「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

Carrying amount of each roller can thereby be corrected by performing input operation based on the test pattern image (S160-S210).例文帳に追加

このため、テストパターン画像に基づく入力操作を行わせることで、各ローラによる搬送量を補正することができる（Ｓ１６０〜Ｓ２１０）。 - 特許庁

The stored main signal data is converted into a text file, which is usable in the test pattern formation for the simulator 4 by a data processing part 33.例文帳に追加

データ処理部３３は格納された主信号データをシミュレータ４用のテストパターン作成に使用可能なテキストファイルに変換して出力する。 - 特許庁

To provide an electron beam device to carry out with high throughput evaluation of a test piece such as a semiconductor wafer having a minute pattern of 0.1 μm or less.例文帳に追加

０．１μｍ以下の微細パターンを有する半導体ウエハ等の試料の評価を高スループットで行うための電子線装置を提供する。 - 特許庁

A test pattern 90 including a plurality of segment patterns 91 to 95 in which intervals between adjacent segments are sequentially differentiated is printed and scanned with a sensor.例文帳に追加

隣接する線分の間隔を順次異ならせた複数の線分パターン９１〜９５を含むテストパターン９０を印刷して、センサで走査する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which writing of a test pattern by which short circuit between storage nodes of a memory cell can be detected can be performed quickly.例文帳に追加

メモリセルのストレージノード同士のショートの検出が可能なテストパターン書込を迅速行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

After the post-processing test of the flash memory 1 is performed, these stored data are read by each memory 30 while using the pattern data as the address data.例文帳に追加

フラッシュメモリ１の後工程試験を行った後に、各メモリ３０は、パターンデータをアドレスデータとして用いて、記憶したこれらのデータを読み出す。 - 特許庁

To automatically adjust recording means and freely set timing of the adjustment to thereby prevent waste of ink for a test pattern.例文帳に追加

記録手段の調整を自動で行い、前記調整のタイミングが自由に設定できるようにして、テストパターン用のインクの浪費を防止すること。 - 特許庁

To provide a power voltage fluctuation analysis device certifying the whole power wiring of LSI in a cell unit without using a test pattern.例文帳に追加

テストパターンを用いることなくセル単位でＬＳＩ全体の電源配線の検証を可能にする電源電圧変動解析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an algorithm pattern generator for a memory element test and enabling to optimize the constitution of a memory tester that includes address scrambling and data scrambling.例文帳に追加

アドレススクランブリング及びデータスクランブリングを含んでメモリテスタの構成を最適化できるメモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器を提供する。 - 特許庁

SYSTEM FOR CALIBRATING PRINTING SYSTEM TO COMPENSATE FOR SENSOR ARTIFACT USING NON-COMPLEMENTARY ILLUMINATION OF TEST PATTERN ON IMAGE SUBSTRATE, AND PRINTER例文帳に追加

画像支持体上の試験パターンの補色でない照光を使用してセンサアーチファクトを補償するように印刷システムを較正するシステムおよびプリンタ - 特許庁

To make a test pattern at a level over a wide range possible to be given to a DUT in a terminal circuit connected to the DUT.例文帳に追加

ＤＵＴに接続される終端回路において、ＤＵＴに、広範囲のレベルの試験パターンを与えることができるようにすることである。 - 特許庁

To provide a circuit pattern testing apparatus which facilitates convenient and rapid creation of a recipe, comparison and display of images, setting of test regions, or other operations.例文帳に追加

レシピの作成、画像の比較表示、検査領域の設定などを使い勝手よく、かつ迅速に行う回路パターンの検査装置を提供する。 - 特許庁

When a driving speed of the intermediate transfer belt is defined as V, the length of the test pattern is set so as to satisfy the following expression: L≤{P-(Q_1+Q_2)}×V.例文帳に追加

中間転写ベルトの駆動速度をＶとした場合に、テストパターンの長さＬが、Ｌ≦{Ｐ−(Ｑ_1＋Ｑ_2)}×Ｖを満足するように定める。 - 特許庁

To greatly save the time and trouble for test pattern generation.例文帳に追加

テストパタン作成の手間および時間を大幅に削減することができる半導体装置のテストパターン生成方法およびテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

