「圧力プローブ」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

プローブ針圧力不良検出用の半導体装置、プローブ針圧力不良検出システム及び半導体装置の製造方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR APPARATUS FOR DETECTING POOR PROBE NEEDLE PRESSURE, SYSTEM FOR DETECTING POOR PROBE NEEDLE PRESSURE, AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR APPARATUS - 特許庁

コンタクトプローブ、圧力センサ及び車両用ブレーキ液圧制御装置例文帳に追加

CONTACT PROBE, PRESSURE SENSOR, AND BRAKE HYDRAULIC PRESSURE CONTROL DEVICE FOR VEHICLE - 特許庁

プローブ探針の針ズレや接触圧力の不均等が発生する。例文帳に追加

To provide a probe device in which misregistration or nonuniform contact pressure of probe needles does not occur. - 特許庁

圧力プローブは、爆轟洗浄装置とともに使用可能である。例文帳に追加

The pressure probe may be used in conjunction with the detonative cleaning apparatus. - 特許庁

地震の揺れによるプローブ針への押圧力の付加を低減することができ、プローブ針の変形をある程度防止できるようにしたプローブ検査装置及びプローブ検査装置本体を提供する。例文帳に追加

To provide a probe inspecting device and a probe inspecting device body, which reduce pressing force added to a probe needle owing to an earthquake motion, and prevent deformity of the probe needle to some extent. - 特許庁

被測定集積回路素子に加わる各々のプローブ圧力が自動調整可能であり、且つプローブを中心線に沿って自動位置合せ可能なプローブ・デバイスおよびプローブ・カードを提供する。例文帳に追加

To provide a probe device and a probe card capable of automatically adjusting probe pressure added to a measured integrated circuit element, and automatically aligning the probe along a central line. - 特許庁

口腔関連圧力測定装置および口腔関連圧力測定用プローブ例文帳に追加

ORAL CAVITY-RELATED PRESSURE MEASURING APPARATUS AND PROBE FOR ORAL CAVITY-RELATED PRESSURE MEASUREMENT - 特許庁

口腔関連圧力測定用プローブおよびこれを用いた口腔関連圧力測定装置例文帳に追加

MOUTH-RELATED PRESSURE MEASUREMENT PROBE AND MOUTH-RELATED PRESSURE MEASUREMENT DEVICE USING THE SAME - 特許庁

テストプローブ装置６０のプローブカード５８のプローブチップ５６に吸着されているパーティクル５４を洗浄するためのプローブ洗浄装置４８は、隆起した表面を有するシリコンウェーハ５０を含み、圧力が加えられた状態でプローブチップ５６を接触させる。例文帳に追加

This probe cleaning device 48 for cleaning particles 54 attached to a probe tip 56 of a probe card 58 of a test probe device 60 includes a silicon wafer 50 having a ridged surface, and is brought into contact with the probe tip 56 in the pressurized state. - 特許庁

個々のプローブ針を、常に所定の圧力で半導体ウェーハに対して接触させることのできる半導体用プローブを提供する。例文帳に追加

To provide a probe for a semiconductor capable of always contacting individual probe needles with respect to a semiconductor wafer under a prescribed pressure. - 特許庁

隣接するプローブ間の相互干渉がなく、電極に対して大きな押圧力を発することのできるプローブカード装置を提供する。例文帳に追加

To provide a probe card device that has no mutual interference between adjacent probes and can generate large press to an electrode. - 特許庁

プローブカード５８に加えられる圧力、ならびにプローブカード５８の運行は多様な測定センサーにより調節できる。例文帳に追加

The pressure applied to the probe card 58 and the movement of the probe card 58 can be adjusted by various measuring sensors. - 特許庁

Ａ／Ｄ変換器２４は、圧力センサ２１、電圧プローブ２２および電流プローブ２３の出力をＡ／Ｄ変換する。例文帳に追加

The A/D conversion of the outputs of the pressure sensor 21, the voltage probe 22 and the current probe 23, is performed by an A/D converter 24. - 特許庁

