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積率相関係数の英語
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英訳・英語 product-moment correlation coefficient
「積率相関係数」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 5件
制御部10は、現在日時における算出対象基地局の在圏率と、情報蓄積テーブル13dに蓄積された算出対象基地局の在圏率との相関係数を算出する。例文帳に追加
The control section 10 also calculates a relative coefficient between the existence rate of the base stations to be calculated at current time and the existence rate thereof accumulated in the information accumulation table 13d. - 特許庁
制御部10は、情報蓄積テーブル13dの情報のうちで、算出した相関係数が類似判定閾値以上の情報の数と、さらにそのうちで、輻輳率が輻輳判定閾値以上の情報の数とを計数する。例文帳に追加
Furthermore, the control section 10 counts information of which calculated relative coefficient is a similar decision threshold or more among the information of the information accumulation table 13d, and it also counts the number of information of which congestion rate is a congestion decision threshold or more. - 特許庁
該装置は、さらに、該決定した成分について、体積変化率と、該成分に対応する周波数で構成される基準信号との第1の相関係数を算出する第1の算出手段と、該決定した成分について、エンジンの筒内圧と、該成分に対応する周波数で構成される基準信号との第2の相関係数を算出する第2の算出手段とを備える。例文帳に追加
The device is further provided with a first computation means to compute a first correlation coefficient of the determined component concerning the volume change rate and a reference signal composed of the frequency corresponding to the component, and a second computation means to compute a second correlation coefficient of the determined component concerning engine in-cylinder pressure and a reference signal composed of the frequency corresponding to the component. - 特許庁
この際、位相補正量算出部550は、誤り率算出部600で算出されるフィードバック情報の誤り率とスロット毎の複素重み係数に相当するパラメータの積算値との大小関係に基づいて位相補正量を算出する。例文帳に追加
In this case, the phase correction amount calculation part 550 calculates the phase correction amount based on magnitude relation between error rate of the feedback information calculated by an error rate calculation part 600 and an integration value of parameters equivalent to complex weighting factors for each slot. - 特許庁
集積回路の設計ルールの微細化が進むにつれて、歩留まりとの相関関係を考慮しなければならない欠陥数が指数関数的に多くなるので、高効率かつ高い信頼性をもつ欠陥と電気的歩留まりの相関関係を抽出するためのキラーレイシオ法(Killer-Ratio)の精度を維持する方法を提供する。例文帳に追加
To provide a manufacturing method of integrated circuit in which a substrate having been estimated low in KR by a conventional method is shown to have a high accurate KR with respect to a particular electrical property, and an accuracy of damage ratio indicating an influence on yield is improved. - 特許庁
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