sequential testingとは 意味・読み方・使い方

The temperature control means 150, 180 preheat/precool the device on the testing tray, during the posture change of the testing tray, and during the sequential storage by the soaking chamber.例文帳に追加

温度制御手段１５０、１８０はテストトレーが姿勢変換される間及びソークチャンバーにより順次収納される間テストトレーのディバイスを持続的に予熱／予冷する。 - 特許庁

Sequential data which are received from the testing device 314 are constituted in a parallel shape, and an estimation-to-actual data value is displayed for every node, in order to indicate whether the test of a node has passed or not.例文帳に追加

テスト装置から受け取られた順次データは並列形式に構成され、ノードのテストが合格か否かを示すためノード毎に予測対実際データ値が表示される。 - 特許庁

To provide a non-halogen flame-resistant wire of phosphorus-free type which is applicable to BWR and PWR use, and also is applied to an inverse sequential method testing, having thermal resistance, radiation resistance, and high flame retardancy.例文帳に追加

ＢＷＲ用並びにＰＷＲ用に適用でき、かつ逆遂次法試験にも対応した耐熱性、耐放射線性、高難燃性の無リンタイプのノンハロゲン難燃電線を提供する。 - 特許庁

The sequential processing 15 decides appearance order of items to be converted into testing values inside the transaction record 13, the item to be converted into the testing value is determined by algorithm with the appearance order as an argument and is replaced, and is outputted as a set of the pseudo call and result-verifying information 17.例文帳に追加

順次処理１５は試験用の値に変換すべき項目それぞれのトランザクション記録１３内での出現順を判定し、試験用の値に変換すべき項目を、出現順を引数とするアルゴリズムで決定して置き換え、擬似呼及び結果検証用情報１７のセットとして出力する。 - 特許庁

To evaluate the lift amount of a coil without manufacturing a test piece by utilizing an electromagnetic analysis device, and to obtain a material constant directly from the testing material to dealing with the time sequential change of the metallic material or the material difference adjacent to a crack.例文帳に追加

試験片を製作することなく、電磁気解析装置を利用し、テストコイルの浮き上がり量を評価すること、また、金属材料の時系列変化、あるいはき裂近傍の材料の違いにも対応するために、被検査材から直接材料定数を求めること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a pattern generator capable of bringing a pattern storage capacity stored in the pattern generator equivalently into phase number times of an interleave, in a sequential pattern generation mode wherein a pattern generation mode is not accompanied with a repeating loop and the like.例文帳に追加

パターンの発生形態が繰り返しループ等を伴わないシーケンシャルなパターン発生形態の場合において、パターン発生器に格納できるパターン格納容量を等価的にインタリーブの相数倍にすることができるパターン発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