The test pattern TP has the measuring area aligned linear light blocking parts PTL in a stripe-like form so that predetermined spatial frequency are given.例文帳に追加

テストパターンＴＰは、所定の空間周波数となるように線状の遮光部ＰＴＬがストライプ状に配列された測定領域を有する。 - 特許庁

However, when there is an unexpected pattern of voltage potentials during the voltage contrast inspection, this indicates that a defect is present within the test structure.例文帳に追加

しかし電圧コントラスト検査中に予期されないパターンの電位が存在するとき、これは欠陥がテスト構造内に存在することを示す。 - 特許庁

Flip-flops FF(1,1)-FF(m,n) shift a test pattern SIN at a timing given by branch clocks CLK1-CLKm at the scan diagnosis mode time.例文帳に追加

フリップフロップＦＦ（１，１）〜ＦＦ（ｍ，ｎ）は、スキャン診断モード時に、テストパターンＳＩＮを分岐クロックＣＬＫ１〜ＣＬＫｍが与えるタイミングでシフトさせる。 - 特許庁

A user visually confirms a test pattern thus printed, selects a patch located in the center in the main scanning direction, and inputs that identification information.例文帳に追加

ユーザはこのようにプリントされたテストパターンを目視し、主走査方向の中心に位置しているパッチを選び、その識別情報を入力する。 - 特許庁

In the case that the defective DUT is detected, defective sections are detected by recursively dividing a test pattern and further performing the tests.例文帳に追加

不良であるＤＵＴが発見された場合、テストパターンを再帰的に分割して更に試験することによって、不良箇所を検出する。 - 特許庁

A plurality of test patterns prepared by varying the layout area of line-and-space pattern in different levels of factors are formed on a mask substrate by lithographic processes (S1, S2).例文帳に追加

リソグラフィー処理により、ラインアンドスペースパターンの展開面積を水準振りした複数のテストパターンをマスク基板上に形成する（Ｓ１，Ｓ２）。 - 特許庁

Then, logical simulation being a dynamic verification tool is executed, and variables or conditional expressions activated by a test pattern are stored in a storage part 120.例文帳に追加

次に、動的検証ツールである論理シミュレーションを実行し、テストパターンにより活性化した変数や条件式を記憶部１２０に格納する。 - 特許庁

In addition, the invention refers to a method of determining at least one parameter of a transfer process such as an imaging process making use of such a test pattern 1.例文帳に追加

加えて，テストパターン１を用いるイメージングプロセスのような転移処理の，少なくとも一つのパラメータを決定する方法について言及する。 - 特許庁

To record a test pattern capable of visually confirming variation in the recording characteristics of each recording element at the same level as that in actual recording.例文帳に追加

実際に記録に使用した場合と同じレベルで各記録素子の記録特性のバラツキを確認できる目視確認テストパターンを記録する。 - 特許庁

When a colored state of the test area TR is read as a gray value, a similarity between template information TP representing the colored state of the test area TR stored in a pattern storage means 23 and the test area TR read by a reading means 21 is calculated.例文帳に追加

テスト領域ＴＲの呈色状態が濃淡値として読み取られた際、パターン記憶手段２３に記憶したテスト領域ＴＲが呈色した状態を表したテンプレート情報ＴＰと読取手段２１により読み取られたテスト領域ＴＲとの類似度が算出される。 - 特許庁

In this semiconductor memory test apparatus 1, when a test of a device 20 of a synchronous type to be tested is performed, output data of the device 20 to be tested corresponding to a test pattern is held by an output holding part 11, it is compared with expected value data by an expected value data comparing part 12, and log data are generated.例文帳に追加

本発明の半導体メモリ試験装置１は、同期型の被試験デバイス２０の試験を行う際、テストパターンに対応する被試験デバイス２０の出力データを出力保持部１１で保持し、期待値比較部１２にて期待値データと比較してログデータが生成される。 - 特許庁

Test boards TB1-TB3, which are housed in a non-radiation detecting region NR having a test pattern for performing the quality control test formed thereto and slidable into a radiation detecting region RR at the time of photographing of a subject, are arranged to a photographing stand 5 in which a radiation detector 10 is housed.例文帳に追加

