「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

The failure detection decision part 5 compares the simulation results 4a, 4b with each other and decides whether or not the strength failure is detected by the test pattern 12 on the basis of its comparison result.例文帳に追加

故障検出判定部５は、シミュレーション結果４ａ，４ｂを比較し、その比較結果に基づいて、テストパターン１２によって強度故障が検出されるか否かを判定する。 - 特許庁

A tool for adjustment is put on the image reading device to read a test pattern by the imaged element of the image reading device, and a mounting position of a positioning member is adjusted by its image.例文帳に追加

調整用治具を画像読取装置上に載置して画像読取装置の撮像素子によってテストパターンを読みとり、その画像により位置決め部材の装着位置を調整する。 - 特許庁

A fault detection rate calculating circuit 8 calculates the fault detection rate of the test pattern from the results of unit-delay simulation and full-delay fault simulation and outputs it to an output file.例文帳に追加

故障検出率計算回路８は、ユニット遅延シミュレーションおよびフル遅延故障シミュレーションの結果によりテストパタンの故障検出率を計算して出力ファイルに出力する。 - 特許庁

The characteristic value calculation part 610 uses position information obtained from the test pattern image that has been picked up by the image pickup part 600 to calculate the characteristic value of the projection lens 480.例文帳に追加

特性値算出部６１０は、撮像部６００によって撮像されたテストパターン画像から得られる特定の位置情報を用いて、投写レンズ４８０の特性値を算出する。 - 特許庁

To enhance a judging precision of an adjustment test pattern even when there is fluctuation etc. in a conveyance direction on a paper in adjustment of a printing timing of an ink delivering section in a printing apparatus.例文帳に追加

印刷装置におけるインク吐出部の印字タイミングの調整において、用紙における搬送方向にばらつき等がある場合でも、調整用テストパターンの判定精度を高める。 - 特許庁

A correcting means 207 corrects the information 204 stored in the storing means 204 based on the measured result of the density of a prescribed image (test pattern) prerecorded on the recording medium.例文帳に追加

補正手段２０７は、被記録媒体上へ予め記録された所定の画像（テストパターン）の濃度の測定結果に基づいて、記憶手段２０４内の情報２０４を補正する。 - 特許庁

On the basis of the reciprocatory printing deviation amount for each area detected on the basis of this test pattern, a plurality of correction values for independently correcting a printing timing at the plurality of areas are set.例文帳に追加

このテストパターンに基づいて検出されたエリア毎の往復印字ずれ量に基づいて複数のエリアで独立に印字タイミングを補正するための複数の補正値が設定される。 - 特許庁

Further, the nozzles of the group whose amount of light is not higher than the threshold and the nozzles of the group adjacent to the group whose amount of light is not higher than the threshold value are grouped to print a second test pattern.例文帳に追加

ノズルをスキャニング解像度毎にグループ化して、第１テストパターンを印刷し、印刷された第１テストパターンをスキャニングして得られた光量が閾値以下であるグループを検出する。 - 特許庁

In the nozzle defect inspection method, the abnormal nozzles are detected by preventing the erroneous determination by the blurring of ink even though the recording medium for recording the test pattern is the non-coat paper by the above defect determination.例文帳に追加

この不良判断により、テストパターンを記録する記録媒体が非コート紙であっても、インクの滲みによる誤判断を防止して異常ノズルを検出するノズル不良検査方法である。 - 特許庁

The image forming apparatus is composed in such a manner that a test pattern P formed at one side of a running belt 12 is detected so as to compensate image forming conditions based on the detected result.例文帳に追加

走行するベルト１２の一面に形成されたテストパターンＰを検知して、その検知結果に基づき画像形成条件を補正するように構成された画像形成装置である。 - 特許庁

A light output from a light source 102 of an optical sender 101 is modulated by using repetition signals of "0011" from a test pattern generator 105 and a data modulator 103.例文帳に追加

光送信部１０１の光源１０２から出力された光を、試験パターン発生器１０５からの“００１１”の繰り返し信号と、データ変調器１０３を用いて変調する。 - 特許庁

A contents conversion server 2 transmits the data of a test pattern 5 at least a part of which can be displayed to detect a screen format to an onboard terminal 3 provided with a touch panel 3a.例文帳に追加

