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しきい値素子記憶の英語
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英訳・英語 threshold element memory
「しきい値素子記憶」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 29件
加算器22及び記憶素子23による累算値は、加算器12及び記憶素子13による累算値の周期毎に初期値にリセットされる。例文帳に追加
The cumulative value obtained by the adder 22 and storage element 23 is reset to an initial value in cycles of the cumulative value obtained by the adder 12 and storage element 13. - 特許庁
加算器22及び記憶素子23による累算値は、加算器12及び記憶素子13による累算値の周期毎に初期値にリセットされる。例文帳に追加
The accumulated values by the adder 22 and the storage element 23 are reset to an initial value for every period of the accumulated values by the adder 12 and the storage element 13. - 特許庁
しきい値電圧のばらつきが小さい記憶素子部と、低消費電力で高速な論理素子部を有する半導体装置を可能にする。例文帳に追加
To provide a semiconductor device having a storage element portion having small variance in threshold voltage and a fast-speed logic element portion with low power consumption. - 特許庁
しきい値電圧の高低によりデータを記憶する不揮発性記憶素子(メモリセル)を含む不揮発性半導体記憶回路において、見かけ上のしきい値のシフト量を小さくして誤ったデータの読み出しを防止できる設計方法を提供する。例文帳に追加
To provide a designing method capable of preventing the read of wrong data by reducing the apparent shift quantity of a threshold value concerning a non-volatile semiconductor memory circuit provided with a non-volatile memory cell (memory cell) for storing data corresponding to the level of a threshold voltage. - 特許庁
M値のデータを構成する第1データ〜第Mデータのうち、第Mデータは、記憶素子に対して書き込み動作が行われる以前の消去状態において記憶素子が保持するデータであり、第1データは、M値のデータのうちで最も書き込みのために記憶素子に与える物理的負担が大きいデータである。例文帳に追加
Out of the first data to M-th data constituting the M value data, the M-th data are held by the memory element in an erasure state before write-in operation is performed for the memory element, in the first data, the physical burdens applied to the memory elements for writing are the largest out of the M-th value data. - 特許庁
比較器15は、立上り時間測定器13が測定した立上り時間と立上り時間しきい値記憶器14に記憶されているしきい値時間とを比較し、立上り時間がしきい値時間よりも短くなると、静電容量を持った素子の交換時期が来たことを表示器16に表示させる。例文帳に追加
A comparator 15 compares the rise time measured by the rise time measuring device 13 with a threshold time stored in a rise time threshold value storage device 14, and the arrival of the replacement time of the element having the electrostatic capacity is displayed on a display device 16 when the rise time becomes shorter than the threshold time. - 特許庁
ベリファイ操作が省略可能で2種類を超えるしきい値電圧の実現が可能な不揮発性半導体記憶素子及び不揮発性半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加
To provide a nonvolatile semiconductor storage element and a nonvolatile semiconductor storage device capable of dispensing with verifying operation and actualizing more than two kinds of threshold voltages. - 特許庁
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「しきい値素子記憶」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 29件
抵抗変化を有する情報記憶素子に対して電気的に情報の記録を行う記録回路を含む不揮発性メモリの記録方法であって、上記記録回路は、情報記憶素子に対して当該記録回路の出力インピーダンスが情報記憶素子の低抵抗状態の抵抗値よりも大きい状態で低抵抗状態の情報を記録する。例文帳に追加
The recording method of the nonvolatile memory includes a recording circuit which electrically performs recording of information for the information memory element having a resistance change. - 特許庁
しきい値電圧の制御性が良く、しきい値電圧のバラツキが抑制され、2種類を超えるしきい値電圧の実現と低電源電圧化との両立を図ることのできる高性能な不揮発性半導体記憶素子及び不揮発性半導体記憶装置を提供することを可能にする。例文帳に追加
To provide a nonvolatile semiconductor storage element and a nonvolatile semiconductor storage device capable of improving the controllability of a threshold voltage, inhibiting the dispersion of the threshold voltage and making the realization of the threshold voltages exceeding two kinds and the reduction of a power-supply voltage compatible. - 特許庁
プログラム回路102は、まず第1のプログラミングモードで動作し、記憶素子のしきい値が第1の基準電圧以上となるまで、書込みパルスの書込み能力を段階的に上昇させつつ記憶素子に書込みパルスを印加する。例文帳に追加
The programming circuit 102 operates first in a 1st programming mode, and applies writing pulses to the memory elements increasing the writing capabilities of the writing pulses step by step until the thresholds of the memory elements become equal to the reference voltage or higher. - 特許庁
1ビットのデータを互いに相補なデータを記憶する不揮発性メモリ素子106と112の二つの素子を使って保持することで、二つの不揮発性メモリ素子のしきい値電圧の差が小さくても確実にデータを読み出しことが可能になる。例文帳に追加
Data can be read out surely even if difference of threshold voltage of two non-volatile memories is small by holding data of one bit using two elements of non-volatile memory elements 106 and 112 storing complementary data. - 特許庁
出力信号の変化が大きいため誤動作を起こしにくく、高精度な抵抗値発生素子が不要で、構成が単純であるため高密度に集積することが可能な不揮発性半導体記憶装置及びこの不揮発性半導体記憶装置の情報記録方法を提供する。例文帳に追加
To provide a nonvolatile semiconductor storage device which seldom brings about a malfunction because the change of an output signal is large, does not need an accurate resistance value generation element and can be integrated in high density because of its simple configuration, and an information recording method for the nonvolatile semiconductor storage device. - 特許庁
FLOTOX型の不揮発記憶回路において、書き込み電圧が低く、不揮発性メモリ素子のエンハンスメント状態とデプレッション状態のしきい値の差が小さくても、データを高速かつ確実に読み出すことができ、また書き換え可能な回数の多い不揮発性記憶回路を得ること。例文帳に追加
To obtain a non-volatile memory circuit in which write-in voltage is low, data can be read out at high speed and surely even if difference of threshold values between an enhancement state and a depression state of a non-volatile memory element is small, and rewriting can be performed many times, in a non-volatile memory circuit of FLOTOX type. - 特許庁
移動機器1に内蔵されたマイクロメカニカルセンサ素子および評価ユニットを有するセンサ2によって測定された加速度値が、限界値を上方超過または下方超過したことを表すデータをメモリに記憶する。例文帳に追加
Data indicating that an acceleration value measured by a sensor 2 built in the mobile device 1 and having a micromechanical sensor element and an evaluation unit is above or below a limit value is stored in a memory. - 特許庁
電源回路400は、光起電圧検出回路300で検出された光起電圧AVと、目標照度記憶回路200に記憶された目標照度値ALと、に基づいて、有機EL素子100に供給する電力を調整する。例文帳に追加
The power supply circuit 400 adjusts power to supply to the organic EL element 100 depending on the photovoltaic voltage AV measured by the photovoltaic voltage detection circuit 300 and the target illuminance value AL memorized by the target illuminance memory circuit 200. - 特許庁
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threshold element memory
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