「圧力プローブ」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

プローブの数を多くすることと、均一な押圧力を得ることとを両立できる、半導体チップの半導体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor inspection apparatus for a semiconductor chip, which is capable of increasing the number of probes and obtaining uniform pressure compatibly. - 特許庁

吸引後に圧力センサ３２を使いプローブ先端３８内の液柱を支えるのに必要な真空を測定する。例文帳に追加

A pressure sensor 32 is used after aspiration to measure the vacuum needed for supporting the column of fluid in a probe tip 38. - 特許庁

この圧力制御のループは、プローブがワークから離れても追従しないように感度を下げることにより安定化。例文帳に追加

This loop for pressure control is stabilized by lowering its sensitivity so as not to follow the probe if it gets away from the work. - 特許庁

チップユニット及びプローブユニットの少なくとも一方と接続ピンとを、それらの間の相対的な押圧力を調整可能に結合すること。例文帳に追加

To adjustably couple relative pressure between at least one of a chip unit and a probe unit, and to provide a connection pin. - 特許庁

隆起した表面は、圧力が加えられた状態でプローブチップ５６と接触すると、パーティクル５４を押し潰すことができる。例文帳に追加

The ridged surface can crush the particles 54 by being brought into contact with the probe tip 56 in the pressurized state. - 特許庁

測定中に測定プローブが多少動いて外耳道内の圧力が変動しても耳小骨筋反射測定の精度を低下させない。例文帳に追加

To prevent reduction in measuring accuracy of musculi ossiculorum auditus reflection even if pressure in an external acoustic meatus changes since a measuring probe slightly moves in measurement. - 特許庁

同軸ケーブル１４８の先端がプローブ・チップ１５１となり、先端近傍に圧力センサ１４２、１４３が設けられる。例文帳に追加

The tip end of the coaxial cable 148 becomes the probe tip 151 and near the tip end, pressure sensors 142, 143 are provided. - 特許庁

したがって、プローブ担持脚１４と押し当てブロック担持脚１６との相対的押圧力を支持部あるいは表示パネルに与えることがない。例文帳に追加

Hereby, the relative pressing force between the probe carrying leg 14 and the press block carrying leg 16 is never applied to a support part or the display panel. - 特許庁

これにより、プローブ針５の圧力のばらつきを無くして、ウエハのパッドに針径以上の傷をつけることなく測定できる。例文帳に追加

Thus, irregularity of pressure of the probe 5 is eliminated and measurement can be performed without making a flaw larger than the diameter of the needle on the pad of the wafer. - 特許庁

この状態で、プローブ３５，４５が所定の圧力でプリント基板２５に接触して、プリント基板２５の検査を行われる。例文帳に追加

In this state, probes 35 and 45 make contact with a printed board 25 at a prescribed pressure, and inspection of the printed board 25 is conducted. - 特許庁

吸引後、圧力センサは、プローブ先端に流体柱を保持するために必要な減圧を測定するために使用される。例文帳に追加

After aspiration, a pressure sensor is used for measuring a pressure reduction needed to hold a fluid column at a probe tip. - 特許庁

コンタクト試験により導通していないと判断された場合は、最上部のプローブカード２上面側から圧力を印加する。例文帳に追加

If the contact test judges that there is no conduction, the pressure is applied from the upper surface side of the top probe card 2. - 特許庁

圧力先端は切開器具の浮動プローブが目標の部位の膨張の表面に浮動した状態で、押されて膨張を形成する。例文帳に追加

The pressure tip is pressed and forms the dilation under the condition where the floating probe of the incision instrument is floated on the surface of the target site dilation. - 特許庁

テストヘッド４０は、フレーム５１を有するテストヘッド本体５０と、プローブカード２０とテストヘッド本体５０とを電気的に接続するインタフェース装置６０と、プローブカード２０とフレーム５１の間に介在して、プローブカード２０に印加される押圧力Ｆをフレーム５１に伝達するブレーキユニット８０と、を備えている。例文帳に追加

The test head 40 includes: a test head body 50 having a frame 51; an interface device 60 electrically connecting the probe card 20 and test head body 50 to each other; and a brake unit 80 interposed between the probe card 20 and frame 51, and transmitting pressure F, applied to the probe card 20, to the frame 51. - 特許庁

