レーザ光散乱法の英語

この発明は、レーザ光源１から試料ａに対して光を照射し、試料ａからのラマン散乱光を分光して光検出器６で検出し、この検出出力に基づいてラマン散乱測定を行うようにしたラマン散乱測定方法である。例文帳に追加

In this Raman scattering measuring method, a sample a is irradiated with light from a laser light source 1, and Raman scattering light from the sample a is spectrally separated and detected by a photodetector 6, and Raman scattering measurement is performed based on the detection output. - 特許庁

このレーザ加工方法は、空間１４内に液体３を流通させ、空間１４内に入ったレーザ光Ａを伴った液体噴流Ｂ２を液体３によって乱すことによりレーザ光Ａを散乱させる方法である。例文帳に追加

The laser beam machining method includes allowing a liquid 3 to flow through the space 14 and agitating the liquid jet B2 followed by the laser beams A entering the space 14, by the liquid 3 to scatter the laser beams A. - 特許庁

ＰＢＣのレーザビームの波長及び光強度変化を抑えて、ラマン散乱光測定結果の正確性を増加させる半導体レーザ装置の出力制御方法及び半導体レーザ装置を提供する。例文帳に追加

To provide an output control method of a semiconductor laser device in which accuracy of a Raman scattered light measurement result is increased by suppressing wavelength and light intensity variations of a laser beam of a PBC (Power Build-up Cavity), and the semiconductor laser device. - 特許庁

光モード形状の急激な変化による光の散乱ロスを低減することの可能な半導体レーザおよびその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor laser along with its manufacturing method, for reducing optical scatter loss caused by abrupt change in optical mode shape. - 特許庁

レーザ光により基板表面の異物を検出する方法であって、基板は散乱光を減少させる処理を施した半導体基板を用いる。例文帳に追加

The detection method uses laser beams to detect foreign materials on the surface of the substrate which is subjected to treatment for reducing scattered light. - 特許庁

光モード形状の急激な変化による光の散乱ロスを低減することの可能な半導体レーザおよびその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor laser capable of reducing scattering loss of light due to a sudden change of an optical mode shape, and to provide a method of manufacturing the same. - 特許庁

また、その集塵電極４に対してレーザ光を照射して得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定することにより、レーザ回折・散乱法に基づいて浮遊粒子状物質Ｐの粒度分布を広い粒径範囲で高分解能のもとに測定することを可能とする。例文帳に追加

The space intensity distribution of the diffracted and scattered light obtained by irradiating the dust collecting electrode 4 with laser beam is measured, whereby the particle size distribution of the floating particulate matter P can be measured with high resolution in a wide particle size range on the basis of laser diffraction and scattering method. - 特許庁

レーザ光散乱式表面検査装置を用いて測定検出された鏡面加工シリコンウエハ表面上の光散乱体が、付着ダスト等の異物付着に起因する光散乱体であるか、または、微細欠陥に起因する光散乱体であるかを正確に識別できるシリコンウエハ表面微細欠陥の評価方法を提供する。例文帳に追加

To accurately discriminate when using a laser light scattering surface inspection device whether a light scattering bodies on a mirror-finished silicon wafer surface, is caused by sticking foreign objects such as sticking dust or caused by minute defects. - 特許庁