「test-pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an image scanner, image position deviation detecting method, and storage medium in which the state of position deviation between a reading position that is ideal in design for a pattern image formed on a test document or the like and a reading position of an actually read pattern image can be detected without performing any complicated image processing in the image reading device that reads image data of documents.例文帳に追加

原稿の画像データを読取る画像読取装置において、テスト原稿などに形成されたパターン画像に対する設計上理想的な読取位置と実際に読取ったパターン画像の読取位置との位置ずれ状態を複雑な画像処理を行うことなく検出することを可能とする画像読取装置、画像の位置ずれ検出方法、及び記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加

干渉計１０は、ソースビーム１４を試験ビーム４０及び基準ビーム４２に分割するビームスプリッタ３２と、干渉パターンを検出する結像デバイス２４と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー３８と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー４４と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構３４と、を含む。 - 特許庁

This circuit is provided with a memory 10 provided with an additional memory cell for storing defective data bit information on a memory cell, a comparing circuit 20 comparing output data DATO of the memory 10 with its expected value EXP for each data bit, and a BIST circuit 30 generating a required and sufficient test input pattern for detecting the defect of memory cells constituting the memory 10 and the expected value EXP and controlling test sequence.例文帳に追加

メモリセルの不良データビット情報を格納するための付加メモリセルを備えたメモリ１０と、そのメモリ１０の出力データＤＡＴＯとその期待値ＥＸＰをデータビットごとに比較する比較回路２０と、そのメモリ１０を構成するメモリセルの不良を検出するために必要十分なテスト入力パターンおよび上記期待値ＥＸＰを発生しテストシーケンスをコントロールするＢＩＳＴ回路３０とを備えた。 - 特許庁

This scanner characteristic evaluating device is characterized in that when receiving irradiation of a laser beam, a mask 62 of a chrome film is arranged on a color glass filter 61 having a property of emitting fluorescence, and a regular test pattern 63 for exposing the color glass filter is formed by an opening part of the mask.例文帳に追加

レーザ光の照射を受けると、蛍光を放出する性質を有する色ガラスフィルタ６１上に、クロム膜のマスク６２が設けられ、マスクの開口部によって、色ガラスフィルタが露出される規則的なテストパターン６３が形成されたことを特徴とするスキャナの特性評価用デバイス。 - 特許庁

Further, applying abnormal value elimination processing and equalization processing or like processing to a plurality of pixels on the test pattern image set and read in this way and arranged in a subscanning direction of the image output section eliminates the effect of stripe-shaped read errors caused in the image read section.例文帳に追加

そして、このようにセットされて読取られたテストパターン画像において、画像出力部の副走査方向に並ぶ複数の画素に対して異常値除去処理や平均化処理などを行うことで、画像読取部で発生した筋状の読取り誤差の影響を取り除く。 - 特許庁

To conduct testing of a resist pattern formed by an aligner to correct parameters of the aligner on a real-time basis, and to unequivocally discriminate a variance of parameters of the aligner on the basis of the test result to control the parameters of the aligner in high accuracy.例文帳に追加

露光装置を用いて形成されたレジストパターンの検査を高速に行い、露光装置のパラメータの補正をリアルタイムで行うことを可能にすると共に、検査結果をもとに露光装置のパラメータ変動を一義的に判別し、露光装置のパラメータ管理を高精度に行うことを可能にする。 - 特許庁

The nozzle pitch is detected based on an image of a pattern of the organic EL liquid on a test coating surface which is obtained by a CCD camera 13 and the pitch in the secondary scanning direction of the plurality of the nozzles 17 is adjusted by a pitch adjusting mechanism 3 based on the detected result.例文帳に追加

そして、ＣＣＤカメラ１３により取得された試験塗布面上の有機ＥＬ液のパターンの画像に基づいてノズルピッチが検出され、検出結果に基づいて複数のノズル１７の副走査方向におけるピッチがピッチ調整機構３により調整される。 - 特許庁

To provide an active energy ray-curing color composition developable with an alkali and having improved aggregation force and water proof property by crosslinking of carboxyl groups and hydroxyl groups during post baking without influencing the developing property or pattern adaptability so much, and having excellent adhesion property and PCT (pressure cooker test) durability.例文帳に追加