回路基板を保持する回路基板保持具と、回路基板の被測定点に接触して被測定点の計測を行うプローブを保持するプローブ保持具とを有する回路基板試験装置であって、回路基板の被測定点に適度な圧力でプローブを接触させることができる回路基板試験装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a circuit board testing device capable of bringing a probe into contact with a measuring point on a circuit board with a proper pressure, concerning the circuit board testing device having a circuit board holding tool for holding the circuit board and a probe holding tool for holding the probe for measuring the measuring point in contact with the measuring point on the circuit board. - 特許庁

測定プローブ本体に設けられた光ファイバー接続口を具備する分光分析用測定用プローブにおいて、前記光ファイバー接続口を気密に覆う気密カバーと、この気密カバーに設けられこの気密カバーの内部の内圧が所定の圧力に達すると大気開放となる気密カバー内圧監視バルブとを具備したことを特徴とする分光分析用測定用プローブである。例文帳に追加

This measurement probe for spectral analysis having an optical fiber connection port provided in a measurement probe body includes an air-tight cover for air-tightly covering the optical fiber connection port, and an air-tight cover internal pressure monitoring valve which is provided in the air-tight cover and opened to the air when the internal pressure in the air-tight cover reaches a designated pressure. - 特許庁

半導体集積回路装置の製造技術を用いて形成された薄膜プローブを用いて行うプローブ検査において、探針とその探針が対応するテストパッドとを所望の接触圧力で接触させることのできる技術を提供する。例文帳に追加

To provide technology for bringing a probe into contact with a test pad corresponding to the probe by a desired contact pressure in probe inspection using a thin film probe formed by using manufacture technique of a semiconductor integrated circuit device. - 特許庁

本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、種々の半導体ウエハに対して、適切な押圧力によりプローブを接触させることができるようにする。例文帳に追加

To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which the probe can be touched to various semiconductor wafer with an appropriate pressing force. - 特許庁

半導体装置の製造技術を用いて形成された薄膜プローブを用いて行うプローブ検査において、接触端子とその接触端子が対応するテストパッドとを所望の接触圧力で接触させることのできる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technique capable of bringing a contact terminal into contact with a test pad that the contact terminal corresponds to by a desired contact pressure in a probe inspection executed using a thin film probe formed using the manufacture technique of a semiconductor device. - 特許庁

生体Ｈ１を加熱治療するマイクロ波プローブ２を保持するプローブ固定具３に吸引孔１０からの吸引圧力によって加熱対象である生体Ｈ１に吸着固定される生体固定部１１を設けたものである。例文帳に追加

A probe fixing tool 3 for holding a microwave probe 2 for heating/treating a living body H1 is provided with a living body fixing part 11 to be sucked and fixed to the living body H1 being a heating object by suction pressure from a suction hole 10. - 特許庁

検査装置本体２に収容したカセットＣに保持された半導体ウェーハＷとプローブ端子Ｐ…を負圧により吸引する吸引手段３に加えて、半導体ウェーハＷとプローブ端子Ｐ…を圧力流体Ａにより加圧する流体加圧手段４を設ける。例文帳に追加

In addition to a suction means 3 for sucking the semiconductor wafer W and probe terminals P or the like held by a cassette C housed in inspection equipment main body 2 by a negative pressure, a fluid pressurizing means 4 for pressurizing the semiconductor wafer W and the probe terminals P or the like by pressure fluid A is provided. - 特許庁

サンプルプローブ１，分注シリンジ３を含む分注流路系に圧力センサ１１を接続し、サンプル分注時の圧力変動波形を測定する。例文帳に追加

A pressure sensor 11 is connected to a dispensing flow path system including a sample probe 1 and a dispensing syringe 3 to measure a pressure variation waveform during dispensing the sample. - 特許庁

低圧押圧工程は、検査に好適な適正押圧力よりも低圧の当接押圧力で空気圧ピストンが各外部端子を各検査用プローブに当接させる。例文帳に追加

In the low-pressure thrusting step, a pneumatic piston is caused to contact each external terminal with each testing probe by a contacting thrust lower than an adequate thrust suitable for testing. - 特許庁

