「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

Each bit of the detected bit pattern is subjected to reliability inspection by population parameter average test and, when the reliability of at least one bit is lower than a predetermined level, that bit pattern is not employed.例文帳に追加

検出されたビットパターンは、例えば母数平均検定により、１ビットずつ信頼度検査を行われ、１つでも予め定められた信頼度以下であると、該ビットパターンは採用ビットパターンとしては不採用とする。 - 特許庁

Further, as a whole pattern stop command 38 is not received, a pattern displayed before the power shutdown is redisplayed when power is turned on again without outputting any test shooting information to the outside (connector 20, or the like).例文帳に追加

更に、全図柄停止コマンド３８を受信していないので、外部（コネクタ２０等）に試射試験情報を出力することなく、電源断前に表示されていた図柄を電源再入時に再表示することができる。 - 特許庁

At first, a sheet is fed up to a position where the carrying amount is regulated by means of an LF roller (S110), and a test pattern image is printed such that first and second pattern images are printed at different carrying positions (S120).例文帳に追加

まず、ＬＦローラにより搬送量が調整される位置まで用紙を送り（Ｓ１１０）、第１のパターン画像と第２のパターン画像とが異なる搬送位置で印刷されたテストパターン画像を印刷する（Ｓ１２０）。 - 特許庁

A selector 123 selects the output of the output (a frame data) from a transmission-side upper circuit 121 in the case of normal communication, and selects the output (the pattern body) from a pattern-body generating circuit 122 in the case of the jitter test.例文帳に追加

セレクタ１２３は、通常通信のときに送信側上位回路１２１の出力（フレームデータ）の出力を選択し、ジッタテストのときにはパターン本体生成回路１２２の出力（パターン本体）を選択する。 - 特許庁

In manufacturing a printer, a test pattern is printed for each line head by delivering ink droplets from two line heads arranged on a base material (S102), and the abnormal nozzles of each line head are specified from two test patterns (S103).例文帳に追加

プリンタを製造するには、基材上に配列した２つのラインヘッドからインク滴を吐出することにより、各ラインヘッドについてテストパターンを印刷し（Ｓ１０２）、２つのテストパターンから各ラインヘッドの異常ノズルを特定する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

In this configuration, a predetermined test signal outputted from a signal circuit is inputted into a bump land 54A on one corner out of the serially coupled bump lands, and the test signal is outputted from a bump land 54B of the other corner via the coupling pattern 180.例文帳に追加

そして、直列に連結された一端のバンプランド５４Ａに、信号回路から出力された所定の検査信号が出力され、連結パターン１８０を介して他端のバンプランド５４Ｂから検査信号が入力する。 - 特許庁

To provide a test method for a substrate capable of confirming the connection state of a circuit pattern formed on the substrate by confirming the connection state of an interlocking circuit layer between active elements built in the substrate without providing an additional test circuit layer.例文帳に追加

付加のテスト回路層を備えずに基板に内蔵された能動素子間の連結回路層の接続状態を確認し、基板に形成された回路パターンの接続状態を確認する基板のテスト方法を提供する。 - 特許庁

The electronic device 10 has BIST hardwares 102, 104 provided with a production test mode and a diagnostic testing mode, outputs a response signature by the production mode, and outputs a raw response data by the diagnostic test mode, when the scanning pattern is provided.例文帳に追加

電子デバイス（１００）は、生産テストモードと診断テストモードを備えたＢＩＳＴハードウェア（１０２、１０４）を有し、スキャンパターンを提供すると、生産テストモードで応答シグネチャを出力し、診断テストモードで生応答データを出力する。 - 特許庁

Test input of the random pattern and an output from the memory 101 compose a test input of the logic circuit 103, it is decided whether a fault exists or not by taking the output response into a compression circuit 106 and comparing it with an expected value.例文帳に追加

ランダムパタンのテスト入力と、メモリ１０１からの出力を論理回路１０３のテスト入力とし、その出力応答を圧縮回路１０６に取り込んで期待値と比較することで、不良があったかどうかを判断する。 - 特許庁

Test print data is generated in such a pattern as a character group C, i.e. an aggregate of a plurality of characters, is arranged while being distributed in the row and column directions on a receipt R and superposed on a watermark WM at the time of test print.例文帳に追加

複数のキャラクタの集合体であるキャラクタ群Ｃを、レシートＲ上の行および列方向に分散配置する配置パターンでテスト印刷データを生成し、ウォーターマークＷＭと重ねてテスト印刷を行うものである。 - 特許庁

