電界解析の英語

像保持体と転写部材との間に被転写媒体を介在させた状態での構造解析を電界解析に反映すること。例文帳に追加

To reflect a structural analysis to an electric field analysis in a state in which a medium of a transfer object is intermediated between an image holder and a transfer medium. - 特許庁

そして、ステップＳ４０４では、電磁界解析を行ない、電界、磁界強度等の解析結果を、３次元セル座標に従い出力する。例文帳に追加

In a step S404, the electromagnetic field analysis is performed, an analysis result of electric field, magnetic field intensity or the like is output according to the three-dimensional cell coordinate. - 特許庁

時間ステップ毎に電界計算を行う過渡電界解析法において、モデルの時定数と入力電圧波形の特徴から、過渡電界解析を行う最適な時間ステップを設定する。例文帳に追加

To set the optimum time step for the analysis of a transient electric field from the time constant of a model and the feature of an input voltage waveform in a transient electric field analysis method for calculating an electric field at each time step. - 特許庁

遺伝子検出電界効果デバイスおよびこれを用いた遺伝子多型解析方法例文帳に追加

GENETIC DETECTION FIELD-EFFECT DEVICE AND METHOD FOR GENETIC POLYMORPHISM ANALYSIS USING THE SAME - 特許庁

最適時間ステップ決定装置１０は、過渡電界解析計算部２０に接続されている。例文帳に追加

The optimum time step decision apparatus 10 is connected to a transient electric field analysis calculation part 20. - 特許庁

高周波の電界または磁界を検出する素子と周波数解析を行う周波数解析回路を１次元または２次元アレイ状に配置し、前記周波数解析回路の出力信号を順次読み出すことにより、高周波の電界または磁界分布を画像化する。例文帳に追加

Elements for detecting high-frequency electric field and magnetic field and a frequency analysis circuit for performing frequency analysis are disposed in one-dimensional or in two-dimensional array, thereby sequentially reading out an output signal of the frequency analysis circuit to image the high-frequency electric field or magnetic filed distribution. - 特許庁

本発明によれば、電界イオン顕微鏡装置と、電界イオン顕微鏡装置により撮像された電界イオン顕微鏡像を取り込む電界イオン顕微鏡像取込装置と、取り込まれた電界イオン顕微鏡像を解析する電界イオン顕微鏡像解析装置と、を有することを特徴とする、アトムプローブ装置が提供される。例文帳に追加

This invention provides this atom probe device characterized by including: an electric field ion microscope device; an electric field ion microscope image introduction device introducing an electric field ion microscope image imaged by the electric field ion microscope device; and an electric field ion microscope image analyzer analyzing the introduced electric field ion microscope image. - 特許庁

そして、電界解析を実行し、得られた電界強度から、ＥＨＤポンプの動作性能の評価に重要な電極表面の電界強度の分布、積分値、平均値、最大値を算出する。例文帳に追加

Electric field analysis is performed, distribution of electric field intensity on a surface of the electrode important for evaluating operation performance of the EHD pump, an integrated value, an average value, and the maximum value are calculated from the obtained electric field intensity. - 特許庁