現像性やパターング適性に大きな影響を与えることなく、ポストベーク時のカルボキシル基およびヒドロキシル基の架橋により凝集力と耐水性を向上でき、密着性とＰＣＴ耐性に優れた、アルカリ現像可能な活性エネルギー線硬化性着色組成物の提供。 - 特許庁

When the user views the image density of the printed first test pattern and inputs a correction value from an operation part 104, the CPU 1011 calculates and updates potential data in the photoreceptor potential characteristic uneven data memory 105, based on the information of the input correction value (S4).例文帳に追加

使用者が、印字された第１のテストパターンの画像濃度を見て、操作部１０４から補正値を入力すると、ＣＰＵ１０１１は、この入力された補正値の情報に基づき、感光体電位特性ムラデータメモリ１０５の電位データを計算して更新する（Ｓ４）。 - 特許庁

Then, a pulsive input signal is applied to the first parasitic diode 19 between the drive pin 16 and a ground pin 18 and a substrate resistor 20, and an output signal generated between a pattern 17a on the circuit board, where the test pine 17 is jointed, and the ground pin 18 is detected.例文帳に追加

そして、ドライブピン１６とグランドピン１８との間の第一寄生ダイオード19及びサブストレート抵抗２０にパルス状の入力信号を印加し、テストピン１７が接合させるべき回路基板上のパターン１７ａとグランドピン１８との間に発生する出力信号を検出する。 - 特許庁

To detect misregistration any time even in the case of a test patch pattern formed by any type of toner, and when correcting the misregistration, to reliably detect and correct the misregistration even when detection errors occur due to flapping, an indentation, and scarring in an intermediate transfer body.例文帳に追加

どのような種類のトナーで形成されたテストパッチパターンにおいても、随時位置ずれを検出し、これを補正する場合は、中間転写体のばたつきや、打痕、傷による誤検出が発生しても、確実に位置ずれを検出し、位置ずれの補正をすることが可能になる。 - 特許庁

The circuit element group where a plurality of circuit elements are arranged and a pad group where pads for electrically performing the input/ output to their circuit elements are arranged and a wiring pattern group for connecting the circuit elements with the pads are made into one component, and four components are independently arranged in the test element group.例文帳に追加

複数の回路素子を配置した回路素子群とそれら回路素子に電気的な入出力を行う為のパッドを配置したパッド群と回路素子とパッドを接続する配線パターン群をひとつの構成要素とし、評価素子群内に４構成を独立配置する。 - 特許庁

To provide a method for calculating display characteristics correction data for an image display apparatus, capable of calculating correct correction data at all times, even when abnormality data are captured as photographing data due to changes in the external light or blocking-off of photographing by an obstacle in the case of photographing a test pattern.例文帳に追加

テストパターンの撮影時に外光が変化したり障害物で撮影が遮られて撮影データに異常なデータが取り込まれたりした場合でも、常に正しい補正データを算出できる画像表示装置の表示特性補正データ算出方法を提供する。 - 特許庁

Before inspecting an inspection object 1, the light quantity of a test pattern 1a is measured with an accumulation type line sensor 7, whether the measurement results are within a predetermined reference value range is judged, calibration is conducted according to the judgment, and then the inspection object 1 is inspected.例文帳に追加

検査対象１を検査する前には、テストパターン１ａの光量を蓄積型ラインセンサ７で測定し、測定結果が予め定められている基準値範囲内に入っているかを判断し、それに応じてキャリブレーショウンを行い、その後に検査対象１を検査する。 - 特許庁

To reduce an influence on density information even if there exists a nozzle with poor delivery when conveying error of a roller generated by an eccentricity or the like is detected from the density information of a test pattern with a patch consisting of two patch elements whose density is changed by a condition of overlapping.例文帳に追加

偏心などによって発生するローラの搬送誤差を、重なりの状態によって濃度が変化する２つのパッチ要素からなるパッチを有するテストパターンの濃度情報に基いて検出する際、吐出不良のノズルがあっても、濃度情報への影響が軽減されるようにする。 - 特許庁