プローブ３がトランジスタ６上に位置すると、トランジスタ６はプローブ３の接触圧力を受けてトランジスタ特性が変化する。例文帳に追加

A transistor 6 varies in its characteristics, responding to a contact pressure, applied to it by the probe 3 when the probe 3 is positioned on the transistor 6. - 特許庁

広い面積にわたって電極パッドにプローブさせる場合でも、全てのプローブに対して、ほぼ均等な圧力を加え、安定した導通が得られる半導体検査用プローブ装置を提供する。例文帳に追加

To provide a probe apparatus for inspecting semiconductors that applies nearly uniform pressure to all probes even if an electrode pad is proben over a large area. - 特許庁

前記プローブ先端部と前記電極との位置合わせを行うため、他のプローブよりも前記電極に対する圧力の高い位置合わせ用プローブを設けた。例文帳に追加

In order to implement alignment between the probe apical end and the electrode, a probe is arranged for alignment with higher pressure than other probes to the electrode. - 特許庁

プローブ針と試料との接触後におけるプローブ針の伸縮を抑制してプローブ針と試料との接触の圧力を好適に設定し、安定した試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor tester that can stabilize a test by suppressing expansion and contraction of probe needles after contact between the probe needles and a sample and setting an appropriate pressure of contact between the probe needles and the sample. - 特許庁

切開器具１００は切開機構１０６、浮動プローブ１０８、および圧力先端１０４を含む。例文帳に追加

The incision instrument 100 comprises an incision mechanism 106, a floating probe 108, and a pressure tip 104. - 特許庁

走査プローブ顕微鏡の探針１２として圧力誘起超伝導物質からなるものを用いる。例文帳に追加

As the probe 12 of the scanning probe microscope, a pressure inducing superconductive substance is used. - 特許庁

プローブ・チップが被測定装置に接触すると、圧力センサが活性化信号を発生する。例文帳に追加

When the probe tips contact a device to be measured, the pressure sensors generate activation signals. - 特許庁

高温の用途における静電容量式圧力プローブまたはセンサを提供する。例文帳に追加

To provide a capacitance type pressure probe or sensor for use at high temperature. - 特許庁

プローブコネクタは、互いに嵌合可能なプラグ及びリセプタクルと、圧力機構とを備える。例文帳に追加

The probe connector includes a plug and a receptacle fittable to each other, and a pressure mechanism. - 特許庁

目的の圧力まで達したら、プローブの温度を上げ必要な超臨界状態をつくる。例文帳に追加

When a target pressure is attained, the probe temperature is raised and the necessary supercritical state is generated. - 特許庁

情報を表示する方法は、プローブ２８の曲げ角及びプローブ２８上の圧力から成るパラメータの群から選択される、被験体２４の体内の侵襲的プローブ２８の少なくとも１種のプローブパラメータに関する測定値を受信するコンソール３４を備える。例文帳に追加

A method for displaying information includes a console 34 for receiving a measurement value related to at least one of a probe parameter of an invasive probe 28 inside the body of the subject 24, selected from a group of parameters consisting of a bend angle of the probe 28 and a pressure on the probe 28. - 特許庁

複数のプローブが設けられたプローブ基板と、上記プローブ基板を弾性部材によって所定の間隔で保持するメイン基板を備え、上記プローブ基板と上記メイン基板の間に、圧力が加えられた後の復元速度が遅いクッション材を設ける。例文帳に追加

The probe card includes: a probe substrate provided with a plurality of probes; a main substrate for holding the probe substrate with a predetermined gap by an elastic member; and a cushion member disposed between the probe substrate and the main substrate and having a slow restoring speed after a pressure is applied. - 特許庁

生体への装着が容易であると共に、プローブ部分の生体への装着圧力が装着手技によらず一定になって、プローブ部分における過渡な圧力による生体への局所圧迫による発赤・褥瘡様の症状が発生することの少ないプローブの装着バンドと提供する。例文帳に追加

To provide a mounting band for probes, which facilitates the mounting on a living body, uniformizing a mounting pressure of a probe portion to the living body despite of a mounting technique and reducing the occurrence of reddening and bedsore-like symptoms due to a local oppression of the probe portion by an excessive pressure to the living body. - 特許庁

