意味 | 例文 (24件) |
採用テストの英語
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英訳・英語 employees test; recruiting test; employment test
「採用テスト」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 24件
並列にテストされるダイについて、異種のテストシーケンスを採用する。例文帳に追加
In this method, heterologous test sequence is adopted for a parallel-tested die. - 特許庁
セルフテスト部を採用することによるテスト機能の充実とテスト部追加による回路規模の増大を軽減することの双方を実現する。例文帳に追加
To realize reduction in the increase of the circuit scale normally caused by adding a test section and to fulfill a test function by selecting a self-test section. - 特許庁
これにより、スキャンテスト方式を採用するテスト回路を用いた半導体集積回路の遅延性故障の検出率を向上させることができる。例文帳に追加
The detection rate of a delay fault by a test circuit adopting a scan test method can be thus improved in a semiconductor integrated circuit. - 特許庁
スキャンテスト方式を採用するテスト回路において、遅延性故障を確実に検出することができる遅延性故障検出回路を提供する。例文帳に追加
To provide a delay fault detection circuit that can reliably detect a delay fault in a test circuit adopting a scan test method. - 特許庁
したがって、検証を行う上で効果的なテストベクトルのみが採用され、テストベクトルの総数を削減できる。例文帳に追加
Only the test vector effective for performing the verification therefore is adopted and the total number of test vectors can be reduced. - 特許庁
この構成を採用することによって、A/D変換部8の前段回路を含めてA/D変換動作をテストすることができる。例文帳に追加
In this configuration, an A/D conversion operation can be tested including a pre-stage circuit of the A/D converter 8. - 特許庁
48時間EC50値がない場合には、24時間EC50値(旧OECDテストガイドライン202に準じたもの)を採用することができる。例文帳に追加
However, data on 24 hour EC50 based on former OECD Test Guidelines 202 may be adopted when those on 48 hour EC50 are not available. - 経済産業省
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「採用テスト」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 24件
(ⅱ)市場リスク計測手法を採用するに当たっては、テスト・データにより他の計測手法で算出した結果と比較・検討した上で、採用を決定しているか。例文帳に追加
(ii) When employing market risk measurement technique, does the institution make the selection after weighing its calculation results against the outcomes obtained through the use of other techniques by using test data?発音を聞く - 金融庁
2. 以前王国外でなされ,かつ,王国外でテストされたか又はテストされることになっている出願については,そのテストが王国の環境条件に見合う環境条件において行われた場合は,局は,そのテストの結果を利用し,かつ,採用することができる。例文帳に追加
(2) As for Applications for which filings were previously made outside the Kingdom and were or would be tested abroad, the Directorate may benefit from the results of the test and adopt them if the test was performed in environmental conditions compatible with the environmental condition of the Kingdom. - 特許庁
いずれの庁も、化学分野における進歩性を判断する際、他の技術分野で適用されるものとは異なる二次的テスト(サブテスト)を採用していない。例文帳に追加
All three offices do not employ any special secondary tests or subtests different from those applied in other technical fields in judging inventive step in the chemical field.発音を聞く - 特許庁
微細化されたテスト用レジストパターンの中から前記設計パターンに最も近いパターンを選択し、選択されたパターンの形成に用いたテスト用パターンを補正パターンとして採用する(S4,S8)。例文帳に追加
A pattern most approximate to the design pattern is selected from the finely processed test resist patterns, and the test pattern used for the formation of the selected pattern is adopted as a correction pattern (S4, S8). - 特許庁
このような運用系システムのデータ構成とテスト系システムのデータ構成を採用することによって、運用系システムとテスト系システムの切替が容易且つスムーズに行われるようになる。例文帳に追加
Thus, the operational system and the test system can be easily and smoothly switched by adopting the data configurations of the operational system and the data configurations of the test system. - 特許庁
なお、下記において、Priority1のデータのうち、下記テストガイドライン等に準拠した試験結果である旨の明確な記載がないものについては、生物種、暴露時間、エンドポイントがそれぞれテストガイドライン等に規定した生物種、暴露時間、エンドポイントに一致するものを採用するものとする。例文帳に追加
Data of Priority 1 without proof that their acquisition conformed to the guidelines described below shall be used on condition that species, exposure time, and endpoint are consistent with those specified in the guidelines. - 経済産業省
シェアード型センスアンプを採用した半導体記憶装置において、テストモードにエントリし、シェアード型センスアンプに用いられるトランスファゲート、プリチャージ回路、センスアンプを個別に制御する。例文帳に追加
In the semiconductor memory device adopting a shared type sense amplifier, entry for a test mode is performed, a transfer gate used for the shared type sense amplifier, a pre-charge circuit, and the sense amplifier are controlled individually. - 特許庁
内蔵回路が多数のSCANスタイルを採用していても、集積回路装置に入力されるSCAN信号に応答して集積回路全体をテストすることができる半導体集積回路装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing the whole of the integrated circuit according to SCAN signal input in the integrated circuit device even that internal circuits have employed a multitude of SCAN style. - 特許庁
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