前回路と修正後の回路の差分を検出し、修正箇所を活性化しうるテストパタンを自動生成する装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A test-only wiring pattern 5 is arranged on a base board 1 for every tested pair chip 6 so as to be connected to a testing terminal 10.例文帳に追加

基板１に、各被試験ベアチップ６毎にテスト用の専用パターン配線５を設け、これらの専用パターン配線５をテスト用端子１０に接続する。 - 特許庁

An intermediate value of an upper limit and a lower limit of the delay time by which a correct test data pattern is obtained is set in the delay time of the variable delay elements 134, 144.例文帳に追加

正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間に設定する。 - 特許庁

A failure assuming part 105 generates a failure list 106 in a form to exclude the failure which is not detected by the test pattern 102, based on the toggle information 104.例文帳に追加

故障仮定部１０５は、そのトグル情報１０４から、テストパターン１０２では検出できない故障を除外する形で故障リスト１０６を生成する。 - 特許庁

Upon occurrence of any state change, the printer 100 automatically selects and generate a test pattern corresponding to that state change.例文帳に追加

これにより、プリンタ１００では何らかの状態変化が生じるとその状態変化に対応したテストパターンが自動的に選択されて作成される。 - 特許庁

To provide a test pattern board for manufacturing color filter capable of inspecting a discharging amount and color irregularity, etc. caused when colored layer forming coating liquid is applied.例文帳に追加

吐出量や、着色層形成用塗工液が塗布された際の色ムラ等を検査することが可能なカラーフィルタ製造用テストパターン基板を提供する。 - 特許庁

To provide an easily adaptable technique even in the case that cycle displacements occur in the output data of a device to be measured without rewriting a test pattern.例文帳に追加

被測定デバイスの出力データにサイクルずれが生じた場合においても、テストパターンを書き替えることなく容易に対応する技術の提供。 - 特許庁

An amplifier 38 mixes the test pattern and ID signal and based on the mixed signal, the cable connected to the cable connecting connector 21 can be checked.例文帳に追加

増幅器３８がテストパターンとＩＤ信号とをミキシングし、ミキシングされた信号に基づきケーブル接続コネクタ２１へ接続されたケーブルの検査を可能とする。 - 特許庁

The processed results by the logic section 2 are compared with the pattern data PTN of the output expected values, and the compared results are outputted from a test output terminal 6.例文帳に追加

比較器５では、ロジック部２の処理結果が出力期待値のパターンデータＰＴＮと比較され、その比較結果が試験出力端子６から出力される。 - 特許庁

An image detecting sensor 27 capable of optically reading a test pattern formed on a recording paper surface by impacts of the ink droplets is set at a recording head.例文帳に追加

インク滴の着弾によって記録紙表面に形成されたテストパターンを光学的に読み取り可能な画像検出センサ２７を記録ヘッドに設ける。 - 特許庁

A waveform data generation unit 2 generates a waveform data DW which describes a test pattern signal to be fed to a DUT in synchronization with the rate signal RATE.例文帳に追加

波形データ生成部２は、レート信号ＲＡＴＥと同期して、ＤＵＴに供給すべきテストパターン信号を記述する波形データＤＷを生成する。 - 特許庁

For example, a white input picture and a white (a maximum gradation) test pattern produced in a liquid crystal display device 100 are simultaneously displayed side by side on the screen.例文帳に追加

例えば、白の入力画像と液晶表示装置内で作られる白（最大階調）のテストパターンをオンスクリーンにて同時に並べて表示する。 - 特許庁

To provide a method which optimizes design specifications by evaluating and examining a defogger function obtained with specifications of a hot-wire pattern, etc., under conducted test conditions.例文帳に追加

実施の試験条件のもとで、熱線パターン等の仕様により得られるデフォッガー機能を評価検討し、設計仕様の最適化を行う方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, the edge effect in the conveying direction D16 is restrained, so that the position of each registration mark RM is accurately detected by a test pattern sensor 18.例文帳に追加

このため、搬送方向Ｄ16におけるエッジ効果が抑制されてテストパターンセンサ１８による各レジストマークＲＭの位置検出を精度良く行うことができる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor chip capable of efficiently removing a test pattern in a simple process while keeping versatility.例文帳に追加

テストパターンの除去を汎用性を確保しながら簡素な工程で効率よく行うことができる半導体チップの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The generated burn-in pattern signal is input into the semiconductor device of the tested object attached to a burn-in card 32 to conduct a burn-in test.例文帳に追加

生成されたバーンインパターン信号は、バーンインカード３２に装着された被試験対象の半導体装置に入力されバーンイン試験が行われる。 - 特許庁

To provide a recording medium judging method which can detect the characteristics of a recorded test pattern by a comparatively simple constitution and under a high performance state.例文帳に追加