本発明は、プローブ針の針圧不良を容易に検出することができ、不良解析時間を短縮することができるプローブ針圧力不良検出用の半導体装置、プローブ針圧力不良検出システム及び半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor apparatus for detecting poor probe needle pressure capable of detecting poor needle pressure of a probe needle easily and reducing time for analyzing the poorness, as well as a system for poor probe needle pressure and a method for producing the semiconductor apparatus. - 特許庁

プローブ針１１と半導体ウェーハとの接触圧力を検出する圧電素子１５aを設け、圧電素子１５aが検出した圧力に応じてプローブ針１１を昇降するためのモータ１８および摩擦車１９を有することを特徴とする半導体用プローブ。例文帳に追加

The probe for the semiconductor comprises a piezoelectric element 15a for detecting the contact pressure of the probe needle 11 with the semiconductor wafer, and a motor 18 and a frictional wheel 19 for lifting and lowering the needle 11, in response to the pressure detected by the element 15a. - 特許庁

接触圧力測定器によらず、コンタクトプローブ間の接触圧力のばらつきを定量的に、かつ、簡易に判定できるコンタクトプローブの寿命判定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a judgment method of a contact probe that can quantitatively and simply judge the fluctuation of the contact pressure between the contact probes without using a contact pressure-measuring instrument. - 特許庁

前記圧力調整部４は、例えば、圧力計１１、プローブ分子ガス供給源１２、乾燥器１３、及び、真空排気系１４を含む。例文帳に追加

The pressure-adjusting section 4 includes, for example a pressure gauge 11, a probe molecule gas supply source 12, a dryer 13, and an evacuation system 14. - 特許庁

プローブと圧力検知部の間は本体チューブ６により接続され、バルーンの内部と圧力検知部とが連通する。例文帳に追加

The probe is connected to the detecting section 7 through a main body tube 6 which communicates the inside of the balloon 6 to the detecting section 7. - 特許庁

校正装置は付属品を含み、プローブの遠位先端がこの付属品内のある点に対して押し付けられ、遠位先端にかかる圧力に応じた、プローブの遠位端に対する遠位先端の変形を示す第一測定値を生成するように、この付属品はプローブを受容するために連結される。例文帳に追加

The calibration apparatus includes a fixture, which is coupled to accept a probe so that the distal tip of the probe presses against a certain point in the fixture and produces a first measurement value indicative of a deformation of the distal tip relative to a distal end of the probe, in response to pressure exerted on the distal tip. - 特許庁

プローブカード内部にＮ_２などの不活性ガスが封入された中空部３を設け、ガイド８を介して各プローブピン７に均一の圧力をかけることができるため、プローブピン７の高さを一定に保つことができ、容易にアライメントができ、アライメント時間を短縮することができる。例文帳に追加

A hollow section 3 where inert gas, such as N_2, is sealed is provided inside the probe card, and uniform pressure is applied to each probe pin 7 via a guide 8, thus maintaining the height of the probe pin 7 uniformly, facilitating alignment, and reducing alignment time. - 特許庁

平面領域内における圧力機構の近傍の領域に配置された接触パッドには、少なくとも、装置本体が超音波プローブを識別するためのプローブ識別信号を送受信するためのプローブ識別信号線が配されている。例文帳に追加

A probe identification signal line for transmitting/receiving probe identification signals for the apparatus body to identify the ultrasonic probe at least is arranged at the contact pads arranged in a region near the pressure mechanism within the plane region. - 特許庁

次いで、２５℃、６５％ＲＨで３０分間保持した後、タッキングテスターにより、ポリプロピレン製プローブ側基盤（８mm径）、プローブ進入速度１２０mm／sec、加圧力２００gf、加圧時間３秒、プローブ引き上げ速度６００mm／secの条件下で、乾燥残分の粘着力を測定する。例文帳に追加