To make only a nozzle head having a defective nozzle perform a suction recovery action by printing a test pattern even for a droplet discharge head whose nozzle pitch is unequal.例文帳に追加

ノズルピッチが不等ピッチである液滴吐出ヘッドであっても、テストパターンを印刷することにより、不良ノズルを有するノズルヘッドだけを吸引回復動作できるようにした液滴吐出装置におけるテストパターン印刷方法とメンテナンス方法及び液滴吐出装置の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide a test pattern image for correcting a color shift when applied to an image forming method using toner so controlled as to maintain a color developing or non-color-developing state upon provision with color development information by light; a color shift correction method; and an image forming apparatus.例文帳に追加

光による発色情報の付与により発色または非発色の状態を維持するように制御されるトナーを用いた画像形成方法に適用した場合に、色ずれを補正することができる、テストパターン画像、色ずれ補正方法、及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The print management device compares the received image data with original data of the test pattern image stored in a print execution database 34 to determine whether print is abnormal or not and outputs maintenance data corresponding to the determination result to competent management servers 40 for managing execution of maintenance of corresponding printers.例文帳に追加

そして、受信した画像データと印刷実行データベース３４に記憶しているテストパターン画像の元データとを比較して印刷異常の有無を判定し、その判定結果に対応するメンテナンスデータを、対応する印刷装置のメンテナンスの実行を管理する管轄管理サーバ４０に出力する。 - 特許庁

The multi-layered printed wiring board (1) is formed by laminating an internal layer circuit board (4) between two outermost layer copper foils across prepregs in one body, the multi-layered printed wiring board having a closed circuit as a test pattern (6) outside a circuit formation region (5) of the inner circuit board (4).例文帳に追加

二枚の最外層銅箔の間に、プリプレグを介して内層回路基板（4）が積層一体化されてなる多層プリント配線板（1）であって、内層回路基板（4）の回路形成領域（5）外に、テストパターン（6）としての閉回路を有することを特徴とする多層プリント配線板とする。 - 特許庁

A test pattern is recorded in a continuous recording medium by a first image recording part 7 and a second image recording part 8 in at least one period out of a period of acceleration until the conveyance speed of the continuous recording medium reaches the fixed speed and a period of deceleration for the stop of conveyance.例文帳に追加

連続記録媒体の搬送速度が一定の速度に到達するまで加速している間若しくは搬送を停止するために減速している間の少なくとも一方の期間において、テストパターンを第１画像記録部７と第２画像記録部８によって連続記録媒体に記録する。 - 特許庁

The inkjet recording apparatus includes an upstream-side conveyor arranged on a conveyance upstream side of a recording head and a downstream-side conveyor arranged on a conveyance downstream side thereof, and determines, by recording a test pattern on a sheet, a conveyance correction amount when conveyance is performed only by the downstream-side conveyance part.例文帳に追加

記録ヘッドの搬送上流側に配された上流側搬送手段と搬送下流側に配された下流側搬送手段とを備え、シートにテストパターンを記録することによって下流側搬送手段のみで搬送を行うときの搬送補正量を求めるインクジェット記録装置である。 - 特許庁

To solve the problem that a recording medium formed of a normally used paper or the like does not guarantee a quality because the recording medium expands and contracts after recording a test pattern and an obtained medium conveyance amount error value is lowered in accuracy if the physical length or area of the medium expands and contracts due to moisture or the like.例文帳に追加

通常使用される紙等からなる記録媒体は、湿気等によって物理的長さ或いは面積が伸縮した場合には、テストパターンを記録した後に記録媒体が伸縮し、求めた媒体搬送量誤差値の精度が低くなり品質を保障しない。 - 特許庁

Along the scribe line on a semiconductor wafer 360, a groove 363 is formed using a cutter blade 201 thicker than the width of a test pattern 362 on the semiconductor wafer and then the inside of the groove 363 is cut by means of a thinner cutter blade 202.例文帳に追加

半導体ウエハ３６０におけるスクライブラインに沿って、まず、半導体ウエハ上のテストパターン３６２の幅よりも厚い刃厚を有する切断刃２０１を用いて凹溝３６３を形成し、次に、この凹溝３６３内を、薄い刃厚を有する切断刃２０２によって切り込み、切断する。 - 特許庁