A printer processor outputs two test prints 61 recording a test pattern, formed on eight parallel straight lines 62a-65b in the main scanning direction and the sub-scanning direction of an exposure part on two photosensitive materials different in length.例文帳に追加

プリンタプロセッサは、露光部の主走査方向及び副走査方向に対して平行な８本の直線６２ａ〜６５ｂで形成されるテストパターンを長さの異なる２枚の感光材料に記録した２枚のテストプリント６１を出力する。 - 特許庁

The printing device prepares test data to output a sample of a letter or graphics (circle, rectangle, image or the like), reads the printed test pattern by a scanner or the like, measures the amount of extension of a sheet by dividing the sheet into appropriate blocks and stores the measured results in a storage device.例文帳に追加

文字や図形（円、矩形、イメージ等）のサンプルの出力されるテストデータを用意し、印刷されたテストパターンをスキャナ等で読み込ませ、用紙を適当なブロック毎に分割して用紙の伸び量を測定し記憶装置に格納する。 - 特許庁

To provide a projector including an automatic trapezoidal distortion correction means capable of measuring a correct tilt angle of a screen even when one test pattern is deviated from the screen while widening intervals of test patterns for calculating the tilt angle.例文帳に追加

傾斜角度算定のためのテストパターンの間隔を広げながら１個のテストパターンがスクリーンから外れた場合にも正しいスクリーンの傾斜角度が計測できる自動台形歪補正手段を有するプロジェクタを提供する。 - 特許庁

All bit lines BL in one word line WL are opened by logical combination of a column activation signal CAS and a test mode signal TM, a test data pattern is written simultaneously in all cells in the word line ML.例文帳に追加

本発明では、１つのワード線ＷＬにおける全ビット線ＢＬを、カラム活性化信号ＣＡＳと試験モード信号ＴＭとの論理的な組み合わせにより開いて、該ワード線ＷＬにおける全セルにテストデータパターンを同時に書き込む。 - 特許庁

To provide a copper foil peeling method of a printed wiring board capable of improving accuracy of a peel strength test, and improving efficiency of a measuring work, by peeling off with a fixed width, a copper foil pattern for the peel strength test.例文帳に追加

ピール強度試験用の銅はくパターンを一定幅で引き剥がすことによりピール強度試験の精度の向上と測定作業の効率向上を実現できるプリント配線板の銅はく引き剥がし方法を提供する。 - 特許庁

A person in charge of inspections visually measures the position/rotation deviation amount of the test chart image 35a relative to the reference pattern 65 from the mask composite image 67 for the test displayed on a monitor 31, and inputs the measured result to the processor device 12.例文帳に追加

検査担当者は、モニタ３１に表示されるテスト用マスク合成画像６７から、基準パターン６５に対するテストチャート画像３５ａの位置・回転ズレ量を目視で測定し、この測定結果をプロセッサ装置１２に入力する。 - 特許庁

A correction arithmetic calculation part 62 arithmetically calculates the average value AV(X) of output gradation values between the respective test images at respective pixel positions X in a main scanning direction for every density pattern based on the image data of the respective read test images.例文帳に追加

補正演算部６２は、読み取った各テスト画像の画像データに基づいて、各濃度パターン毎に、主走査方向の各画素位置Ｘにおける各テスト画像間の出力階調値の平均値ＡＶ（Ｘ）を演算する。 - 特許庁

The image processing system is characterized in such that the printers output the same test pattern, the reader reads the test patterns, gives marks on differences among the print characteristics, a user discriminates the print characteristic on the basis of the marks displayed on a UI and selects an output destination printer.例文帳に追加

複数のプリンタにおいて同一のテストパターンを出力し、１つのリーダーで読み込み、印刷特性の差を点数化し、ＵＩに表示された点数からユーザーが判断し出力先プリンタを選択することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In an incorporated test circuit 150, an internal control signal in accordance with an operation pattern previously set is generated, the selector 124 selects an internal control signal outputted from the incorporated test circuit 150, and outputs it to a bank 1(112).例文帳に追加

内蔵テスト回路１５０では、予め設定された動作パターンに応じた内部制御信号を生成されており、セレクタ１２４は、内蔵テスト回路１５０の出力する内部制御信号を選択し、バンク１（１１２）に出力する。 - 特許庁

Based on the prescribed group on the basis of control signals, the pattern corrector 220 corrects test patterns inputted to the shift registers 200 and individually releases the correction of test patterns of which the corrections by the group are not appropriate.例文帳に追加

パターン修正器２２０は、制御信号に基づいて、シフトレジスタ２００へ入力されるテストパターンを所定のグループ単位で修正し、さらに、グループ単位の修正が適正ではないテストパターンへの修正を個別に解除する。 - 特許庁