Then, after keeping at 25°C 65% RH for 30 min, the cohesion of the dry residue is measured with a tacking tester, on the conditions of a polypropylene probe-side base (8 mm diameter), 120 mm/sec probe-approach velocity, 200 gf added pressure, 3 sec pressure-added time and 600 mm/sec probe-lifting velocity. - 特許庁

改良された熱応答性を有する低圧処理用の温度プローブを用い、流体がプローブヘッド内の流体搬送通路に供給されて、プローブヘッド30と半導体ウエハ50との間の圧力を増加し、両者間の熱伝導率を増加させる。例文帳に追加

A temperature probe for low-pressure treatment with its raised heat responsiveness is used, a fluid is fed in a fluid carrying passage within a probe head to increase the pressure between the probe head 30 and a semiconductor wafer 50 and a heat conductivity between both of the head 30 and the wafer 50 is increased. - 特許庁

電気絶縁性に優れると共に被測定体の電気的特性を検査する際の接触圧力を高めることができるプローブ針及びそのプローブ針を容易に得ることができる製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method capable of easily obtaining a probe needle capable of enhancing the contact pressure in inspecting the electric performance of a measurement object as well as excellent in the electric insulation. - 特許庁

プローブ針３１と電極部１２とが接触するとき、触針４１と突起部４２とを同時に接触し、更にプローブ針３１が電極部１２に対し押圧力を加える。例文帳に追加

When the probe needle 31 and the electrode 12 are in contact with each other, the contact needle 41 and the projection 42 are simultaneously in contact and the probe needle 31 applies a pressing force to the electrode. - 特許庁

プローブカードの回路基板１０の下方且つ支持板１２の上方には、複数のプローブに所定の接触圧力を付与する流体チャンバ２０が設けられている。例文帳に追加

A fluid chamber 20 for applying a prescribed contact pressure onto a plurality of probes is provided under a circuit board 10 of the probe card, and over a support plate 12. - 特許庁

１枚ずつプローブ検査する場合に、ウエハチャックのＺ軸に大きな圧力を印加すること無しに、ウエハ上の全チップの同時プローブ検査が可能なプローバの実現。例文帳に追加

To achieve a prober allowing simultaneous probe-inspection of all chips on a wafer without applying a large pressure onto a Z-axis of a wafer chuck in probe-inspecting them sheet by sheet. - 特許庁

大気圧以上の押圧力によりプローブカードをウェーハに押圧することができ且つウェーハとプローブカードとの押圧接触を速やかに行えるようにする。例文帳に追加

To press a probe card against a wafer by pressure equal to or higher than the atmospheric pressure, and quickly achieve pressed contact of the probe card with the wafer. - 特許庁

回路の電気的検査において、小さい押圧力にて確実に回路と接触するとともに位置精度良く配列された多数のプローブを有するプローブカードを提供する。例文帳に追加

To provide a probe card which is provided with a number of probes that can be surely brought into contact with a circuit by a small pressing force when the circuit is subject to electric testing, and that are arranged in highly positional accuracy. - 特許庁

圧力センサ２１は、空気槽１１の入口に設置され、電圧プローブ２２および電流プローブ２３は、圧縮機始動盤１２に接続された電源の電圧、電流を検出する。例文帳に追加

A pressure sensor 21 is provided for the entrance of an air tank 11, and a voltage probe 22 and a current probe 23 detect the voltage and current of a power supply connected with a compressor starting panel 12 respectively. - 特許庁

プローブカードに圧力を吸収するバランス素子を用いてプローブ針を保護し、ウエハー面内のばらつきに関わらず、正確な電気特性の測定を可能とした。例文帳に追加

The probe needle is protected by using a balance element for absorbing pressure in a probe card and accurate electric characteristics can be measured regardless of the dispersion of the contact uniformity in the surface of wafer. - 特許庁

プローブカードの回路基板１０と支持板１２との間には、複数のプローブに所定の接触圧力を付与する流体チャンバ２０が設けられている。例文帳に追加

A fluid chamber 20 for applying a predetermined contact pressure to a plurality of probes is disposed between a circuit board 10 and a support plate 12 of the probe card. - 特許庁