校正用粒子の英語

本発明による水中に浮遊する水の屈折率と同等な微粒子の計数方法は、屈折率が１．４〜１．４６の標準粒子を用いて微粒子(10)の大きさを校正した微粒子測定装置(20)を用いて被検水(1)中に含まれる透明度の高い微粒子(10)を計数する方法である。例文帳に追加

In the method for counting the particulates floating in the water equivalent to the refractive index of the water, the particulates (10) having high transparency contained in the water to be inspected (1) are counted through the use of the particulate measuring device (20), in which the particulates (10) are calibrated through the use of the reference particles of a refractive index of 1.4-1.46. - 特許庁

ナノメーターサイズ領域の粒径校正用標準粒子として有用な粒子と、その粒子を簡単な手順で、かつ環境に影響を受けず安定して発生させることのできる方法及びそのための発生装置を提供する。例文帳に追加

To provide particles useful for standard particles for calibration of the grain size in the nanometer size area, a method for stably generating the particles in a simple procedure without being affected by the environment, and a generating apparatus therefor. - 特許庁

ツバキの花粉は大きさ、形状がともに均質でバラつきが少ないため、安定的に円形度校正用粒子に用いることができる。例文帳に追加

Additionally, camellia pollen is measured near average circularity of 0.91, with good reproducibility which approaches the average circularity of toner particles of 0.90 to 0.95. - 特許庁

計測系の校正を簡易に行うことのできる簡易な構成の粒子状態検出用プローブを提供する。例文帳に追加

To provide a probe for detecting states of particles with a simple structure, which can easily carry out the calibration of a measuring system. - 特許庁

本発明では、標準粒子の塗布領域２、３および４と異物検査装置のスキャン方向とが一致するように、成膜された校正用ウエハ上１に標準粒子を塗布し、これを用いて異物検査装置の校正を行う。例文帳に追加

Standard particles are applied to the surface of a calibration wafer 1 formed so that the coating regions 2, 3 and 4 of the standard particles coincide with the scanning direction of the foreign matter inspection device, and used to perform the calibration of the foreign matter inspection device. - 特許庁

実際に測定する粉体試料の粒子と同様の形状の標準サンプルで二値化レベルの設定を行うと共に、測定視野設定と二値化レベル設定とを同一校正板で行うことにより、粒度分布測定装置の校正を精度良くし、校正時の作業性を向上することができる校正用標準サンプル板を提供する。例文帳に追加

To provide a standard sample plate for calibration which calibrates a particle size distribution measuring device with high accuracy and improves the calibration workability by setting the binarized level by a standard sample of the shape similar to that of the particles of the powder sample to be actually measured, and setting the measurement field of view and the binarized level by the same calibration plate. - 特許庁

試料保持機，半導体製造装置，半導体検査装置，回路パタ—ン検査装置，荷電粒子線応用装置，校正用基板，試料の保持方法，回路パタ—ン検査方法、および、荷電粒子線応用方法例文帳に追加

SAMPLE HOLDER, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CALIBRATING BOARD, SAMPLE HOLDING METHOD, CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION METHOD - 特許庁

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。例文帳に追加

A standard sample for charged particle beam includes different two samples for calibration concerning magnification ratios or dimensions and a charged particle beam device uses the standard sample for charged particle beam. - 特許庁