The discrimination of the beer turbidity is carried out based on a cleavage pattern by a restriction enzyme, obtained by amplifying a part of a B-gene region of the test Lactobacillus brevis strain by using as DNA gyrase subunit B gene (gyrB)-specific primer, and cleaving the amplified DNA fragment by the restriction enzyme.例文帳に追加

DNAジャイレースサブユニットB遺伝子（gyrB）特異的プライマーを用いて、被検ラクトバチルス・ブレビス菌株の該B遺伝子領域の一部を増幅して、得られた増幅ＤＮＡ断片を制限酵素で切断し、得られた制限酵素切断パターンに基づき、そのビール混濁性の判定を行う。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a semiconductor device in which a short circuit caused by fragments of a test pattern is prevented at the time of mounting the semiconductor device by improving the dicing process of a semiconductor wafer, and the yield of an electrooptic device mounting the semiconductor device can be enhanced.例文帳に追加

半導体ウエハの分割工程を改善することによって、半導体装置を実装する場合のテストパターンの破片に起因する短絡不良を防止し、さらに、半導体装置を実装した電気光学装置の歩留まりを向上させることのできる製造方法を提供する。 - 特許庁

A contact probe 13 is arranged corresponding to an arrangement pattern of a test pad 11 provided in a circuit formation domain 5a which is an inspection object on the upper surface of a holder substrate 15 provided on this contact unit 2, and an inspection probe group 14a-14d is arranged corresponding to dummy pads 7a-7d.例文帳に追加

コンタクトユニット２に備わるホルダ基板１５の上面には、検査対象たる回路形成領域５ａに備わるテストパッド１１の配置パターンに対応してコンタクトプローブ１３が配置されると共に、ダミーパッド７ａ〜７ｄに対応して、検出プローブ群１４ａ〜１４ｄが配置される。 - 特許庁

To provide an optical disk drive and its control method in which a laser diode is controlled stably without affecting to other data by recording a test pattern in at least one region out of a run-in area and a run-out area of a recording unit block and detecting the characteristics of the laser diode.例文帳に追加

記録単位ブロックのラン−イン領域とラン−アウト領域のうち少なくとも一つにテストパターンを記録し、レーザーダイオードの特性を検出することで、他のデータに影響を及ぼすことなく、レーザーダイオードを安定的に制御する光ディスクドライブ及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

To ensure sharp, high image quality of images of various forms, to simplify image density control by use of a test pattern, thereby shortening control time, and reducing a quantity of toner consumed, and to appropriately control the density of a solid part.例文帳に追加

多様な形態の画像に対して鮮明で高品質な画質を確保することができ、またテストパターンによる画像濃度制御を簡略化して制御時間を短縮すると共にトナーの消費量を削減することができ、さらにベタ部の濃度を適切に制御することができるようにする。 - 特許庁

A test pattern generated in a function tester 11 is supplied to the good and defective semiconductor integrated circuits, and hot electron is emitted from the failure position of the semiconductor integrated circuit in the operating state, and detected as the emission image by an emission analytic device 12.例文帳に追加

ファンクションテスタ１１で発生されるテストパターンが良品及び不良品の半導体集積回路に供給され、動作状態の半導体集積回路の故障している箇所からホットエレクトロンが放出され、エミッション解析装置１２によって発光像として検出される。 - 特許庁

The memory tester provided with an ALPG 2 which generates a test pattern for digital signals based on vector data VD is enabled to verify the function of a DUT 100a having an A/D-converting function by adding a D/A converter 4 to the inside or outside of the tester.例文帳に追加

デジタル信号のテストパターンをベクタデータＶＤに基づいて発生させるＡＬＰＧ２を備えるメモリテスタの構成に、テスタ内蔵の、または、テスタ外部に設けられたＤＡ変換器４を追加して、ＡＤ変換機能を有するＤＵＴ１００ａの機能の検証を行えるようにする。 - 特許庁

