「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

The arrangement region of a test pad used for inspection can be optimized by arranging an input test pad 20a at a pattern region adjacent to the space area of the arrangement region (group 21) of an output test pad 10, thus miniaturizing the semiconductor package.例文帳に追加

出力テストパッド１０の配置領域（グループ２１）の空き領域に隣接するパターン領域の入力テストパッド２０ａを配置することにより、検査時に用いるテストパッドの配置領域を最適化できるため、半導体パッケージの小型化を図ることができる。 - 特許庁

After specifying don't-care-bits as much as possible in response to a test pattern generated in relation to a combination circuit model (S12-4), a condition is assigned again to reduce the number of test conditions and the number of invalid test conditions in relation to the don't-care-bits (S12-5).例文帳に追加

組み合わせ回路モデルに対して生成したテストパターンに対して、可能な限り多くのドントケアビットを特定した後（Ｓ１２−４）、ドントケアビットに対して、テスト状態数および無効テスト状態数が削減されるように状態を再割当する（Ｓ１２−５）。 - 特許庁

To provide an operation method of a menu selectable test program tool for allowing even an inexperienced engineer to make a test pattern program in a short period in a generating method and the device of the menu selectable test program tool, and a device thereof.例文帳に追加

本発明はメニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができるメニュー選択型試験プログラムツールの動作方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a forming method of a developable test program tool for allowing even an inexperienced engineer to make a test pattern program in a short period in the forming method and the device of the developable test program tool, and a device thereof.例文帳に追加

本発明は展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

The burn-in testing device 300 is provided with a test pattern generation means 301 for generating a test pattern for performing a burn-in test, a semiconductor device 302 to be tested, a scan judgement means 303, and a time measurement means 305 controlled by the output signals of the scan judgement means 303 and the output signals of a memory judgement means 304.例文帳に追加

バーンイン試験装置３００は、バーンイン試験を行うためのテストパターンを発生するテストパターン発生手段３０１と、被試験半導体装置３０２と、スキャン判定手段３０３と、スキャン判定手段３０３の出力信号およびメモリ判定手段３０４の出力信号によって制御される時間計測手段３０５を備える。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

The Ethernet-HSD converter includes: an HSD line termination section; a speed conversion section; and an Ethernet frame termination section, and the HSD line termination section has: a means that detects LOOP 2 bits received at the loop test and capsulates a random pattern for the loop test to an Ethernet frame; and a means that uncapsulates the capsulated random pattern for the loop test from the Ethernet frame.例文帳に追加

ＨＳＤ回線終端部と、速度変換部と、イーサネットフレーム終端部とを備え、ＨＳＤ回線終端部は、ループ試験時に送信されるＬＯＯＰ２ビットを検出し、ループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームにカプセリング化する手段と、当該カプセリング化されたループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームからアンカプセリング化する手段とを有する。 - 特許庁

A PN pattern comparison section 16 and a bit number comparison section 17 compare number of the inserted error bits and number E of the error bits in the signal pattern P1 received by the PN pattern synchronization section 15 to conduct the quality test for a line between the transmitters.例文帳に追加

ＰＮパターン比較部１６及びビット数比較部１７により、その挿入したエラービットの数と、ＰＮパターン１５で受信した信号パターンＰ１におけるエラービットの数Ｅとが比較され、伝送装置間の回線の品質試験が行われる。 - 特許庁

Referring to the data, designers or engineers correct the test core loading pattern, carry out simulations and draw up a derived core loading pattern design to ultimately complete them as an acceptable core loading pattern design of the core.例文帳に追加

設計担当者又は技術者はそのデータを見て、試験用炉心ローディングパターンを修正し、シミュレーションを実行して、炉心の受け入れ可能炉心ローディングパターンデザインとして最終的に完成するために、派生炉心ローディングパターンデザインを作成する。 - 特許庁

By means of this image correction device and this pattern test device, a two-dimensional linear model is identified from the pattern image, and using the sum value of identified parameters, a correction pattern image based on a two-dimensional linear prediction model and an interpolation correction image based on bicubic interpolation are switched mutually.例文帳に追加