これにより当接される瞬間、当接押圧力とピストン自身の慣性力と検査用プローブの慣性力からなる押圧力が過大になることが緩和される。例文帳に追加

At this contacting moment, the contacting thrust and a thrust consisting of an inertia force of the piston itself and an inertia force of the testing probe are eased from becoming excessive. - 特許庁

水分検出プローブが入るハウジングには、圧力レギュレータが搭載され、圧力レギュレータの流出口は、ハウジングの孔に向かって開口している。例文帳に追加

A pressure regulator is mounted on a housing, in which a moisture detection probe is put, and a flow outlet of the pressure regulator is opened toward a housing bore. - 特許庁

バルーンの位置決めがより容易にかつ確実に行える、口腔関連圧力測定用プローブ、およびそれを用いた口腔関連圧力測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a mouth-related pressure measurement probe and a mouth-related pressure measurement device using the same, which facilitates and ensures positioning of a balloon. - 特許庁

プローブ本体の内部キャビティに供給する流体圧力を選択的に制御して、メンブレインを拡張させて半導体ウエハの上面と接触させる。例文帳に追加

The pressure of fluid supplied to the internal cavity of the probe body is selectively controlled so that the membrane expands into contact with the topside of semiconductor wafer. - 特許庁

検査装置（８２）は、原子炉圧力容器（１０）の上部フランジ(１８)に装着できる形状にされたフレーム構造体（８４）に回転可能にかつ直線的に移動可能に結合されたプローブ部分組立体（１３０）を含む。例文帳に追加

The inspection apparatus (82) includes a probe subassembly (130) rotatably and linearly movably coupled to a frame structure (84) configured to attach to a top flange (18) of a reactor pressure vessel (10). - 特許庁

静電容量式圧力センサ１００はプローブ筐体の内部検出チャンバ３０内に配設され、かつ、その中央部分上に形成される第１の電極５２を有する、サファイヤダイアフラム４２を含む。例文帳に追加

The capacitance type pressure sensor 100 includes a sapphire diaphragm 42 which is arranged in an internal detection chamber 30 of a probe housing, and has a first electrode 52 formed on a center part of the diaphragm 42. - 特許庁

扁平形状のバルーンを用いた圧力測定プローブを用い、口腔内にバルーンを適切な状態に挿入して良好な測定精度を安定して確保することを可能とする。例文帳に追加

To stably secure proper measurement accuracy by inserting a balloon in an appropriate state into the oral cavity by using a pressure measuring probe employing the flat balloon. - 特許庁

スリーブは、ＭＲＩ適合生検器具のプローブを受容し、イメージングの改善、内部を通る圧力及び真空の改善、及びマーカーの配置などの様々な機能を含むことができる。例文帳に追加

The sleeve receives a probe of the MRI-compatible biopsy instrument and may include various features for improvement of imaging, improvement of vacuum and pressure passing through inside, marker arrangement, and the like. - 特許庁

特に高温流体に適する圧力・温度共用トランスデューサー１０が、感知素子組立体を有し、これは、流体流路に配置するように構成された管状プローブ２０の先端に取り付けられる。例文帳に追加

The combined pressure and temperature transducer 10 suited for high temperature fluid, has a sensing element assembly, which is mounted at the tip of a tubular probe 20 which is arranged for placement in a fluid flow path. - 特許庁

原子炉圧力容器内で使用するために、ロボット取付ブラケットを有するロボットアームに、超音波探傷検査プローブを浮動自在に支持する端部効果器及びこれを用いた超音波探傷方法を提供する。例文帳に追加

To provide an end effecter for floatably supporting an ultrasonic flaw detecting probe on a robot arm having a robot mounting bracket for the use in a reactor pressure vessel and an ultrasonic flaw detecting method using it. - 特許庁

プローバフレームの面剛性を高め、歪みを少なくし、これにより、各プローブピンとＴＦＴパネル基板の電極との接触圧力を均一化する。例文帳に追加

To heighten surface rigidity of a prober frame, to reduce strain, and to thereby uniformize a contact pressure between each probe pin and an electrode of a TFT panel substrate. - 特許庁

