圧力プローブの英語

プローブ探針の針ズレや接触圧力の不均等が発生する。例文帳に追加

To provide a probe device in which misregistration or nonuniform contact pressure of probe needles does not occur. - 特許庁

圧力プローブは、爆轟洗浄装置とともに使用可能である。例文帳に追加

The pressure probe may be used in conjunction with the detonative cleaning apparatus. - 特許庁

地震の揺れによるプローブ針への押圧力の付加を低減することができ、プローブ針の変形をある程度防止できるようにしたプローブ検査装置及びプローブ検査装置本体を提供する。例文帳に追加

To provide a probe inspecting device and a probe inspecting device body, which reduce pressing force added to a probe needle owing to an earthquake motion, and prevent deformity of the probe needle to some extent. - 特許庁

被測定集積回路素子に加わる各々のプローブ圧力が自動調整可能であり、且つプローブを中心線に沿って自動位置合せ可能なプローブ・デバイスおよびプローブ・カードを提供する。例文帳に追加

To provide a probe device and a probe card capable of automatically adjusting probe pressure added to a measured integrated circuit element, and automatically aligning the probe along a central line. - 特許庁

口腔関連圧力測定装置および口腔関連圧力測定用プローブ例文帳に追加

ORAL CAVITY-RELATED PRESSURE MEASURING APPARATUS AND PROBE FOR ORAL CAVITY-RELATED PRESSURE MEASUREMENT - 特許庁

口腔関連圧力測定用プローブおよびこれを用いた口腔関連圧力測定装置例文帳に追加

MOUTH-RELATED PRESSURE MEASUREMENT PROBE AND MOUTH-RELATED PRESSURE MEASUREMENT DEVICE USING THE SAME - 特許庁

テストプローブ装置６０のプローブカード５８のプローブチップ５６に吸着されているパーティクル５４を洗浄するためのプローブ洗浄装置４８は、隆起した表面を有するシリコンウェーハ５０を含み、圧力が加えられた状態でプローブチップ５６を接触させる。例文帳に追加

This probe cleaning device 48 for cleaning particles 54 attached to a probe tip 56 of a probe card 58 of a test probe device 60 includes a silicon wafer 50 having a ridged surface, and is brought into contact with the probe tip 56 in the pressurized state. - 特許庁

個々のプローブ針を、常に所定の圧力で半導体ウェーハに対して接触させることのできる半導体用プローブを提供する。例文帳に追加

To provide a probe for a semiconductor capable of always contacting individual probe needles with respect to a semiconductor wafer under a prescribed pressure. - 特許庁