コンテンツ変換サーバ２がタッチパネル３ａを備えた車載端末３に、画面形式の検知するための、少なくとも一部分を表示可能なテストパターン５のデータを送信する。 - 特許庁

To solve the problem wherein a serviceman has to set an adjustment value again to allow an image forming apparatus to print a test pattern when he cannot obtain an expected image position in confirming print output by the eye.例文帳に追加

サービスマンは印刷出力を目で確認するとき、期待する画像位置が得られない場合、再度、調整値を設定し、テストパターンを画像形成装置に印刷させなければならない。 - 特許庁

The recording position of the test pattern is calculated from the corresponding position of the pixel unit of the reading pixel pitch obtained from the result of S82 and S86 and the corresponding position of the unit less than one pixel (S88).例文帳に追加

Ｓ８２及びＳ８６の結果から取得された読取画素ピッチの画素単位の対応位置及び１画素未満単位の対応位置からテストパターンの記録位置が算出される（Ｓ８８）。 - 特許庁

The test patterns include a plurality of pattern parts P1-1 to P5-1 associated with the design values of density ratio when the image is recorded by the same recording density by using these inks.例文帳に追加

そのテストパターンは、それらのインクによって同一の記録密度で画像を記録したときの濃度比の設計値と関連付けられた複数のパターン部Ｐ１−１からＰ５−１を含む。 - 特許庁

A first calculation part calculates a first density ratio value being the ratio of the density value of an adhesion region related to the first test pattern outputted from the image sensor and the density value of an ink adhesion region.例文帳に追加

第１算出部は、画像センサから出力された第１テストパターンに係る付着領域の濃度値と、インク付着領域の濃度値との比である第１濃度比値を算出する。 - 特許庁

A second calculation part calculates a second density ratio value being the ratio of the density value of an adhesion region related to the second test pattern outputted from the image sensor and the density value of an ink adhesion region.例文帳に追加

第２算出部は、画像センサから出力された第２テストパターンに係る付着領域の濃度値と、インク付着領域の濃度値との比である第２濃度比値を算出する。 - 特許庁

When a test pattern image is projected on the projection object, the size of the projection area is expanded bit by bit by adjusting a zoom lens for projection and the projection area is imaged at each time.例文帳に追加

テストパターン画像を投写対象物に投写する際、投写用ズームレンズを調整して、投写領域の大きさを少しづつ拡大させ、その都度、投写領域を撮像する。 - 特許庁

The density transition of a plurality of the test pattern images is detected by a density sensor 10, and thereby, the number of pixels of the overlap part is determined, and the joint position is adjusted based on the result.例文帳に追加

濃度センサ１０により、複数のテストパターン画像の濃度の推移を検出することで、オーバーラップ部分の画素数を判定し、その結果を基につなぎ目位置を調整する。 - 特許庁

To prevent omission of a function coverage item in the logic circuit function verification function of a system LSI using a random test pattern and a function coverage and the overlook of any failure accompanying the omission.例文帳に追加

ランダムなテストパターンと機能カバレッジを利用したシステムＬＳＩの論理回路機能検証機能における機能カバレッジアイテムの抜け、また、これに伴う不具合の看過を防止する。 - 特許庁

The focusing measuring instrument photographs a prescribed test pattern displayed on a CRT 6 by means of a CCD camera 3 and calculates the energy intensity distribution of the electron beam of the CRT 6 by using the photographed picture.例文帳に追加

ＣＲＴ６に表示された所定のテストパターンをＣＣＤカメラ３で撮像し、その撮像画像を用いてＣＲＴ６の電子ビームのエネルギー強度分布が算出される。 - 特許庁

Thereafter, when a direction key is operated by the user, the control part moves the test pattern TP by a predetermined distance (for example, distance equivalent to one pixel) in a direction corresponding to the operated direction key.例文帳に追加

その後、ユーザにより方向キーが操作されると、制御部は、テストパターンＴＰを、操作された方向キーに対応する方向に所定の距離（例えば、１画素分）だけ移動させる。 - 特許庁

