sequential testとは 意味・読み方・使い方

To properly test scanning with a simple constitution using a sequential circuit even with a circuit constitution suppressing power consumption by providing a combination circuit for enable production in a clock line.例文帳に追加

クロックラインにイネーブル生成用の組み合わせ回路を設けて電力消費を抑制する回路構成においても順序回路を用いたスキャンテストを簡易な構成で適正に行なえるようにする。 - 特許庁

Based on each independent, sequential movement of the transport hands 50A, 50B and the index units 60A, 60B, 60C, the electronic component T is sequentially arranged in respective test sockets Sc1-Sc3 for performing different tests.例文帳に追加

これら搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂ及びインデックスユニット６０Ａ，６０Ｂ，６０Ｃの各独立した順次移動に基づいてそれぞれ異なる試験を行なう各テストソケットＳｃ１〜Ｓｃ３に対し電子部品Ｔを順番に配置する。 - 特許庁

A signal obtained from the electrodes (32 and 34) is digitized (46) and filtered (50) to obtain an electrocardiographic signal showing periodic, sequential, discrete, and magnitudinal variations associated with the heart beat of the test subject.例文帳に追加

この電極（３２、３４）から取得した信号は、ディジタル化され（４６）かつフィルタ処理され（５０）、被検者の心拍動に関連する周期的、連続的、離散的、規模的な変動を示している心電計信号が得られる。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit comprises sequential circuits 1 to 3, combinational circuits 4, 5, a scan test circuit 6, a storage circuit 7, a BIST circuit 8, and a selection circuit 9.例文帳に追加

この発明は、順序回路１〜３と、組み合わせ回路４、５と、スキャンテスト回路６と、記憶回路７と、ＢＩＳＴ回路８と、選択回路９とを備えている。 - 特許庁

To detect whether a test point in digital display of an image exists inside or outside of a closed curve determined by a series of sequential points on a curve in the display of the image.例文帳に追加

画像のデジタル表示内のテスト点が、画像の表示内の順序付けられた一連の曲線上の点によって定められた閉曲線の内側にあるのか又は外側にあるのかを検出する。 - 特許庁

Relating to the e.g., controller 10 of a tub water circulation device selecting a sequential mode such as a filter mode, a back wash mode and a cleaning mode, the test mode for individually operating the unit constitution parts can be executed.例文帳に追加

例えば、濾過モード、逆洗モード、洗浄モード等のシーケンシャルモードを選択実行する浴槽水循環装置のコントローラ１０において、単位構成部品を単独で動作させるためのテストモードを実行可能としている。 - 特許庁

To provide a generation device or the like for generating a test vector set, capable of reducing the difference between each logic value generated before and after scan capture, concerning the output of a scan cell included in a full-scan sequential circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようなテストベクトル集合の生成を行う生成装置等を提供する。 - 特許庁

Sequential data which are received from the testing device 314 are constituted in a parallel shape, and an estimation-to-actual data value is displayed for every node, in order to indicate whether the test of a node has passed or not.例文帳に追加

テスト装置から受け取られた順次データは並列形式に構成され、ノードのテストが合格か否かを示すためノード毎に予測対実際データ値が表示される。 - 特許庁