パターン画像から２次元線形モデルを同定し、この同定パラメータの和の値を利用して、２次元線形予測モデルによる補正パターン画像と双３次補間による補間補正画像とを切り換える画像補正装置、パターン検査装置。 - 特許庁

The test pattern generating circuit controls the alignment transition in the optional pattern for temporarily stopping based on existence, position, and value of the care bit in the k bit specified by the data and the periodicity of the optional pattern with respect to the PRPG 2.例文帳に追加

テストパターン発生回路は、ＰＲＰＧ２に対し、データにより特定されるｋビット内におけるケアビットの有無、位置および値と、任意パターンの周期性とに基づいて、任意パターンにおける配列遷移を一時的に停止可能に制御する。 - 特許庁

In other words, the test pattern CP is printed so that the formation position of a sub-pattern printed by using a second ink lighter than a first ink comes to the center side of the paper S more than the formation position of a first sub-pattern printed by using the first ink.例文帳に追加

つまり、第一インクよりも淡い第二インクを用いて印刷されるサブパターンの形成位置が、第一インクを用いて印刷される第一サブパターンの形成位置よりも、用紙Ｓの中央側に来るように、テストパターンＣＰは印刷される。 - 特許庁

Since the carrying amount after printing the first pattern image before printing the second pattern image is different among the plurality of test pattern images, the extent of error in the carrying amount of each roller can be judged visually.例文帳に追加

ここで、上記複数のテストパターン画像は、第１のパターン画像を印刷してから第２のパターン画像を印刷するまでの搬送量が夫々異なるものであり、各ローラによる搬送量の誤差の度合いが目視により判断可能となっている。 - 特許庁

To provide an imaging device that can eliminate the need for outputting a concealed pattern, in the case of forming an image such as a test pattern processed in terms of software and surely attach the concealed pattern to the image, in the case of forming usual image data supplied in terms of hardware onto a medium.例文帳に追加

ソフトウェア的に処理されるテストパターン等の画像の形成時には隠しパターンを出力することがなく、ハードウェア的に供給される通常の画像データを媒体上に形成する場合には確実に隠しパターンを画像に付加できる。 - 特許庁

To provide a low-cost semiconductor test system which is application- specific where various types of test devices are made into modules which are coupled in a plurality of numbers while an algorithmic pattern generating(ALPG) module is mounted for generating an algorithmic pattern specific to the memory of a device which is to be tested.例文帳に追加

各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスのメモリに固有のアルゴリズミックパターンを発生するためのアルゴリズミックパターン発生（ＡＬＰＧ）モジュールを搭載し、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

A test data pattern is transmitted from the electronic circuit cards 130, 140 to the electronic circuit card 150 at the next stage while changing delay time of the variable delay elements 134, 144 in step to judge propriety of the test data pattern returned from the electronic circuit card 150 at the next stage via a loop return path.例文帳に追加

可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間を段階的に変えながら、試験データパターンを電子回路カード１３０、１４０から次段の電子回路カード１５０に送信し、次段の電子回路カード１５０からループリターンパスを経由して返信された試験データパターンの正否を判定する。 - 特許庁

When a compensation is to be made for the dispersion in the voltage amplitudes of input video signals, a maximum luminance test pattern, which is the object of comparison, is displayed in a portion of on-screen and an operator conducts an adjustment to reduce the difference between the test pattern and the input picture to maximum luminance video signals.例文帳に追加

入力映像信号の電圧振幅のバラツキを補正する際に、比較の対象となる最大輝度のテストパターンをオンスクリーンの一部の領域に表示させ、このテストパターンと最大輝度の映像信号に対する入力画像との差をなくすようにオペレータに調整を行わせる。 - 特許庁

In an address generating section of an arithmetic logic operation section, an address of a semiconductor memory storing a test pattern is generated based on the prescribed calculating equation, this address is sent to a shift register 32 for inputting an address, and a test pattern is written in a semiconductor memory by specifying this address.例文帳に追加

