スペクトル領域解析の英語

過渡信号の検出に適したスペクトル解析結果から、定常信号のスペクトルを含む周波数領域内のスペクトルを削除する。例文帳に追加

From a spectrum analysis result suitable for the detection of the transient signal, spectra in a frequency range including the spectrum of the steady signal is deleted. - 特許庁

テラヘルツ領域における試料の複素光学定数スペクトルをリファレンス測定を必要とせずに導出することのできる時間領域偏光解析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a time region polarization analysis apparatus for deriving the complex optical constant spectrum of a sample at a tera Hertz region without requiring any reference measurement. - 特許庁

最後に、各周波数範囲について取り出されたスペクトルを組み合わせて、解析対象の周波数範囲に渡るスペクトルを生成し、これを時間領域の信号波形に変換する。例文帳に追加

Finally, a spectrum spreading over the frequency range of the analytical object is generated by combining spectrums taken out in each frequency range, and converted into a signal waveform in a time region. - 特許庁

また、σ^２は、Ｘ線吸収スペクトルに現れる広領域Ｘ線吸収微細構造（ＥＸＡＦＳ）の解析によって得られる値である。例文帳に追加

Additionally, σ^2 is a value which is obtained by the analysis of the extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) appearing in an X-ray absorption spectrum. - 特許庁

この２次微分差分吸光度スペクトルのうち、水の吸収帯と一致せず、かつ顕著な負の値を有する領域の２次微分差分吸光度スペクトルのみを用いてＰＬＳ解析を行う。例文帳に追加

In a secondary differential difference absorbance spectrum, only the secondary differential calculus defference absorbance spectrum, in a region that does not coincide with the absorption band of water and has a remarkable negative value, is used for performing the PLS analysis. - 特許庁

ｎｍオーダの局所領域において電場変調による光学応答性としてのスペクトルを得、線形及び非線形の物理特性を解析するようにした電場変調スペクトル近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an electric field modulation spectrum near-field optical microscope devised to analyze linear and nonlinear physical characteristics by obtaining a spectrum as optical responsiveness by electric field modulation in a local region of an nm order. - 特許庁

ＲＥ波長域よりも短波長の波長域からＲＥ波長域にかけてのスペクトル変化分（反射率を検出する場合は、下に凸のスペクトル）を検出するか、あるいは／及び、ＲＥ波長域からＲＥ波長域よりも長波長の波長域にかけてのスペクトル変化分（反射率を検出する場合は、上昇するスペクトル）を検出し、植生領域を解析する例文帳に追加

A vegetated region is analyzed by detecting the amount of spectral changes (a spectrum protruding downward in detecting reflectance) from a wavelength region having a wavelength shorter than that of the RE wavelength region to the RE wavelength region and detecting the amount of spectral changes (a rising spectrum in detecting reflectance) from the RE wavelength region to a wavelength region having a wavelength longer than that of the RE wavelength region. - 特許庁