二次標準の英語

標準的な三次元グラフィックスパイプライン（７０）を使用した、二次元画素アレイの操作を可能にする。例文帳に追加

To permit the manipulation of a two-dimensional pixel array using a standard 3D graphics pipeline (70). - 特許庁

次にこの情報及び第二の標準器の応答特性が、第一の標準器の範囲外にある他の対象周波数又は波長に対して外挿される。例文帳に追加

Then the information and response characteristics of the second standard 140 are extrapolated to other object frequencies or wavelengths outside the range of the first standard 120. - 特許庁

次に（ｃ）で被呼側から発呼側に一回目の非標準機能識別信号（ＮＳＦ Ａ）を送信し、（ｄ）、（ｅ）で、二回目、三回目の非標準機能識別信号（ＮＳＦ Ｂ）（ＮＳＦ Ａ）をそれぞれ送信する。例文帳に追加

In a communication procedure (c), the called party transmits a 1st non-standard function identification signal (NSF A) to the caller, and in communication procedures (d), (e), the called party respectively transmits 2nd and 3rd non-standard function identification signals (NSF B), (NSF A) to the caller. - 特許庁

次に上記の変換を適用して二つの新しい独立一様乱数を得る。これらは平均0、標準偏差1のガウス分布を持つ。例文帳に追加

Then apply the above transformations to get two new independent random numbers which have a Gaussian distribution with zero mean and a standard deviation of one.発音を聞く  - コンピューター用語辞典

この電極領域レイアウト７０に、標準タイル７２が二次元的に配列されたパターンを合成する。例文帳に追加

The electrode region layout 70 is combined with a pattern having standard tiles 72 two-dimensionally arranged. - 特許庁

遷移領域程度の浅い領域に不純物濃度分布を有する二次イオン質量分析法の深さ校正用の標準試料を提供する。例文帳に追加

To provide a standard sample for depth calibration of secondary ion mass spectrometry which has an impurity concentration distribution in a shallow region like a transition region. - 特許庁

前記二次元画像が、外部標準を加えた標本１をもとに作製されたものであることを特徴とする。例文帳に追加

This system is characterized in that the two-dimensional image is prepared based on the sample 1 with an external standard added thereto. - 特許庁

この二次Ｘ線量のばらつきが±５％以内のときに（ステップＳ４）、二次Ｘ線量の平均値に最も近い値を有するサンプル２を標準サンプルとして特定し（ステップＳ５）、標準サンプルを除くサンプル２のめっき付着量を破壊方式により検出する。例文帳に追加

When the fluctuation thereof is within ±5% (step S4), a sample having a secondary X-ray dose closest to the average value is specified as a standard sample (step S5), and adhesion of plating to a sample other than the standard sample is detected by a destructive method. - 特許庁