算術論理演算部のアドレス発生部にて、テストパターンを格納すべき半導体メモリのアドレスを所定の演算式に基づいて発生させ、かかるアドレスをアドレス入力用シフトレジスタ３２に送り、このアドレスの指定により半導体メモリにテストパターンが書き込まれる。 - 特許庁

Then, the image-reading part (A) detects the color and surface reflection light quantity of the color image of the test pattern which has been output to the paper sheet, and, on the basis of the detected color and surface reflection light quantity of the color image of the test pattern, the image-forming conditions in the image-forming part 3 are adjusted.例文帳に追加

そして、用紙に出力されたテストパターンのカラー画像の色と表面反射光量とを画像読み取り部Ａで検知し、そのテストパターンのカラー画像の検知された色と表面反射光量とに基づいて、画像形成部３の画像形成条件を調整する。 - 特許庁

When recording a second test pattern, the ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled to record by a second interval longer than the first interval of time between a plurality of scans in recording to the same recording position when the test pattern is recorded.例文帳に追加

そして、第二のテストパターンを記録する際には、テストパターンを記録するときの同一の記録位置への記録における複数回の走査の間の時間の間隔が、第一の間隔よりも長い第二の間隔で記録を行うように、記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁

The test pattern generation method includes a property generation step for outputting a property that describes an operation of a circuit based on circuit information and failure information of a detection object in the circuit, and a format verification step for outputting a test pattern of the circuit based on the property.例文帳に追加

本発明のテストパターン生成方法は、回路情報と、回路における検出対象の故障情報とに基づいて、回路の動作を記述するプロパティを出力するプロパティ作成工程と、前記プロパティに基づいて、回路のテストパターンを出力する形式検証工程とを含む。 - 特許庁

In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained.例文帳に追加

可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方法。 - 特許庁

In the step S32, the transfer material is fed for a test pattern from the paper feeding part set for the succeeding printing operation confirmed in the step S31, and the color balance adjustment is performed after detecting the chromaticity of the test pattern transferred and fixed on the transfer material by a color sensor 26.例文帳に追加

ステップＳ３２では、ステップＳ３１で確認した、以後の印字動作に対して設定された給紙部から、テストパターンのための転写材を給紙して、転写材上に転写・定着したテストパターンの色度をカラーセンサ２６で検知した後に、カラーバランス調整を行う。 - 特許庁

The method includes steps of: performing tests, in which a test pattern is recorded on the optical disk and a write power by which a recording state of the test pattern is optimum is determined, a plurality of times by differently setting a start power each time; and determining the optimum write power of the optical disk using the optimum write power values obtained as the results of the tests.例文帳に追加

テストパターンを前記光ディスクに記録し、記録状態が最適である記録パワーを決定するテストを、開始パワーを異ならせて設定して複数回行うステップと、各テストに対する最適記録パワーを利用して、光ディスクの最適記録パワーを決定するステップとを含む。 - 特許庁

A CPU 21 outputs a second level control signal VCT 1 and an address signal VA for a correction period, and a switching circuit 18 selects a test pattern signal V 16 (R, G, B) providing one measuring fixed image stored in a circuit 16, resulting that the measuring display section 3 displays a test pattern.例文帳に追加

補正期間において、ＣＰＵ２１は第２レベルの制御信号ＶＣＴ１及びアドレス信号ＶＡを出力し、切換回路１８は回路１６が保有する測定用固定１画面を与えるテストパターン信号Ｖ１６（Ｒ，Ｇ，Ｂ）を通し、その結果、テストパターンが測定用表示部３に表示される。 - 特許庁

If an RGB ratio calculated by a control unit 11 using R, G and B values of pixels of the test pattern in the captured image is not within a predetermined target range, the image processing unit 15 continuously adjusts the R, G and B values of the pixels of the test pattern until said ratio becomes a ratio within the predetermined target range.例文帳に追加

撮像画像中のテストパターンの各画素のＲ値、Ｇ値及びＢ値を用いて制御部１１が算出したＲＧＢ比率が所定の目標範囲内の比率でない場合、この比率となるまで、画像処理部１５はテストパターンの各画素のＲ値、Ｇ値及びＢ値を調整する。 - 特許庁

