故障対テスト時間の英語

メモリ周辺回路に対する遅延故障テストの時間を削減すること。例文帳に追加

To reduce a time for testing delay fault of a memory peripheral circuit. - 特許庁

論理集積回路の信号伝搬時間を長くするような仮定遅延故障のテスト対象となる全てについて、故障による遅延の程度が小さい場合にも検出可能な検査系列を生成し、テストを行う方法を得る。例文帳に追加

To make detectable even a slight delay of each logic element by using a random-number sequence or using an inspection list which activates routes of a sufficiently small number as compared with the number of all existing routes. - 特許庁

論理回路内部のスキャン・チェイン上の単一固定故障に対して、スキャン・チェインに特化した故障辞書を用いて、テスト結果と照合することで、処理時間を短縮して推定する。例文帳に追加

To achieve estimation with a reduced processing time by using a failure dictionary, which specializes in scan chain, for a single permanent failure on the scan chain within a logic circuit and verifying it with a test result. - 特許庁

テスト回路の故障検出をおこなうことにより、テスト回路の試験時間の短縮化および試験対象回路におこなう試験の信頼性の向上を図ること。例文帳に追加

To shorten the time for testing a test circuit, and to improve the reliability of the test performed for a circuit under test, by performing detection of the malfunction of the test circuit. - 特許庁