記録されたテストパターンの特徴を、比較的簡易な構成で且つ性能の高い状態で検出できるような記録媒体判別方法を提供する。 - 特許庁

The present invention includes creating image data D1 of a wedge pattern through a high number of sampling, and thereater, reducing the number of sampling to output a test video signal S1.例文帳に追加

本発明は、くさびパターンの画像データＤ１を高いサンプリング数により作成した後、サンプリング数を低減してテスト用ビデオ信号Ｓ１を出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the transfer quantity of pattern files inside to the minimum to reduce the test time of semiconductors.例文帳に追加

内部におけるパタンファイルの転送量を最小限に抑え、半導体の試験時間を軽減することを可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A patch type test pattern is employed for adjusting positional shift between first and second dots formed at different timings.例文帳に追加

異なるタイミングで形成される第１のドットと第２のドットとの間の形成位置のずれを調整するためのテストパターンとして、パッチ状のパターンを用いる。 - 特許庁

To shorten the time until an timing verified ATPG pattern is obtained by use of STA in a timing verification method of LSI test data.例文帳に追加

ＬＳＩテスト・データのタイミング検証方法において、ＳＴＡの利用によってタイミング検証済みのＡＴＰＧパターンを得るまでの時間を短縮すること。 - 特許庁

The overlay mark includes at least one test pattern for determining a relative shift between a first and a second layer of a substrate in a first direction.例文帳に追加

重ね合わせマークは第１方向における基板の第１および第２レイヤ間の相対的ズレを決定する少なくとも一つのテストパターンを含む。 - 特許庁

To effectively detect bus fight of a data bus when data is written from the outside in a digital processing device such as a test pattern generator or the like in which programming is freely performed.例文帳に追加

試験パターン発生器などのプログラミング自在なデジタル処理装置での外部からのデータの書き込みの際のデータバスのバスファイトを有効に検出する。 - 特許庁

The dislocation of the dot formed when a carriage moves forward and the dot formed when the carriage moves rearward is adjusted using the test pattern by a regular dither matrix.例文帳に追加

キャリッジの往運動時に形成されるドットと復運動時に形成されるドットのずれを、正規ディザマトリックスによるテストパターンを用いて調節する。 - 特許庁

When judging that the toner exists excessively, the image forming apparatus forms the image of a test pattern so as to decrease the toner in the buffer part 202.例文帳に追加

そして、過剰に存在すると判断すると、画像形成装置では、バッファ部２０２内にトナーを減らすために、テストパターンの画像形成が実行される。 - 特許庁

To provide a circuit that can automatically and surely adjust a sampling phase even in the case of a moving picture as well as a still picture such as a test pattern.例文帳に追加

テストパターンなどの静止画像の場合のみならず、動画像の場合であっても自動的に確実にサンプリング位相調整のできる回路を提供すること。 - 特許庁

A test pattern generation system equipped with: EDA tools (11-16); and a file storage part (9) which holds information to which the EDA tools (11-16) refer is constituted.例文帳に追加

ＥＤＡツール（１１〜１６）と、ＥＤＡツール（１１〜１６）が参照する情報を保持するファイル格納部（９）とを具備するテストパタン生成システムを構成する。 - 特許庁

To generate a test pattern for microcomputer high in examining capability without needing the knowledge of the inside of a circuit too much and without increasing a circuit scale.例文帳に追加

回路内部の知識を充分に有すること無く、回路規模を増大させないで、検査能力の高いマイクロコンピュータのテストパターンを短期間で作成する。 - 特許庁

To provide a method and a device for generating a test pattern capable of preventing a trouble detection ratio from lowering or preventing a cost of tester from increasing.例文帳に追加

故障検出率の低下あるいはテスタのコスト増加を防止することが可能なテストパターン発生方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A control unit 21 of an image quality adjusting device 20 generates a test pattern, supplies it to a liquid crystal panel 10 and acquires an output image from a photographing camera 30.例文帳に追加

画質調整装置２０の制御部２１は、テストパターンを生成し、液晶パネル１０に供給し、撮影カメラ３０から出力画像を取得する。 - 特許庁

To modify a test pattern so as to be in accord with input-output switching timing of an input-output terminal of an integrated circuit measured by an input-output switch timer.例文帳に追加

入出力切替えタイミングが測定する集積回路の入出力端子の入出力切替えタイミングに合うようにテストパタンを修正する。 - 特許庁

A pattern generator 10 generates a test pattern to be applied to the semiconductor integrated circuits 30a-30n, and a distributor 13 distributes patterns S1 generated by the generator 10 and outputs them as patterns S4a-S4n.例文帳に追加

パターン発生器１０は半導体集積回路３０ａ〜３０ｎに印加する試験パターンを発生し、分配器１３はパターン発生器１０で発生したパターンＳ１を分配してパターンＳ４ａ〜Ｓ４ｎとして出力する。 - 特許庁