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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 原子蛍光分析に関連した英語例文

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原子蛍光分析の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 11



例文

水銀原子蛍光分析装置例文帳に追加

FLUORESCENCE ANALYZER OF MERCURY ATOM - 特許庁

ホロカソードランプ、原子吸光分析装置及び原子蛍光分析装置例文帳に追加

HOLLOW CATHODE LAMP, ATOMIC ABSORPTION SPECTROSCOPE AND ATOMIC FLUORESCENCE SPECTROSCOPE - 特許庁

式[I]で表される結晶相を含有する蛍光体であって、蛍光体粒子表面をX線光電子分光法(XPS)により分析した場合に検出される窒素原子量に対する酸素原子量の比(O/N比)が2.0以上であることを特徴とする蛍光体。例文帳に追加

The phosphor is a phosphor having a crystal phase represented by following formula [I], wherein the ratio (O/N ratio) of the amount of oxygen atoms to the amount of nitrogen atoms detected when the surface of a phosphor particle is analyzed by the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is 2.0 or greater. - 特許庁

構成元素に関する情報が得られる蛍光X線分光分析装置と、原子の結合に関する情報が得られるラマン分光分析装置との組み合わせ方に工夫を凝らした新しい分光分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a new spectroscopic analyzer in which a fluorescent X-ray spectroscopic analysis system, capable of acquiring information on constituent elements and a Raman spectroscopic analysis system, capable of acquiring information on atomic coupling are skillfully combined with each other. - 特許庁

例文

高濃度の水銀を含有する試料を測定する場合、測定直後に繰り返し測定しても正確で精度のよい分析値を得ることができる水銀原子蛍光分析装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a fluorescence analyzer of a mercury atom capable of obtaining an accurate and precise analyzing value even when a sample containing mercury in high concentration is repeatedly measured immediately after measurement. - 特許庁


例文

蛍光X線分析装置による固体試料の分析の際に、原子番号8以下の元素のみから構成され、膜の厚みが400μm以下である有機膜で、当該試料の表面を覆う。例文帳に追加

When the solid sample is analyzed by using the X-ray fluorescence analysis system, the surface of the solid sample is covered by an organic film with the thickness of not more than 400 μm which is composed of only elements whose atomic number is not more than eight. - 特許庁

また、P原子をSnO_2に換算したSnO_(2−x)に対して0.01〜0.8質量%含有し、XPSにより測定された粒子最表面のP原子とXRF(蛍光X線分析)により測定された粒子全体中のP原子の組成比が1より大である酸化スズ結晶超微粒子。例文帳に追加

The ultrafine particle of tin oxide crytal contains 0.01-0.8 mass% of P vs. SnO_(2-x) in terms of SnO_2 and has a compositional ratio of P at the outermost surface of the particle measured by XPS to P in the whole particle measured by XRF (X-ray fluorimetry) of >1. - 特許庁

本発明の蛍光体は、ユーロピウム付活アルミン酸アルカリ土類金属塩蛍光体からなり、X線光電子分光法(XPS)により測定された原子の組成比が質量分析法により測定された組成比と同一であることを特徴とする。例文帳に追加

The phosphor comprises a europium-activated alkaline earth metal aluminate phosphor, and has the same composition ratio of atoms measured by an X-ray electron spectroscopy (XPS) as the composition ratio measured by a mass spectrometry. - 特許庁

本発明の蛍光体の製造方法は、蛍光体原料を加熱炉内で流動または転動させながら加熱して焼成することによって、XPSにより測定された原子の組成比が質量分析法により測定された組成比と同一であるユーロピウム付活アルミン酸アルカリ土類金属塩蛍光体を得る工程を備えている。例文帳に追加

The method for producing the phosphor involves a step for obtaining the europium-activated alkaline earth metal aluminate phosphor having the same composition ratio of atoms measured by the XPS as the composition ratio measured by the mass spectrometry by firing raw materials for the phosphor while fluidizing or rolling the raw materials in a heating furnace. - 特許庁

例文

原子炉施設より環境に放出される気体廃棄物を取り込み、これに放射性物質の特徴的な波長を励起させるレーザ光を照射することで、蛍光が得られる蛍光分析して、トリチウム、よう素、希ガスの放射性物質とその濃度を測定するようにしたレーザ式放出放射性物質濃度測定装置。例文帳に追加

The laser-type concentration measurement apparatus for released radioactive materials takes off gasses discharged from a nuclear reactor facilities to the environment, analyzes fluorescence by irradiating a laser light which stimulates a specific wavelength of the radioactive materials, and measures tritium, iodine, and the radioactive materials in noble gases and concentrations thereof. - 特許庁

例文

シリコーン系粘着剤に由来する汚染物質がアウターパッドに付着し、その汚染物質の付着量が蛍光X線分析によるケイ素原子の付着量で20mg/m^2 以下である半導体装置を用いて、配線基板へのはんだ付けを行う工程を含む半導体装置の実装方法。例文帳に追加

The method for mounting the semiconductor device comprises a step of soldering a circuit board using the device, in which a contaminant substance caused by the silicone adhesive is adhered to an outer pad and its adhering amount of the substance is 20 mg/m2 or less. - 特許庁

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