testpiecesとは 意味・読み方・使い方

Toning testpieces 10 made of a colorless and transparent film substrate 10a are provided.例文帳に追加

無色透明なフィルム基材１０ａからなる調色用テストピース１０を提供する。 - 特許庁

To provide a testpiece measuring instrument capable of corresponding to immuno-chromatographic testpieces having various widths, and a cartridge.例文帳に追加

様々な幅の免疫クロマト試験片に対応可能な試験片測定装置及びカートリッジを提供する。 - 特許庁

To automatically acquire numerous images from testpieces with mutually different fields of view, and in parallel with acquisition of the images, the acquired images are subjected to a prescribed image processing to distinguish whether or not there is a targeted structure in the images.例文帳に追加

互いに異なる視野で試料から多数の画像を自動的に取得すると共に、取得した画像に対しては、画像の取得と同時並行して、画像中に目的とする構造があるか否かを判別する所定の画像処理を施す。 - 特許庁

To provide a method of observing testpieces wherein charged amount of the observation position can be controlled stably to a desired one, and provide an electron microscope by which this can be realized.例文帳に追加

観察箇所の帯電量を所望の帯電量に安定して制御することができる試料観察方法、及びそれを実現する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A control means 4 acquires the images within a specified test range of testpieces (S3) by controlling (S2) the testpiece stage 2 of TEM1 when parameters are inputted (S1).例文帳に追加

制御手段４は、パラメータが入力されると（Ｓ１）、ＴＥＭ１の試料ステージ２を制御（Ｓ２）して、試料の指定された検査範囲内で画像の取得を行う（Ｓ３）。 - 特許庁

The toning testpieces 10 are provided with an ear part 11 and a tool hole 12 and stacked if necessary and form a laminate 10b by fixing the peripheral parts with an adhesive material 13 except the ear parts 11 and the ear part 11 of the piece 10 in the uppermost coated part is pinched and peeled for uses.例文帳に追加

調色用テストピース１０は耳部１１と治具孔１２を備えるとともに、必要に応じて積層され、耳部１１を除く周辺部を接着材１３によって固定されることにより積層体１０ｂを構成し、塗装した最上部の１枚の耳部１１を摘んで順に剥離して用いる。 - 特許庁

By controlling irradiation condition of primary electron beams 108 in which pre-charge is carried out according to conditions of the testpieces, the charge amount at the observation position is controlled by confirming that the charge amount at the observation position has become to have the desired amount from that of secondary electron signal detected by using an energy light filter 101b and two electron detectors 102a, 102b.例文帳に追加

試料の状態にあわせてプリチャージを行う一次電子線１０８の照射条件を制御し、エネルギーフィルタ１０１ｂと２つの電子検出器１０２ａ，１０２ｂを用いて検出される二次電子信号量から観察箇所が所望の帯電量になったことを確認し、観察箇所の帯電量を制御する。 - 特許庁