「sequential test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The selection circuit 9, at the time of the burn-in test, selects the burn-in test data written to the storage circuit 7 and distributes it into the sequential circuits 1 to 3.例文帳に追加

選択回路９は、バーンインテスト時に、記憶回路７に書き込まれているバーンインテスト用データを選択して順序回路１〜３に分配するようになっている。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit comprises sequential circuits 1 to 3, combinational circuits 4, 5, a scan test circuit 6, a storage circuit 7, a BIST circuit 8, and a selection circuit 9.例文帳に追加

この発明は、順序回路１〜３と、組み合わせ回路４、５と、スキャンテスト回路６と、記憶回路７と、ＢＩＳＴ回路８と、選択回路９とを備えている。 - 特許庁

Sequential data which are received from the testing device 314 are constituted in a parallel shape, and an estimation-to-actual data value is displayed for every node, in order to indicate whether the test of a node has passed or not.例文帳に追加

テスト装置から受け取られた順次データは並列形式に構成され、ノードのテストが合格か否かを示すためノード毎に予測対実際データ値が表示される。 - 特許庁

The method includes usage of sequential probability ratio test (SPRT) for detecting the presence of the short codes at a plurality of phase points of the received signal by calculation of a likelihood value for each phase.例文帳に追加

この方法は、受信信号の複数の位相時点における短符号の存在を各位相についての尤度値の算出により検出する順次確率比テスト（SPRT）の利用を含む。 - 特許庁

To detect whether a test point in digital display of an image exists inside or outside of a closed curve determined by a series of sequential points on a curve in the display of the image.例文帳に追加

画像のデジタル表示内のテスト点が、画像の表示内の順序付けられた一連の曲線上の点によって定められた閉曲線の内側にあるのか又は外側にあるのかを検出する。 - 特許庁

To properly test scanning with a simple constitution using a sequential circuit even with a circuit constitution suppressing power consumption by providing a combination circuit for enable production in a clock line.例文帳に追加

クロックラインにイネーブル生成用の組み合わせ回路を設けて電力消費を抑制する回路構成においても順序回路を用いたスキャンテストを簡易な構成で適正に行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a generation device or the like for generating a test vector set, capable of reducing the difference between each logic value generated before and after scan capture, concerning the output of a scan cell included in a full-scan sequential circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようなテストベクトル集合の生成を行う生成装置等を提供する。 - 特許庁

Relating to the e.g., controller 10 of a tub water circulation device selecting a sequential mode such as a filter mode, a back wash mode and a cleaning mode, the test mode for individually operating the unit constitution parts can be executed.例文帳に追加

例えば、濾過モード、逆洗モード、洗浄モード等のシーケンシャルモードを選択実行する浴槽水循環装置のコントローラ１０において、単位構成部品を単独で動作させるためのテストモードを実行可能としている。 - 特許庁

A signal obtained from the electrodes (32 and 34) is digitized (46) and filtered (50) to obtain an electrocardiographic signal showing periodic, sequential, discrete, and magnitudinal variations associated with the heart beat of the test subject.例文帳に追加

この電極（３２、３４）から取得した信号は、ディジタル化され（４６）かつフィルタ処理され（５０）、被検者の心拍動に関連する周期的、連続的、離散的、規模的な変動を示している心電計信号が得られる。 - 特許庁

To provide a real time sequential test method capable of satisfying required value based on an error rate, deciding one of judgment possibilities in a brief period of time and improving efficiency and accuracy of decision.例文帳に追加

誤り率に基づいた要求値を満たし、短時間で判定可能性のうち一つを決定すると共に、決定の効率及び精度を向上させることができる実時間遂次検定方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a cache memory test system for performing the combined execution of cache coherence maintenance operations and the memory sequential property verification of access results by making a plurality of processors asynchronously perform continuous access to one and the same address and, one and the same cache line.例文帳に追加

複数のプロセッサが同一アドレス、および同一キャッシュラインに対し、非同期に連続アクセスを行うことで、キャッシュコヒーレンシ維持動作、アクセス結果のメモリ順序性検証を複合的に実施するキャッシュメモリ試験システムを提供する。 - 特許庁

Based on each independent, sequential movement of the transport hands 50A, 50B and the index units 60A, 60B, 60C, the electronic component T is sequentially arranged in respective test sockets Sc1-Sc3 for performing different tests.例文帳に追加

これら搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂ及びインデックスユニット６０Ａ，６０Ｂ，６０Ｃの各独立した順次移動に基づいてそれぞれ異なる試験を行なう各テストソケットＳｃ１〜Ｓｃ３に対し電子部品Ｔを順番に配置する。 - 特許庁

To evaluate the lift amount of a coil without manufacturing a test piece by utilizing an electromagnetic analysis device, and to obtain a material constant directly from the testing material to dealing with the time sequential change of the metallic material or the material difference adjacent to a crack.例文帳に追加