When alignment is performed using an electron beam in the test, the acceleration voltage of the electron beam in the electron beam alignment and the acceleration voltage in the pattern test can be set at different voltages.例文帳に追加

また、この検査において、電子線を用いたアライメントを行う際には、電子線アライメントにおける電子線の加速電圧と、パターン検査における電子線の加速電圧とを、異なる電圧に設定することができるようにする。 - 特許庁

To realize a practical IC test system and a data transfer method in the IC test system in which a suitable system corresponding to pattern data is selected in the conventional transfer system and the transfer speed is improved.例文帳に追加

本発明の課題は、従来の転送方式をパタンデータに応じた適切な方式を選択し、かつ転送速度の向上を図った実用的なＩＣテストシステム及びＩＣテストシステムにおけるデータ転送方法を提供することである。 - 特許庁

On the surface of a test medium 32 fed onto a subplaten 12, a test pattern consisting of an array of a plurality of ink dots is printed with ink drops ejected from nozzles arranged on the lower surface of an ink jet head 20 using a subprint means 60.例文帳に追加

サブプラテン１２上に供給されたテストメディア３２表面に、サブプリント手段６０を用いて、インクジェットヘッド２０下面に並ぶノズルから噴射させたインク滴により、複数のインクのドットの配列からなるテストパターンをプリントする。 - 特許庁

To execute in a short time a test for measuring a response characteristic of an IC to be tested by measuring the operable shortest period by changing the application period of a test pattern applied to the IC to be tested, so as to be gradually shortened.例文帳に追加

被試験ＩＣに印加する試験パターンの印加周期を漸次短くなる方向に変化させ動作可能な最短周期を測定し、被試験ＩＣの応答特性を測定する試験を短時間に実行できるようにする。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method for failure verification and its device to simply prepare a test pattern with respect to a logic circuit by using an ATPG without introducing a scan circuit even if a sequence circuit is included in the logic circuit, and to provide a failure verification method and its device, and a program.例文帳に追加

論理回路に順序回路が含まれていても、スキャン回路を導入することなく、ＡＴＰＧを用いて論理回路に対するテストパターンを簡易に作成することができる故障検証用テストパターン生成方法及びその装置、故障検証方法及びその装置、並びにプログラムを提供すること。 - 特許庁

A reflection member 10 is placed on the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor, display is performed in the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor based on prescribed test pattern data, and a displayed image is read by the photosensor of the liquid crystal panel 4 with the built-in photosensor and compared with the test pattern data to inspect defects.例文帳に追加

反射部材１０をフォトセンサ内蔵液晶パネル４の上に置いて、所定のテストパタンデータに基づいてフォトセンサ内蔵液晶パネル４に表示し、当該表示された画像をフォトセンサ内蔵液晶パネル４のフォトセンサにより読み取って前記テストパタンデータと比較して不良を検査するようにした。 - 特許庁

The driver's aid system includes a driver's aid device 5a which causes a display device 4a to display a travel speed pattern which a driver of a test vehicle 6 follows for driving, and a driver's aid auxiliary device 5b which causes an auxiliary display device 4b to display a travel route for performing travel test based on the data for generating a travel speed pattern.例文帳に追加

被試験車両６の運転者が追従して運転するための走行速度パターンを表示装置４ａに表示させるドライバーズエイド装置５ａと、走行速度パターンを作成するデータに基づいて走行試験を行う走行経路を補助表示装置４ｂに表示させるドライバーズエイド補助装置５ｂとを備える。 - 特許庁

From the adaptability related to the candidate position, a corresponding position of the less than 1-pixel unit of the test pattern is obtained (S88), and from the corresponding position of the pixel unit and the corresponding position of the less than 1-pixel unit of the read pixel pitch acquired from the results of S82 and S88, a recording position of the test pattern is calculated (S90).例文帳に追加

候補位置に関する適合度からテストパターンの１画素未満単位の対応位置が求められ（Ｓ８８）、Ｓ８２及びＳ８８の結果から取得された読取画素ピッチの画素単位の対応位置及び１画素未満単位の対応位置からテストパターンの記録位置が算出される（Ｓ９０）。 - 特許庁

By executing a program PG1 for correcting the uneven display in a computer, an uneven display correction system 100 displays a reference image AA as a test pattern PT in the display area of the CRT 105, photographs the displayed test pattern PT with the digital camera 1, and acquires a photographed image CC.例文帳に追加