Then, the developer image as a test pattern is formed on the transfer member by carrying out an image forming action transferring the developer image by applying the transfer bias set to the "ghost occurrence level" with a transporting member for transporting a medium for recording or a material for recording as the transfer member.例文帳に追加

そして、被記録媒体若しくは被記録媒体を搬送するための搬送部材を被転写部材として、ゴースト発生レベルに設定された転写バイアスを印加して現像剤像を転写する画像形成動作を行い、被転写部材にテストパターンとしての現像剤像を形成する。 - 特許庁

A reference image recording apparatus records a test pattern image on the electronic paper being a calibration object and derives paper calibration data for correcting variations in the finish of the recording image due to the electronic paper being the calibration object on the basis of the finish of the image (refer to Figure 2 (A)).例文帳に追加

基準としての画像記録装置により校正対象の電子ペーパにテストパターン画像を記録し、該画像の仕上がりに基づいて校正対象の電子ペーパに起因する記録画像の仕上がりの変動を補正するためのペーパキャリブレーションデータを導出する（（Ａ）参照）。 - 特許庁

An OSD display unit 5 prepares test pattern data TP in which image patterns F1, F2 stored in a storage 6 as digital font data for OSD display are spread corresponding to the number of pixels of a liquid crystal panel LCP, transmits them to a panel processor 3, and displays them on the liquid crystal panel LCP.例文帳に追加

ＯＳＤ表示部５は記憶部６にＯＳＤ表示用のデジタルフォントデータとして格納されている画像パターンＦ１、Ｆ２を液晶パネルＬＣＰの画素数にあわせて敷き詰めたテストパターンデータＴＰを作成し、パネルプロセッサ３に送り、液晶パネルＬＣＰに表示する。 - 特許庁

The semiconductor device has an interconnection region 100 comprising a second interconnection part 10 for evaluating electromigration test provided in a specified pattern, a contact part 12 connected electrically with the second interconnection part 10 while penetrating a second interlayer insulating layer 14, and a heat dissipating part 11.例文帳に追加

半導体装置は、所定のパターンで設けられたエレクトロマイグレーション試験評価用の第２の配線部１０と、第２の層間絶縁層１４を貫通し、かつ第２の配線部１０と電気的に接続されたコンタクト部１２と、放熱部１１とを含む評価用配線領域１００を有する。 - 特許庁

The file storage part (9) includes: a net list (21) showing connection information of a circuit to be an object of generation of a test pattern; and a start/end point list (22) showing a terminal to be the start point of a failure detection object area among circuit to be shown on the net list.例文帳に追加

そのファイル格納部（９）は、テストパタンの生成の対象となる回路の接続情報を示すネットリスト（２１）と、ネットリストに示される回路のうち、故障検出の対象となる故障検出対象領域の起点となる端子を示す始終点リスト（２２）とを備えるものとする。 - 特許庁

A simulation part 104 performs a logical simulation with the use of the assertion description 103, the net list 101, and a test pattern 105, and then outputs a warning message 106 for warning the operation when the operation violating the operation expressed by the assertion description 103 is detected.例文帳に追加

シミュレーション部１０４は、そのアサーション記述１０３、ネットリスト１０１、及びテストパターン１０５を用いて論理シミュレーションを行うことにより、アサーション記述１０３が表す動作に違反する動作を検出した場合に、その動作を警告する警告メッセージ１０６を出力する。 - 特許庁

The emission position and the luminance level of each stripe of the emission phosphor are calculated from the picked-up image and the luminance distribution of the test pattern in units of stripes (luminescent-non- luminescent-luminescent parts) is calculated by rearranging the luminance levels, based on the light emission position and a display device 52 displays the result of calculation.例文帳に追加

撮像画像から発光螢光体の各縞における発光位置と輝度レベルとが算出され、その発光位置に基いて輝度レベルを並べ替えることでテストパターンの縞単位（発光−非発光−発光の部分）の輝度分布が算出され、その算出結果が表示器５２に表示される。 - 特許庁

After it is confirmed that the whole subordinate modules 20 is shifted to a diagnosable state by the potentials of the diagnostic state report signal line 42 and the normal state report signal line 43, a main diagnostic control part 11 outputs the test pattern 31 onto a control bus 30 so as to start diagnosis.例文帳に追加

