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干渉分光方法の英語
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英訳・英語 interference spectroscopy
「干渉分光方法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 18件
干渉分光法用の装置、干渉分光法を使用した方法、干渉測定装置例文帳に追加
DEVICE FOR INTERFERENCE SPECTROSCOPY, METHOD USING INTERFERENCE SPECTROSCOPY, AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE - 特許庁
位置検出装置、位置検出方法、マイケルソン干渉計、およびフーリエ変換分光分析装置例文帳に追加
POSITION DETECTING DEVICE, POSITION DETECTING METHOD, MICHELSON INTERFEROMETER, AND FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC ANALYZER - 特許庁
従来よりも分光帯域の広いファブリペロー干渉計及びその製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a Fabry-Perot interferometer wherein a spectroscopy band is wider than conventionally, and to provide a manufacturing method for such a Fabry-Perot interferometer. - 特許庁
従来よりも分光帯域の広いファブリペロー干渉計及びその製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a Fabry-Perot interferometer having a wider spectral band than those of conventional Fabry-Perot interferometers and to provide a manufacturing method thereof. - 特許庁
測定対象が複屈折をもち、干渉の分光スペクトルが歪む場合でも、高精度な測定を行うことができる光干渉による膜厚測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a film thickness measuring method by optical interference that can execute measurement with high accuracy even when a measured object has double refraction and an interference spectral spectrum is distorted. - 特許庁
干渉発色塗料において最小限の分光反射率を実測することで、干渉発色塗料の光学特性を評価することを可能とし、干渉発色塗料のCG表現が最小限の実測データにより可能とする方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method which enables an optical characteristic of an interference-coloring paint to be evaluated by actually measuring minimum amounts of spectral reflectance of the interference-coloring paint, and enables a CG representation of the interference-coloring paint to be carried out by using minimum amounts of actual measurement data. - 特許庁
基板同士の接合強度をより向上させ、接合工程を容易にしつつ、所望波長を精度良く分光させることができる干渉フィルター、測色センサー、測色モジュール、及び干渉フィルターの製造方法を提供すること。例文帳に追加
To provide an interference filter in which connection strength of substrates is improved, connecting process is made easy and a required wavelength is accurately separated, a colorimetry sensor, a colorimetry module and a method of manufacturing the interference filter. - 特許庁
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「干渉分光方法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 18件
ある程度広角の画面にも対応可能であり、かつ、分光特性の点でも干渉フィルター並みのシャープな特性が得られるようにしたマルチバンド画像取得方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a multi-band image acquisition method compatible with a wide angle screen to a degree and obtaining a sharp spectral characteristic equivalent to that of an interference filter. - 特許庁
種々のバックグラウンドマトリックスを有し、実質的な成分干渉をおそらく有するサンプル中に存在する分析物濃度を決定する方法および分光光度装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a method and a spectrophotometric device for determining an analyte present in a sample having various background matrixes and possibly having substantial component interference. - 特許庁
イオン源からイオン輸送器、四重極衝突セル、分析質量分光計にイオンを輸送することによる同重干渉を、除去しなければ反応して同重干渉を形成しやすい中間イオンを除去する通過帯域をもって衝突セルを動作させて低減する方法。例文帳に追加
A method is provided for reducing isobaric interferences caused by transmitting ions from an ion source through an ion transmission device and a quadrupole collision cell into an analyzing mass spectrometer, in which the collision cell is operated with a pass band for rejecting intermediate ions which would otherwise tend to react to form isobaric interferences. - 特許庁
種々のバックグラウンドマトリックスを有し、そしてさらに実質的な成分干渉をおそらく有するサンプル中に存在する分析物の濃度を決定する方法および分光光度装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a method which determines the concentration of an analyte existing in a sample comprising various background matrixes and probably comprising a substantial component interferences, and to provide a spectrophotometer. - 特許庁
被測定対象膜の膜厚を分光干渉を利用して測定し、かつ従来よりも信頼性の高い定量評価を実現できる膜厚測定方法を提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a method for measuring film thickness which measures the thickness of a film being an object to be measured by using a spectral interference method and can realize a quantitative evaluation with high reliability in comparison with a conventional manner. - 特許庁
分光領域の変形を抑制して分解能を向上することができ、且つ、製品ごとの分解能のばらつきを低減することのできるファブリペロー干渉計の製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a manufacturing method of a Fabry-Perot interferometer which can suppress deformation of a spectral area to improve resolution, and can reduce dispersion in the resolution of respective products. - 特許庁
目的元素の濃度が前記干渉後濃度測定領域に含まれる測定波長のうち、算出された測定精度が最も高い測定波長による定量分析値を選択する発光分光分析方法とする。例文帳に追加
and a quantitative analytical value by the measuring wavelength having the highest calculated measuring precision is selected out of the wavelengths with the concentration of the objective element included within the post-interference concentration measuring area. - 特許庁
試験対象物の第1の表面箇所に対する走査干渉分光信号から導出可能な情報と試験対象物の複数のモデルに対応する情報とを比較することを含む方法であって、複数のモデルは、試験対象物に対する一連の特性によってパラメータ化される方法。例文帳に追加
The method includes comparing information derivable from a scanning interferometry signal for a first surface location of a test object to information corresponding to multiple models of the test object, wherein the multiple models are parameterized by a series of characteristics for the test object. - 特許庁
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