This semiconductor device is provided with a wiring region 100 for valuation including second wiring 10 for electromigration test evaluation and heat radiating parts 11 arranged with a prescribed pattern.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、所定のパターンで設けられたエレクトロマイグレーション試験評価用の第２の配線部１０と、放熱部１１とを含む評価用配線領域１００を有する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a semiconductor integrated circuit including an equalization process for generating a burn-in test pattern for equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化するバーンインテストパターンを生成する平準化工程を含む半導体集積回路の検査方法の提供。 - 特許庁

To reduce noise due to a circuit pattern for performing highly sensitive detection of foreign matter or a defect causing real damage on a test object having a transparent film such as an oxidation film.例文帳に追加

酸化膜などの透明膜が存在する被検査対象に対して、回路パターンに起因するノイズを低減させることで、実害になる異物又は欠陥を高感度に検出可能とする。 - 特許庁

The scanner section 1 reads out the printed density test pattern 41, measures the density thereof based on the read out results and then corrects the gamma table 142 based on the measurement results of density.例文帳に追加

スキャナ部１が、印刷された濃度テストパターン４１を読み取り、この読取の結果に基づいてその濃度を測定し、この濃度の測定の結果に基づいてガンマテーブル１４２を補正する。 - 特許庁

From a second measured density curve 204 based on the read data of a test pattern 200 which is based on the correction LUT 1, a pixel value D2 required for obtaining the target value X is calculated.例文帳に追加

補正ＬＵＴ１に基づくテストパターン２００の読み取りデータに基づいた２回目の測定濃度曲線２０４から目標値Ｘを得るために必要な画素値Ｄ２を算出する。 - 特許庁

After the display is given, it is determined whether a document has been set with a pressure plate opened and an empty space left between the test pattern and the original point of the document table and the start button has been depressed.例文帳に追加

表示後、圧板を開けた状態で、テストパターンと原稿台の原点の間に隙間をあけた状態で原稿をセットし、スタートボタンが押下されたか否かが判断される。 - 特許庁

To perform secondary transfer without causing the back surface staining of transfer material even in the case of forming a test pattern for controlling density in a non-image area on an intermediate transfer body in the midst of forming an image.例文帳に追加

画像形成中の中間転写体上の非画像領域に濃度制御用のテストパターン形成しても、転写材の裏汚れを起こすことなく２次転写を行う。 - 特許庁

To provide a method for dividing a wafer by which the wafer having a metal pattern for test formed on a surface of a street can be cut along the street while burring is suppressed.例文帳に追加

ストリートの表面にテスト用の金属パターンが形成されているウエーハを、バリの発生を抑制してストリートに沿って切断することができるウエーハの分割方法を提供する。 - 特許庁

This network video adjustment system is so constituted that a projector 1 as a master and projectors 2 to 4 as slaves having received a request from the projector 1 as the master cut and enlarge parts of a test pattern image that is being in charge of the projectors 2 to 4.例文帳に追加

マスタのプロジェクタ１、および、マスタのプロジェクタ１からリクエストを受けたスレーブのプロジェクタ２乃至４は、担当するテストパターン画像の一部分を切り出して拡大する。 - 特許庁

To improve visibility of a test pattern drawn for confirming whether each printing element for forming dots on paper works normally, and reduce the time required for determination.例文帳に追加

用紙上にドットを形成する個々の印字エレメントが正常に動作しているかを確認するために描画されたテストパターンの視認性を向上し、判定に要する時間を短縮する。 - 特許庁

A latent image carrier 2 and an intermediate transfer unit (an intermediate transfer belt 5 and a transfer roller 6) are separated from each other, and then a test pattern 1 is generated on the latent image carrier 2.例文帳に追加

潜像担持体２と中間転写ユニット（中間転写ベルト５と転写ローラ６）とを離間し、中間転写ユニットを離した後で、潜像担持体２上にテストパターン１を作成する。 - 特許庁

To generate a test pattern in a good efficiency for verifying a logic circuit having a specific state transition without taking a man-hour at a logically verifying time of a long time according to many types of data packets.例文帳に追加

