簡易評価システムの英語

走査透過型電子顕微鏡を用いて簡易に歪の分布解析を行う結晶材料の格子歪評価方法、評価システムを提供する。例文帳に追加

To provide a lattice strain evaluation method of a crystal material for easily performing strain distribution analysis by using a scanning transmission electron microscope, and an evaluation system. - 特許庁

頭部の薄毛部面積を再現性よくかつ簡易、迅速に評価することができる薄毛部面積評価方法およびそのシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a thin hair part area evaluating method and system capable of evaluating the thin hair part area of a head with good reproducibility, simply and speedily. - 特許庁

農作物を評価場所に集めることなく、簡易かつ確実に農作物を評価することができる農作物判定システムを提供する。例文帳に追加

To provide a crop assessment system capable of easily and surely evaluating crops without gathering crops into a place for assessment. - 特許庁

皮膚のはりの程度を再現性よくかつ簡易、迅速に評価することができる皮膚のはり評価システムを提供する。例文帳に追加

To provide a system of evaluating the firmness of the skin which is capable of easily and rapidly evaluating the degree of the tension of the skin with good reproducibility. - 特許庁

換気性能を非常に簡易に適切に評価可能な換気性能評価方法及びシステムの提供。例文帳に追加

To provide a method and system for evaluating ventilation performance by which ventilation performance can be evaluated extremely easily and appropriately. - 特許庁

室内空間等の換気性能をあまり手間をかけずに簡易にかつ適正に評価できる換気性能評価方法及びシステムの提供。例文帳に追加

To provide a method and a system for the evaluation of a ventilation performance wherein the ventilation performance of an indoor space or the like can be evaluated simply and properly without spending much time and labor. - 特許庁

小中学生などでも容易に理解し、且つ実施し体験できる、簡易な水質評価方法および水質評価システムを提供する。例文帳に追加

To provide a method and a system for simply evaluating the water quality which is easily understood and experienced, even by elementary and junior high school students. - 特許庁

絶対評価のための学習状況を把握するために、座席表を使用した評価記録の入力を簡易化し、かつ生徒毎の評価記録に偏りが生じることがない絶対評価のための学習状況評価システムの提供を課題とする。例文帳に追加

To provide a learning status evaluation system in which input of an evaluation record is simplified by using the plan of seats for grasping a learning status for absolute evaluation and the evaluation record for each student is prevented from being biased. - 特許庁