放射線検出器１０を収容した撮影台５に品質管理試験を行うためのテストパターンが形成された、非放射線検出領域ＮＲに収容され被写体の撮影時に放射線検出領域ＲＲ内へスライド可能なテスト基板ＴＢ１〜ＴＢ３が配置されている。 - 特許庁

The tester 36 measures corresponding to each test item in accordance with a test pattern in which a plurality of test items are set in the given order, and determines by a measured result determination part 60 whether the measured result is succeeded or failed, thereby testing the presence or absence of the failure of the solid-state imaging device.例文帳に追加

テスタ３６は、複数の検査項目が所定の順序で設定されたテストパターンに従って各検査項目に応じた測定を行い、その測定結果の良否を測定結果判定部６０で判定することによって、固体撮像素子の不良の有無を検査する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for a semiconductor integrated circuit capable of verifying the quality of a test pattern, by grasping a voltage condition impressed to each transistor, in a reliability test.例文帳に追加

信頼性試験において各トランジスタに印加される電圧状態を把握することによってテストパターンの良否を検証することができる半導体集積回路の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

The machine language data is read through an external bus IF5 and carried out by the CPU 4 to generate a test pattern to the memory chip 2 through a memory IF 6, and the CPU 4 carries out the unit test of the memory chip 2.例文帳に追加

そして、この機械語データをＣＰＵ４が外部バスＩＦ５を介して読み込んで実行し、メモリＩＦ６を介してメモリチップ２へテストパターンを発生させ、ＣＰＵ４がメモリチップ２の単体検査を実施する。 - 特許庁

In a test pattern for scan-designed LSIs, the generator performs a scan-out process 315 for picking up logic values from each flip flop and a scan-in process 316 for writing logic values for the next test in each flip flop at the same time.例文帳に追加

スキャン設計されたＬＳＩに対するテストパターンにおいて、各フリップフロップから論理値を取り出すスキャンアウト処理３１５と、各フリップフロップへ次のテスト用の論理値を書き込むスキャンイン処理３１６とを同時に行う。 - 特許庁

The built-in self-test circuit generates a pattern for memory test in a programmable manner conforming to indication input through the TAP controller and output it, also, compares data read from the external memory with an expected value and judges the data.例文帳に追加

ビルトインセルフテスト回路は、ＴＡＰコントローラを介して入力される指示に従ってプログラマブルにメモリテスト用パターンを生成して出力し、且つ、外部メモリから読み込んだデータを期待値と比較判定する。 - 特許庁

When a lower contact pin 9 is in contact with a signal land 12 of a test wiring board 6, a ground conducting cylinder 11c comes into contact with ground pattern wiring 6a of the test wiring board 6.例文帳に追加

グランド用導体筒１１ｃは、下部接触ピン９が、テスト用配線基板６の信号用ランド１２と接触した際に、該グランド用導体筒１１ｃがテスト用配線基板６のグランドパターン配線６ａに接触する。 - 特許庁

Then the silent zone of data sent from the test server is compared with the by-return received silent time of the test pattern to identify the normality of the sound encoding/the reproducing operation of the TGW based on the comparison result.例文帳に追加

そして、試験サーバが送信したデータの無音区間と、折り返し受信した試験パターンの無音時間とを比較し、その結果をもとにＴＧＷの音声符号化／再生動作の正常性を確認する。 - 特許庁

To verify the test facilitation in the function description of a register transfer level by checking the propagation of data from its input up to its output by an inputted test pattern without correcting a source code to be verified.例文帳に追加

検証対象のソースコードを修正することなく、入力するテストパタンにより入力から出力までのデータの伝搬を調べることによりレジスタトランスファレベルの機能記述においてテスト容易化を検証する。 - 特許庁

Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.例文帳に追加

同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁

When an LSI 37 is fitted to a test board 33, analog circuit blocks 39-42 which are incorporated into the LSI 37 are connected in concatenation through a wiring pattern 38 provided on a test board 33.例文帳に追加

ＬＳＩ３７がテスト用基板３３に装着されると、テスト用基板３３上に設けられた配線パターン３８を介して、ＬＳＩ３７に内蔵されたアナログ回路ブロック３９〜４２が縦続に接続される。 - 特許庁

It also comprises a transmission characteristic gaining means (for example, CPU8 and the like) for gaining the transmission characteristic data of the vibration part when a vibration test is conducted by driving the vibration part with the drive control means based on the test pattern data.例文帳に追加