多種データパケットによる長時間の論理検証時にも工数が掛からず、特定の状態遷移を持つ論理回路の検証にも効率の良いテストパターンを発生する。 - 特許庁

The mirror 16 held by the mirror holding portion 46 is inserted so as not to come into contact with the mirror opening 27 and image light produced by a test pattern producing portion 44 is projected on a screen 47.例文帳に追加

ミラー保持部４６で保持されたミラー１６がミラー開口２７に接触しないように挿入し、テストパターン生成部４４で生成した画像光をスクリーン４７に投写する。 - 特許庁

Before the post-processing test of a flash memory 1 is performed, data of chip codes stored in each flash memory 1, defective block information, etc. are stored in each memory 30 while using pattern data as address data.例文帳に追加

フラッシュメモリ１の後工程試験を行う前に、各メモリ３０は、パターンデータをアドレスデータとして用いて、各フラッシュメモリ１に記憶されたチップコード、不良ブロック情報等のデータを記憶する。 - 特許庁

The test pattern has a plurality of patterns 300 independent of each other for independently detecting a reciprocatory printing deviation amount at a plurality of areas in the scanning-movement direction of the printing head.例文帳に追加

このテストパターンは印字ヘッドの走査方向において複数のエリアで独立に往復印字ずれ量を検出するための互いに独立した複数のパターン３００を有する。 - 特許庁

In a test response pattern 104, when the logical value of a bit position (i) is 0, it is replaced with a logical variable di, and when the logical value of a bit position (j) is 1, it is replaced with a logical variable/dj.例文帳に追加

テスト応答パターン１０４において、ビット位置ｉの論理値が０であれば論理変数ｄｉで置換し、ビット位置ｊの論理値が１であれば論理変数／ｄｊで置換する。 - 特許庁

In an illustrative practice pattern, the test piece collecting device can work in water and includes a base plate (72) and an electrode assembly (74) linked to it so that the assembly (74) can move.例文帳に追加

例示的な実施形態において、試料採取装置は、水中で作動可能であり、ベースプレート（７２）と該ベースプレートに移動可能に結合された電極組立体（７４）とを含む。 - 特許庁

To make a test pattern necessary for inspecting micro delays to a scan-designed semiconductor integrated circuit producible and to inspect micro delays.例文帳に追加

スキャン設計された半導体集積回路に対して、過小遅延の検査に必要なテストパターンを生成できるようにすると共に、過小遅延に対する検査を行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a test device for performing template matching in a retrieval image for outputting an accurate matching position even when a pattern similar to a template exists in a retrieval image.例文帳に追加

探索画像中にテンプレートと類似したパターンが存在する場合でも正確なマッチング位置を出力する、探索画像においてテンプレートマッチングを行う検査装置を提供する。 - 特許庁

An outputted test pattern 34B shows the case that three image defects (38M and 38Y) exist, and the image defect is eliminated by cleaning a seal glass 30M corresponding to the color.例文帳に追加

出力されたテストパターン３４Ｂは、３箇所の画像欠陥（３８Ｍ、３８Ｙ）が存在する場合を示しており、この色に対応するシールガラス３０Ｍを清掃すれば、画像欠陥は無くなる。 - 特許庁

A plurality of test patterns having the same on pixel density and a different relative position to a pattern detection matrix are outputted and a pulse width corresponding to a code is set such that their densities are equalized.例文帳に追加

オン画素密度が同じで、パターン検出マトリクスとの相対位置が異なる複数のテストパターンを出力し、それらの濃度が同じになるように、コードに対応するパルス幅を設定する。 - 特許庁

A pattern generation part 5 generates information on the relation of input/output signals required for generating test data based on information on a function description stored in the component database 4.例文帳に追加

パターン生成部５はコンポーネントデータベース４に格納された機能記述に関する情報を元に、テストデータ生成に必要な入出力信号の関係等の情報を生成する。 - 特許庁

To provide a failure verification device verifying a test pattern related to a fault caused by a delay and shortening the time required for a fault verification.例文帳に追加

遅延が原因となる故障に関してテストパターンを検証することができると共に、故障検証に要する時間を短縮化することができる故障検証装置を提供する。 - 特許庁