原子蛍光分析の英語

水銀原子蛍光分析装置例文帳に追加

FLUORESCENCE ANALYZER OF MERCURY ATOM - 特許庁

ホロカソードランプ、原子吸光分析装置及び原子蛍光分析装置例文帳に追加

HOLLOW CATHODE LAMP, ATOMIC ABSORPTION SPECTROSCOPE AND ATOMIC FLUORESCENCE SPECTROSCOPE - 特許庁

式［Ｉ］で表される結晶相を含有する蛍光体であって、蛍光体粒子表面をＸ線光電子分光法（ＸＰＳ）により分析した場合に検出される窒素原子量に対する酸素原子量の比（Ｏ／Ｎ比）が２．０以上であることを特徴とする蛍光体。例文帳に追加

The phosphor is a phosphor having a crystal phase represented by following formula [I], wherein the ratio (O/N ratio) of the amount of oxygen atoms to the amount of nitrogen atoms detected when the surface of a phosphor particle is analyzed by the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is 2.0 or greater. - 特許庁

構成元素に関する情報が得られる蛍光Ｘ線分光分析装置と、原子の結合に関する情報が得られるラマン分光分析装置との組み合わせ方に工夫を凝らした新しい分光分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a new spectroscopic analyzer in which a fluorescent X-ray spectroscopic analysis system, capable of acquiring information on constituent elements and a Raman spectroscopic analysis system, capable of acquiring information on atomic coupling are skillfully combined with each other. - 特許庁

高濃度の水銀を含有する試料を測定する場合、測定直後に繰り返し測定しても正確で精度のよい分析値を得ることができる水銀原子蛍光分析装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a fluorescence analyzer of a mercury atom capable of obtaining an accurate and precise analyzing value even when a sample containing mercury in high concentration is repeatedly measured immediately after measurement. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析装置による固体試料の分析の際に、原子番号８以下の元素のみから構成され、膜の厚みが４００μｍ以下である有機膜で、当該試料の表面を覆う。例文帳に追加

When the solid sample is analyzed by using the X-ray fluorescence analysis system, the surface of the solid sample is covered by an organic film with the thickness of not more than 400 μm which is composed of only elements whose atomic number is not more than eight. - 特許庁

また、Ｐ原子をＳｎＯ_２に換算したＳｎＯ_（２−ｘ）に対して０．０１〜０．８質量％含有し、ＸＰＳにより測定された粒子最表面のＰ原子とＸＲＦ（蛍光Ｘ線分析）により測定された粒子全体中のＰ原子の組成比が１より大である酸化スズ結晶超微粒子。例文帳に追加

The ultrafine particle of tin oxide crytal contains 0.01-0.8 mass% of P vs. SnO_(2-x) in terms of SnO_2 and has a compositional ratio of P at the outermost surface of the particle measured by XPS to P in the whole particle measured by XRF (X-ray fluorimetry) of >1. - 特許庁