この表示ムラ補正システム１００は、表示ムラ補正用のプログラムＰＧ１をコンピュータにおいて実行することによって、ＣＲＴ１０５の表示領域においてテストパターンＰＴとしての基準画像ＡＡを表示させ、表示されたテストパターンＰＴをデジタルカメラ１によって撮影して撮影画像ＣＣを取得する。 - 特許庁

A test pattern is written on a carrying belt 2 by an LD that is a correction object (S1), the written test pattern is read by a sensor not shown, which is disposed oppositely to the carrying belt 2 (S2), and a relative slippage of dots is detected to acquire lighting phase information between LDs (light sources) is acquired (S3).例文帳に追加

搬送ベルト２上に補正対象となるＬＤによってテストパターンを書き込み（Ｓ１）、書き込まれたテストパターンは図示搬送ベルト２に対向した配置された図示しないセンサによって読み取られ（Ｓ２）、ドットの相対的なズレが検出され、ＬＤ（光源）間の点灯位相情報が取得される（Ｓ３）。 - 特許庁

A time storing a content of an in-logic-circuit storage element of the test pattern 21 executed with the simulation at first, and a time reading out a content of an in-logic-circuit storage element of the test pattern 21 executed with the simulation at second or thereafter are determined to output storage/reading-out time information 23 therefor (S2).例文帳に追加

１番目にシミュレーションが実行されるテストパターン２１の論理回路内記憶素子の内容を保存する時間、及び、２番目以降にシミュレーションが実行されるテストパターン２１の論理回路内記憶素子の内容を読み出す時間を決定して、それらの保存／読み出し時間情報２３を出力する（Ｓ２）。 - 特許庁

A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.例文帳に追加

試験サーバより、ＴＧＷの音声符号化部とパケット化部を介して、ＴＧＷ内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁

When it is detected that a white streak 61a occurs in the test pattern image 61, it is determined that ink non-discharge occurs and informing information 65 for informing the user of the occurrence of the ink non-discharge is printed on the surface opposite to the surface on which the test pattern image 61 is formed of the paper P.例文帳に追加

そして、テストパターン画像６１に白すじ６１ａが発生していることを検出するとインク不吐出が発生したと判定し、用紙Ｐにおいてテストパターン画像６１を形成した面とは反対側の面に、インク不吐出が発生したことをユーザに報知する報知情報６５を印字する。 - 特許庁

And the optical axis of the test pattern irradiating part 21 is made un-parallel to a straight line orthogonal to the light receiving surface of the imaging element 28, and the optical axis of the part 21 is inclined so that the axis may pass from one of boundary lines constituting the viewing angle θ_1 of the imaging element 28 to the other as the laser light 25a of the test pattern goes ahead.例文帳に追加

そして、テストパターン照射部２１の光軸は、撮像素子２８の受光面に直交する直線に対して非平行にされ、テストパターンのレーザー光２５ａが進むに従って撮像素子２８の画角θ_１をなす一方の境界線から他方の境界線に通過するように傾斜される。 - 特許庁

The monitor luminance adjustment is attained by detecting changes in the density of a film printed with a test pattern (S2 and S3), detecting changes in the luminance of the monitor displaying the test pattern (S7 and S8), and correcting tone luminance conversion characteristics of the monitor so that the detected luminance changes match with or come close to the detected concentration changes (S4 and S11).例文帳に追加

モニタ輝度調整のために、テストパターンが印刷されたフィルムの濃度変化を検出し（Ｓ２、Ｓ３）、テストパターンが表示されたモニタの輝度変化を検出し（Ｓ７、Ｓ８）、検出された濃度変化に対して、検出された輝度変化が一致又は近似するようにモニタの階調輝度変換特性を修正する（Ｓ４、Ｓ１１）。 - 特許庁

In a pattern inspection device with which patterns of a plurality of dies 22 formed on the test piece 2 for inspection are inspected, the pattern inspection device is equipped with a memory device 36 for a stream image to store the stream image of the test piece 2 for inspection, and a DD comparing section 51 to DD compare the patterns of the respective dies 22 in the stream image with one another.例文帳に追加

検査対象試料２に形成された複数のダイ２２のパターンを検査するパターン検査装置において、検査対象試料２のストリーム画像を記憶するストリーム画像用メモリ装置３６と、ストリーム画像内の各ダイ２２のパターンを相互にＤＤ比較するＤＤ比較部５１と、を備える、パターン検査装置。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of detecting an image on recording paper while suppressing a cost increase and a machine-size enlargement caused by an increase in the number of sensors and capable of forming a test pattern for correction and a test pattern for verifying the effect without any waste of the recording paper for appropriately acquiring an image detection effect on the recording paper.例文帳に追加