To provide a logic simulator capable of highly accurately measuring the AC characteristics of external input pin of an LSI on an LSI tester with a test pattern for easily verifying the AC characteristics by preparing this test pattern without increasing the number of input terminals of a real device.例文帳に追加

実デバイスの入力端子数を増加することなく容易にＡＣ特性を検証するテストパターンを作成し、この作成したテストパターンでＬＳＩの外部入力ピンのＡＣ特性をＬＳＩテスタ上で高精度に測定可能な論理シミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

Before outputting the test pattern in the calibration, the number of using times of an element exerting influence on image formation such as the cumulative number of drum using times is acquired (s101), and the number of sampling times in the case of reading the test pattern of every element is obtained in accordance with the number of using times (s102).例文帳に追加

キャリブレーションにおいてテストパターンを出力する前に、累積的なドラム使用回数など画像形成に影響を及ぼす要素の使用回数を取得し(Ｓ１０１)、それぞれの使用回数に応じて要素ごとのテストパターン読取りにおけるサンプリング回数を求める(Ｓ１０２)。 - 特許庁

Meanwhile, in the case of a RAM disk or a hybrid disk, the length of the recording information is decided by a data amount decision part 78 and when it is not the required length, a test pattern generated in a test pattern generator 62 of a media side EN/D and servo circuit 60 is written into a RAM area of the disk.例文帳に追加

しかし、ＲＡＭディスクやハイブリッドディスクの場合は、データ量判定部７８によって記録情報の長さが判定され、これが必要な長さでない場合は、メディア側ＥＮ／Ｄ＆サーボ回路６０のテストパターン発生器６２で発生したテストパターンをディスクのＲＡＭ領域に書き込む。 - 特許庁

A memory 22 for events outputs an event signal (signal for specifying the waveform of a test signal S4) stored in an address specified by a pattern signal S1 (S11) outputted from a pattern-generating part 10.例文帳に追加

イベント用メモリ２２は、パターン発生部１０から出力されるパターン信号Ｓ１（Ｓ１１）で指定されるアドレスに記憶しているイベント信号（テスト信号Ｓ４の波形を規定する信号）を出力する。 - 特許庁

In the TEG pattern used for the insulation performance test of a wafer level CSP having an inductance element, the TEG pattern is spirally formed.例文帳に追加

また、本発明の第２の態様は、インダクタ素子を有するウエハレベルＣＳＰの絶縁性テストに使用されるＴＥＧパターンにおいて、前記ＴＥＧパターンは、渦巻き状に成形されていることを特徴とする。 - 特許庁

A density of a gradation test pattern formed by a simple medium tone process control with a small forming number of pattern images is measured (101, 102), and approximated data are obtained by applying approximation processing to detected data (103).例文帳に追加

パターン像の形成数が少ない簡易中間調プロコンにより形成した階調テストパターンの濃度を測定し（１０１，１０２）、検出データに対する近似処理を行って近似データを求める（１０３）。 - 特許庁

To correct a gradation by controlling an output of a test pattern for another image forming device and reading the pattern in an optional one among a plurality of image forming devices connected to each other via a network.例文帳に追加

ネットワークを介して接続された複数台の画像形成装置の任意の一台において、他の画像形成装置のテストパターンの出力を制御し、パターンの読取を行って、階調を補正する。 - 特許庁

To provide a feature-quantity extracting method in which feature quantities can be extracted, before a resist model is optimized and to provide a test pattern selecting method, a resist model creating method and a designed-circuit-pattern verifying method.例文帳に追加

レジストモデルの最適化の前に特徴量を抽出することができる特徴量抽出方法、テストパターン選択方法、レジストモデル作成方法および設計回路パターン検証方法を提供する。 - 特許庁

A cable connecting connector 21 is connected with a cable and performs the transmission of image signal and the reception of data signal, a standard pattern oscillator 34 generates a test pattern, and an ID memory 35 stores an ID number.例文帳に追加

ケーブル接続コネクタ２１がケーブルと接続され画像信号の送出とデータ信号の受信を行い、標準パターン発振器３４がテストパターンを発生させ、ＩＤメモリ３５がＩＤ番号を記憶する。 - 特許庁

