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testing, testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
MAGNETIC DISK DEVICE, AND TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM THEREOF例文帳に追加
磁気ディスク装置、その試験方法および試験プログラム - 特許庁
TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR VEHICULAR ELECTRONIC MODULE例文帳に追加
車両用電子モジュールの検査装置及び検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING DC CHARACTERISTIC THEREOF例文帳に追加
半導体試験装置とそのDC特性試験方法 - 特許庁
TESTING TERMINAL OF CHIP TYPE ELECTRONIC PART AND TESTING METHOD AND TESTING DEVICE USING IT例文帳に追加
チップ型電子部品の検査端子とそれを用いた検査方法および検査装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS例文帳に追加
半導体デバイス試験装置 - 特許庁
DYNAMIC WIND TUNNEL TESTING METHOD例文帳に追加
動的風洞試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DROP IMPACT TEST例文帳に追加
落下衝撃試験装置 - 特許庁
DRIVE CONTROL METHOD OF TIRE TESTING MACHINE AND TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加
タイヤ試験機の駆動制御方法及びタイヤ試験機 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR TOUCH PANEL AND TESTING METHOD FOR TOUCH PANEL例文帳に追加
タッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法 - 特許庁
RELAXATION TEST METHOD, TESTING DEVICE AND TESTING TOOL例文帳に追加
リラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具 - 特許庁
COMMUNICATION PROGRAM TESTING METHOD AND COMMUNICATION PROGRAM TESTING SYSTEM例文帳に追加
通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システム - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR ELEMENTS AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
半導体素子の試験装置およびその試験方法 - 特許庁
ELECTRIC WIRE FLEXIBILITY TESTING DEVICE, AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法 - 特許庁
K. Principal name: ---- null entry here will cause an exit 14.7.6 Testing It All Out 例文帳に追加
14.6.5. すべてのテスト - FreeBSD
TESTING WAVEFORM SUPPLY METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, DRIVER, AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUST例文帳に追加
試験波形供給方法、半導体試験方法、ドライバ、及び半導体試験装置 - 特許庁
INSULATION TESTING METHOD OF MOTORS例文帳に追加
モータの絶縁試験方法 - 特許庁
IMAGE SENSOR, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF STICK SLIP例文帳に追加
スティックスリップの試験方法 - 特許庁
OPTICAL PULSE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL TRANSMISSION LINE例文帳に追加
光パルス試験装置および光伝送路試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELECTRIC EQUIPMENT PROTECTION CIRCUIT例文帳に追加
電気設備保護回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁
STATIC ELECTRIFICATION TESTING DEVICE例文帳に追加
静電気帯電試験装置 - 特許庁
DEVICE TO BE TESTED, TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラム - 特許庁
TESTING DEVICE OF OIL PERMEATION PROPERTY AND TESTING METHOD OF OIL PERMEATION PROPERTY例文帳に追加
通油性試験装置および通油性試験方法 - 特許庁
STRENGTH TESTING MACHINE OF NET MATERIAL AND STRENGTH TESTING METHOD USING IT例文帳に追加
網体の強度試験装置及び強度試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR ATOMIZATION OF SALT WATER例文帳に追加
塩水噴霧試験装置 - 特許庁
RUST RESISTANCE EVALUATION TESTING DEVICE例文帳に追加
耐錆性評価試験装置 - 特許庁
Also provided are a microbiological testing instrument and a testing method to use the microbiological testing chip 10.例文帳に追加
また、該微生物検査チップ10を使用する微生物検査装置と、検査方法。 - 特許庁
MAGNETIC LEAKAGE FLUX TESTING METHOD例文帳に追加
漏洩磁束探傷方法 - 特許庁
MACHINE FOR TESTING HIGH-CYCLE MATERIAL例文帳に追加
高サイクル材料試験機 - 特許庁
CENTRIFUGAL LOAD TESTING DEVICE例文帳に追加
遠心力載荷試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD OF CHARACTERISTIC OF VIBRATOR例文帳に追加
振動子特性試験法 - 特許庁
SCRATCH RESISTANCE TESTING EQUIPMENT AND SCRATCH RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加
耐擦傷性試験装置および耐擦傷性試験方法 - 特許庁
TESTING SYSTEM, CONTROL METHOD THEREFOR, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
試験システムおよびその制御方法並びに試験装置 - 特許庁
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