センサ数を増やすことによるコスト上昇やマシンサイズ増大を抑制しながら記録紙上の画像検知を可能とし、かつ記録紙上の画像検知効果を的確に得るための補正用テストパターンと効果確認用テストパターンの形成を記録紙を浪費することなく行える画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Even if the image sensor 40 which reads the test pattern has a low resolution, tilting of the inkjet recording heads 20Y-20K can be precisely detected in comparison with a configuration of detecting tilting of the inkjet recording heads 20Y-20K to a conveyance direction of the recording medium P by measuring a dot pitch of the test pattern.例文帳に追加

これにより、テストパターンを読み取るイメージセンサ４０が低解像度であっても、テストパターンのドットピッチを測定して記録媒体Ｐの搬送方向に対するインクジェット記録ヘッド２０Ｙ〜２０Ｋの傾きを検出する構成に比して、インクジェット記録ヘッド２０Ｙ〜２０Ｋの傾きを精度よく検出できる。 - 特許庁

In the device and method for adjusting the stereoscopic image display device, a test pattern image is projected on a screen 26 via an aperture member 36 attached to a center projector 24e via the projection lens 28e, and the position of the projection lens 28e is adjusted so that an appropriate test pattern image is obtained.例文帳に追加

本発明は、立体画像表示装置の調整装置及び調整方法に関するものであり、中央のプロジェクタ２４ｅに投影レンズ２８ｅを介して装着したアパーチャ部材３６を介してスクリーン２６にテストパターン画像を投影し、適切なテストパターン画像が得られるように、投影レンズ２８ｅの位置を調整する。 - 特許庁

When the test pattern layout is determined and the operator performs a specified data-forming operation, the dot is formed on the recording face of the recording sheet P by an arrangement of a test pattern TP displayed on the screen of the liquid crystal monitor 302 by a data-forming function 12, and the record controlling data 13 for performing the recording are generated.例文帳に追加

テストパターンレイアウトを決定し、操作者が所定のデータ作成操作を行うと、データ作成機能１２によって、液晶モニタ３０２の画面上に表示されたテストパターンＴＰの配置で記録紙Ｐの記録面にドットが形成されて記録が実行される記録制御データ１３が生成される。 - 特許庁

The image forming apparatus is provided with a first density detection means 17 for detecting image density of a black test pattern formed on the black image carrier 3BK, and a second density detection means 18 for detecting the image density of a chromatic test pattern transferred on the transfer belt 4 from the color image carriers 3Y, 3M and 3C respectively.例文帳に追加

黒用の像担持体３ＢＫに形成された黒テストパターンの画像濃度を検知する第１の濃度検知手段１７と、カラー用の像担持体３Ｙ，３Ｍ，３Ｃから転写ベルト４に転写された有彩色テストパターンの画像濃度をそれぞれ検知する第２の濃度検知手段１８を設ける。 - 特許庁

A principal wiring part separator 1, a wiring central part separator 2, and a wiring end part separator 3 are respectively arranged to a principal wiring part, a wiring central part, and a wiring end part of a test pattern and these separators 1, 2 and 3 loaded to the test pattern are defined as indices for confirming coordinate locations of a defect at the time of observing the defect.例文帳に追加

テストパターンの基幹配線部、配線中央部および配線端部にそれぞれ基幹配線部セパレータ１、配線中央部セパレータ２および配線端部セパレータ３を配置し、テストパターンに搭載したこれら各種セパレータ１，２および３を、欠陥観察の際に欠陥の座標位置を確認する指標とする。 - 特許庁

In such a method, the test pattern is formed such that an interval (F) between some boundary part and an adjacent boundary part in the carrying direction becomes shorter than the carrying amount (2F) of a medium after forming the first pattern of some boundary part before forming the second pattern thereof.例文帳に追加

本発明では、ある境界部とこの境界部の隣の境界部との搬送方向に関する間隔（Ｆ）が、ある境界部の第１パターンを形成してから第２パターンを形成するまでの間の媒体の搬送量（２Ｆ）よりも短くなるように、テストパターンを作成する。 - 特許庁

A measurement pattern table 11 registers a measurement pattern for deciding the speed of the measurement of an execution start time for starting the execution of an operation pattern for a test, the execution end time, and a time from the execution start time to the execution end time for each time zone.例文帳に追加

計時パターンテーブル１１には、テストを行う運行パターンの実行を開始する実行開始時刻、実行終了時刻、及び、実行開始時刻から実行終了時刻までの間の時間の計時をどのような速さで行うかを時間帯毎に定めた計時パターンが登録されている。 - 特許庁