「x-ray interferometer」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計 - 特許庁

DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY INTERFEROMETER AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

Ｘ線干渉計用の回折格子及びその製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR X-RAY PHASE TYPE DIFFRACTION GRATING AND AMPLITUDE TYPE DIFFRACTION GRATING USED FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計に用いられる位相型回折格子と振幅型回折格子の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PHASE TYPE DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子の製造方法 - 特許庁

To provide manufacturing methods for an X-ray phase type diffraction grating and an X-ray amplitude type diffraction grating used for an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計に用いられるＸ線位相型回折格子及びＸ線振幅型回折格子の製造方法を提案する。 - 特許庁

To provide a diffraction grating for an X-ray Talbot interferometer which can be manufactured with ease and high accuracy as the diffraction grating having high aspect ratio of a groove, a method for manufacturing the diffraction grating for the X-ray Talbot interferometer, and the X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるＸ線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計を提供する。 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE SAMPLE PROBING METHOD AND APPARATUS BY X-RAY INTERFEROMETER例文帳に追加

試料のＸ線干渉計による非破壊的探査方法及びその装置 - 特許庁

To improve transparency to x-rays in between gratings regarding a diffraction grating for an x-ray interferometer.例文帳に追加

Ｘ線干渉計用の回折格子について、格子間でのＸ線に対する透明性を向上させる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method which makes it possible to stably supply X-ray diffraction gratings with a high aspect ratio to be used for an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計に用いる高アスペクト比のＸ線回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY GENERATING APPARATUS AND ITS GENERATING METHOD, AS WELL AS POINT-DIFFRACTION INTERFEROMETER USING HIGH-ORDER HARMONIC X-RAY例文帳に追加

高次高調波エックス線発生装置及びその発生方法、並びに高次高調波エックス線を利用したエックス線干渉計測装置 - 特許庁

Methods have been devised for combining an X-ray interferometer with an optical interferometer so that both radiations are used to measure the same displacement of a crystal. 例文帳に追加

X線と光の両方の放射線が結晶の同じ変位を測定するために使われるように、X線干渉計を光学干渉計と組み合わせるための方法が考案された。 - 科学技術論文動詞集

To provide a nondestructive sample probing method and device by an X-ray interferometer, capable of easily and non-destructively probing matter contained in a sample by the X-ray interferometer.例文帳に追加

試料内の含有物をＸ線干渉計により、容易に、かつ非破壊的に探査することができる、試料のＸ線干渉計による非破壊的探査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

SINGLE CRYSTAL DIAMOND CUTTING TOOL, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

単結晶ダイヤモンド切削刃具及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計用回折格子の製造方法 - 特許庁

In the phase cotrast X-ray imaging device using an X-ray interferometer, a simultaneous reflection type X-ray interferometer is used wherein a signal wave is coupled to a reference wave by the simultaneous reflection of a coplanar or nonplanar Bragg case instead of coupling the signal wave to the reference wave by the diffraction of a Laue case as in the past.例文帳に追加

Ｘ線干渉計を利用した位相コントラスト型Ｘ線撮像装置において、従来のラウエケースの回折による信号波と参照波の結合の代わりに、coplanarあるいはnonplanarのブラッグケースの同時反射により信号波と参照波を結合する同時反射型Ｘ線干渉計を用いる。 - 特許庁

In the phase contrast X-ray imaging apparatus using an X-ray interferometer, a known reference material similar to a sample in shape and internal density distribution is installed in a light path different from the light path in the interferometer in which the sample is installed.例文帳に追加

Ｘ線干渉計を用いた位相コントラスト型Ｘ線撮像装置において、試料が設置された干渉計内の光路とは異なる光路に、形状及び内部密度分布が試料と類似し、且つ既知の参照体を設置する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and/or an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び／又は振幅型回折格子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子の製造方法を提供する。 - 特許庁

A diffraction grating 20 for an X-ray Talbot interferometer has a plurality of X-ray absorption parts 20b formed on a substrate 22 by cutting a metal film 20bx in a wavy shape at prescribed intervals in one direction.例文帳に追加

基板２２上に金属膜２０ｂｘを切削して形成したＸ線吸収部２０ｂが、一方向に沿って所定間隔で畝状に複数形成されているＸ線タルボ干渉計用回折格子２０である。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for stably supplying a phase diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer and an amplitude diffraction grating.例文帳に追加

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of easily and highly accurately manufacturing a phase type diffraction grating for an x-ray Talbot interferometer without requiring an exposure mask.例文帳に追加

露光マスクを必要とせず、Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子を容易かつ高精度で製造することができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiographic system obtaining an image utilizable in medical diagnosis or biological diagnosis by an inexpensive and small-sized X-ray source in a Talbot-interferometer system.例文帳に追加

タルボ干渉計方式において、安価かつ小型のＸ線源で、医療診断・生物診断に利用可能な画像が得られるＸ線撮影システムを提供する。 - 特許庁

To provide a point-diffraction interferometer capable of inspecting surface quality of an extreme ultraviolet lithography optical system using a high-order harmonic X-ray source with excellent coherence.例文帳に追加

干渉性が優秀な高次高調波エックス線光源を利用して超紫外線リソグラフィー用光学系の表面品質を検査できるエックス線干渉計測装置を提供する。 - 特許庁