試験パターンデータに基づいて駆動制御手段に加振部を駆動させて振動試験を行った際の加振部の伝達特性データを取得する伝達特性取得手段（例えば、ＣＰＵ８等）を備える。 - 特許庁

To provide a modification method of a semiconductor integrated circuit which can cut the cost and time for a test by reducing a test pattern by effectively using a spare cell which is originally used only for circuit modification.例文帳に追加

本来回路修正のためだけに使用されるスペアセルを有効利用して、テストパターンを短縮し、テストのためのコストと時間を削減することができる半導体集積回路の修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test device for semiconductor parts which has high speed signal transmitting function, that structure is simplified and expansion in the direction of pin is superior by limiting a function for generating a test pattern by ALPG.例文帳に追加

ＡＬＰＧによる試験パターンの発生機能を限定することにより、構造を簡略化しかつ高速の信号伝送機能を有し、またピン方向への拡張性に優れた半導体部品の試験装置を提供する。 - 特許庁

The image forming apparatus has at least one test print consisting of a designated pattern used for correction processing after image formation, and the white level of the test print on a form is detected to correct correction processing based upon the detected value.例文帳に追加

画像形成された補正処理に使用する為の所定のパターンから成る少なくともひとつのテストプリントを有し、前記テストプリントの用紙の白レベルを検知し、その値によって補正処理に補正をかける。 - 特許庁

To provide a test pattern and a test chart suitable for a bar code generation system, which generates an appropriate bar-code, which satisfies the requirement of each user, quickly with a minimum consumption of ink and paper.例文帳に追加

ユーザ個々の使用条件に合致した適切なバーコードの生成を、短時間に且つ最小限のインクや用紙の消耗で実現することができるバーコード生成システムに適したテストパターンおよびテストチャートを提供する。 - 特許庁

The camera module 40 picks up the image of a test pattern on a test target 86 and the focusing accuracy is determined from the image forming state and the microcontroller 82 judges whether a barrel 40 is extended or not.例文帳に追加

カメラモジュール４０がテストターゲット８６上のテストパターンの画像を撮像し、その画像結像状態から焦点調節精度が求められて、マイクロコントローラ８２はバレル４０を繰り出すか繰り込むかを判定する。 - 特許庁

In the case of generating the simulation test bench of a digital LSI circuit with plural input signal lines, test patterns are generated for every input signal line (a step 10), the test patterns with the same input timing are connected by bit connection for at least two or more input lines and the test pattern file to which the data compression is performed is generated (a step 11).例文帳に追加

複数の入力信号線を持つデジタルＬＳＩ回路のシミュレーションテストベンチを生成する場合において、各入力信号線ごとにテストパターンを作成し（ステップ１０）、それらを少なくとも２本以上の入力信号線について、入力するタイミングが同じものをビット連接により接合し、データ圧縮したテストパターンファイルを生成する（ステップ１１）。 - 特許庁

A means 44 is provided for comparing a fatal region pattern 34 which is generated from design data for forming a wiring pattern and shows necessary indispensable regions corresponding to the center of the wiring pattern with an inspected pattern obtained from wiring patterns on an object under test, thereby detecting the defect from the non-coincidence of both patterns.例文帳に追加

配線パターンを形成するための設計データから生成され前記配線パターンの中心部に対応する必要不可欠な領域を示す致命領域パターンと、前記被検査物上の配線パターンから得た検査パターンとを比較して、両パターンの不一致により欠陥を検出する比較手段４４を有する。 - 特許庁

A controller 50 writes a desired sequence pattern in the sequence pattern generator 23 and selects either the data encoded by a 64B/66B encoder 22 or a sequence pattern issued from the sequence pattern generator 23 and imparts the one selected to a test target device by controlling a data selector 24.例文帳に追加

制御部５０は、シーケンスパターン発生部２３に所望のシーケンスパターンを書き込むとともに、データ選択部２４を制御し、６４Ｂ／６６Ｂ符号化処理部２２によって符号化されたデータとシーケンスパターン発生部２３から出力されるシーケンスパターンとのいずれか一方を選択して被試験対象装置に与える。 - 特許庁