If printing of a precoat test pattern has been ordered (S103: YES), the ink waveform selecting unit selects a waveform pattern so that the discharge amount of ink may reach 0 by increasing the smallest threshold value (S104).例文帳に追加

プレコート検査パターンの印刷が指示されていれば（Ｓ１０３：ＹＥＳ）、インク波形選択部が、最も小さい閾値を大きくしてインクの吐出量が０になるような波形パターンを選択する（Ｓ１０４）。 - 特許庁

This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.例文帳に追加

高速動作する試験回路２を有する半導体装置１において、低速ＬＳＩテスター１２から入力する基準クロック，入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路２に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路３を内蔵したものである。 - 特許庁

This semiconductor testing device having a constitution wherein a prescribed test pattern is applied from a PE card to the DUT, and a pattern outputted from the DUT corresponding to the test pattern is compared with an expected value pattern, and coincidence of the patterns is detected, has a fail control means for summarizing fail information of the DUT input through the PE card relative to each DUT, and transferring it to the PE card.例文帳に追加

ＰＥカードからＤＵＴに所定のテストパターンを印加し、ＤＵＴからテストパターンに応じて出力されるパターンを期待値パターンと比較してこれらパターンの一致の有無を検出するように構成された半導体試験装置において、ＰＥカードを介して入力されるＤＵＴのフェイル情報をＤＵＴごとに集約してＰＥカードへ転送するフェイル制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

When an image forming device 107 prints out a test pattern instructed by a pattern instruction 13 on output paper used for a printout in calibration relating to the printout characteristics of an image forming device 107 and an image reader 126 reads the pattern, a read changeover device 11 is used to select an image reading function in response to the type of output paper on which the test pattern is printed out.例文帳に追加

画像形成装置１０７のプリント出力特性に関するキャリブレーションにおいて、プリント出力に用いる出力用紙に対しパターン指示１３によって指示されたテストパターンを画像形成装置１０７によってプリントし、そのパターンを画像読取り装置１２６で読取る際、読み取り切り替え１１によって、テストパターンをプリント出力した出力用紙の種類に応じた画像読取りの機能に切り替える。 - 特許庁

A test pattern forming part makes an inkjet head print a plurality of the line patterns 71 which extend in a paper conveyance direction with respect to each delivering opening.例文帳に追加

テストパターン形成部が、インクジェットヘッドに、各吐出口に関して用紙搬送方向に延在する複数のラインパターン７１を印刷させる。 - 特許庁

To carry out the evaluation of the defect inspection or the like of a test piece having a pattern of a minimum line width of 0.2 μ or less by using a multiple beam at high throughput.例文帳に追加

最小線幅０．２ミクロン以下のパターンを有する試料の欠陥検査等の評価を、マルチビームを用いて高スループットで行なう。 - 特許庁

At the time of adjusting a registration deviation of reciprocatory printing, the printing head prints a test pattern for detecting a printing deviation amount associated with the reciprocatory printing.例文帳に追加

往復印字のレジストレーションずれの調整時に、印字ヘッドは、往復印字に伴う印字ずれ量を検出するためのテストパターンを印字する。 - 特許庁

To detect bridge failure, without having to use additional test pattern for detecting bridge failure and reduce omissions of bridge failure detection.例文帳に追加

ブリッジ故障検出用の追加的なテストパタンを用いることなくブリッジ故障の検出を可能とし、また、ブリッジ故障の検出漏れを減らす。 - 特許庁

In the scan distribution compression mode, a test pattern is supplied from supply terminals 301-30N to scan chains 201-20N provided at stages.例文帳に追加

スキャン分配圧縮モードでは、各段のスキャンチェイン２０１乃至２０Ｎに供給端子３０１乃至３０Ｎからテストパターンが供給される。 - 特許庁

In such a case, a start address instruction line showing a start address number where each test pattern program 101 is stored is attached to the program 101.例文帳に追加

その際に、各テストパタンプログラム１０１に当該テストパタンプログラム１０１が記憶される開始アドレス番号を示す開始アドレス指示行を付加する。 - 特許庁