主診断制御部１１が診断状態報告信号線４２及び通常状態報告信号線４３の電位により全ての従制御モジュール２０が診断可能状態に移行したことを確認した後に、制御バス３０上にテストパターン３１を出力させ、診断を開始する。 - 特許庁

To conduct accurate measurement by correcting a measuring error caused by a value of fine parasitic resistance such as a cable between a measuring instrument and a measured object, a probe and a wire on a test pattern, in a measuring system by a direct current for an electric sample having three or more of terminals.例文帳に追加

３つ以上の端子を持つ電気的試料の直流での測定系において、測定器と被測定物の間のケーブル、プローブ、テストパターン上の配線等の微小な寄生抵抗の値による測定誤算を補正することで、より高精度な測定を行うことを目的とする。 - 特許庁

In the test pattern, a first region where the formation density of first dots is higher than that of second dots, and a second region where the formation density of second dots is higher than of the first dots are mixed in main and sub-scanning directions.例文帳に追加

このテストパターンは、第１のドットの形成密度が第２のドットの形成密度よりも高い第１の領域と、第２のドットの形成密度が第１のドットの形成密度よりも高い第２の領域とが、主走査方向および副走査方向に混在するテストパターンである。 - 特許庁

In the apparatus, the most appropriate concentration control can always be carried out by setting the value of transfer bias applied when transferring a test pattern formed on the photoreceptor drum 4 to transfer material P by a transfer charging blade 8 to be a higher value than when transferring in a normal image formation.例文帳に追加

感光ドラム４上に形成されたテストパターンを転写帯電ブレード８によって転写材Ｐ上に転写する際に印加する転写バイアスの値を、通常の画像形成時における転写時よりも高い値とすることにより、常に最適な濃度制御を行うことができる。 - 特許庁

Next, an image of a test pattern is projected and is picked up by the camera, and difference between average RGB and reference RGB of the correction area is used as an evaluation function, and a setting parameter of a color having the largest absolute value of difference of RGB is changed in a reverse direction so that a sum of squares of the difference is minimized.例文帳に追加

次いで、テストパターンの画像を投射してカメラで取り込み、補正領域の平均ＲＧＢと基準ＲＧＢとの差を評価関数として、この差の二乗の和が最小となるように、RGBの差の絶対値が最も大きい色の設定パラメータを逆方向に変化させる。 - 特許庁

An operator views the output test pattern, and inputs and sets the level value corresponding to the patch image considered as the one having optimum image quality by himself (herself) as the transfer voltage value used when forming an image from a setting input receiving screen displayed on the control panel of the image forming apparatus.例文帳に追加

操作者は、出力されたテストパターンを目視して、自己が最適な画質と思われるパッチ画像に対応するレベル値を、画像形成時に用いられる転写電圧値として、画像形成装置の操作パネルに表示された設定入力受付画面から入力して設定することができる。 - 特許庁

Using an exclusive mask wherein test patterns having a same shape and a same size are plurally and repeatedly arranged in the mask blanks corresponding to the chip region, a resist pattern is formed by the processing procedure after the exposure processing of the photoresist on a product wafer changing a focal position for every shot.例文帳に追加

同一形状で且つ同一寸法のテストパターンがチップ領域に対応するマスクブランクス内で複数繰り返し配置された専用マスクを用いて、ショット毎にフォーカス位置を変えながら製品ウエーハ上のフォトレジストを露光処理し、現像処理してレジストパターンを形成する。 - 特許庁

Serial test pattern data latched by a front stage flip-flop (for example, flip-flop 12a) are latched by a rear stage flip-flop (for example, flip-flop 13a), in synchronization with a first clock signal, by the flip-flops 12a, 13a, and 14a connected in series over a plurality of stages.例文帳に追加

複数段にわたって直列に接続されたフリップフロップ１２ａ、１３ａ、１４ａによって、第１のクロック信号に同期して、前段のフリップフロップ（例えば、フリップフロップ１２ａ）にラッチされたシリアルのテストパターンデータが後段のフリップフロップ（例えば、フリップフロップ１３ａ）にラッチされる。 - 特許庁