試験片を製作することなく、電磁気解析装置を利用し、テストコイルの浮き上がり量を評価すること、また、金属材料の時系列変化、あるいはき裂近傍の材料の違いにも対応するために、被検査材から直接材料定数を求めること。 - 特許庁

To provide a radiation-resistant resin composition that is useful as a sheath material for BWR (Boiling Water Reactor) and a sheath material for PWR (Pressurized Water Reactor), has excellent flame retardance, heat resistance, radiation resistance and water resistance and deals with a test by a reverse sequential method and a radiation-resistant cable.例文帳に追加

ＢＷＲ用のシース材料、及びＰＷＲ用のシース材料として用いることができると共に、難燃性、耐熱性、耐放射線性、及び耐水性に優れ、逆逐次法による試験に対応することのできる耐放射線性樹脂組成物、及び耐放射線ケーブルを提供する。 - 特許庁

The receiving antenna selector section 4a is driven when the radio signal transmitted from an introduction apparatus in a body of a subject is received, and the sequential antenna selector section 4b, not the receiving antenna selector section 4a, to sequentially select the antenna regardless of an intensity of the received signal is driven when the efficiency test of the receiving antennas 2a-2h is performed.例文帳に追加

被検体内導入装置から送信された無線信号を受信する際には受信アンテナ選択部４ａが駆動し、受信用アンテナ２ａ〜２ｈの性能検査を行う際には受信アンテナ選択部４ａとは異なり、受信強度に関わらずアンテナを順次選択する逐次アンテナ選択部４ｂが駆動する。 - 特許庁

The scan test circuit has a forward rotation/backward rotation control circuit that is inserted and connected between a sequence circuit and a combination circuit included in a path to be scan-tested, and makes the scan data outputted from the sequence circuit rotate in the forward and the backward directions, at an arbitrary timing outside the sequential circuit.例文帳に追加

本発明の実施の一形態に係るスキャンテスト回路は、順序回路と、スキャンテスト対象のパスに含まれる組合せ回路との間に挿入接続され、上記順序回路から出力されるスキャンデータを当該順序回路外部において任意のタイミングで正転及び反転させる正転／反転制御回路を備えているものである。 - 特許庁

The method comprises two or more sequential temporal PCR stages used to effectively separate two or more PCR reactions in a single test tube as an alternative to primer limiting to modulate the relative rate of production of a first amplicon by a first primer set and a second amplicon by a second primer set during first and second amplification stages.例文帳に追加

プライマー制限の代替法として、単一試験管において2以上の時間的に連続するPCR段階を用い、2以上のPCR反応を効果的に分離して、第一の増幅段階および第二の増幅段階中、第一のプライマーセットによる第一のアンプリコン産生、および第二のプライマーセットによる第二のアンプリコン産生の相対率を変調する、方法。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with a blocks 1-3 wherein sequential test input patterns are used to conduct logic verification, a signal wiring pattern to transmit signals which are used in the blocks 1-3 during the logic verification, and fixed potential wiring patterns 11a-11d which are formed surrounding the signal wiring pattern and are electrically connected to Vss.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、一連のテスト入力パターンを用いてロジック検証が行われるブロック１〜３と、ロジック検証時にブロック１〜３で使用される信号を伝達するための信号配線パターンと、信号配線パターンを取り囲むように形成され、Ｖｓｓに電気的に接続された固定電位配線パターン１１ａ〜１１ｄを有する。 - 特許庁

In the method, two or more sequential temporal PCR stages are used to effectively separate two or more PCR reactions in a single test tube as an alternative to primer limiting to modulate the relative rate of production of a first amplicon by a first primer set and a second amplicon by a second primer set during the first and second amplification stages.例文帳に追加

プライマー制限の代替法として、単一試験管において2以上の時間的に連続するPCR段階を用い、2以上のPCR反応を効果的に分離して、第一の増幅段階および第二の増幅段階中、第一のプライマーセットによる第一のアンプリコン産生、および第二のプライマーセットによる第二のアンプリコン産生の相対率を変調する。 - 特許庁

In a disk drive 1 having a cache controller 11 that performs cache control using a buffer memory 20 divided into segments and managed, sequential hit test is executed on each segment in accordance with the requested access range designated by a read or write command coming from a host system 30, and the hit upper-limit LBA set for each segment is updated when a mishit occurs.例文帳に追加

セグメントに分割して管理するバッファメモリ２０を使用したキャッシュ制御を実行するキャッシュコントローラ１１を有するディスクドライブ１において、ホストシステム３０からのリード又はライトのコマンドによる要求アクセス範囲に応じて、セグメント毎にシーケンシャルヒット判定を実行し、ミスヒットの場合にセグメント毎に設定されたヒット上限ＬＢＡを更新する構成である。 - 特許庁