スリーブは、ＭＲＩ適合生検器具のプローブを受容し、イメージングを改善する機能、内部を通る圧力及び真空を改善する機能などの様々な機能を含むことができる。例文帳に追加

The sleeve receives a probe of the MRI-compatible biopsy instrument and may contain various features to enhance its imagability, to enhance vacuum and pressure assist therethrough, etc. - 特許庁

押し当てブロック担持脚１６の先端に設けられた押し当てブロック２４は、表示パネル１２を挟んでプローブ２２ａと所定の押圧力で相対的に対向する。例文帳に追加

A press block 24 provided on the tip of the press block carrying leg 16 faces relatively to the probes 22a across the display panel 12 with a prescribed pressing force. - 特許庁

従来のコンタクトプローブピンは、硬さの異なる２つの物体に同じ圧力が加わり、被測定物が半田ボールのような場合に傷を付けてしまう。例文帳に追加

To solve the problem that a conventional contact probe pin gives damage to an element to be measured like a solder ball since the same pressure is applied to two objects having different hardnesses. - 特許庁

両端に加重を与えてたわませることにより被接触体に対する接触圧力を得て電気特性を測定する方式のコンタクトプローブを効率よく製造することができる形状、及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a form capable of efficiently manufacturing a contact probe of a type for obtaining contact pressure to a material brought into contact for measuring electric characteristics by bending with load applied to both ends, and to provide its manufacturing method. - 特許庁

各プローブの一端又は他端に作用する押圧力が他方に影響を及ぼすことを防止すると共に、針先の高さ位置を容易に一定にすることができるようにすることにある。例文帳に追加

To prevent a pressing force working on one end or the other end of each probe from exerting an influence on the other side, and to easily fix the height position of a needle tip. - 特許庁

特性測定装置１０は、可変コンデンサ１８と電気回路部１９とを含んで圧電体Ｐに押圧力を付与する押圧プローブ１２と、データ処理手段５１とを備えている。例文帳に追加

The characteristic measurement apparatus 10 is provided with: a pressing probe 12 including the variable capacitor 18 and an electric circuit part 19 and providing a pressing force to a piezoelectric body P; and a data processing means 51. - 特許庁

ＩＣチップの端子表面に接触傷を付けることがなく、端子との間で十分な接触面積と接触圧力を確保できる接触子を備えたプローブカードを提供する。例文帳に追加

To provide a probe card provided with a contact capable of preventing a terminal surface of an IC chip from being flawed by contact, and capable of securing a sufficient contact area and contact pressure to a terminal. - 特許庁

本発明の課題は、超音波診断時に被検査体に密着するプローブの接触圧力によって被検査体が非正常的に弾性流動する現象を防ぐことができる超音波診断装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide an ultrasonic diagnostic device preventing a phenomenon of abnormal elastic flow of a subject due to a contact pressure of a probe brought into close contact with the subject in an ultrasonic diagnosis. - 特許庁

各プローブの一端及び他端の一方に作用する押圧力が他方に影響を及ぼすことを防止すると共に、針先の高さ位置を容易に一定にすることができるようにすることにある。例文帳に追加

To prevent depression force applied to one end or the other end of each probe from exerting influence on the other and to easily fix the height positions of the tips of respective probes. - 特許庁

そして、その燃焼検知手段としては、シリンダ１内の燃焼圧力を計測する圧力センサ１１または燃焼中の火炎のイオン電流を検出するイオンプローブ、あるいは排気通路に設けたＯ_２センサ等を用いるのが好ましい。例文帳に追加

As the combustion detecting means, a pressure sensor 11 for measuring combustion pressure in a cylinder, an ion prove for detecting ion current of flame on burning, an O2 sensor disposed in the exhaust passage, or the like may be used. - 特許庁

プローブ装置１０ＡのＸＹ走査に際しては、圧力作用室２７に供給する制御エアの調整により、ワークＷの表面に対する接触部３５ａの接触圧すなわち押圧力が適正値で一定となるように制御される。例文帳に追加

Contact pressure, i.e. pressing force, of a contact part 35a to a surface of the work W is controlled so as to be constant at a proper value, by regulating control air supplied to a pressure acting chamber 27, when XY-scanning a probe unit 10A. - 特許庁